CN107843825A - 电容器老化设备 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种电容器老化设备，采用单厢老化机，单厢老化机包括厢体及设置于厢体内由多个老化排架构成的进出循环架构，单厢老化机的厢体内设有多个用于试验不同老化温度的老化试验区，进出循环架构包括分布于各个老化试验区内用于试验待老化电容的第一回路和第二回路，第一回路包括第一电源端子、以及多组并联于第一电源端子上的第一电容老化支路，每个第一电容老化支路包括热敏电阻及与热敏电阻相串联的第一待老化电容，第二回路包括第二电源端子、以及多组并联于第二电源端子上的第二电容老化支路，每个第二电容老化支路上串联有第二待老化电容。本发明提供的电容器老化设备，占用空间小；并可迅速剔除不良品，提高电容老化试验质量。
Description
技术领域
本发明涉及电容器老化试验领域，尤其涉及一种电容器老化设备。
背景技术
电容器用的铝箔，在生产的过程中（尤其是在裁切和钉卷两个工序中），会对铝箔的完整性造成很大的破坏；为减小其成品的漏电流，需要对破损部分进行修补，进行老化处理，达到漏电流的行业标准范围。
常规的老化设备有三厢老化机、两厢老化机及单厢老化机。三厢老化机由三个厢体组成，根据温度区分，分别为常温1、高温、常温2三个厢体（常温1和2并不一定相同），每个厢体由多个老化排架100构成进和出的循环架构，每个老化排架上可同时加载多个电容器进行老化。每个厢体的基本原理如图一所示，第一厢的排架原理如图二所示，第二厢和第三厢的排架原理如图三所示。
两厢老化机由两个厢体组成，相比于三厢老化机少了第三个厢体，两个厢体按温度区分，分别为常温和高温老化厢；且第一厢的老化排架如图二所示，第二厢的老化排架如图三所示。
单厢老化机则只有一个厢体，有相应的温控装置将整个厢体分为三个区域：常温1、高温及常温2（常温1和常温2的温度并不一定相同）；且其所有老化排架均如图二所示。
综上所述，现有老化机存在着效率和技术的天然缺陷：
1、三厢老化机有三个厢体，其占地面积较大，且在将电容器从第一厢转移至第二厢、第二厢转移至第三厢的过程中，容易造成引出线折弯。两厢老化机，存在着三厢老化机同样的缺陷，只是相对较好一点。
2、而现有单厢老化机能够很好的解决上述存在的问题，但是，因其排架上的每个电容器都串联了一个热敏电阻，保护了对应的电容器，当电容器内部存在制造工艺上的不良，比如，产品内部短路时，因其热敏电阻的保护作用，不能很好的剔除不良的产品，而造成品质不良等隐患。
因此，现有老化设备中多厢老化机和单厢老化机所存在的上述缺点，是一个亟待解决的技术问题。
发明内容
本发明提出的电容器老化设备，旨在解决现有老化设备中多厢老化机和单厢老化机所存在的缺点的技术问题。
本发明提供的电容器老化设备，采用单厢老化机，单厢老化机包括厢体及设置于厢体内由多个老化排架构成的进出循环架构，单厢老化机的厢体内设有多个用于试验不同老化温度的老化试验区，进出循环架构包括分布于各个老化试验区内用于试验待老化电容的第一回路和第二回路，第一回路包括第一电源端子、以及多组并联于第一电源端子上的第一电容老化支路，每个第一电容老化支路包括热敏电阻及与热敏电阻相串联的第一待老化电容，第二回路包括第二电源端子、以及多组并联于第二电源端子上的第二电容老化支路，每个第二电容老化支路上串联有第二待老化电容。
进一步地，老化试验区包括第一常温区、第二常温区和高温区，第一回路设置于括第一常温区内；第二回路分别设置于第二常温区和高温区内。
进一步地，第一电源端子和第二电源端子共用同一电源和接地端。
进一步地，第一电源端子位于第二电源端子的上方。
进一步地，电容器老化设备还包括控制器，
控制器，分别与第一电源端子和第二电源端子相连，用于在不同的时间点分别接通第一电源端子或第二电源端子，以分时间对多个老化试验区进行供电。
本发明所取得的有益效果为：
本发明提供的电容器老化设备，采用单厢老化机，单厢老化机包括厢体及设置于厢体内由多个老化排架构成的进出循环架构，单厢老化机内设有多个用于试验不同老化温度的老化试验区，进出循环架构包括分布于各个老化试验区内用于试验待老化电容的第一回路和第二回路，从而解决了现有多厢老机占用场地面积大和电容器厢体间转移易造成弯引线的技术问题，又解决了现有单厢老化机不能很好的剔除不良品的问题。本发明提供的电容器老化设备，占用空间小；并可迅速剔除不良品，提高电容老化试验质量。
附图说明
图1为现有三厢老化机中每个厢体的基本结构示意图；
图2为现有三厢老化机中第一厢的排架原理图；
