CN108072823A - 一种半自动ccm测试装置和方法 - Google Patents
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Abstract
本发明提供了一种半自动CCM测试装置,包括测试机台和控制系统,其中,所述测试机台包括导轨和在所述导轨上滑动的光源设备,所述控制系统包括控制键盘,和设于所述导轨并与所述控制键盘的相应指令键电连接的触发开关,以及在该触发开关被触发之后,控制后续动作的控制设备。本发明还提供了利用本发明半自动CCM测试装置的测试方法。本发明优化了测试方式,减少了人工手动反复长时间地敲击键盘的动作,提升了生产效率,降低了生产成本。
Description
技术领域
本发明涉及模组测试领域,特别涉及一种半自动CCM测试装置和方法。
背景技术
传统的模组测试装置,整个测试装置包括装载模组的装置、安装测试软件的计算机、输入操作指令的计算机键盘,通过输入计算机键盘的操作指令,例如以敲击指令键的方式输入指令,实现对测试软件的控制,进而控制测试装置对模组的测试流程。测试人员在每次测试时,一手放取模组产品,一手控制计算机键盘,由于计算机上安装了测试用的软件,在打开软件之后,通过用手指敲击键盘上的指令键,输入对测试软件的指令,来实现对模组的测试控制。例如,测试产品时,需敲击键盘的数字键“1”,代表点亮模组,敲击数字键“2”代表测试污模组黑点,测试之后再次敲击数字键“1”关闭模组图像。
这种传统的测试流程,需要测试人员频繁手动地使用手指敲击键盘,测试时间一长,手指容易疲劳甚至抽筋,给产线员工带来很大困扰。同时,随着模组行业竞争的激烈,尤其是利用于智能手机的摄像模组,在智能手机快速更新换代的环境下,需要进一步提高模组的生产效率,才可能获得利润,保证企业生存。传统的手动测试方式在每测试时,都需要手指频繁敲击键盘上的指令键,浪费大量时间,测试单个模组产品所需时间在15秒左右,单位时间内能够完成测试的模组数量有限,导致也增加了对得到合格的模组所花的时间,增加了模组的制造成本。
因此,在激烈的市场竞争中,急需一种测试装置能够进一步降低测试时间,提高测试效率。
发明内容
为解决现有技术中的技术问题,本发明提供一种半自动CCM测试装置和方法,将计算机键盘中需要使用到的若干指令键“移到”测试轨道上来,实现半自动测试,具有操作方便、生产效率高的特点。
本发明一方面提供一种半自动CCM测试装置,包括测试机台和控制系统,其中,所述测试机台包括导轨和在所述导轨上滑动的光源设备,所述控制系统包括控制键盘,所述控制系统还包括:设于所述导轨并与所述控制键盘的相应指令键电连接的触发开关,以及在该触发开关被触发之后,控制后续动作的控制设备。借助导轨在滑动时对开关的触发,进而实现触发与开关电连接的键控制键盘上的指令键,可以一举两得地减少额外对控制键盘上的指令键的敲击。
优选的,所述触发开关设置在所述导轨的旁侧面,所述光源设备包括光源支架,所述光源支架靠近所述导轨的一端底面设有开关按压块,所述开关按压块经过所述触发开关时,触发所述触发开关。将触发开关设置在旁侧面,也即导轨两侧的侧面上,避免影响光源支架在导轨上的行进往复动作。
优选的,所述光源支架靠近所述导轨的一端底面设为镂空,所述开关按压块嵌入所述镂空当中。设置镂空的目的是减少设置的开关按压块所带来的空间占有,节约空间。开关按压块嵌入镂空中之后再将其固定在镂空中,有助于开关按压块的安装和固定。
优选的,所述光源支架靠近所述导轨的一端设有镂空,所述开关按压块通过嵌入所述镂空当中的固定件固定于所述光源支架。固定件,例如螺钉,可将螺钉在镂空中移动以找准最佳的安装位置,将开关按压块固定安装在该最佳安装位置。
优选的,所述触发开关为防呆开关,可以有效防呆。优选的,所述防呆开关为防呆微动开关。防呆微动开关灵敏度高、结实耐用,控制键盘的指令键使用感应器电线导出,与防呆微动开关电连接,感应器电线柔韧性强。
优选的,所述触发开关按压块为拱形治具。相较于多面的矩形,开关按压块设置成拱形,不仅可以减少过大的体积,避免出现多面磕碰,还能够达到与防呆开关有效的碰触,接触和分离精准有效。
