CN107702664A - 一种基于半导体激光准直的反射式垂直度检测系统及方法 - Google Patents
一种基于半导体激光准直的反射式垂直度检测系统及方法 Download PDFInfo
- Publication number
- CN107702664A CN107702664A CN201711003417.3A CN201711003417A CN107702664A CN 107702664 A CN107702664 A CN 107702664A CN 201711003417 A CN201711003417 A CN 201711003417A CN 107702664 A CN107702664 A CN 107702664A
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- semi
- semiconductor laser
- reflecting lens
- ccd
- drill
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims abstract description 39
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 10
- 101100117236 Drosophila melanogaster speck gene Proteins 0.000 claims description 6
- 230000009466 transformation Effects 0.000 claims description 3
- 230000004446 light reflex Effects 0.000 claims description 2
- 239000004020 conductor Substances 0.000 claims 1
- 101100166427 Arabidopsis thaliana CCD4 gene Proteins 0.000 description 7
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 4
- 230000011514 reflex Effects 0.000 description 2
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 1
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 description 1
- 238000004080 punching Methods 0.000 description 1
- 238000009738 saturating Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/26—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring angles or tapers; for testing the alignment of axes
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01C—MEASURING DISTANCES, LEVELS OR BEARINGS; SURVEYING; NAVIGATION; GYROSCOPIC INSTRUMENTS; PHOTOGRAMMETRY OR VIDEOGRAMMETRY
- G01C15/00—Surveying instruments or accessories not provided for in groups G01C1/00 - G01C13/00
- G01C15/12—Instruments for setting out fixed angles, e.g. right angles
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Radar, Positioning & Navigation (AREA)
- Remote Sensing (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
本发明涉及一种基于半导体激光准直的反射式垂直度检测系统及方法,其包括钻孔器,钻孔器采用轴中空的倒T型结构,其端部对应于圆弧物体表面,与端部垂直的延伸部内设置有半导体激光器和半透半反镜;位于延伸部侧壁设置有一通孔,该通孔的圆心与半透半反镜的中心位于同一水平线;半导体激光器发射出的激光光束传输至半透半反镜后,分为第一透射光和第一反射光;第一透射光经透明介质垂直照射在圆弧物体表面上后,反射回半透半反镜,经半透半反镜再次分束成第二透射光和第二反射光;第二反射光穿过通孔照射在位于钻孔器外部的镜面全反射镜,镜面全反射镜与通孔位置对应设置;第二反射光经镜面全反射镜后反射至CCD。本发明能实现对圆弧面物体进行垂直度检测、定位。
