CN107908509A - 一种针对处理器的自动化测试方法 - Google Patents

一种针对处理器的自动化测试方法 Download PDF

Info

Publication number
CN107908509A
CN107908509A CN201711086977.XA CN201711086977A CN107908509A CN 107908509 A CN107908509 A CN 107908509A CN 201711086977 A CN201711086977 A CN 201711086977A CN 107908509 A CN107908509 A CN 107908509A
Authority
CN
China
Prior art keywords
clock frequency
test
processor
working voltage
testing method
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN201711086977.XA
Other languages
English (en)
Inventor
曾涛
万勇
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Amlogic Shanghai Co Ltd
Amlogic Inc
Original Assignee
Amlogic Shanghai Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Amlogic Shanghai Co Ltd filed Critical Amlogic Shanghai Co Ltd
Priority to CN201711086977.XA priority Critical patent/CN107908509A/zh
Publication of CN107908509A publication Critical patent/CN107908509A/zh
Priority to PCT/CN2018/113140 priority patent/WO2019091319A1/zh
Priority to US16/645,404 priority patent/US11415627B2/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/317—Testing of digital circuits
    • G01R31/31727—Clock circuits aspects, e.g. test clock circuit details, timing aspects for signal generation, circuits for testing clocks
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/30—Marginal testing, e.g. by varying supply voltage
    • G01R31/3004—Current or voltage test
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/317—Testing of digital circuits
    • G01R31/31724—Test controller, e.g. BIST state machine
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F1/00—Details not covered by groups G06F3/00 - G06F13/00 and G06F21/00
    • G06F1/04—Generating or distributing clock signals or signals derived directly therefrom
    • G06F1/14—Time supervision arrangements, e.g. real time clock
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/22—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
    • G06F11/2205—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing using arrangements specific to the hardware being tested
    • G06F11/2236—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing using arrangements specific to the hardware being tested to test CPU or processors
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/22—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
    • G06F11/2273—Test methods

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Quality & Reliability (AREA)
  • Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)

Abstract

本发明涉及一种处理器测试技术，尤其涉及一种针对处理器的自动化测试方法，其中，包括：步骤S1，进行测试准备；步骤S2，设置待测试的处理器的运行电压和时钟频率；步骤S3，以当前运行电压和时钟频率进行负载测试；步骤S4，判断处理器进行当前负载测试时是否正常；若是，则转向步骤S5；若否，则将当前运行电压提升一第一增长值并返回步骤S2；步骤S5，记录当前时钟频率对应的通过负载测试的运行电压作为测试结果，并判断当前时钟频率是否达到上限；若是，则结束；若否，则将当前时钟频率提升一第二增长值并返回步骤S2；能够实现处理器的自动化测试，迅速、有效地获得处理器正常运行时时钟频率对应的运行电压，并且能够适用于多个平台。

Description

一种针对处理器的自动化测试方法
技术领域
本发明涉及一种处理器测试技术，尤其涉及一种针对处理器的自动化测试方法。
背景技术
DVFS(Dynamic Voltage and Frequency System动态电压和频率系统，简称DVFS)是嵌入式系统中一个非常重要的部分，能够根据CPU(Central Processing Unit中央处理器，简称CPU)运行的频率动态调节供给内核的电压，达到节省功耗降低发热的目的。然而CPU运行频率和内核电压关系表格需要标定，通常都是芯片设计端给出一个参考范围值。受限于芯片流片工艺，个体差异等因素的影响。标定通常都是在实际平台上运行负载较重的程序，先给内核供给一个较大的，稳定的电压，然后逐步下探内核电压，直到死机或者异常出现。这样可以探明芯片在固定频率下，能稳定运行的下限电压。
但是，现有的测试技术需要手动输入命令确定频率、待标定的运行电压等操作，效率较低，并且容易误操作；标定过程需要较长时间，如果标定过程中碰到死机，需要人工再次重启继续标定，无法做到无人值守；由于操作需要人工完成，在多个平台上部署难度大，得到的结果具有局限性。
发明内容
针对上述问题，本发明提出了一种针对处理器的自动化测试方法，其中，包括：
步骤S1，进行测试准备；
步骤S2，设置待测试的处理器的运行电压和时钟频率；
步骤S3，以当前所述运行电压和所述时钟频率进行负载测试；
步骤S4，判断所述处理器进行当前所述负载测试时是否正常；
若是，则转向步骤S5；若否，则将当前所述运行电压提升一第一增长值并返回所述步骤S2；
步骤S5，记录当前所述时钟频率对应的通过所述负载测试的所述运行电压作为测试结果，并判断当前所述时钟频率是否达到上限；
若是，则结束；若否，则将当前所述时钟频率提升一第二增长值并返回所述步骤S2。
上述的自动化测试方法，其中，还包括：
步骤S6，重复所述步骤S1～S5获得多个所述测试结果，当多个所述测试结果不同时，取多个所述测试结果中每个所述时钟频率对应的所述运行电压中电压值最大的作为最终测试结果进行输出。
上述的自动化测试方法，其中，每个所述测试结果由不同的测试平台得到。
上述的自动化测试方法，其中，所述步骤S1包括：
步骤S11，加载并解析设置有测试数据的一配置文件；
步骤S12，初始化相关的测试数据的结构；
步骤S13，获取测试的初始的所述运行电压和所述时钟频率。
上述的自动化测试方法，其中，所述步骤S13中，从所述配置文件中获取首次测试的所述运行电压和所述时钟频率。
上述的自动化测试方法，其中，所述配置文件包括命令信息，测试周期信息，电压修改命令信息，和/或频率修改命令信息。
上述的自动化测试方法，其中，所述配置文件还包括处理器内核参数信息。
上述的自动化测试方法，其中，所述步骤S5中，结束时同时生成反映所述测试结果的结果文件。
有益效果：本发明提出的一种针对处理器的自动化测试方法，能够实现处理器的自动化测试，迅速、有效地获得处理器正常运行时时钟频率对应的运行电压，并且能够适用于多个平台。
附图说明
图1为本发明一实施例中针对处理器的自动化测试方法的步骤流程图。
具体实施方式
下面结合附图和实施例对本发明进行进一步说明。
在一个较佳的实施例中，如图1所示，提出了一种针对处理器的自动化测试方法，其中，可以包括：
步骤S1，进行测试准备；
步骤S2，设置待测试的处理器的运行电压和时钟频率；
步骤S3，以当前运行电压和时钟频率进行负载测试；
步骤S4，判断处理器进行当前负载测试时是否正常；
若是，则转向步骤S5；若否，则将当前运行电压提升一第一增长值并返回步骤S2；
步骤S5，记录当前时钟频率对应的通过负载测试的运行电压作为测试结果，并判断当前时钟频率是否达到上限；
若是，则结束；若否，则将当前时钟频率提升一第二增长值并返回步骤S2。
上述技术方案中，负载测试指的是让处理器运行在特定负载下；判断处理器进行当前负载测试时是否正常，判断标准可以是通过判断处理器运行过程中是否出现死机或其他异常情况，若未出现死机或其他异常情况则判断处理器进行当前负载测试正常，否则判断处理进行当前负载测试不正常，因此需要提高电压进行测试；执行测试的测试系统中可以设定有看门狗模块，用于在死机等异常情况出现时重启测试系统并继续测试流程，保证测试流程的完整和可靠。
在一个较佳的实施例中，还可以包括：
步骤S6，重复步骤S1～S5获得多个测试结果，当多个测试结果不同时，取多个测试结果中每个时钟频率对应的运行电压中电压值最大的作为最终测试结果进行输出。
上述技术方案中，举例来说，单个平台重复测试，往往会产生多个测试结果，这些测试结果可能是不同的，例如某个平台第一次测试得到的时钟频率为1.00GHz(赫兹)对应的运行电压为0.980V，第二次测试由于测试环境等因素的影响，测试得到的时钟频率为1.0GHz应的运行电压为0.990V，此时输出的应为运行电压0.990V与1.0GHz的时钟频率进行对应，以保证芯片运行的可靠性。
上述实施例中，优选地，每个测试结果由不同的测试平台得到，不同的测试平台可以是同时测试，或者获得不同平台的测试结果的存储数据。
在一个较佳的实施例中，步骤S1可以包括：
步骤S11，加载并解析设置有测试数据的一配置文件；
步骤S12，初始化相关的测试数据的结构；
步骤S13，获取测试的初始的运行电压和时钟频率。
上述实施例中，优选地，步骤S13中，从配置文件中获取首次测试的运行电压和时钟频率。
上述实施例中，优选地，配置文件包括命令信息，测试周期信息，电压修改命令信息，和/或频率修改命令信息。
上述实施例中，优选地，配置文件还可以包括处理器内核参数信息。
在一个较佳的实施例中，步骤S5中，结束时同时生成反映测试结果的结果文件，该结果文件中可以包括每个时钟频率对应的运行电压的数据列表。
综上所述，本发明提出的一种针对处理器的自动化测试方法，其中，包括：步骤S1，进行测试准备；步骤S2，设置待测试的处理器的运行电压和时钟频率；步骤S3，以当前运行电压和时钟频率进行负载测试；步骤S4，判断处理器进行当前负载测试时是否正常；若是，则转向步骤S5；若否，则将当前运行电压提升一第一增长值并返回步骤S2；步骤S5，记录当前时钟频率对应的通过负载测试的运行电压作为测试结果，并判断当前时钟频率是否达到上限；若是，则结束；若否，则将当前时钟频率提升一第二增长值并返回步骤S2；能够实现处理器的自动化测试，迅速、有效地获得处理器正常运行时时钟频率对应的运行电压，并且能够适用于多个平台。
通过说明和附图，给出了具体实施方式的特定结构的典型实施例，基于本发明精神，还可作其他的转换。尽管上述发明提出了现有的较佳实施例，然而，这些内容并不作为局限。
对于本领域的技术人员而言，阅读上述说明后，各种变化和修正无疑将显而易见。因此，所附的权利要求书应看作是涵盖本发明的真实意图和范围的全部变化和修正。在权利要求书范围内任何和所有等价的范围与内容，都应认为仍属本发明的意图和范围内。