图3为现有三厢老化机中第二厢和第二厢的排架原理图；
图4为本发明电容器老化设备一优选实施例的排架原理示意图；
图5为本发明电容器老化设备一优选实施例的电源控制示意图。
附图标号说明：
10、第一回路；20、第二回路；11、第一电源端子；12、第一电容老化支路；121、热敏电阻；122、第一待老化电容；21、第二电源端子；22、第二电容老化支路；221、第二待老化电容；30、控制器。
本发明目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。
具体实施方式
应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。
如图4所示，本发明第一实施例提出的电容器老化设备，采用单厢老化机，单厢老化机包括厢体及设置于厢体内由多个老化排架构成的进出循环架构，单厢老化机的厢体内设有多个用于试验不同老化温度的老化试验区，进出循环架构包括分布于各个老化试验区内用于试验待老化电容的第一回路10和第二回路20，第一回路10包括第一电源端子11、以及多组并联于第一电源端子11上的第一电容老化支路12，每个第一电容老化支路12包括热敏电阻121及与热敏电阻121相串联的第一待老化电容122，第二回路20包括第二电源端子21、以及多组并联于第二电源端子21上的第二电容老化支路22，每个第二电容老化支路22上串联有第二待老化电容221。
本实施例提供的电容器老化设备，相比于现有技术，采用单厢老化机，单厢老化机包括厢体及设置于厢体内由多个老化排架构成的进出循环架构，单厢老化机内设有多个用于试验不同老化温度的老化试验区，进出循环架构包括分布于各个老化试验区内用于试验待老化电容的第一回路和第二回路，从而解决了现有多厢老机占用场地面积大和电容器厢体间转移易造成弯引线的技术问题，又解决了现有单厢老化机不能很好的剔除不良品的问题。本实施例提供的电容器老化设备，占用空间小；并可迅速剔除不良品，提高电容老化试验质量。
优选地，请见图4，本实施例提供的电容器老化设备，老化试验区包括第一常温区、第二常温区和高温区，第一回路10设置于第一常温区内；第二回路20分别设置于第二常温区和高温区内。其中，第一常温区和第二常温区的实验老化温度可以相同，也可以不相同。
本实施例提供的电容器老化设备，相比于现有技术，采用单厢老化机，单厢老化机包括厢体及设置于厢体内由多个老化排架构成的进出循环架构，单厢老化机内设有第一常温区、第二常温区和高温区，进出循环架构包括分布于第一常温区内的第一回路和分布于和分布于第二常温区和高温区内的第二回路，从而解决了现有多厢老机占用场地面积大和电容器厢体间转移易造成弯引线的技术问题，又解决了现有单厢老化机不能很好的剔除不良品的问题。本实施例提供的电容器老化设备，占用空间小；并可迅速剔除不良品，提高电容老化试验质量。
可选地，参见图4，本实施例提供的电容器老化设备，第一电源端子11和第二电源端子21共用同一电源和接地端。其中，在本实施例中，第一电源端子11和第二电源端子21共用同一电源VCC和接地端GND。本实施例提供的电容器老化设备，除了公开的接地端GND外，与同一电源VCC相连的第一电源端子11和第二电源端子21分别设置在分区域的第一常温区、第二常温区和高温区内，从而解决了现有多厢老机占用场地面积大和电容器厢体间转移易造成弯引线的技术问题。
优选地，如图4所示，本实施例提供的电容器老化设备，电源VCC分别与第一电源端子11和第二电源端子21相连，在本实施例中，第一电源端子11位于第二电源端子21的上方，从而方便与电源VCC连接，解决了现有多厢老机电容器厢体间转移易造成弯引线的技术问题。
优选地，如图5所示，本实施例提供的电容器老化设备，电容器老化设备还包括控制器30，其中，控制器30，分别与第一电源端子11和第二电源端子21相连，用于在不同的时间点分别接通第一电源端子11或第二电源端子21，以分时间对多个老化试验区进行供电。在本实施例中，通过分区域分时间接通老化试验区，从而解决了现有多厢老机占用场地面积大和电容器厢体间转移易造成弯引线的技术问题，又解决了现有单厢老化机不能很好的剔除不良品的问题。本实施例提供的电容器老化设备，占用空间小；并可迅速剔除不良品，提高电容老化试验质量。
如图4和图5所示，本实施例提供的电容器老化设备，其工作原理如下所示：
将单厢老化机的厢体根据温度划分为三个区域：第一常温区、第二常温区和高温区，在第一常温区，上面的第一电源端子11与电源VCC接通，在第二常温区和高温区，下面的第二电源端子21与电源VCC接通，控制器30分别控制第一电源端子11和第二电源端子21在不同的时间点分别接通电源VCC，以分时间对第一常温区、第二常温区和高温区进行供电，这样既解决了多厢老化机占用场地面积大和电容器在厢体间转移造成的弯引线问题，又解决了现有的单厢老化机不能很好的剔除不良品的问题。