Description
技术领域
本发明涉及一种垂直度检测系统及方法,特别是关于一种在工业领域中应用的基于半导体激光准直的反射式垂直度检测系统及方法。
背景技术
现阶段对具有圆弧面物体的垂直度检测基本上是凭借工人的经验或者使用图像处理的方式对具有漫反射的圆弧物体进行垂直度检测并对其定点打孔。前者需要工人大量的临床实践经验,对工人经验以及当时身体状况要求较高;而后者由于应用涉及图像处理等一系列昂贵的组成器件(高清CCD摄像头、传导光纤、PC、定位器件等),成本较高,且操作较为不便。
发明内容
针对上述问题,本发明的目的是提供一种基于半导体激光准直的反射式垂直度检测系统及方法,其能对具有反射特性的圆弧面物体进行垂直度检测、定位,降低生产成本和生产难度,提高操作的便利性。
为实现上述目的,本发明采取以下技术方案:一种基于半导体激光准直的反射式垂直度检测系统,其特征在于:该系统包括半导体激光器、半透半反镜、镜面全反射镜、CCD和钻孔器;所述钻孔器采用轴中空的倒T型结构,其端部对应于圆弧物体表面,与端部垂直的延伸部内设置有所述半导体激光器和半透半反镜;位于所述延伸部侧壁设置有一通孔,该通孔的圆心与所述半透半反镜的中心位于同一水平线;所述半导体激光器发射出的激光光束传输至所述半透半反镜后,分为第一透射光和第一反射光;所述第一透射光经透明介质垂直照射在所述圆弧物体表面上后,反射回所述半透半反镜,经所述半透半反镜再次分束成第二透射光和第二反射光;所述第二反射光穿过所述通孔照射在位于所述钻孔器外部的所述镜面全反射镜,所述镜面全反射镜与所述通孔位置对应设置;所述第二反射光经所述镜面全反射镜后反射至所述CCD。
进一步,所述半导体激光器发射出的激光光束与所述钻孔器同轴。
进一步,所述半透半反镜的分光比为50:50。
进一步,所述半透半反镜呈倾斜设置在所述钻孔器的延伸部内,所述半透半反镜与所述半导体激光器发射出的准直激光光束夹角为45°。
为实现上述目的,本发明还采取另一种技术方案:一种基于半导体激光准直的反射式垂直度检测方法,其特征在于包括以下步骤:1)设置一包括半导体激光器、半透半反镜、镜面全反射镜、CCD和钻孔器的检测系统,半导体激光器和半透半反镜设置在钻孔器内部,镜面全反射镜和CCD设置在钻孔器外部;2)半导体激光器发射出高斯激光光斑打到半透半反镜后分为第一透射光和第一反射光;3)第一透射光垂直打到圆弧物体表面并反射回半透半反镜;4)半透半反镜将反射光再次分束成第二透射光和第二反射光;5)第二反射光经过镜面全反射镜反射到CCD;6)通过CCD实时读取高斯激光光斑图像信息,利用相应的算法计算高斯激光光斑中心与CCD中心位置距离;7)通过调整钻孔器的位置,直到读取的高斯激光光斑中心与CCD中心重合,则钻孔器轴中心延长线与圆弧物体表面的交点即为其垂直点。
进一步,所述相应的算法为:6.1)光斑打到CCD后,从CCD读取的图像是一个近似圆的亮斑;6.2)通过对CCD图像进行读取并对其进行图像的二值化、霍夫变换,最后求出亮斑的圆心坐标;6.3)通过两点间距离公式求出实际接收光斑图像的圆心坐标与CCD中心位置的距离。
本发明由于采取以上技术方案,其具有以下优点:1、本发明利用非接触式激光对物体表面进行垂直度检测,降低生产成本和生产难度,提高操作的便利性。2、本发明通过采用半透半反镜、镜面全反射镜和CCD对圆弧面物体进行垂直度检测,其操作方便,定位准确。
附图说明
图1是本发明的整体结构示意图。
具体实施方式
下面结合附图和实施例对本发明进行详细的描述。
如图1所示,本发明提供一种基于半导体激光准直的反射式垂直度检测系统,其包括半导体激光器1、半透半反镜2、镜面全反射镜3、CCD4和钻孔器5;其中半透半反镜2的分光比为50:50。钻孔器5采用轴中空的倒T型结构,其端部对应于圆弧物体表面6,与端部垂直的延伸部内设置有半导体激光器1和半透半反镜2;位于延伸部侧壁设置有一通孔,该通孔的圆心与半透半反镜2的中心位于同一水平线。半导体激光器1发射出的激光光束传输至半透半反镜2后,分为第一透射光和第一反射光;第一透射光经空气等透明介质垂直照射在圆弧物体表面6上后反射,根据反射原理,若激光束垂直入射,那么反射光将按原路反射到50:50半透半反镜2。第一透射光经圆弧物体表面6后反射回半透半反镜2,经半透半反镜2再次分束成第二透射光和第二反射光;第二反射光穿过通孔照射在位于钻孔器5外部的镜面全反射镜3,镜面全反射镜3与通孔位置对应设置。第二反射光经镜面全反射镜3后反射至CCD4,若圆弧物体表面6与半导体激光器1发射出的激光光束夹角垂直,则CCD4将接收到回波光斑,实现垂直度检测。
上述实施例中,半导体激光器1发射出的激光光束与钻孔器5同轴。
上述各实施例中,半导体激光器1发射出的激光光束为530nm波长的高斯激光光斑。
上述各实施例中,半透半反镜2呈倾斜设置在钻孔器5的延伸部内,半透半反镜2与半导体激光器1发射出的准直激光光束夹角为45°。
本发明还提供一种基于半导体激光准直的反射式垂直度检测方法,其包括以下步骤:
1)半导体激光器1发射出高斯激光光斑打到半透半反镜2后分为第一透射光和第一反射光。
2)第一透射光垂直打到圆弧物体表面6并反射回半透半反镜2。
3)半透半反镜2将反射光再次分束成第二透射光和第二反射光。
4)第二反射光经过镜面全反射镜3反射到CCD4。
5)通过CCD4实时读取高斯激光光斑图像信息,利用相应的算法计算高斯激光光斑中心与CCD4中心位置距离。
相应的算法为:
5.1)光斑打到CCD4后,从CCD4读取的图像是一个近似圆的亮斑。
5.2)通过对CCD图像进行读取并对其进行图像的二值化、霍夫变换,最后求出亮斑的圆心坐标(在CCD的二维坐标系里,例如[300,200])。
例如CCD的像素640*480,它的中心点为(320,240)。
5.3)通过两点间距离公式求出实际接收光斑图像的圆心坐标与CCD中心位置的距离。
6)通过调整钻孔器5的位置,直到读取的高斯激光光斑中心与CCD中心重合,则钻孔器5轴中心延长线与圆弧物体表面6的交点即为其垂直点。
上述各实施例仅用于说明本发明,各部件的结构、尺寸、设置位置及形状都是可以有所变化的,在本发明技术方案的基础上,凡根据本发明原理对个别部件进行的改进和等同变换,均不应排除在本发明的保护范围之外。
Claims (6)
1.一种基于半导体激光准直的反射式垂直度检测系统,其特征在于:该系统包括半导体激光器、半透半反镜、镜面全反射镜、CCD和钻孔器;所述钻孔器采用轴中空的倒T型结构,其端部对应于圆弧物体表面,与端部垂直的延伸部内设置有所述半导体激光器和半透半反镜;位于所述延伸部侧壁设置有一通孔,该通孔的圆心与所述半透半反镜的中心位于同一水平线;所述半导体激光器发射出的激光光束传输至所述半透半反镜后,分为第一透射光和第一反射光;所述第一透射光经透明介质垂直照射在所述圆弧物体表面上后,反射回所述半透半反镜,经所述半透半反镜再次分束成第二透射光和第二反射光;所述第二反射光穿过所述通孔照射在位于所述钻孔器外部的所述镜面全反射镜,所述镜面全反射镜与所述通孔位置对应设置;所述第二反射光经所述镜面全反射镜后反射至所述CCD。
2.如权利要求1所述的一种基于半导体激光准直的反射式垂直度检测系统,其特征在于:所述半导体激光器发射出的激光光束与所述钻孔器同轴。
3.如权利要求1所述的一种基于半导体激光准直的反射式垂直度检测系统,其特征在于:所述半透半反镜的分光比为50:50。
4.如权利要求1或2或3所述的一种基于半导体激光准直的反射式垂直度检测系统,其特征在于:所述半透半反镜呈倾斜设置在所述钻孔器的延伸部内,所述半透半反镜与所述半导体激光器发射出的准直激光光束夹角为45°。
5.一种基于半导体激光准直的反射式垂直度检测方法,其特征在于包括以下步骤:
1)设置一包括半导体激光器、半透半反镜、镜面全反射镜、CCD和钻孔器的检测系统,半导体激光器和半透半反镜设置在钻孔器内部,镜面全反射镜和CCD设置在钻孔器外部;
2)半导体激光器发射出高斯激光光斑打到半透半反镜后分为第一透射光和第一反射光;
3)第一透射光垂直打到圆弧物体表面并反射回半透半反镜;
4)半透半反镜将反射光再次分束成第二透射光和第二反射光;
5)第二反射光经过镜面全反射镜反射到CCD;
6)通过CCD实时读取高斯激光光斑图像信息,利用相应的算法计算高斯激光光斑中心与CCD中心位置距离;
7)通过调整钻孔器的位置,直到读取的高斯激光光斑中心与CCD中心重合,则钻孔器轴中心延长线与圆弧物体表面的交点即为其垂直点。
6.如权利要求5所述的一种基于半导体激光准直的反射式垂直度检测方法,其特征在于:所述相应的算法为:
6.1)光斑打到CCD后,从CCD读取的图像是一个近似圆的亮斑;
6.2)通过对CCD图像进行读取并对其进行图像的二值化、霍夫变换,最后求出亮斑的圆心坐标;
6.3)通过两点间距离公式求出实际接收光斑图像的圆心坐标与CCD中心位置的距离。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201711003417.3A CN107702664A (zh) | 2017-10-24 | 2017-10-24 | 一种基于半导体激光准直的反射式垂直度检测系统及方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201711003417.3A CN107702664A (zh) | 2017-10-24 | 2017-10-24 | 一种基于半导体激光准直的反射式垂直度检测系统及方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN107702664A true CN107702664A (zh) | 2018-02-16 |