Claims (8)

1.一种针对处理器的自动化测试方法，其特征在于，包括：
步骤S1，进行测试准备；
步骤S2，设置待测试的处理器的运行电压和时钟频率；
步骤S3，以当前所述运行电压和所述时钟频率进行负载测试；
步骤S4，判断所述处理器进行当前所述负载测试时是否正常；
若是，则转向步骤S5；若否，则将当前所述运行电压提升一第一增长值并返回所述步骤S2；
步骤S5，记录当前所述时钟频率对应的通过所述负载测试的所述运行电压作为测试结果，并判断当前所述时钟频率是否达到上限；
若是，则结束；若否，则将当前所述时钟频率提升一第二增长值并返回所述步骤S2。
2.根据权利要求1所述的自动化测试方法，其特征在于，还包括：
步骤S6，重复所述步骤S1～S5获得多个所述测试结果，当多个所述测试结果不同时，取多个所述测试结果中每个所述时钟频率对应的所述运行电压中电压值最大的作为最终测试结果进行输出。
3.根据权利要求2所述的自动化测试方法，其特征在于，每个所述测试结果由不同的测试平台得到。
4.根据权利要求1所述的自动化测试方法，其特征在于，所述步骤S1包括：
步骤S11，加载并解析设置有测试数据的一配置文件；
步骤S12，初始化相关的测试数据的结构；
步骤S13，获取测试的初始的所述运行电压和所述时钟频率。
5.根据权利要求4所述的自动化测试方法，其特征在于，所述步骤S13中，从所述配置文件中获取首次测试的所述运行电压和所述时钟频率。
6.根据权利要求4所述的自动化测试方法，其特征在于，所述配置文件包括命令信息，测试周期信息，电压修改命令信息，和/或频率修改命令信息。
7.根据权利要求6所述的自动化测试方法，其特征在于，所述配置文件还包括处理器内核参数信息。
8.根据权利要求1所述的自动化测试方法，其特征在于，所述步骤S5中，结束时同时生成反映所述测试结果的结果文件。
CN201711086977.XA 2017-11-07 2017-11-07 一种针对处理器的自动化测试方法 Pending CN107908509A (zh)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201711086977.XA CN107908509A (zh) 2017-11-07 2017-11-07 一种针对处理器的自动化测试方法
PCT/CN2018/113140 WO2019091319A1 (zh) 2017-11-07 2018-10-31 一种针对处理器的自动化测试方法
US16/645,404 US11415627B2 (en) 2017-11-07 2018-10-31 Method for automatically testing processor

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201711086977.XA CN107908509A (zh) 2017-11-07 2017-11-07 一种针对处理器的自动化测试方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN107908509A true CN107908509A (zh) 2018-04-13

Family

ID=61842853

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201711086977.XA Pending CN107908509A (zh) 2017-11-07 2017-11-07 一种针对处理器的自动化测试方法

Country Status (3)

Country Link
US (1) US11415627B2 (zh)
CN (1) CN107908509A (zh)
WO (1) WO2019091319A1 (zh)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2019091319A1 (zh) * 2017-11-07 2019-05-16 晶晨半导体(上海)股份有限公司 一种针对处理器的自动化测试方法
CN112783705A (zh) * 2021-01-22 2021-05-11 展讯通信(天津)有限公司 一种测试方法、装置、系统、芯片和电子设备
CN113190386A (zh) * 2021-04-06 2021-07-30 深圳市紫光同创电子有限公司 芯片及其使用方法

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US11630674B2 (en) * 2018-08-08 2023-04-18 Evga Corporation Smart overclocking method conducted in basic input/output system (BIOS) of computer device
CN112526319B (zh) * 2020-11-25 2022-11-22 海光信息技术股份有限公司 芯片测试方法、装置、处理器芯片及服务器
CN113448789A (zh) * 2021-06-30 2021-09-28 东莞市小精灵教育软件有限公司 一种测试方法、装置和电子设备

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101968840A (zh) * 2010-10-26 2011-02-09 杭州晟元芯片技术有限公司 一种基于电压检测和频率检测的芯片抗攻击方法
US20160364308A1 (en) * 2015-06-12 2016-12-15 Vedvyas Shanbhogue Providing autonomous self-testing of a processor
WO2017052990A1 (en) * 2015-09-26 2017-03-30 Intel Corporation Technologies for temperature measurement of a processor
CN107015891A (zh) * 2017-03-02 2017-08-04 联想(北京)有限公司 信息处理方法及测试芯片

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7849332B1 (en) * 2002-11-14 2010-12-07 Nvidia Corporation Processor voltage adjustment system and method
JP2007178387A (ja) * 2005-12-28 2007-07-12 Toshiba Corp 半導体集積回路装置
KR101107417B1 (ko) * 2008-04-14 2012-01-19 가부시키가이샤 어드밴티스트 반도체 시험장치 및 시험방법
US7915910B2 (en) * 2009-01-28 2011-03-29 Apple Inc. Dynamic voltage and frequency management
US10338670B2 (en) * 2016-06-10 2019-07-02 Microsoft Technology Licensing, Llc Input voltage reduction for processing devices
CN106201888A (zh) * 2016-07-18 2016-12-07 四川君逸易视科技有限公司 智能视频叠加处理器自动测试方法及装置
CN107101572A (zh) * 2017-04-28 2017-08-29 国家电网公司 一种配网工程电缆敷设长度的计量方法和系统
CN107256078B (zh) * 2017-05-05 2020-06-23 浙江大华技术股份有限公司 一种动态电压频率调整方法及装置
CN107908509A (zh) * 2017-11-07 2018-04-13 晶晨半导体(上海)股份有限公司 一种针对处理器的自动化测试方法