以上仅为本发明的优选实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本发明的专利保护范围内。
Claims (5)
1.一种电容器老化设备，其特征在于，所述电容器老化设备采用单厢老化机，所述单厢老化机包括厢体及设置于所述厢体内由多个老化排架构成的进出循环架构，所述单厢老化机的厢体内设有多个用于试验不同老化温度的老化试验区，所述进出循环架构包括分布于各个所述老化试验区内用于试验待老化电容的第一回路（10）和第二回路（20），其中，所述第一回路（10）包括第一电源端子（11）、以及多组并联于所述第一电源端子（11）上的第一电容老化支路（12），每个所述第一电容老化支路（12）包括热敏电阻（121）及与所述热敏电阻（121）相串联的第一待老化电容（122），所述第二回路（20）包括第二电源端子（21）、以及多组并联于所述第二电源端子（21）上的第二电容老化支路（22），每个所述第二电容老化支路（22）上串联有第二待老化电容（221）。
2.根据权利要求1所述的电容器老化设备，其特征在于，
所述老化试验区包括第一常温区、第二常温区和高温区，所述第一回路（10）设置于所述括第一常温区内；所述第二回路（20）分别设置于所述第二常温区和所述高温区内。
3.根据权利要求2所述的电容器老化设备，其特征在于，
所述第一电源端子（11）和所述第二电源端子（21）共用同一电源和接地端。
4.根据权利要求3所述的电容器老化设备，其特征在于，
所述第一电源端子（11）位于所述第二电源端子（21）的上方。
5.根据权利要求4所述的电容器老化设备，其特征在于，
所述电容器老化设备还包括控制器（30），
所述控制器（30），分别与所述第一电源端子（11）和所述第二电源端子（21）相连，用于在不同的时间点分别接通所述第一电源端子（11）或所述第二电源端子（21），以分时间对多个所述老化试验区进行供电。
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Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN109946488A (zh) * | 2019-03-28 | 2019-06-28 | 江苏伊施德创新科技有限公司 | 一种微型片式陶瓷电容批量老化及测试方法 |
Citations (13)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH08203787A (ja) * | 1995-01-30 | 1996-08-09 | Elna Co Ltd | タンタル固体電解コンデンサのエージング方法 |
| JPH10294243A (ja) * | 1997-04-22 | 1998-11-04 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 電解コンデンサのエージング方法 |
| JPH10308331A (ja) * | 1997-04-30 | 1998-11-17 | Nippon Chemicon Corp | 電解コンデンサのエージング装置 |
| CN101383225A (zh) * | 2007-09-05 | 2009-03-11 | 艾立华 | 一种铝电解电容器自动老化生产线 |
| CN201274234Y (zh) * | 2008-07-23 | 2009-07-15 | 南通天禾机械科技有限公司 | 自动老化机独立充放电装置 |
| EP2100365A1 (de) * | 2006-12-08 | 2009-09-16 | Siemens Aktiengesellschaft | Überwachung der alterung der kondensatoren in einem umrichter mittels kapazitätsmessung |
| CN201368899Y (zh) * | 2009-02-13 | 2009-12-23 | 北京元六鸿远电子技术有限公司 | 电容器高温负荷老化筛选设备 |
| CN201425897Y (zh) * | 2009-05-14 | 2010-03-17 | 广东风华高新科技股份有限公司 | 引线式铝电解电容器的老化排架 |
