CN108053786A - 数据驱动模组及其失效检测方法、显示装置 - Google Patents

数据驱动模组及其失效检测方法、显示装置 Download PDF

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Abstract

本发明涉及数据驱动模组及其失效检测方法、显示装置。该模组包括数据驱动芯片;所述数据驱动芯片内设置有备用场效应管组;所述备用场效应管组与所述数据驱动芯片的多个输入端和多个输出端连接成预设电路;所述备用场效应管组用于在接收到检测控制信号时开启,导通所述检测控制信号对应输入端和输出端;所述检测控制信号为控制所述备用场效应管组中各备用场效应管开启或者关闭的外部电压信号。可见,本实施例基于数据驱动芯片中的备用场效应管组,可以对数据驱动芯片和显示基板进行失效检测,这样不会增加数据驱动芯片的尺寸,也不影响显示基板的布线密度。

Description

数据驱动模组及其失效检测方法、显示装置
技术领域
本发明涉及显示技术领域,尤其涉及一种数据驱动模组及其失效检测方法、显示装置。
背景技术
目前,在生产制作显示基板的过程中,由于像素电路的固有缺陷、工艺波动等问题,导致显示基板的良率偏低。为提高良率,需要对显示基板进行失效分析(FA)。相关技术中,基于数据驱动模组(Driver IC)的端电压实现失效分析,通过设置在显示基板边缘的测试基板(Test Panel)读取数据驱动模组的端电压,并基于上述端电压分析失效原因。然而,考虑到显示基板的体积,该测试基板会在后续切割(Cell Cutting)过程中被切割舍弃,但是这样不利于制成后显示基板的失效分析。
发明内容
本发明提供一种数据驱动模组及其失效检测方法、显示装置,以解决相关技术中的不足。
根据本发明实施例的第一方面,提供一种数据驱动模组,所述模组中包括数据驱动芯片;所述数据驱动芯片内设置有备用场效应管组;所述备用场效应管组与所述数据驱动芯片的多个输入端和多个输出端连接成预设电路;
所述备用场效应管组用于在接收到检测控制信号时开启,导通所述检测控制信号对应输入端和输出端;
所述检测控制信号为控制所述备用场效应管组中各备用场效应管开启或者关闭的外部电压信号。
可选地,所述检测控制信号对应输入端和输出端为一一对应的关系。
可选地,所述检测控制信号对应输入端和输出端为一对多的关系。
根据本发明实施例的第二方面,提供一种数据驱动模组的失效检测方法,所述失效检测方法适用于第一方面所述的数据驱动模组,所述方法包括:
获取用户的触发操作;
基于所述触发操作确定所述数据驱动模组的检测选项;
确定所述检测选项对应的检测控制信号;
将所述检测控制信号输出至数据驱动模组,以使所述数据驱动模组输出目标数据信号。
可选地,将所述检测控制信号输出至数据驱动模组,以使所述数据驱动模组输出目标数据信号之后,所述方法还包括:
获取所述检测选项对应的源数据信号;
输出所述源数据信号至所述数据驱动模组的输入端,以使所述数据驱动模组输出与所述源数据信号匹配的目标数据信号。
可选地,所述方法还包括:
获取所述数据驱动模组输出的目标数据信号;
基于所述目标数据信号对所述数据驱动模组进行失效检测。
可选地,所述失效检测包括:
计算所述数据驱动模组中数据驱动芯片输出侧的对称位置输出端的目标数据信号是否相等,以获取所述数据驱动芯片的空载输出情况;
计算所述数据驱动芯片与阵列基板连接时所述阵列基板输出侧的对称位置输出端的目标数据信号是否相等,以获取所述数据驱动芯片的带载输出情况和所述阵列基板的负载情况;或者,
计算所述数据驱动芯片与数据线连接时相邻数据线的数据电压,以获取相邻数据线的干扰情况。
根据本发明实施例的第三方面,提供一种显示装置,所述装置包括第一方面所述的数据驱动模组。
可选地,所述装置还包括检测控制模组;所述检测控制模组与所述数据驱动模组连接;
所述检测控制模组用于根据用户的触发操作确定所述数据驱动模组的检测选项,并根据所述检测选项确定对应的检测控制信号;以及,
所述检测控制模组还用于获取所述检测选项对应的源数据信号,并将所述源数据信号输出至所述数据驱动模组,以使所述数据驱动模组输出所述源数据信号匹配的目标数据信号。