优选的,所述控制设备还包括第二开关,所述触发开关和所述第二开关间隔设置在所述导轨上,其间隔距离为在所述触发开关或所述第二开关被触发时互不受影响,所述第二开关与所述控制键盘的相应指令键电连接,所述光源设备在所述导轨上滑动时触发所述触发开关和所述第二开关继而实现对控制键盘的相应指令键的操作。
本发明提供利用前述半自动CCM测试装置的测试方法,包括如下步骤:
(1)正向推动光源设备在导轨上移动以触发安装在所述导轨上并与控制键盘的相应指令键电连接的触发开关,点亮模组;
(2)继续正向推动光源设备在导轨上移动以触发安装在所述导轨上并与控制键盘的相应指令键电连接的第二开关,测试模组;
(3)反向推动光源设备在导轨上移动并触发所述触发开关,关闭模组图像。
为解决前述技术问题,本发明另一方面提供另一种技术方案,一种半自动CCM测试装置,包括测试机台和控制系统,其中,所述测试机台包括导轨和在所述导轨上滑动的光源设备,所述控制系统包括控制键盘,所述控制系统还包括:在所述导轨上间隔设置的第一开关和第二开关,其间隔距离为在所述第一开关或所述第二开关被触发时互不受影响,所述第一开关和所述第二开关与所述控制键盘的相应指令键电连接,所述光源设备在所述导轨上滑动时触发所述第一开关和所述第二开关继而实现对控制键盘的相应指令键的操作。由于模组测试通常需要使用到两个指令键,因而设置与该两个指令键所对应的两个开关即可实现手动敲击指令键的功能。
优选的,所述第二开关设置在所述导轨的末端。使得拱形治具在运行到导轨末端去触发第二开关再返回时,只会触发一次第二开关,不存在返程再次触发第二开关的情形。
优选的,所述光源设备上还设有第三开关,所述第三开关与所述控制键盘的相应指令键电连接。所述第三开关的设置作为备用开关,也即可以电连接控制键盘上的任何一个指令键,比如但不限于Enter键。提供除模组测试以外的功能,在需要触发该功能时也能够直接操作光源设备上的开关而无需去手动触发键盘上的指令键。
本发明还提供一种利用前述半自动CCM测试装置的测试方法,包括如下步骤:
(1)正向推动光源设备在导轨上移动以触发安装在所述导轨上并与控制键盘的相应指令键电连接的第一开关,点亮模组;
(2)继续正向推动光源设备在导轨上移动以触发安装在所述导轨上并与控制键盘的相应指令键电连接的第二开关,测试模组;
(3)反向推动光源设备在导轨上移动并触发所述第一开关,关闭模组图像。
本发明的有益效果是,解放测试员的一只手,将测试中光源设备在导轨上的往复机械动作附加了对键盘敲击操作的动作,光源设备在导轨上的往复机械动触发开关进而同时完成对键盘指令键的指令输入,优化了测试方式,减少了人工手动反复长时间地敲击键盘的动作,提升了生产效率,降低了生产成本。
附图说明
图1为本发明测试装置实施例的俯视图;
图2为本发明测试机台示意图;
图3为本发明左视图;
图4为本发明图2局部放大图;
图5为本发明拱形治具示意图。
具体实施方式:
为了使本发明的创作特征、技术手段与达成目的易于明白理解,以下结合具体实施例进一步阐述本发明。
参看图1-5,为本发明实施例。一种半自动CCM测试装置,包括测试机台1和控制系统2,其中,所述测试机台1包括导轨11和在所述导轨11上滑动的光源设备12,所述控制系统2包括控制键盘21,所述控制系统2还包括控制设备,控制设备包括设于所述导轨11并与所述控制键盘21的相应指令键211电连接的触发开关22,在该触发开关22被触发之后,控制后续动作。借助导轨在滑动时对开关的触发,进而实现触发与开关电连接的键控制键盘上的指令键,可以一举两得地减少额外对控制键盘上的指令键的敲击。所述触发开关22设置在所述导轨11的旁侧面,所述光源设备12包括光源支架121,所述光源支架121靠近所述导轨的一端底面设有开关按压块122,所述开关按压块122经过所述触发开关22时,触发所述触发开关22。触发开关实现电路通断。将触发开关22设置在旁侧面,避免影响光源支架在导轨上的行进动作。所述光源支架121靠近所述导轨11的一端底面设为镂空123,所述开关按压块122嵌入所述镂空123当中。设置镂空的目的是减少设置的开关按压块所带来的空间占有,节约空间。开关按压块嵌入镂空中之后可以在镂空中左右移动以选定最佳安装位置再将其固定在镂空中,有助于开关按压块的安装和固定。
本发明实施例对于开关数量的确定并无特殊的要求,可以按照需要进行设置,可以是1个开关加电路控制的方式,也可以是两个开关,也可以是3个开关甚至更多,根据测试软件所设置的指令种类,进行指令键输入指令,再根据这些种类来设置开关。
