CN107942433A - 一种高精度控制光纤长度的制作工艺 - Google Patents

一种高精度控制光纤长度的制作工艺 Download PDF

Info

Publication number
CN107942433A
CN107942433A CN201711187452.5A CN201711187452A CN107942433A CN 107942433 A CN107942433 A CN 107942433A CN 201711187452 A CN201711187452 A CN 201711187452A CN 107942433 A CN107942433 A CN 107942433A
Authority
CN
China
Prior art keywords
length
optical fiber
modular connection
fine
optical
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CN201711187452.5A
Other languages
English (en)
Other versions
CN107942433B (zh
Inventor
岳宝花
周丰
李明
王恩现
陆兆辉
高泽仁
芦春锋
张铭
李娜
孙亚斌
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
CETC 8 Research Institute
Original Assignee
CETC 8 Research Institute
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by CETC 8 Research Institute filed Critical CETC 8 Research Institute
Priority to CN201711187452.5A priority Critical patent/CN107942433B/zh
Publication of CN107942433A publication Critical patent/CN107942433A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN107942433B publication Critical patent/CN107942433B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B6/00—Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings
    • G02B6/02—Optical fibres with cladding with or without a coating
    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B6/00—Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings
    • G02B6/24—Coupling light guides
    • G02B6/25—Preparing the ends of light guides for coupling, e.g. cutting

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Mechanical Coupling Of Light Guides (AREA)

Abstract

一种高精度控制光纤长度的制作工艺，步骤为：固化环境；将整盘光纤或缆在恒温恒湿环境中放一段时间，隔1小时测量光纤或光缆的长度，直至两次测得光纤或缆的长度变化量≤1cm；将光纤或缆分段，段长L目+0.1m；对左端进行标准接头制作；检测左端标准接头的端面研磨质量；在右端制作光插针；测量左端标准接头光学性能参数；测量该段光纤长度，得到数值L1；根据右端标准接头类型，确定制作露纤长度L纤，由L余＝L1‑L目‑L纤计算需截去多余光纤长度；制作右端标准接头；根据右端标准接头类型确定剥除长度，对于光缆，剥除缆皮长度为L皮，对于光纤，涂覆层剥除长度为L涂，用纯乙醇擦拭光纤表面；在右端标准接头固化前，测量露纤长度。本发明能够精确控制光纤真延时系统产生的光纤延时。