Family
ID=61183060
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN201711003417.3A Pending CN107702664A (zh) | 2017-10-24 | 2017-10-24 | 一种基于半导体激光准直的反射式垂直度检测系统及方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN107702664A (zh) |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN109500521A (zh) * | 2018-10-23 | 2019-03-22 | 沪东中华造船(集团)有限公司 | 一种洗舱机支架定位方法 |
CN111220095A (zh) * | 2019-12-06 | 2020-06-02 | 凌云光技术集团有限责任公司 | 一种用于高精度检测发散光束光轴垂直度的方法及装置 |
CN111272217A (zh) * | 2020-01-17 | 2020-06-12 | 中国科学院上海技术物理研究所 | 一种利用分形结构提取紫外至红外激光光斑的方法 |
CN111571019A (zh) * | 2020-04-20 | 2020-08-25 | 江苏大学 | 一种针对曲面零件的激光冲击加工的装置及方法 |
CN112902841A (zh) * | 2021-01-25 | 2021-06-04 | 上海兰宝传感科技股份有限公司 | 一种带纠偏功能的尺寸测量传感器 |
CN113916200A (zh) * | 2021-09-30 | 2022-01-11 | 南京中科煜宸激光技术有限公司 | 用于机器人与外部轴耦合的标定系统与方法 |
Citations (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH10122842A (ja) * | 1996-10-15 | 1998-05-15 | Tokai Carbon Co Ltd | 鋼板の平坦度測定方法 |
JP2001249083A (ja) * | 2000-03-03 | 2001-09-14 | Sun Tec Kk | 外観検査装置用照明装置及び外観検査装置 |
JP2003065739A (ja) * | 2001-08-24 | 2003-03-05 | Koodotekku:Kk | ポリゴンミラー角度計測装置 |
JP2003275887A (ja) * | 2002-03-20 | 2003-09-30 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | ビームプロファイル測定方法及びレーザビーム加工装置 |
CN101034034A (zh) * | 2007-01-31 | 2007-09-12 | 中国人民解放军国防科学技术大学 | 非球面镜衍射图像检测方法与装置 |
CN101055341A (zh) * | 2007-04-17 | 2007-10-17 | 天津大学 | 用于ic封装的放大成像视觉定位装置 |
TW201018871A (en) * | 2008-11-04 | 2010-05-16 | Univ Nat Formosa | Verticality detector calibration device and method thereof |
CN101929852A (zh) * | 2010-08-11 | 2010-12-29 | 哈尔滨锅炉厂有限责任公司 | 光学仪器检测大型容器同轴度和垂直度的方法 |
CN201837375U (zh) * | 2010-10-15 | 2011-05-18 | 南京信息工程大学 | 垂直方向平行光路的产生装置 |
JP2011117780A (ja) * | 2009-12-01 | 2011-06-16 | Canon Inc | 直交度の計測方法 |
CN103363901A (zh) * | 2013-07-15 | 2013-10-23 | 北京理工大学 | 一种面向同轴对位微装配系统的标定方法 |
CN103712577A (zh) * | 2013-12-20 | 2014-04-09 | 华南理工大学 | 一种基于图像处理的深孔垂直度测量系统及其测量方法 |
CN104048624A (zh) * | 2014-07-04 | 2014-09-17 | 中国二十二冶集团有限公司 | 脚手架垂直度激光检测设备及检测方法 |