作为镂空123的另一实施例,也可以不将开关按压块嵌入镂空中,仅仅将镂空限制成狭长型的镂空,该镂空具有与固定所述开关按压块的固定件(包括但不限于螺钉)相适配的宽度,使得螺钉可以在该狭长型的移动以寻找最佳的开关按压块安装位置。
所述触发开关为能够有效防呆的防呆开关。优选为防呆微动开关。防呆微动开关灵敏度高、结实耐用,控制键盘的指令键使用感应器电线导出,与防呆微动开关电连接,感应器电线柔韧性强。
如图5所示,所述触发开关按压块122为拱形治具。相较于多面的矩形,开关按压块设置成拱形,不仅可以减少过大的体积,避免出现多面磕碰,还能够达到与防呆开关有效的碰触,接触和分离精准有效。
如图2所示,为本发明另一实施例,一种半自动CCM测试装置,包括测试机台1和控制系统2,其中,所述测试机台1包括导轨11和在所述导轨11上滑动的光源设备12,所述控制系统2包括控制键盘21,所述控制系统2还包括:在所述导轨11上间隔设置的第一开关221和第二开关222,其间隔距离为在所述第一开关221或所述第二开关222被触发时互不受影响,所述第一开关221和所述第二开关222与所述控制键盘的相应指令键通过导线3电连接,所述光源设备在所述导轨上滑动时触发所述第一开关221和所述第二开关222继而实现对控制键盘21的相应指令键的操作。由于模组测试通常需要使用到两个指令键,因而设置与该两个指令键所对应的两个开关即可实现手动敲击指令键的功能。所述第二开关222设置在所述导轨11的末端。使得拱形治具在运行到导轨末端去触发第二开关222再返回时,只会触发一次第二开关222,不存在返程再次触发第二开关的情形。
本发明所述的控制键盘不限形式,可以是普通的连接计算机的包含数字、字母等常用键盘,也可以是巧克力数字键盘,图2所示为巧克力数字键盘的实例。
如图1所示,作为另一实施例,所述光源设备12上还设有第三开关223,所述第三开关223与所述控制键盘的相应指令键电连接。所述第三开关223的设置作为备用开关,也即可以电连接控制键盘上的任何一个指令键,比如但不限于Enter指令键。提供除模组测试以外的功能,在需要触发该功能时也能够直接操作光源设备上的开关而无需去手动触发键盘上的指令键。例如,通常Enter指令键所对应的是对光源清零调节的功能,当照射在模组上的亮度不均匀时,可以触发该指令键,使得进行确认亮度调节的动作,亮度均匀之后,再进行模组测试。
本发明还提供一种半自动CCM测试方法,包括如下步骤:
(1)正向推动光源设备在导轨上移动以触发安装在所述导轨上并与控制键盘的相应指令键电连接的第一开关,点亮模组;
(2)继续正向推动光源设备在导轨上移动以触发安装在所述导轨上并与控制键盘的相应指令键电连接的第二开关,测试模组;
(3)反向推动光源设备在导轨上移动并触发所述第一开关,关闭模组图像。
如图1,为本发明实施例俯视示意图,本发明工作时,先将需要测试的模组5安装至模组工装4上,等待测试。光源设备12自左向右在导轨11上移动,当导轨移动至图中所示的位置,触发第一开关221(被光源设备12挡住不见)时,此时触发第一开关221与之电连接的指令键,此时光源设备12光源打开,发出光。当导轨继续向右移动至导轨11的末端,也即第二开关222处,光源设备12正好位于工装4上的模组5上方,此时因为触发了开关222,随即触发与之电连接的指令键,进行模组5的测试,测试包括污黑点、无图、失真不良等瑕疵情况或者为合格品。测试结束后,光源设备12从导轨末端222处向左移动,再次触发第一开关221,随即触发与之电连接的指令键,关闭模组光源,卸下已测试的模组,等待下一个模组的测试。第三开关223也可以设置在光源设备12上,并与指令键电连接,可以根据需要设置第三开关所需要触发的动作/功能。
如下表1为导入前后(手动按指令键测试、本发明半自动测试)生产效率UPH数据对比,实验表明本发明提升生产效率29.41%。
表2为导入前后(手动按指令键测试、本发明半自动测试)生产效益对比,实验表明本发明年节省成本约133920RMB。
以上显示和描述了本发明的基本原理、主要特征和本发明的优点。本行业的技术人员应该了解,本发明不受上述实施例的限制,上述实施例和说明书中描述的只是说明本发明的原理,在不脱离本发明精神和范围的前提下本发明还会有各种变化和改进,这些变化和改进都落入要求保护的本发明范围内。本发明要求保护范围由所附的权利要求书及其等同物界定。