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101968840A (zh) * 2010-10-26 2011-02-09 杭州晟元芯片技术有限公司 一种基于电压检测和频率检测的芯片抗攻击方法
US20160364308A1 (en) * 2015-06-12 2016-12-15 Vedvyas Shanbhogue Providing autonomous self-testing of a processor
WO2017052990A1 (en) * 2015-09-26 2017-03-30 Intel Corporation Technologies for temperature measurement of a processor
CN107015891A (zh) * 2017-03-02 2017-08-04 联想(北京)有限公司 信息处理方法及测试芯片

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2019091319A1 (zh) * 2017-11-07 2019-05-16 晶晨半导体(上海)股份有限公司 一种针对处理器的自动化测试方法
US11415627B2 (en) 2017-11-07 2022-08-16 Amlogic (Shanghai) Co., Ltd. Method for automatically testing processor
CN112783705A (zh) * 2021-01-22 2021-05-11 展讯通信(天津)有限公司 一种测试方法、装置、系统、芯片和电子设备
CN113190386A (zh) * 2021-04-06 2021-07-30 深圳市紫光同创电子有限公司 芯片及其使用方法

Also Published As

Publication number Publication date
WO2019091319A1 (zh) 2019-05-16
US11415627B2 (en) 2022-08-16
US20200284838A1 (en) 2020-09-10

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN107908509A (zh) 一种针对处理器的自动化测试方法
US9404969B1 (en) Method and apparatus for efficient hierarchical chip testing and diagnostics with support for partially bad dies
US10060955B2 (en) Calibrating power supply voltages using reference measurements from code loop executions
CN102928772B (zh) 时序测试系统及其测试方法
US20120192003A1 (en) Computer status monitoring device, computer monitoring system and computer status monitoring method
US7506291B2 (en) Test emulator, emulation program and method for manufacturing semiconductor device
CN109711655A (zh) 双录质检方法、装置、设备及计算机可读存储介质
JP2009512000A (ja) デバイスのテストデータ入手
US7882467B2 (en) Test pattern evaluation method and test pattern evaluation device
CN111290422B (zh) 基于颠簸指数的飞行控制方法、装置及飞行器
CN106768760A (zh) 一种航天器正弦扫频振动疲劳失效分析方法
CN108549009A (zh) 解决vr掉电时序测试powergood信号不单调的方法及系统
CN106844890B (zh) 一种基于集成电路功耗分析的故障诊断建库方法
CN110728315A (zh) 一种实时质量控制方法，系统和设备
EP2824466B1 (en) Multi-tier field-programmable gate array hardward requirements assessment and verification for airborne electronic systems
CN101763453A (zh) 规范化ip核评测方法和系统
US20110131217A1 (en) Computer program and computer system for producing test flow
CN108228404A (zh) 一种基于航空应用的国产处理器验证方法
US20170082687A1 (en) De-bugging environment with smart card
CN110888036A (zh) 测试项目确定方法及装置、存储介质和电子设备
CN103853657A (zh) 一种软件测试系统
CN102645609A (zh) Jtag链路测试装置及其测试方法
CN116176860B (zh) 一种燃油系统测试方法、系统、设备及可读存储介质
US7698079B2 (en) Characterizing across-die process variation
CN110441667A (zh) 芯片测试方法、装置及电子设备

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
RJ01 Rejection of invention patent application after publication
RJ01 Rejection of invention patent application after publication

Application publication date: 20180413