CN106352850A (zh) * | 2016-08-05 | 2017-01-25 | 歌尔股份有限公司 | 样品水平度测试装置和方法 |
CN106813574A (zh) * | 2016-11-02 | 2017-06-09 | 北京信息科技大学 | 一种基于偏振光的关节臂测头光学系统 |
CN107036559A (zh) * | 2017-05-31 | 2017-08-11 | 天津大学 | 一种曲面斜率的测量方法 |
-
2017
- 2017-10-24 CN CN201711003417.3A patent/CN107702664A/zh active Pending
Patent Citations (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH10122842A (ja) * | 1996-10-15 | 1998-05-15 | Tokai Carbon Co Ltd | 鋼板の平坦度測定方法 |
JP2001249083A (ja) * | 2000-03-03 | 2001-09-14 | Sun Tec Kk | 外観検査装置用照明装置及び外観検査装置 |
JP2003065739A (ja) * | 2001-08-24 | 2003-03-05 | Koodotekku:Kk | ポリゴンミラー角度計測装置 |
JP2003275887A (ja) * | 2002-03-20 | 2003-09-30 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | ビームプロファイル測定方法及びレーザビーム加工装置 |
CN101034034A (zh) * | 2007-01-31 | 2007-09-12 | 中国人民解放军国防科学技术大学 | 非球面镜衍射图像检测方法与装置 |
CN101055341A (zh) * | 2007-04-17 | 2007-10-17 | 天津大学 | 用于ic封装的放大成像视觉定位装置 |
TW201018871A (en) * | 2008-11-04 | 2010-05-16 | Univ Nat Formosa | Verticality detector calibration device and method thereof |
JP2011117780A (ja) * | 2009-12-01 | 2011-06-16 | Canon Inc | 直交度の計測方法 |
CN101929852A (zh) * | 2010-08-11 | 2010-12-29 | 哈尔滨锅炉厂有限责任公司 | 光学仪器检测大型容器同轴度和垂直度的方法 |
CN201837375U (zh) * | 2010-10-15 | 2011-05-18 | 南京信息工程大学 | 垂直方向平行光路的产生装置 |
CN103363901A (zh) * | 2013-07-15 | 2013-10-23 | 北京理工大学 | 一种面向同轴对位微装配系统的标定方法 |
CN103712577A (zh) * | 2013-12-20 | 2014-04-09 | 华南理工大学 | 一种基于图像处理的深孔垂直度测量系统及其测量方法 |
CN104048624A (zh) * | 2014-07-04 | 2014-09-17 | 中国二十二冶集团有限公司 | 脚手架垂直度激光检测设备及检测方法 |
CN106352850A (zh) * | 2016-08-05 | 2017-01-25 | 歌尔股份有限公司 | 样品水平度测试装置和方法 |
CN106813574A (zh) * | 2016-11-02 | 2017-06-09 | 北京信息科技大学 | 一种基于偏振光的关节臂测头光学系统 |
CN107036559A (zh) * | 2017-05-31 | 2017-08-11 | 天津大学 | 一种曲面斜率的测量方法 |
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
姚江伟;张国雄;裘祖荣;胡文川;李杏华;: "基于公共光学基准的大尺寸空间角度测量误差研究", 中国机械工程, no. 14, pages 84 - 87 * |
Cited By (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN109500521A (zh) * | 2018-10-23 | 2019-03-22 | 沪东中华造船(集团)有限公司 | 一种洗舱机支架定位方法 |
CN109500521B (zh) * | 2018-10-23 | 2021-04-23 | 沪东中华造船(集团)有限公司 | 一种洗舱机支架定位方法 |