Claims (11)
1.一种半自动CCM测试装置,包括测试机台和控制系统,其中,所述测试机台包括导轨和在所述导轨上滑动的光源设备,所述控制系统包括控制键盘,其特征在于,所述控制系统还包括:设于所述导轨并与所述控制键盘的相应指令键电连接的触发开关,以及在该触发开关被触发之后,控制后续动作的控制设备。
2.根据权利要求1所述的一种半自动CCM测试装置,其特征在于,所述触发开关设置在所述导轨的旁侧面,所述光源设备包括光源支架,所述光源支架靠近所述导轨的一端底面设有开关按压块,所述开关按压块经过所述触发开关时,触发所述触发开关。
3.根据权利要求2所述的一种半自动CCM测试装置,其特征在于,所述光源支架靠近所述导轨的一端底面设为镂空,所述开关按压块嵌入所述镂空当中。
4.根据权利要求2所述的一种半自动CCM测试装置,其特征在于,所述光源支架靠近所述导轨的一端设有镂空,所述开关按压块通过嵌入所述镂空当中的固定件固定于所述光源支架。
5.根据权利要求1所述的一种半自动CCM测试装置,其特征在于,所述防呆开关为防呆微动开关。
6.根据权利要求2所述的一种半自动CCM测试装置,其特征在于,所述开关按压块为拱形治具。
7.根据权利要求1所述的一种半自动CCM测试装置,其特征在于,所述控制设备还包括第二开关,所述触发开关和所述第二开关间隔设置在所述导轨上,其间隔距离为在所述触发开关或所述第二开关被触发时互不受影响,所述第二开关与所述控制键盘的相应指令键电连接,所述光源设备在所述导轨上滑动时触发所述触发开关和所述第二开关继而实现对控制键盘的相应指令键的操作。
8.一种半自动CCM测试装置,包括测试机台和控制系统,其中,所述测试机台包括导轨和在所述导轨上滑动的光源设备,所述控制系统包括控制键盘,其特征在于,所述控制系统还包括:在所述导轨上间隔设置的第一开关和第二开关,其间隔距离为在所述第一开关或所述第二开关被触发时互不受影响,所述第一开关和所述第二开关与所述控制键盘的相应指令键电连接,所述光源设备在所述导轨上滑动时触发所述第一开关和所述第二开关继而实现对控制键盘的相应指令键的操作,所述第二开关设置在所述导轨的末端。
9.根据权利要求8所述的一种半自动CCM测试装置,其特征在于,所述光源设备上还设有第三开关,所述第三开关与所述控制键盘的相应指令键电连接。
10.一种使用如权利要求7所述的一种半自动CCM测试装置的测试方法,其特征在于,包括如下步骤:
(1)正向推动光源设备在导轨上移动以触发安装在所述导轨上并与控制键盘的相应指令键电连接的触发开关,点亮模组;
(2)继续正向推动光源设备在导轨上移动以触发安装在所述导轨上并与控制键盘的相应指令键电连接的第二开关,测试模组;
(3)反向推动光源设备在导轨上移动并触发所述触发开关,关闭模组。
11.一种使用如权利要求8所述的一种半自动CCM测试装置的测试方法,其特征在于,包括如下步骤:
(1)正向推动光源设备在导轨上移动以触发安装在所述导轨上并与控制键盘的相应指令键电连接的第一开关,点亮模组;
(2)继续正向推动光源设备在导轨上移动以触发安装在所述导轨上并与控制键盘的相应指令键电连接的第二开关,测试模组;
(3)反向推动光源设备在导轨上移动并触发所述第一开关,关闭模组图像。
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TWI335440B (zh) |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
PB01 | Publication | ||
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SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
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GR01 | Patent grant | ||
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