| CN201503774U (zh) * | 2009-09-29 | 2010-06-09 | 尚武机电技术(上海)有限公司 | 铝电解电容老化电路及装置 |
| CN202903906U (zh) * | 2012-09-06 | 2013-04-24 | 漆良波 | 电容器老化测试电路 |
| CN204315392U (zh) * | 2015-01-22 | 2015-05-06 | 中国振华（集团）新云电子元器件有限责任公司 | 轴向引出固体钽电容器老化框架 |
| CN104882279A (zh) * | 2015-05-28 | 2015-09-02 | 南通华裕电子有限公司 | 一种高比容铝电解电容器老化方法 |
| CN207601238U (zh) * | 2017-11-18 | 2018-07-10 | 湖南艾华集团股份有限公司 | 电容器老化设备 |
-
2017
- 2017-11-18 CN CN201711151479.9A patent/CN107843825A/zh active Pending
Patent Citations (13)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH08203787A (ja) * | 1995-01-30 | 1996-08-09 | Elna Co Ltd | タンタル固体電解コンデンサのエージング方法 |
| JPH10294243A (ja) * | 1997-04-22 | 1998-11-04 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 電解コンデンサのエージング方法 |
| JPH10308331A (ja) * | 1997-04-30 | 1998-11-17 | Nippon Chemicon Corp | 電解コンデンサのエージング装置 |
| EP2100365A1 (de) * | 2006-12-08 | 2009-09-16 | Siemens Aktiengesellschaft | Überwachung der alterung der kondensatoren in einem umrichter mittels kapazitätsmessung |
| CN101383225A (zh) * | 2007-09-05 | 2009-03-11 | 艾立华 | 一种铝电解电容器自动老化生产线 |
| CN201274234Y (zh) * | 2008-07-23 | 2009-07-15 | 南通天禾机械科技有限公司 | 自动老化机独立充放电装置 |
| CN201368899Y (zh) * | 2009-02-13 | 2009-12-23 | 北京元六鸿远电子技术有限公司 | 电容器高温负荷老化筛选设备 |
| CN201425897Y (zh) * | 2009-05-14 | 2010-03-17 | 广东风华高新科技股份有限公司 | 引线式铝电解电容器的老化排架 |
| CN201503774U (zh) * | 2009-09-29 | 2010-06-09 | 尚武机电技术(上海)有限公司 | 铝电解电容老化电路及装置 |
| CN202903906U (zh) * | 2012-09-06 | 2013-04-24 | 漆良波 | 电容器老化测试电路 |
| CN204315392U (zh) * | 2015-01-22 | 2015-05-06 | 中国振华（集团）新云电子元器件有限责任公司 | 轴向引出固体钽电容器老化框架 |
| CN104882279A (zh) * | 2015-05-28 | 2015-09-02 | 南通华裕电子有限公司 | 一种高比容铝电解电容器老化方法 |
| CN207601238U (zh) * | 2017-11-18 | 2018-07-10 | 湖南艾华集团股份有限公司 | 电容器老化设备 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN109946488A (zh) * | 2019-03-28 | 2019-06-28 | 江苏伊施德创新科技有限公司 | 一种微型片式陶瓷电容批量老化及测试方法 |
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