CN111220095A (zh) * | 2019-12-06 | 2020-06-02 | 凌云光技术集团有限责任公司 | 一种用于高精度检测发散光束光轴垂直度的方法及装置 |
CN111220095B (zh) * | 2019-12-06 | 2021-08-03 | 凌云光技术股份有限公司 | 一种用于高精度检测发散光束光轴垂直度的方法及装置 |
CN111272217A (zh) * | 2020-01-17 | 2020-06-12 | 中国科学院上海技术物理研究所 | 一种利用分形结构提取紫外至红外激光光斑的方法 |
CN111272217B (zh) * | 2020-01-17 | 2021-12-31 | 中国科学院上海技术物理研究所 | 一种利用分形结构提取紫外至红外激光光斑的方法 |
CN111571019A (zh) * | 2020-04-20 | 2020-08-25 | 江苏大学 | 一种针对曲面零件的激光冲击加工的装置及方法 |
CN112902841A (zh) * | 2021-01-25 | 2021-06-04 | 上海兰宝传感科技股份有限公司 | 一种带纠偏功能的尺寸测量传感器 |
CN113916200A (zh) * | 2021-09-30 | 2022-01-11 | 南京中科煜宸激光技术有限公司 | 用于机器人与外部轴耦合的标定系统与方法 |
CN113916200B (zh) * | 2021-09-30 | 2024-01-23 | 南京中科煜宸激光技术有限公司 | 用于机器人与外部轴耦合的标定系统与方法 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN107702664A (zh) | 一种基于半导体激光准直的反射式垂直度检测系统及方法 | |
CN204044359U (zh) | 一种二维扫描式激光测距装置 | |
CN107219533B (zh) | 激光雷达点云与图像融合式探测系统 | |
US9476695B2 (en) | Laser tracker that cooperates with a remote camera bar and coordinate measurement device | |
DE112012001721B4 (de) | Lasertracker mit sechs Freiheitsgraden, der mit einem entfernt befindlichen Projektor zusammenwirkt, um Informationen zu übertragen. | |
CN204302569U (zh) | 具有测距功能的双目光学仪器 | |
CN102944188B (zh) | 一种点扫描三维形貌测量系统标定方法 | |
CN202793374U (zh) | 激光三角法测距仪 | |
JP2016505838A (ja) | 目標物の位置座標を決定するための方法及び装置 | |
CN209728172U (zh) | 一种室内面积测量仪 | |
CN104897069B (zh) | 一种测量远程宏观物体长度及面积的激光测量装置 | |
CN107153195A (zh) | 多线激光雷达和多线激光雷达控制方法 | |
CN102944879B (zh) | 一种基于mems二维扫描镜的四维成像装置及其成像方法 | |
CN106886027A (zh) | 激光定位装置及激光定位方法 | |
WO2018201566A1 (zh) | 一种激光测量装置及其应用方法 | |
CN103792070A (zh) | 半导体激光阵列光学特性检测装置 | |
CN105091797B (zh) | 一种单ccd的强度关联自准直仪 | |
CN111928774A (zh) | 一种基于相机与测距仪结合的目标跟踪定位和测量方法 | |
CN207351401U (zh) | 一种基于半导体激光准直的反射式垂直度检测系统 | |
CN206989930U (zh) | 一种激光测量装置 | |
CN105182360A (zh) | 一种非扫描高速激光三维成像方法及系统 | |
CN201322609Y (zh) | 一种光电准直装置 | |
CN206348459U (zh) | 基于多传感器融合的三维视觉传感装置 | |
CN204740004U (zh) | 一种测量远程宏观物体长度及面积的激光测量装置 | |
CN104730717B (zh) | 一种同波长脉冲激光束功率合成装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
PB01 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination |