CN107933003A - 一种应变计用盖层密封膜及其制备方法和使用方法 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种应变计用盖层密封膜及其制备方法和使用方法，盖层密封膜包括应变计盖层，应变计盖层的密封层表面设置有粘胶层，粘胶层上粘接有盖层离型纸，其中应变计盖层上开有多个标记点，且应变计盖层上与对应应变计焊盘的位置镂空设置；盖层密封膜用于整版应变计的密封。能够实现应变计整版自动密封，特别是常规工艺无法实现的异形图形的密封，对位精度较手工提升3倍；密封效率提升5倍以上，完美解决了现有人工生产效率低，质量不稳定，产品一致性差的问题。

Description

一种应变计用盖层密封膜及其制备方法和使用方法
技术领域
本发明涉及应变计密封技术领域，具体涉及一种应变计用盖层密封膜及其制备方法和使用方法。
背景技术
应变计盖层密封是应变计生产过程的核心工序之一，盖层一方面能起到绝缘作用，另一方面能有效的保护应变计的敏感栅，避免受到机械损伤，导致应变计无法使用。
目前，应变计的密封主要方法是先制备大张密封膜，将密封膜切割成条形，人工在条状密封膜涂胶，然后借助光源、定位标志、辅助工装将涂好胶的条状密封膜与应变计粘贴，形成密封层。
在该方法中，工人在对应变计进行密封前，需要先将整张的盖层膜，根据应变计的尺寸分切成条。然后使用涂胶笔在单条盖层上涂刷一层粘接胶，通过肉眼识别应变计上的盖层定位线，配合手部动作，将盖层粘贴到应变计上。一板应变计上有多少行产品，该动作就要重复多少次。盖层定位精度约±0.3mm，完全依赖光源、定位标志、工装和员工的手眼配合能力，对员工的操作技能要求很高。该生产工艺只能解决图形规则应变计的密封要求(方形和圆形)，对于异性结构应变计，则无法采用此工艺进行密封。过多的手工作业，不但生产效率低，产品一致性差，无法盖层定位高精度和一致性要求，而且容易引入污染物，影响产品的良品率。
发明内容
本发明提供了一种应变计用盖层密封膜及其制备方法，该密封膜能够用于应变计的自动密封。
本发明提供了一种应变计密封方法，应用上述盖层密封面进行应变计的密封，能够实现应变计整版自动密封，且精度较高的密封方式，满足大部分应变计的盖层密封；解决了现有人工生产效率低，质量不稳定，产品一致性差的问题。
本发明的技术方案是：一种应变计用盖层密封膜，包括应变计盖层，应变计盖层的密封层表面设置有粘胶层，粘胶层上粘接有盖层离型纸，其中应变计盖层上开有多个标记点，且应变计盖层上与对应应变计焊盘的位置镂空设置。
更进一步的，本发明的特点还在于：
其中应变计盖层的厚度为15-50μm。
其中粘胶层为环氧粘胶层、氰基丙烯酸类或酚醛类粘胶层，且粘胶层的厚度为3-5μm。
其中标记点的面积为1-25mm2。
本发明还提供了上述盖层密封膜的制备方法，包括以下步骤：
步骤S1，在应变计盖层的密封层表面涂覆粘胶层，在60-120℃的条件下固化0.5-4h，在粘胶层上粘贴盖层离型纸，然后在应变计盖层上开设多个标记点；
步骤S2，将应变计盖层上与对应应变计焊盘的位置切割掉，使该位置为镂空；即得到盖层密封膜。
更进一步的，本发明的特点还在于：
其中步骤S2中将盖层密封膜制成卷材。
其中步骤S2中通过机械或激光方式进行切割。
本发明还提供了使用上述盖层密封膜进行应变计密封的方法，包括以下步骤：
步骤S1，在应变计基底上对应盖层密封膜上对应标记点的设置开设相同的标记点；
步骤S2，将盖层密封膜上的盖层离型纸去掉，将盖层密封膜具有粘胶层的一面贴合在应变计基底上，且应变计基底上的标记点与盖层密封膜上的标记点互相重合，且盖层密封膜上镂空的位置将应变计基底上的应变计焊盘露出，完成应变计的密封。
更进一步的，本发明的特点还在于：
其中步骤S2中得到为整版密封完成的应变计，在按照单个应变计的规格进行裁剪，得到单个密封的应变计。
其中步骤S1中应变计基底的厚度为20-250μm。
与现有技术相比，本发明的有益效果是：该方案解决了之前应变计盖层只能手工单条粘贴，盖层定位一致性差的问题；通过设计密封膜，将应变计盖层与离型纸贴合，解决应变计盖层易折皱，强度低，无法精确开窗镂空成形的问题；因此根据结构形式不同的应变计，通过机械刀模冲切，制作成对应的密封膜，精度可达0.03mm，使用激光切割的精度能达到0.005mm，应变计盖层尺寸一致性显著提升。然后将盖层准确、快速的粘贴到应变计表面，不但生产效率高，而且粘贴精度高，可靠性好，能够实现应变计盖层整版自动密封。
更进一步的，密封膜的成卷生产，解决了应变计盖层片材产生褶皱的问题，便于存放。
更进一步的，整版密封膜的开窗成形，使应变计粘贴对位一致性明显提升。
更进一步的，实现了应变计整版自动密封，提高了生产效率。
更进一步的，密封膜的切割精度能够达到±0.03mm，利用现有的盖层假贴机，其CCD识别精度能达到±0.005mm，加上密封膜加工过程中产生的精度误差，特别是常规工艺无法实现的异形图形的密封，对位精度较手工提升3倍；密封效率提升5倍以上，完美密封膜与应变计基底的粘贴对位精度能够达到±0.05mm，从而其综合精度达到±0.1mm，批量生产能够达到6δ水平，且CPK(制程能力指数)＞1.33。
附图说明
图1为本发明中盖层密封膜的截面示意图；
图2为本发明中盖层密封膜镂空前的俯视图
图3为本发明中实施例1盖层密封膜镂空后的俯视图；
图4为本发明中实施例1应变计基底正面俯视图；
图5为本发明中实施例1整版应变计密封后的结构示意图；
图6为本发明中实施例1整版应变计密封后的截面示意图；
图7为本发明中实施例2盖层密封膜镂空后的俯视图；
图8为本发明中实施例2应变计基底正面俯视图；
图9为本发明中实施例2整版应变计密封后的结构示意图。
图中：1为应变计盖层；2为应变计焊盘；3为应变计基底；4为粘胶层；51为应变计基底标记点A；52为应变计基底标记点B；53为应变计基底标记点C；54为应变计基底标记点D；61为应变计盖层标记点A；62为应变计盖层标记点B；63为应变计盖层标记点C；64为应变计盖层标记点D；7为应变计盖层镂空部分；8为盖层离型纸。
具体实施方式
下面结合附图和具体实施例对本发明的技术方案进一步说明。
本发明提供了一种应变计用盖层密封膜，如图1所示，包括应变计盖层1，应变计盖层1的厚度为15-50μm，且应变计盖层1的密封层表面设置有粘胶层4，粘胶层4优选为环氧粘胶剂、氰基丙烯酸类或酚醛类粘胶剂，粘胶层4的厚度为3-5μm；如图3和7所示，盖层密封膜上开有多个标记点，标记点设置在盖层密封膜的边缘位置，且盖层密封模块与应变计焊盘2对应的位置上开窗成镂空设置，应变计焊盘2的形状不同，镂空成相应的形状。
本发明提供了上述应变计用盖层密封膜的制备方法，包括以下步骤：
步骤S1，在应变计盖层1的密封层表面涂覆粘胶层4，在60-120℃的条件下固化0.5-4h，在粘胶层上粘贴盖层离型纸8，得到如图2所示的完整的盖层密封膜，然后在应变计盖层1上开设多个标记点。
步骤S2，通过机械或激光方式将应变计盖层1上与对应应变计焊盘2的位置切割掉，使该位置为镂空，得到如图3和7所示的镂空后的盖层密封膜，即得到盖层密封膜；其中切割的精度为±0.03mm。
为了方便保存和使用盖层密封膜，将其制成卷材。
优选的步骤S1中固化温度可设置为60℃、70℃、80℃、90℃、100℃、110℃或120℃；固化时间为0.5h、1h、2h、2.5h、3h或4h。
本发明还提供了使用上述盖层密封膜进行应变计密封的方法，包括以下步骤：
步骤S1，如图4或8所示，在应变计基底3上与盖层密封膜标记点对应的位置上开设相同的标记点；其中应变计基底3的厚度为20-250μm，外形尺寸最大为110×250mm。
步骤S2，如图5和9所示，将盖层密封膜上的盖层离型纸8去掉，将盖层密封膜具有粘胶层4的一面贴合在应变计基底3上，且应变计基底3上的标记点与盖层密封膜上的标记点互相重合，且盖层密封膜上镂空的位置将应变计基底3上的应变计焊盘2露出，完成应变计的密封。
其中步骤S2中得到的为整版密封完成的应变计，在按照单个应变计的规格进行裁剪，得到单个密封的应变计。
优选的应变计基底3的厚度为20μm、50μm、80μm、120μm、150μm、180μm、200μm、230μm或250μm；应变计基底3的外形尺寸为50×100mm、50×150mm、50×200mm、90×150mm、80×180mm、100×2000mm或110×250mm。
本发明盖层密封膜进行应变计密封的方法中，撕去盖层密封膜背面的盖层离型纸8，将密封膜具有粘胶层4的一面朝下放置在盖层粘贴设备的盖层上料板上，将应变计基底3放置在盖层粘贴设备基材上料板上。设备工作时，首先由机械手通过真空吸附方式将应变计基底3抓取到设备工作台面，工作台面设置有真空吸附孔，保持应变计基底3平整及位置固定，盖层密封膜由盖层吸盘进行抓取，通过高精度CCD对应变计基底及盖层密封膜互相对应的定位标志进行扫描，CCD的识别精度为±0.005mm，通过控制软件进行补偿计算，使盖层密封膜的标记点与载台上的应变计基底3的标记点快速准确对位，具体的如图3和4所示，应变计基底标记点A51与应变计盖层标记点A61对应，应变计基底标记点B52与应变计盖层标记点B62对应，应变计基底标记点C53与应变计盖层标记点C63对应，应变计基底标记点D54与应变计盖层标记点D64对应，同时将机械吸附转盘下降预热盖层使其准确粘贴到应变计表面。
本发明的具体实施例包括：
实施例1
如图2所示，首先制备得到完整的不大于110×250mm的盖层密封膜，然后根据对应应变计焊盘2的形状和大小将盖层密封膜上相应的位置通过机械或激光方式切割，同时在盖层密封膜的四个角位置切割得到标记点，形成如图3所示的镂空结构，然后使用盖层假贴机，通过分别识别盖层密封膜和应变计基底3上的标记点，然后使其一一对应，如图3和4所示，具体的应变计基底标记点A51与应变计盖层标记点A61对应，应变计基底标记点B52与应变计盖层标记点B62对应，应变计基底标记点C53与应变计盖层标记点C63对应，应变计基底标记点D54与应变计盖层标记点D64对应；然后控制机械吸盘将盖层密封膜贴合到应变计基底3的表面上，如图5所示，其中应变计焊盘2从盖层密封膜上镂空的位置露出，经过一段时间加热之后，使粘胶层4与应变计基底3粘接到一起，实现应变计的自动密封；得到如图6所示的整版的密封后的应变计，然后通过切割即可得到应变计单体。
实施例2
首先制备得到完整的不大于110×250mm的盖层密封膜，然后根据对应应变计焊盘2的形状和大小将盖层密封膜上相应的位置通过机械或激光方式切割，同时在盖层密封膜的四个角位置切割得到标记点，形成如图7所示的镂空结构，然后使用盖层假贴机，通过分别识别盖层密封膜和应变计基底3上的标记点，然后使其一一对应，如图7和8所示，具体的应变计基底标记点A51与应变计盖层标记点A61对应，应变计基底标记点B52与应变计盖层标记点B62对应，应变计基底标记点C53与应变计盖层标记点C63对应，应变计基底标记点D54与应变计盖层标记点D64对应；然后控制机械吸盘将盖层密封膜贴合到应变计基底3的表面上，如图9所示，其中应变计焊盘2从盖层密封膜上镂空的位置露出，经过一段时间加热之后，使粘胶层4与应变计基底3粘接到一起，实现应变计的自动密封。

Claims (10)

1.一种应变计用盖层密封膜，其特征在于，包括应变计盖层(1)，应变计盖层(1)的密封层表面设置有粘胶层(4)，粘胶层(4)上粘接有盖层离型纸(8)，其中应变计盖层(1)上开有多个标记点，且应变计盖层(1)上与对应应变计焊盘(2)的位置镂空设置。
2.根据权利要求1所述的应变计用盖层密封膜，其特征在于，所述应变计盖层(1)的厚度为15-50μm。
3.根据权利要求1所述的应变计用盖层密封膜，其特征在于，所述粘胶层(4)为环氧粘胶层、氰基丙烯酸类或酚醛类粘胶层，且粘胶层(4)的厚度为3-5μm。
4.根据权利要求1所述的应变计用盖层密封膜，其特征在于，所述标记点的面积为1-25mm2。
5.一种如权利要求1所述的盖层密封膜的制备方法，其特征在于，包括以下步骤：
步骤S1，在应变计盖层(1)的密封层表面涂覆粘胶层(4)，在60-120℃的条件下固化0.5-4h，在粘胶层(4)上粘贴盖层离型纸(8)，然后在应变计盖层(1)上开设多个标记点；
步骤S2，将应变计盖层(1)上与对应应变计焊盘(2)的位置切割掉，使该位置为镂空；即得到盖层密封膜。
6.根据权利要求5所述的盖层密封膜的制备方法，其特征在于，所述步骤S2中将盖层密封膜制成卷材。
7.根据权利要求5所述的盖层密封膜的制备方法，其特征在于，所述步骤S2中通过机械或激光方式进行切割。
8.一种使用如权利要求1所述的盖层密封膜进行应变计密封的方法，其特征在于，包括以下步骤：
步骤S1，在应变计基底(3)上与对应盖层密封膜上标记点对应的设置开设相同的标记点；
步骤S2，将盖层密封膜上的盖层离型纸(8)去掉，将盖层密封膜具有粘胶层(4)的一面贴合在应变计基底(3)上，且应变计基底(3)上的标记点与盖层密封膜上的标记点互相重合，且盖层密封膜上镂空的位置将应变计基底(3)上的应变计焊盘(2)露出，完成应变计的密封。
9.根据权利要求8所述的使用盖层密封膜进行应变计密封的方法，其特征在于，所述步骤S2中得到为整版密封完成的应变计，在按照单个应变计的规格进行裁剪，得到单个密封的应变计。
10.根据权利要求8所述的使用盖层密封膜进行应变计密封的方法，其特征在于，所述步骤S1中应变计基底(3)的厚度为20-250μm。
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