可选地,所述装置还包括失效检测模组,所述失效检测模组与所述数据驱动模组连接;
所述失效检测模组用于获取所述数据驱动模组输出的目标数据信号,并基于所述目标数据信号对所述数据驱动模组进行失效检测。
根据上述实施例可知,本实施例通过在数据驱动芯片中设置备用场效应管组,并将该备用场效应管组与数据驱动芯片的多个输入端和多个输出端连接成预设电路;这样,备用场效应管组在接收到检测控制信号时开启导通对应的输入端和输出端。可见,本实施例基于数据驱动芯片中的备用场效应管组,可以对数据驱动芯片和显示基板进行失效检测,这样不会增加数据驱动芯片的尺寸,也不影响显示基板的布线密度。
应当理解的是,以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的,并不能限制本发明。
附图说明
此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分,示出了符合本发明的实施例,并与说明书一起用于解释本发明的原理。
图1是根据本发明实施例示出的一种数据驱动模组中数据驱动芯片的原理示意图;
图2是根据本发明实施例示出的另一种数据驱动模组中数据驱动芯片的原理示意图;
图3是根据本发明实施例示出的又一种数据驱动模组中数据驱动芯片的原理示意图;
图4是根据本发明实施例示出的一种数据驱动模组的失效检测方法的方法流程示意图;
图5是根据本发明实施例示出的另一种数据驱动模组的失效检测方法的方法流程示意图;
图6是根据本发明实施例示出的一种显示装置的框图。
具体实施方式
这里将详细地对示例性实施例进行说明,其示例表示在附图中。下面的描述涉及附图时,除非另有表示,不同附图中的相同数字表示相同或相似的要素。以下示例性实施例中所描述的实施方式并不代表与本发明相一致的所有实施方式。相反,它们仅是与如所附权利要求书中所详述的、本发明的一些方面相一致的装置和方法的例子。
本发明实施例提供了一种数据驱动模组,该数据驱动模组可以包括数据驱动芯片、驱动电源以及相关部件。图1是根据本发明实施例示出的一种数据驱动模组中数据驱动芯片的原理示意图。参见图1,该数据驱动芯片内包括常用场效应管(图1中常用MOS管表示)和备用场效应管(图1中常用备用MOS管表示)。可理解的是,常用场效应管组是指数据驱动模组应用到显示设备中参与到显示设备正常工作的至少一个场效应管。该常用场效应管组的数量可以根据数据驱动芯片的实际场景进行设定。备用场效应管组是指不参与显示设备正常工作的至少一个场效应管,主要用于后续软件升级、工艺制造。该备用场效应管组的数量可以由生产厂商根据具体型号或者实际场景进行设定。
在本发明实施例实现之前,上述备用场效应管组是空置的,其利用率几乎为零。本发明的发明人发现可以利用上述备用场效应管进行显示基板制成后的失效检测。由于备用场效应管组中各场效应管和数据驱动芯片的多个输入端和多个输出端有连接关系,即备用场效应管组与多个输入端和多个输出端能够连接成预设电路,故可以基于上述预设电路确定相应的检测控制信号。
上述检测控制信号为控制备用场效应管中各备用场效应管开启或者关闭的外部电压信号。例如有3个场效应管,则检测控制信号可以有8种,即000、001、010、011、100、101、110和111,每个位置的数字为“1”表示为有效电压,此时可以开启对应的场场效应管。如检测控制信号为011,则第二个场效应管和第三个场效应管开启,第一场效应管关闭,从而上述预设电路可以与输入端和输出端形成对应该检测控制信号的电路。
可理解的是,上述多个输入端和多个输出端可以为空置的备用输入端和备用输出端,即上述多个输入端和多个输出端可以单独设置。当然上述多个输入端和多个输出端也可以为与常用场效应管组有连接关系的常用的输入端和输出端。在一实施例中,上述多个输入端包括备用输入端(图1中采用标号DS表示)和常用输入端(图1中采用标号D表示)。
本发明一实施例中,备用场效应管组在接收到检测控制信号时,导通该检测控制信号对应的输入端和输出端。在一实施例中,检测控制信号对应的输入端和输出端可以为一一对应的关系,即每个输入端仅对应一个输出端。参见图2,在备用场效应管G1和备用场效应管G2开启时,可以导通输入端DS1与输出端S1,从而输入端DS1输入的源数据信号可以通过输出端S1输出。可理解的是,图2示出的数据驱动芯片仅用于示意输入端和输出端具有一一对应的关系,实际应用中,备用场效应管的数量可以更多,电路更复杂,在与本方案具有相同功能的情况下,同样落入本申请的保护范围。
在另一实施例中,检测控制信号对应的输入端和输出端可以为一对多的关系,即每个输入端可以对应多个输出端。参见图3,在备用场效应管G1开启时,可以导通输入端DS1与输出端S1、输出端S2和输出端S3,从而输入端DS1输入的源数据信号可以通过输出端S1、输出端S2和输出端S3输出。可理解的是,图3示出的数据驱动芯片仅用于示意输入端和输出端具有一一对应的关系,实际应用中,备用场效应管的数量可以更多,电路更复杂,在与本方案具有相同功能的情况下,同样落入本申请的保护范围。
由于备用场效应管组可能连接到供电电源,在检测到检测控制信号时,备用场效应管组导通对应的输入端和输出端,从而数据驱动芯片的输出端可能会输出目标数据信号。本实施例中获取输出端的目标数据信号以及输出端的期望数据信号(在输入设定的源数据信号的情况下,理论上输出的数据信号为期望数据信号),通过对比目标数据信号和期望数据信号,可以判断目标数据信号的变化情况。
例如,在目标数据信号和期望数据信号的差值小于或者等于差值阈值时,说明目标数据信号符合要求。在差值大于差值阈值时说明目标数据信号存在问题,此时数据驱动芯片中有电路发生故障。通过该故障可以检测出是数据驱动芯片自身故障还是制作数据驱动芯片的工艺发生变化引起的故障。
又如,输出端也可以无期望数据信号输出(即输出为零),若检测到存在目标数据信号(即不为零),则可以检测该目标数据信号是否为数据驱动芯片输出的噪声数据信号。另外,通过该目标数据信号还可以验证数据驱动芯片对噪声的抑制能力。例如,若目标数据信号过大,则说明数据驱动芯片对噪声的抑制能力较差,需要技术人员增加相应的滤波电路或者屏蔽周围的噪声,从而提高数据驱动芯片的可靠性。
当然,备用场效应管组也可能不连接到供电电源,在检测到检测控制信号时,备用场效应管组导通对应的输入端和输出端,此时数据驱动芯片的输出端应该无输出,即目标数据信号为零。为获取到目标数据信号,需要向输入端输入源数据信号。该源数据信号可以根据具体场景进行设置。然后在输出端处获取目标数据信号。基于目标数据信号与源数据信号对应的期望数据信号分析确定数据驱动芯片是否存在问题。
例如,在目标数据信号和期望数据信号的差值(绝对值)小于或者等于差值阈值时,说明目标数据信号符合要求。在差值大于差值阈值时说明目标数据信号存在问题,此时数据驱动芯片中有电路发生故障。通过该故障可以检测出是数据驱动芯片自身故障还是制作数据驱动芯片的工艺发生变化引起的故障。
在一实施例中,通过调整检测控制信号,使数据驱动芯片的期望数据信号相同,这样可以检测数据驱动芯片输出侧对称位置的输出端是否输出相同的目标数据信号,从而可以检测该数据驱动芯片在空载时的输出能力。参见图1~图3,输出端S1与输出端Sn处于对称位置,输出端S2与输出端Sn-1处于对称位置,依次类推。例如,向数据驱动芯片中备用场效应管组输出检测控制信号,依次控制数据驱动芯片的每个输出端输出目标控制信号,然后检测该数据驱动芯片对称位置的输出端输出的目标数据信号是否相同。对称位置的输出端输出的目标数据信号相同时,说明数据驱动芯片的两侧输出端具有相同的输出能力。若对称位置的输出端输出的目标数据信号不同时,说明数据驱动芯片的两侧输出端具有不同的输出能力,此时需要检测导致不同输出能力的原因。
在另一实施例中,将数据驱动模组与显示基板连接,通过调整检测控制信号控制对应的输出端输出目标数据信号,通过调整源数据信号使部分或者全部输出端对应的期望数据信号相同,这样可以基于获取的目标数据信号来确定显示基板的负载。例如在期望数据信号对应的电压相等的情况下,若目标数据信号(可以采用检测设备采集对应的电压或者电流)越小,则说明显示基板上对应列像素单元的负载越大;若目标数据信号(可以采集对应的电流)越大,则说明显示基板上对应列像素单元的负载越小。这样,本实施例可以确定显示基板的负载情况以及数据驱动芯片的带载输出情况。
在又一实施例中,数据驱动芯片与数据线相连接时,通过调整检测控制信号控制相邻的输出端输出目标数据信号,通过调整源数据信号使相邻输出端的期望数据信号相同。然后获取相邻数据线的数据电压进行计算,从而得到相邻数据线的干扰情况。还可以获取没有目标数据信号输出的输出端对应数据线的数据电压,有目标数据信号和无目标数据信号对应数据线的数据电压可以判断相邻数据线的干扰情况。
另外,在一些实施例中,数据驱动模组中可以设置控制软件,该控制软件可以获取各输出端的目标数据信号和/或数据线上的数据电压,然后根据目标数据信号和/或数据线上的数据电压判断模组制成工艺中问题(issue)。
可见,本实施例基于数据驱动芯片中的备用场效应管组,可以对数据驱动芯片和显示基板进行失效检测,这样不会增加数据驱动芯片的尺寸,也不影响显示基板的布线密度。
基于上述各实施例提供的数据驱动模组,本发明实施例还提供了一种数据驱动模组的失效检测方法,图4是根据本发明实施例示出的一种数据驱动模组的失效检测方法的方法流程示意图。该失效检测方法可以用于检测控制模组,该检测控制模组可以根据用户的触发操作确定用户期望检测数据驱动模组的检测选项,然后检测检测确定对应的检测控制信号,最后将检测控制信号输出至数据驱动模组,以使数据驱动模组输出目标数据信号。参见图4,该失效检测方法包括:
401,获取用户的触发操作。
402,基于所述触发操作确定所述数据驱动模组的检测选项。
上述检测控制模组上设置有多个按键,每个按键对应不同的检测选项。在检测控制模组获取用户的触发操作时,可以根据该触发操作确定数据驱动模组的检测选项。
例如,第一个按键对应检测选项可以为数据驱动芯片的空载输出能力检测,第二个按键对应检测选项可以为数据驱动芯片的带载情况,第三个按键对应检测选项可以为与数据驱动芯片连接的显示基板的负载,第四个按键对应检测选项可以为Xtalk检测,可以依次为每个按键分配一个检测选项。可理解的是,检测选项以及按键可以为一一对应,也可以一个按键对应多个检测选项,在此不作限定。
另外,检测控制模组还可以为触摸显示屏,该触摸显示屏可以采用虚拟按钮来替代上述硬件按键,具体实现方式可以参考上述按键的方式,在此不作限定。本实施例中,用户触摸对应的虚拟按钮,检测控制模组接收到用户所触发的虚拟按钮确定出数据驱动模组的检测选项。
403,确定所述检测选项对应的检测控制信号。
在一实施例中,可以将检测控制信号和检测选项的对应关系存储在检测控制模组中,这样检测控制模组可以基于检测选项确定出检测控制信号。
在另一实施例中,检测控制模组可以根据检测选项直接生成检测控制信号,生成方式可以基于相关技术或者用户自己设置,在此不作限定。
404,将所述检测控制信号输出至数据驱动模组,以使所述数据驱动模组输出目标数据信号。
本实施例中,检测控制模组将检测控制信号输出至数据驱动模组,数据驱动模组根据上述检测控制信号导通对应的输入端和输出端,从而使数据驱动模组的输出端输出目标数据信号。
可见,本实施例基于数据驱动芯片中的备用场效应管组,可以对数据驱动芯片和显示基板进行失效检测,这样不会增加数据驱动芯片的尺寸,也不影响显示基板的布线密度。
图5是根据本发明实施例示出的一种数据驱动模组的失效检测方法的方法流程示意图。参见图5,该失效检测方法包括:
501,获取用户的触发操作。
其中步骤501和步骤401的具体方法和原理一致,详细描述请参考图4及步骤401的相关内容,此处不再赘述。
502,基于所述触发操作确定所述数据驱动模组的检测选项;
其中步骤502和步骤402的具体方法和原理一致,详细描述请参考图4及步骤402的相关内容,此处不再赘述。
503,确定所述检测选项对应的检测控制信号;
其中步骤503和步骤403的具体方法和原理一致,详细描述请参考图4及步骤403的相关内容,此处不再赘述。
504,将所述检测控制信号输出至数据驱动模组,以使所述数据驱动模组输出目标数据信号。
其中步骤504和步骤404的具体方法和原理一致,详细描述请参考图4及步骤404的相关内容,此处不再赘述。
505,获取所述检测选项对应的源数据信号。
在一实施例中,可以将检测控制信号和源数据信号对应关系存储在检测控制模组中,这样检测控制模组可以基于检测选项确定出检测控制信号。
在另一实施例中,检测控制模组可以根据检测选项直接生成检测控制信号,生成方式可以基于相关技术或者用户自己设置,在此不作限定。
506,输出所述源数据信号至所述数据驱动模组的输入端,以使所述数据驱动模组输出与所述源数据信号匹配的目标数据信号。
本实施例中,检测控制模组输出源数据信号至数据驱动模组的输入端。数据驱动模组根据源数据信号输出与其相匹配的目标数据信号。
本实施例中,通过输入源数据信号可以使数据驱动模组输出目标数据信号,然后根据该目标数据信号和源数据信号对应的期望数据信号对数据驱动模组进行失效检测。其中失效检测可以参见上述的检测选项,包括:
在一实施例中,在目标数据信号和期望数据信号的差值小于或者等于差值阈值时,说明目标数据信号符合要求。在差值大于差值阈值时说明目标数据信号存在问题,此时数据驱动芯片中有电路发生故障。通过该故障可以检测出是数据驱动芯片自身故障还是制作数据驱动芯片的工艺发生变化引起的故障。
在一实施例中,输出端也可以无期望数据信号输出,若检测到存在目标数据信号(即不为零),则可以检测该目标数据信号是否为数据驱动芯片输出的噪声数据信号。另外,通过该目标数据信号还可以验证数据驱动芯片对噪声的抑制能力。例如,若目标数据信号过大,则说明数据驱动芯片对噪声的抑制能力较差,需要技术人员增加相应的滤波电路或者屏蔽周围的噪声,从而提高数据驱动芯片的可靠性。
在一实施例中,备用场效应管组也可能不连接到供电电源,在检测到检测控制信号时,备用场效应管组导通对应的输入端和输出端,此时数据驱动芯片的输出端应该无输出,即目标数据信号为零。为获取到目标数据信号,需要向输入端输入源数据信号。该源数据信号可以根据具体场景进行设置。然后在输出端处获取目标数据信号。基于目标数据信号与源数据信号对应的期望数据信号分析确定数据驱动芯片是否存在问题。
例如,在目标数据信号和期望数据信号的差值(绝对值)小于或者等于差值阈值时,说明目标数据信号符合要求。在差值大于差值阈值时说明目标数据信号存在问题,此时数据驱动芯片中有电路发生故障。通过该故障可以检测出是数据驱动芯片自身故障还是制作数据驱动芯片的工艺发生变化引起的故障。
在一实施例中,通过调整检测控制信号,使数据驱动芯片的期望数据信号相同,这样可以检测数据驱动芯片输出端对称位置的输出端是否输出相同的目标数据信号,从而可以检测该数据驱动芯片在空载时的输出能力。例如,向数据驱动芯片中备用场效应管组输出检测控制信号,依次控制数据驱动芯片的每个输出端输出目标控制信号,然后检测该数据驱动芯片对称位置的输出端输出的目标数据信号是否相同。对称位置的输出端输出的目标数据信号相同时,说明数据驱动芯片的两侧输出端具有相同的输出能力。若对称位置的输出端输出的目标数据信号不同时,说明数据驱动芯片的两侧输出端具有不同的输出能力,此时需要检测导致不同输出能力的原因。
在另一实施例中,将数据驱动模组与显示基板连接,通过调整检测控制信号控制对应的输出端输出目标数据信号,通过调整源数据信号使部分或者全部输出端对应的期望数据信号相同,这样可以基于获取的目标数据信号来确定显示基板的负载。例如在期望数据信号对应的电压相等的情况下,若目标数据信号(可以采集对应的电流)越小,则说明显示基板上对应列像素单元的负载越大;若目标数据信号(可以采集对应的电流)越大,则说明显示基板上对应列像素单元的负载越小。这样,本实施例可以确定显示基板的负载情况以及数据驱动芯片的带载输出情况。
在又一实施例中,数据驱动芯片与数据线相连接时,通过调整检测控制信号控制相邻的输出端输出目标数据信号,通过调整源数据信号使相邻输出端的期望数据信号相同。然后获取相邻数据线的数据电压进行计算,从而得到相邻数据线的干扰情况。还可以获取没有目标数据信号输出的输出端对应数据线的数据电压,有目标数据信号和无目标数据信号对应数据线的数据电压可以判断相邻数据线的干扰情况。
另外,在一些实施例中,数据驱动模组中可以设置控制软件,该控制软件可以获取各输出端的目标数据信号和/或数据线上的数据电压,然后根据目标数据信号和/或数据线上的数据电压判断模组制成工艺中问题(issue)。
基于上述各实施例提供的数据驱动模组以及失效检测方法,本发明实施例还提供了一种显示装置,图6是根据本发明实施例示出的一种显示装置的框图。该显示装置600包括上述实施例所述的数据驱动模组601。
在一实施例中,继续参见图6,该显示装置还包括检测控制模组602。该检测控制模组602与数据驱动模组601连接。其中,检测控制模组602用于根据用户的触发操作确定数据驱动模组601的检测选项,并根据检测选项确定对应的检测控制信号;以及,
检测控制模组602还用于获取检测选项对应的源数据信号,并将源数据信号输出至数据驱动模组601,以使数据驱动模组601输出源数据信号匹配的目标数据信号。
在一实施例中,继续参见图6,该显示装置还包括失效检测模组603。失效检测模组603与数据驱动模组601连接。其中,失效检测模组603用于获取数据驱动模组601输出的目标数据信号,并基于目标数据信号对数据驱动模组进行失效检测,失效检测内容可以参考上述失效检测方法中的内容,在此不再赘述。
本领域技术人员在考虑说明书及实践这里公开的公开后,将容易想到本发明的其它实施方案。本发明旨在涵盖本发明的任何变型、用途或者适应性变化,这些变型、用途或者适应性变化遵循本发明的一般性原理并包括本发明未公开的本技术领域中的公知常识或惯用技术手段。说明书和实施例仅被视为示例性的,本发明的真正范围和精神由下面的权利要求指出。
应当理解的是,本发明并不局限于上面已经描述并在附图中示出的精确结构,并且可以在不脱离其范围进行各种修改和改变。本发明的范围仅由所附的权利要求来限制。

Claims (10)

1.一种数据驱动模组,其特征在于,所述模组中包括数据驱动芯片;所述数据驱动芯片内设置有备用场效应管组;所述备用场效应管组与所述数据驱动芯片的多个输入端和多个输出端连接成预设电路;
所述备用场效应管组用于在接收到检测控制信号时开启,导通所述检测控制信号对应输入端和输出端;
所述检测控制信号为控制所述备用场效应管组中各备用场效应管开启或者关闭的外部电压信号。
2.根据权利要求1所述的数据驱动模组,其特征在于,所述检测控制信号对应输入端和输出端为一一对应的关系。
3.根据权利要求1所述的数据驱动模组,其特征在于,所述检测控制信号对应输入端和输出端为一对多的关系。
4.一种数据驱动模组的失效检测方法,其特征在于,所述失效检测方法适用于权利要求1~3任一项所述的数据驱动模组,所述方法包括:
获取用户的触发操作;
基于所述触发操作确定所述数据驱动模组的检测选项;
确定所述检测选项对应的检测控制信号;
将所述检测控制信号输出至数据驱动模组,以使所述数据驱动模组输出目标数据信号。
5.根据权利要求4所述的失效检测方法,其特征在于,将所述检测控制信号输出至数据驱动模组,以使所述数据驱动模组输出目标数据信号之后,所述方法还包括:
获取所述检测选项对应的源数据信号;
输出所述源数据信号至所述数据驱动模组的输入端,以使所述数据驱动模组输出与所述源数据信号匹配的目标数据信号。
6.根据权利要求4所述的失效检测方法,其特征在于,所述方法还包括:
获取所述数据驱动模组输出的目标数据信号;
基于所述目标数据信号对所述数据驱动模组进行失效检测。
7.根据权利要求6所述的失效检测方法,其特征在于,所述失效检测包括:
计算所述数据驱动模组中数据驱动芯片输出侧的对称位置输出端的目标数据信号是否相等,以获取所述数据驱动芯片的空载输出情况;
计算所述数据驱动芯片与阵列基板连接时所述阵列基板输出侧的对称位置输出端的目标数据信号是否相等,以获取所述数据驱动芯片的带载输出情况和所述阵列基板的负载情况;或者,
计算所述数据驱动芯片与数据线连接时相邻数据线的数据电压,以获取相邻数据线的干扰情况。
8.一种显示装置,其特征在于,所述装置包括权利要求1~3任一项所述的数据驱动模组。
9.根据权利要求8所述的显示装置,其特征在于,所述装置还包括检测控制模组;所述检测控制模组与所述数据驱动模组连接;
所述检测控制模组用于根据用户的触发操作确定所述数据驱动模组的检测选项,并根据所述检测选项确定对应的检测控制信号;以及,
所述检测控制模组还用于获取所述检测选项对应的源数据信号,并将所述源数据信号输出至所述数据驱动模组,以使所述数据驱动模组输出所述源数据信号匹配的目标数据信号。
10.根据权利要求8所述的显示装置,其特征在于,所述装置还包括失效检测模组,所述失效检测模组与所述数据驱动模组连接;
所述失效检测模组用于获取所述数据驱动模组输出的目标数据信号,并基于所述目标数据信号对所述数据驱动模组进行失效检测。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109493770A (zh) * 2018-11-15 2019-03-19 昆山龙腾光电有限公司 显示面板及其检测方法

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1924988A (zh) * 2005-09-02 2007-03-07 恩益禧电子股份有限公司 测试驱动电路的方法以及用于显示装置的驱动电路
US20070146002A1 (en) * 2005-12-23 2007-06-28 Au Optronics Corp. Display device and pixel testing method thereof
CN101958262A (zh) * 2009-07-16 2011-01-26 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 失效检测方法以及失效检测装置
CN102651185A (zh) * 2011-02-23 2012-08-29 联咏科技股份有限公司 显示驱动电路与其操作方法
CN103531152A (zh) * 2013-11-04 2014-01-22 广东威创视讯科技股份有限公司 一种显示控制方法及装置
US20160125782A1 (en) * 2014-10-30 2016-05-05 Samsung Display Co., Ltd. Loading effect control device and organic light emitting display device having the same
CN206595765U (zh) * 2017-03-23 2017-10-27 广州市爱浦电子科技有限公司 高效可靠冗余电路

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1924988A (zh) * 2005-09-02 2007-03-07 恩益禧电子股份有限公司 测试驱动电路的方法以及用于显示装置的驱动电路
US20070146002A1 (en) * 2005-12-23 2007-06-28 Au Optronics Corp. Display device and pixel testing method thereof
CN101958262A (zh) * 2009-07-16 2011-01-26 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 失效检测方法以及失效检测装置
CN102651185A (zh) * 2011-02-23 2012-08-29 联咏科技股份有限公司 显示驱动电路与其操作方法
CN103531152A (zh) * 2013-11-04 2014-01-22 广东威创视讯科技股份有限公司 一种显示控制方法及装置
US20160125782A1 (en) * 2014-10-30 2016-05-05 Samsung Display Co., Ltd. Loading effect control device and organic light emitting display device having the same
CN206595765U (zh) * 2017-03-23 2017-10-27 广州市爱浦电子科技有限公司 高效可靠冗余电路

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109493770A (zh) * 2018-11-15 2019-03-19 昆山龙腾光电有限公司 显示面板及其检测方法

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