Description

一种高精度控制光纤长度的制作工艺
技术领域
本发明涉及光纤制作领域，具体讲是一种高精度控制光纤长度的制作工艺。
背景技术
随着光电子技术、信号处理技术和计算机技术的飞速发展，雷达应运而生。在光控相控雷达中，用光纤真延时系统取代了雷达中的移相器，通过改变光纤真延时系统中的光纤延时就可以改变相控阵单元间相位差，进而改变雷达天线指向角度，精确控制扫描范围，有效地解决了传统相控雷达的“孔径效应”。
光传输的宽带特性使得光纤在相控阵雷达系统的应用越来越广泛，尤其是在延迟线方面，高精度光纤延迟线与增量式光纤延迟线配合使用既可以扩大延迟的时间范围又可以提高延迟的变化精度，通过调节延迟时间来调整相位，可以精确地控制雷达的波瓣。
然而，通过现有工艺制作的上述光纤产品所产生的时延差无法完全满足系统对相位的要求，为此，系统还需要通过移相器来进一步调节相位，对移相器的性能也提出了要求，这样，雷达会存在“孔径效应”。
发明内容
本发明要解决的技术问题是，提供一种高精度控制光纤长度的制作工艺，能够精确控制光纤真延时系统产生的光纤延时。
本发明的技术解决方案是，提供一种高精度控制光纤长度的制作工艺，包括如下步骤：
1)固化环境
根据光纤或光缆的使用环境，确定制作和测试的环境温度和湿度，并在整个制作测试过程中保持恒温、恒湿；
2)静置光纤或光缆，释放应力
将整盘光纤或光缆在恒温、恒湿的环境中放置，在放置过程中，每隔4小时测量该盘光纤或光缆的长度，直至最近两次测得的该盘光纤或光缆的长度值变化量≤1cm，进入下一个环节；
3)粗下料
根据目标长度L目，将光纤或光缆分段，段长为L目+0.1m；
4)对下料后的光纤或光缆的左端进行标准接头的制作；
5)检测左端标准接头的端面研磨质量，若端面研磨质量的3D参数符合要求，则进入下一生产环节，若3D参数不符合要求，则重新制作该标准接头，直至其3D参数符合要求为止；
6)对下料后的光纤或光缆的右端制作Ф2.5mm的光插针；
7)检测光插针的研磨端面质量，若光插针的3D参数符合要求，则进入下一环节，若3D参数不符合要求，则重新制作光插针，直至光插针的3D参数符合要求为止；
8)测量左端标准接头的光学性能参数，若符合要求，则进入下一生产环节，若不符合要求，则重新制作左端标准接头，直至该标准接头的光学性能参数满足要求时，再进入下一生产环节；
9)测量该段光纤的长度，测量多次取平均值，得到数值L1；
10)根据右端标准接头的类型，确定制作该标准接头的露纤长度L纤，根据L余＝L1-L目-L纤来计算需要截去多余的光纤长度；
11)将长为L余的光纤或光缆截去；
12)根据右端标准接头的类型来确定剥除长度，对于光缆，剥除缆皮长度为L皮，而对于光纤，涂覆层的剥除长度为L涂；
13)剥完涂覆层后，用纯乙醇擦拭光纤表面残留物，测量已剥除涂覆层长度，得到数值L已涂，若L已涂＜L涂，涂覆层需再剥除L涂-L已涂，随后再次用纯乙醇擦拭其表面残留物，直至L涂-L已涂≤0.001mm时，进入下一环节；
14)在右端标准接头固化前，测量露纤长度L已纤，︱L已纤-L纤︱≥0.001mm，调整光纤的位置，若L已纤-L纤≤0.001mm，开始固化；
15)对右端标准接头进行研磨；
16)对成品的相关技术指标进行测试。
本发明所述的一种高精度控制光纤长度的制作工艺，其中，在步骤9)中，采用10次测量取平均值的方法来获取数值L1。
采用以上结构后，与现有技术相比，本发明一种高精度控制光纤长度的制作工艺具有以下优点：不仅提高了光纤长度的控制精度，可精确到0.01mm，还改善了多芯光缆组件中各光纤光学长度一致性，误差可达0.1mm，这使得本发明能够精确控制光纤真延时系统产生的光纤延时。
附图说明
图1是通过粗下料后，得到光纤或光缆段的结构示意图；
图2是剥除光缆缆皮时的结构示意图；
图3是在右端标准接头固化前，测量露纤长度时的结构示意图。
具体实施方式
下面结合附图和具体实施方式对本发明一种高精度控制光纤长度的制作工艺作进一步详细说明：
在本具体实施方式中，本发明一种高精度控制光纤长度的制作工艺，包括如下步骤：
1)固化环境
根据光纤或光缆的工作温度和环境湿度，确定制作和测试的工作温度和环境湿度，并在整个制作测试过程中保持恒温、恒湿。例如：工作温度为23℃、湿度70％RH，则在制作工程中，保持温度为23℃、湿度70％RH。
2)静置光纤或光缆，释放应力
为了充分释放光纤或光缆的应力，将制作完成的整盘光纤或光缆在恒温、恒湿的环境中放置，在放置过程中，每隔4小时测量该盘光纤或光缆的长度，直至最近两次测得的该盘光纤或光缆的长度值变化量≤1cm，进入下一个环节。
3)粗下料
参见图1，根据目标长度L目，将光纤或光缆分段，段长为L目+0.1m。
4)对下料后的光纤或光缆的左端进行标准接头(例如FC,SC,ST等)的制作。
5)检测左端标准接头的端面研磨质量，若端面研磨质量的3D参数(曲率半径、顶点偏移、光纤高度)符合要求，则进入下一生产环节；若3D参数(曲率半径、顶点偏移、光纤高度)不符合要求，则重新制作该标准接头，直至其3D参数符合要求为止。
6)对下料后的光纤或光缆的右端制作Ф2.5mm的光插针。
7)检测光插针的研磨端面质量，若光插针的3D参数(曲率半径、顶点偏移、光纤高度)符合要求，则进入下一环节；若3D参数(曲率半径、顶点偏移、光纤高度)不符合要求，则重新制作光插针，直至光插针的3D参数符合要求为止。
8)测量左端标准接头的光学性能参数，如插损、回损，若符合要求，则进入下一生产环节；若不符合要求，则重新制作左端标准接头，直至该标准接头的光学性能参数满足要求时，再进入下一生产环节。
9)测量该段光纤的长度，采用测量10次取平均值的方法来获取数值L1。
10)根据右端标准接头的类型，确定制作该标准接头的露纤长度L纤，根据L余＝L1-L目-L纤来计算需要截去多余的光纤长度；
11)将长为L余的光纤或光缆截去；
12)右端标准接头的制作
参见图2和图3，根据右端标准接头23的类型来确定剥除长度，对于光缆22，剥除缆皮20长度为L皮，而对于光纤21，涂覆层的剥除长度为L涂。
13)剥完涂覆层后，用纯乙醇擦拭光纤表面残留物，测量已剥除涂覆层长度，得到数值L已涂，若L已涂＜L涂，涂覆层需再剥除L涂-L已涂，随后再次用纯乙醇擦拭其表面残留物，直至L涂-L已涂≤0.001mm时，进入下一环节。
14)在右端标准接头23固化前，测量露纤长度L已纤，︱L已纤-L纤︱≥0.001mm，调整光纤的位置；若L已纤-L纤≤0.001mm，开始固化。
15)对右端标准接头进行研磨。
16)对成品的相关技术指标进行测试。
以上所述的实施例仅仅是对本发明的优选实施方式进行描述，并非对本发明的范围进行限定，在不脱离本发明设计精神的前提下，本领域普通技术人员对本发明的技术方案作出的各种变形和改进，均应落入本发明的保护范围内。

Claims (2)

1.一种高精度控制光纤长度的制作工艺，其特征在于，包括如下步骤：
1)固化环境
根据光纤或光缆的使用环境，确定制作和测试的环境温度和湿度，并在整个制作测试过程中保持恒温、恒湿；
2)静置光纤或光缆，释放应力
将整盘光纤或光缆在恒温、恒湿的环境中放置，在放置过程中，每隔4小时测量该盘光纤或光缆的长度，直至最近两次测得的该盘光纤或光缆的长度值变化量≤1cm，进入下一个环节；
3)粗下料
根据目标长度L目，将光纤或光缆分段，段长为L目+0.1m；
4)对下料后的光纤或光缆的左端进行标准接头的制作；
5)检测左端标准接头的端面研磨质量，若端面研磨质量的3D参数符合要求，则进入下一生产环节，若3D参数不符合要求，则重新制作该标准接头，直至其3D参数符合要求为止；
6)对下料后的光纤或光缆的右端制作Ф2.5mm的光插针；
7)检测光插针的研磨端面质量，若光插针的3D参数符合要求，则进入下一环节，若3D参数不符合要求，则重新制作光插针，直至光插针的3D参数符合要求为止；
8)测量左端标准接头的光学性能参数，若符合要求，则进入下一生产环节，若不符合要求，则重新制作左端标准接头，直至该标准接头的光学性能参数满足要求时，再进入下一生产环节；
9)测量该段光纤的长度，测量多次取平均值，得到数值L1；
10)根据右端标准接头的类型，确定制作该标准接头的露纤长度L纤，根据L余＝L1-L目-L纤来计算需要截去多余的光纤长度；
11)将长为L余的光纤或光缆截去；
12)根据右端标准接头的类型来确定剥除长度，对于光缆，剥除缆皮长度为L皮，而对于光纤，涂覆层的剥除长度为L涂；
13)剥完涂覆层后，用纯乙醇擦拭光纤表面残留物，测量已剥除涂覆层长度，得到数值L已涂，若L已涂＜L涂，涂覆层需再剥除L涂-L已涂，随后再次用纯乙醇擦拭其表面残留物，直至L涂-L已涂≤0.001mm时，进入下一环节；
14)在右端标准接头固化前，测量露纤长度L已纤，︱L已纤-L纤︱≥0.001mm，调整光纤的位置，若L已纤-L纤≤0.001mm，开始固化；
15)对右端标准接头进行研磨；
16)对成品的相关技术指标进行测试。
2.根据权利要求1所述的一种高精度控制光纤长度的制作工艺，其特征在于：在步骤9)中，采用测量10次取平均值的方法来获取数值L1。
CN201711187452.5A 2017-11-24 2017-11-24 一种高精度控制光纤长度的制作工艺 Active CN107942433B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201711187452.5A CN107942433B (zh) 2017-11-24 2017-11-24 一种高精度控制光纤长度的制作工艺

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201711187452.5A CN107942433B (zh) 2017-11-24 2017-11-24 一种高精度控制光纤长度的制作工艺

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN107942433A true CN107942433A (zh) 2018-04-20
CN107942433B CN107942433B (zh) 2019-11-15

Family

ID=61931086

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201711187452.5A Active CN107942433B (zh) 2017-11-24 2017-11-24 一种高精度控制光纤长度的制作工艺

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN107942433B (zh)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN110727053A (zh) * 2019-10-31 2020-01-24 中国电子科技集团公司第四十四研究所 一种基于磨抛工艺的高精度光纤延时调节方法

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007063093A (ja) * 2005-09-01 2007-03-15 Fujikura Ltd 光ファイバの製造方法および製造装置
CN101319878A (zh) * 2008-07-15 2008-12-10 浙江大学 一种高精度大范围测量光纤长度的方法和设备
CN101726796A (zh) * 2009-12-16 2010-06-09 电子科技大学 高精度光纤长度切割装置及其切割方法
CN103149635A (zh) * 2013-03-04 2013-06-12 东南大学 一种固定长延时光纤延时线的制作方法及光纤切割装置
CN104570214A (zh) * 2015-01-19 2015-04-29 上海交通大学 高精度长距离光纤延迟线的制作辅助装置及其制作方法

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007063093A (ja) * 2005-09-01 2007-03-15 Fujikura Ltd 光ファイバの製造方法および製造装置
CN101319878A (zh) * 2008-07-15 2008-12-10 浙江大学 一种高精度大范围测量光纤长度的方法和设备
CN101726796A (zh) * 2009-12-16 2010-06-09 电子科技大学 高精度光纤长度切割装置及其切割方法
CN103149635A (zh) * 2013-03-04 2013-06-12 东南大学 一种固定长延时光纤延时线的制作方法及光纤切割装置
CN104570214A (zh) * 2015-01-19 2015-04-29 上海交通大学 高精度长距离光纤延迟线的制作辅助装置及其制作方法

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN110727053A (zh) * 2019-10-31 2020-01-24 中国电子科技集团公司第四十四研究所 一种基于磨抛工艺的高精度光纤延时调节方法
CN110727053B (zh) * 2019-10-31 2020-07-14 中国电子科技集团公司第四十四研究所 一种基于磨抛工艺的高精度光纤连接结构的制备方法

Also Published As

Publication number Publication date
CN107942433B (zh) 2019-11-15

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN102322813B (zh) 三维网格应变测量方法
CN102062677A (zh) 折射率分布测量方法和折射率分布测量装置
CN104608402A (zh) 飞机用复合材料型面精准成型变形补偿方法
CN107942433B (zh) 一种高精度控制光纤长度的制作工艺
CN105627944A (zh) 基于零位补偿光学系统检测非球面镜面形的方法
KR101852686B1 (ko) 비행체의 유동속도 및 유동각을 도출하는 방법
CN111707439B (zh) 一种可压缩流体湍流度测量试验数据的双曲线拟合方法
CN114413780B (zh) 一种用于飞机测试的结构热应变测量方法
CN106199220A (zh) 基于光程差校正的阵列天线相位一致性测量方法
Gieren et al. Comparison of the open cluster and surface-brightness distance scales for galactic classical Cepheids
CN107462347A (zh) 高精度光纤光栅传感器的波长温度自适应分段拟合方法
CN112729214B (zh) 一种基于试验数据修正基准点坐标的测量方法
CN110954253A (zh) 一种应力测量方法及应力测量光路装置
CN106323587B (zh) 机翼风洞试验模型弹性变形的单目视频高精度测量方法
CN110208777B (zh) 精确的角反射器几何误差测量方法
CN109737885A (zh) 一种复合材料零件的变形量检测方法
CN107941469B (zh) 一种等边三棱镜顶角偏差测量方法
CN110702997A (zh) 一种基于时域技术的高温材料介电性能测试方法及系统
CN113901690B (zh) 星载反射面天线在轨热变形性能评估方法
CN109406106B (zh) 光学材料折射率均匀性的评价方法
CN115790412A (zh) 一种膜厚测试和均匀性调节方法
CN115236408A (zh) 一种薄膜介质介电常数无损反射测量方法
EP1322455B1 (en) Predicting behaviour of a moulded composite component
CN110986819B (zh) 一种法珀腔型光纤曲率传感探头及其制作方法
CN112040122A (zh) 计算摄像头模组搭载胶缩补偿量的方法、介质和电子设备

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant