CN107492331B - 建立均匀化补偿对应表的方法 - Google Patents

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CN107492331B CN201610421515.8A CN201610421515A CN107492331B CN 107492331 B CN107492331 B CN 107492331B CN 201610421515 A CN201610421515 A CN 201610421515A CN 107492331 B CN107492331 B CN 107492331B
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Abstract

本发明是有关一种建立均匀化补偿对应表的方法,其步骤包含测量欲均匀化的一平面的多个测量区域,而分别取得一测量值;依据所述测量值与所述测量值和平面的中心位置间的距离,而计算出在平面的中心位置上的一中心均匀估算值;分别以所述测量值与中心估算值而形成一直线骨架;依据所述测量值、中心均匀估算值以及所述测量值和平面的中心位置间的距离,以内插或外插方式依序计算出所述直线骨架上的多个骨架均匀估算值;以及依序依据相邻的直线骨架的所述骨架均匀估算值,而计算出平面上的多个平面均匀估算值,以建立一均匀化补偿对应表,以供后续均匀化补偿,以避免平面产生不均匀的现象,并且应用在影像领域时并不会出现马赛克现象。

Description

建立均匀化补偿对应表的方法
技术领域
本发明是有关一种演算法,其特别涉及一种建立均匀化补偿对应表的方法。
背景技术
随着影像视频科技的不断发展,高画质及高解析度的液晶显示装置或等离子体显示器等已广泛受到众人的瞩目。为使显示装置呈现良好的画质,显示装置除了必须显示出良好的色彩品质之外,还必须对画面亮度的均匀性尽量做到尽善尽美。以液晶显示装置为例,若以肉眼仔细观察一个未经亮度校正的液晶显示装置,常人可轻易发现液晶显示装置中的区域及区域之间的亮度不尽相同。其次,若实际以光度计加以测量,则可发现不同像素于表现相同灰阶数据时,其实际所测量到的亮度值并不均匀,尤其若以比较画面的中间区域及边缘区域时,通常可以观测到较大的亮度差。在此情形下,为使显示装置的亮度均匀性能够达到一定的标准,势必需要于产品设计时加入可供亮度校正的电路并于显示装置的生产过程中加入严谨的亮度校正程序。
基于上述原理,一般矩阵式加热器有可能因为装置内的每一加热元件在出厂的特性皆会有些许的不同,因此,矩阵式加热器再进行加热时则可会有部分区域是温度过热或是温度过低等的温度不均匀现象产生,也因为如此,为使矩阵式加热器的温度均匀性能够达到一定的标准,也势必需要于产品设计时加入可供温度校正的电路并于矩阵式加热器的生产过程中加入严谨的温度校正程序。
由上述二个例子可知,一般在亮度、温度,甚至是影像的亮度、色饱和度与光谱皆会有需要做到均匀化的情况,势必须要加入校正的机制才可达到均匀化补偿的目的。
发明内容
本发明的目的之一,在于提供一种建立均匀化补偿对应表的方法,其通过多个测量值而取得一中心均匀估算值,再依据所述测量值与中心均匀估算值并配合内插与外插运算而计算出整个平面的多个平面均匀估算值,以建立均匀补偿对应表,以供后续均匀化补偿,如此,可避免平面产生不均匀的现象,并且应用在影像领域时并不会出现马赛克现象。
本发明的目的之一,在于提供一种建立均匀化补偿对应表的方法,其通过内插运算而依序得知在平面上不同大小比例的一同心圆的圆周位置上的多个平面均匀估算值,以达到均匀化补偿,如此,本发明可容易以数位逻辑电路实时实现,并且本发明应用在影像领域时并不会出现马赛克现象。
未达上述的目的,本发明的建立均匀化补偿对应表的方法的步骤包含测量欲均匀化的一平面的多个测量区域,而分别取得一测量值;依据所述测量值与所述测量值和平面的中心位置间的距离,而计算出在平面的中心位置上的一中心均匀估算值;分别以所述测量值与中心估算值而形成一直线骨架;依据所述测量值、中心均匀估算值以及所述测量值和平面的中心位置间的距离,以内插或外插方式依序计算出所述直线骨架上的多个骨架均匀估算值;以及依序依据相邻的直线骨架的所述骨架均匀估算值,而计算出平面上的多个平面均匀估算值,以建立一均匀化补偿对应表。如此,本发明的通过多个测量值而取得一中心均匀估算值,再依据所述测量值与中心均匀估算值并配合内插与外插运算而计算出整个平面的多个平面均匀估算值,以建立均匀补偿对应表,以供后续均匀化补偿,以避免平面产生不均匀的现象,并且应用在影像领域时并不会出现马赛克现象。
再者,本发明在依序依据相邻所述直线骨架的所述骨架均匀估算值,而计算出平面上的多个平面均匀估算值的步骤中,是包含:以中心均匀估算值为中心的一圆的一圆周的位置上,依序取得相邻的所述直线骨架上的骨架均匀估算值,依据相邻的所述直线骨架上的骨架均匀估算值而依序以内插方式计算出圆周的不同位置上的所述平面均匀估算值;以及重复上一步骤,以计算出在平面上不同大小比例的一同心圆的圆周位置上的所述平面均匀估算值。如此,本发明通过内插运算而依序得知在平面上不同大小比例的一同心圆的圆周位置上的多个平面均匀估算值,以达到均匀化补偿,如此,本发明可容易以数位逻辑电路实时实现,并且本发明应用在影像领域时并不会出现马赛克现象。
本发明的通过多个测量值而取得一中心均匀估算值,再依据所述测量值与中心均匀估算值并配合内插与外插运算而计算出整个平面的多个平面均匀估算值,以建立均匀补偿对应表,以供后续均匀化补偿,以避免平面产生不均匀的现象,并且应用在影像领域时并不会出现马赛克现象。
附图说明
图1为本发明的第一实施例的建立均匀化补偿对应表的方法的流程图。
图2为本发明的第二实施例的建立均匀化补偿对应表的方法的流程图。
图3A为本发明的第一实施例与第二实施例的建立均匀化补偿对应表的方法的步骤示意图。
图3B为本发明的第一实施例与第二实施例的建立均匀化补偿对应表的方法的步骤示意图。
图3C为本发明的第一实施例与第二实施例的建立均匀化补偿对应表的方法的步骤示意图。
图3D为本发明的第二实施例的建立均匀化补偿对应表的方法的步骤示意图。
图3E为本发明的第二实施例的建立均匀化补偿对应表的方法的步骤示意图。
图4为本发明的第三实施例的建立均匀化补偿对应表的方法的流程图。
图5A为本发明的第三实施例的建立均匀化补偿对应表的方法的步骤示意图。
图5B为本发明的第三实施例的建立均匀化补偿对应表的方法的步骤示意图。
图6为本发明的第五实施例的建立均匀化补偿对应表的方法利用10个测量点计算的动作示意图。
其中,附图标记说明如下:
10平面
20测量装置
30圆
40圆
A骨架均匀估算值
A1测量区域
A2测量区域
A3测量区域
A4测量区域
arcA弧长A
arcAB弧长AB
arcB弧长B
AREA1第一区域
AREA2第二区域
AREA3第三区域
AREA4第四区域
B骨架均匀值
D1距离
D2距离
D3距离
D4距离
DA距离
DB距离
DI1[i]距离
Dm1距离
DO1[j]距离
LineS1直线骨架
LineS2直线骨架
LineS3直线骨架
LineS4直线骨架
V1测量值
V2测量值
V3测量值
V4测量值
Vc中心均匀估算值
具体实施方式
在说明书及权利要求当中使用了某些词汇来指称特定的元件。所属领域中技术人员应可理解,硬件制造商可能会用不同的名词来称呼同一个元件。本说明书及权利要求并不以名称的差异来作为区分元件的方式,而是以元件在功能上的差异来作为区分的准则。在通篇说明书及权利要求当中所提及的「包含」是为一开放式的用语,故应解释成「包含但不限定于」。
为使本领域技术人员 对本发明的结构特征及所实现的技术效果有更进一步的了解与认识,谨佐以较佳的实施例及配合详细的说明,说明如后:
请参阅图1,其是为本发明的第一实施例的建立均匀化补偿对应表的方法的流程图。如图所示,本发明的建立均匀化补偿对应表的方法是先执行步骤S100测量欲均匀化的一平面10的多个测量区域A1,A2,A3,A4,而分别取得一测量值V1,V2,V3,V4。即如图3A所示,提供一测量装置20测量平面10上的多个测量区域,于本实施例中,测量装置20测量平面上的测量区域A1,A2,A3,A4等四个测量区域,为了方便说明,本实施例是以四个测量区域A1,A2,A3,A4进行说明,但本发明并不局限于四个测量区域,只要是二个测量区域即可进行均匀化补偿的计算,测量平面10上的测量区域越多,其均匀化补偿的效果自然越好。
此外,除了可以直接使用测量装置20测量平面10上所述测量区域A1, A2,A3,A4而直接取得测量值V1,V2,V3,V4之外,本发明也可通过测量装置20分别测量平面10上的测量区域A1,A2,A3,A4,而产生多个感测值,而在平均所述感测值,以分别取得测量值V1,V2,V3,V4。所以,只要通过测量装置20平面10上的测量区域所取得任何数值皆是本发明所要保护的范围。
请再参阅图1,接着执行步骤S102依据所述测量值V1,V2,V3,V4 与所述测量值V1,V2,V3,V4和平面10的中心位置P(x,y)间的距离D1, D2,D3,D4,而计算出在平面10的中心位置P(x,y)上的一中心均匀估算值 VC。即如图3B所示,其是为本发明的第一实施例与第二实施例的均匀化补偿的演算法的步骤示意图。如图所示,当取得所述测量值V1,V2,V3,V4 之后,计算所述测量值V1,V2,V3,V4分别与平面10的中心位置P(x,y) 的距离D1,D2,D3,D4,之后依据所述测量值V1,V2,V3,V4和距离 D1,D2,D3,D4而计算出中心均匀估算值VC,其计算中心均匀估算值VC方程序如下所示:
Figure BDA0001017964420000061
其中,Tmp为距离D1,D2,....,Dn的总和,即Tmp=D1+D2+.... +Dn,上述为n个测量值的方程式,若以本实施例以4个测量点为例时,其计算中心均匀估算值VC方程式如下所示:
Figure BDA0001017964420000062
其中,Tmp为距离D1,D2,D3,D4的总和。
之后,执行步骤S104分别以所述测量值V1,V2,V3,V4与中心均匀估算值VC而呈现一直线骨架。即根据两点可形成一直线的原理,从中心均匀估算值VC经测量值V1至平面10的边,以呈现直线骨架LineS1,以本实施例为例,中心均匀估算值VC分别与所述测量值V1,V2,V3,V4呈现出多个直线骨架LineS1,LineS2,LineS3,LineS4。接下来执行步骤S106依据所述测量值V1,V2,V3,V4、中心均匀估算值VC以及所述测量值V1,V2, V3,V4和平面10的中心位置P(x,y)间的距离D1,D2,D3,D4,以内插或外插方式依序计算出所述直线骨架上LineS1,LineS2,LineS3,LineS4的多个骨架均匀估算值。以本实施例为例,当骨架均匀估算值的位置的距离是有小于所述测量值V1,V2,V3,V4和平面10的中心位置P(x,y)间的距离D1, D2,D3,D4时,则以内插方式计算出所述直线骨架上LineS1,LineS2,LineS3, LineS4的所述骨架均匀估算值;反之,当骨架均匀估算值的位置的距离大于所述测量值V1,V2,V3,V4和平面10的中心位置P(x,y)间的距离D1,D2, D3,D4时,则以外插方式计算出所述直线骨架上LineS1,LineS2,LineS3, LineS4的所述骨架均匀估算值。
以直线骨架LineS1为例,当骨架均匀估算值DI1[i]的位置的与平面10 的中心位置P(x,y)间的距离是有小于测量值V1和平面10的中心位置P(x,y) 间的距离D1时,则以内插方式计算出直线骨架LineS1上的所述骨架均匀估算值DI1[i],即所述骨架均匀估算值DI1[i]所表示的方程式如下所示:
Figure BDA0001017964420000071
其中,i=0~N,即直线骨架上LineS1上有N个骨架均匀估算值。
当骨架均匀估算值DO1[i]的位置与平面10的中心位置P(x,y)间的距离 Dm1是有大于测量值V1和平面10的中心位置P(x,y)间的距离D1时,则以外插方式计算出直线骨架LineS1上的所述骨架均匀估算值DO1[i],即由于测量值V1的位置是位于骨架均匀估算值DO1[i]的位置与平面10的中心位置 P(x,y)之间,所以,测量值V1相当于是利用骨架均匀估算值DO1[i]与中心均匀估算值VC经内插运算而得知,其方程式如下所示:
Figure BDA0001017964420000072
其中,j=0~M,方程式(4)经整理过后,即可得知利用外插的方式计算出骨架均匀估算值DO1[i]的方程式如下所示:
Figure BDA0001017964420000073
以上即可完整计算出直线骨架LineS1上每点的骨架均匀估算值,以本实施例为例,利用重复上述的方式即可依序计算出直线骨架LineS2,LineS3, LineS4上每点的骨架均匀估算值。
最后执行步骤S108依序依据相邻的直线骨架的所述骨架均匀估算值,而计算出平面上的多个平面均匀估算值。以本实施例为例,平面10被四条直线骨架LineS1,LineS2,LineS3,LineS4区分为一第一区域AREA1、一第二区域AREA2、一第三区域AREA3以及一第四区域AREA4,第一区域 AREA1位于直线骨架LineS1与直线骨架LineS2之间,本实施例是依序依据相邻的直线骨架LineS1的骨架均匀估算值与直线骨架LineS2的骨架均匀估算值而以内插计算出第一区域AREA1上的所述平面均匀估算值,也就是说,依序内插相邻的直线骨架LineS1的骨架均匀估算值与直线骨架LineS2的骨架均匀估算值而以内插计算出第一区域AREA1上的所述平面均匀估算值。
同理,第二区域AREA2位于直线骨架LineS1与直线骨架LineS3之间,第三区域AREA3位于直线骨架LineS2与直线骨架LineS4之间,第四区域 AREA4位于直线骨架LineS2与直线骨架LineS4之间。第二区域AREA2的所述平面均匀估算值是依据直线骨架LineS1的所述骨架均匀估算值与直线骨架LineS3的所述骨架均匀估算值而以内插计算出,第三区域AREA3的所述平面均匀估算值是依据直线骨架LineS3的所述骨架均匀估算值与直线骨架LineS4的所述骨架均匀估算值而以内插计算出,第四区域AREA4的所述平面均匀估算值是依据直线骨架LineS2的所述骨架均匀估算值与直线骨架 LineS4的所述骨架均匀估算值而以内插计算出。
以下是提供数种以内插计算相邻的直线骨架的骨架均匀估算值,而得知所述平面均匀估算值的方法。
请参阅图2,其是为本发明的第二实施例的均匀化补偿的演算法的流程图。如图所示,本实施例与图1的实施例不同之处在于,本实施例的步骤S208 以中心均匀估算值VC为中心的一圆30的圆周的位置上,依序取得相邻的所述直线骨架上的骨架均匀估算值,依据相邻的所述直线骨架上的骨架均匀估算值而依序以内插方式计算出圆周的不同位置上的所述平面均匀估算值。在此步骤中,即如图3D所示,在以中心均匀估算值VC为中心的圆30的圆周的位置上,被所述直线骨架LineS1,LineS2,LineS3,LineS4区分平面10 为第一区域AREA1、第二区域AREA2、第三区域AREA3与第四区域AREA4,在第一区域AREA1中,在圆30的圆周的位置上取得直线骨架LineS1上的骨架均匀估算值A与直线骨架LineS2上的骨架均匀估算值B。
之后,相邻的所述直线骨架LineS1,LineS2,LineS3,LineS4上的骨架均匀估算值依序依据对应圆周上的位置的弧度比例而以内插方式计算出相邻的所述直线骨架LineS1,LineS2,LineS3,LineS4之间的圆周区域上的位置的所述平面均匀估算值,即以第3D图进行说明,内插相邻直线骨架LineS1 上的骨架均匀估算值A与直线骨架LineS2上的骨架均匀估算值B而依序计算出骨架均匀估算值A与骨架均匀估算值B之间弧上的所述平面均匀估算值,以本实施例的R点为例,R点位于圆30的圆周上,并位在相邻直线骨架LineS1 与直线骨架LineS2之间的第一区域AREA1,所以,R点是以依据直线骨架 LineS1上的骨架均匀估算值A与直线骨架LineS2上的骨架均匀估算值B而利用内插运算而得知,即R点上的平面均匀估算值的方程式如下所示:
Figure BDA0001017964420000081
其中,R为平面均匀估算值,arcA为弧长A,arcB为弧长B,arcAB为弧长AB,弧长A与弧长B皆为弧长AB的一部分,即弧长AB为弧长A加上弧长B,弧长A为半径r乘上角度ψ,弧长B为半径r乘上角度θ。
此外,除了可以依据对应圆周上的位置的弧度比例而以内插方式计算出相邻的所述直线骨架LineS1,LineS2,LineS3,LineS4之间的圆周区域上的位置的所述平面均匀估算值之外,本发明也可以利用相邻的所述直线骨架 LineS1,LineS2,LineS3,LineS4上的骨架均匀估算值依序依据对应圆30的圆周上的位置的距离比例而以内插方式计算出相邻的所述直线骨架之间的圆周区域上的位置的所述平面均匀估算值,即同样以P点为例,P点位于圆30 的圆周上,并位在相邻直线骨架LineS1与直线骨架LineS2之间的第一区域 AREA1,所以,P点可以依据直线骨架LineS1上的骨架均匀估算值A与R 点的距离DA与直线骨架LineS2上的骨架均匀估算值B与R点距离DB而利用内插运算而得知,即R点上的平面均匀估算值的方程式如下所示:
Figure BDA0001017964420000091
其中,R为平面均匀估算值,DA为直线骨架LineS1上的骨架均匀估算值A与R点的距离,DB为直线骨架LineS1上的骨架均匀估算值B与R点的距离。
重复上述步骤,直至计算出第一区域AREA1上圆30的圆周上每一位置的平面均匀估算值。之后,再依据不同相邻的直线骨架LineS1,LineS2,LineS3, LineS4而内插计算出圆30在第二区域AREA2、第三区域AREA3以及第四区域AREA4上圆周的平面均匀估算值。
接着,执行步骤S210重复上一步骤,以计算出在平面10上不同大小比例的一同心圆的圆周位置上的所述平面均匀估算值。也就是说,本发明以中心均匀估算值为中心,而以不同大小比例的同心圆,从计算小同心圆的圆周上的所述平面均匀估算值,而逐渐外扩展至计算在平面10上最大的同心圆的圆周上的所述平面均匀估算值(如图3E所示),以建立一均匀化补偿对应表,即本发明可通过测量值而计算出整个平面10的每点的均匀估算值(包含中心均匀估算值、骨架均匀估算值以及平面均匀估算值),而建立该平面10 的均匀化补偿对应表,以影像亮度为例,由于亮度值为0-255,并且影像中的每一个画面就需要一个亮度,所以,需要建立256个均匀化补偿对应表,使得影像画面在显示亮度时,可对应找出均匀化补偿对应表后进而进行补偿,例如,当影像画面需要的亮度为250时,则显示电路则会依据亮度值为250,而对应找出均匀化补偿对应表,并依据该均匀化补偿对应表而进行补偿。
此外,本发明并不局限于应用于影像亮度领域中,亦可应用于照度领域、光谱领域或温度领域等,只要是可在平面显示出物理值的领域中,并运用本发明所建立均匀化补偿对应表的方式皆是本发明所要保护的范围。
请参阅图4,其是为本发明的第三实施例的均匀化补偿的演算法的流程图。如图所示,本实施例与图2的实施例不同之处在于,本实施例的步骤308,以中心均匀估算值VC为中心的一圆40的一圆周的位置上,依序取得相邻的所述直线骨架LineS1,LineS2,LineS3,LineS4上的骨架均匀估算值,依据相邻的所述直线骨架LineS1,LineS2,LineS3,LineS4上的骨架均匀估算值而依序以内插方式计算出圆周的不同位置上的所述平面均匀估算值,在此步骤中,即如图5A所示,在以中心均匀估算值VC为中心的圆40的圆周的位置上,被所述直线骨架LineS1,LineS2,LineS3,LineS4区分平面10为第一区域AREA1、第二区域AREA2、第三区域AREA3与第四区域AREA4,如此,本实施例分别依据相邻的所述直线骨架LineS1,LineS2,LineS3,LineS4 上的骨架均匀估算值而依序以内插方式计算出圆40的圆周上在第一区域 AREA1、第二区域AREA2、第三区域AREA3与第四区域AREA4上的所述平面均匀估算值。由于计算的方式在上一实施例已经说明过,于此就不在加以赘述。
接着,执行步骤310依序依据该圆周的不同位置上的平面均匀估算值与中心均匀估算值VC,而分别以内插或外插方式依序计算出平面均匀估算值与中心均匀估算值两点直线上的所述平面均匀估算值。请一并参阅图5B,其是为本发明的第三实施例的均匀化补偿的演算法的步骤示意图。如图所示,在得知圆40的圆周上的多个平面均匀估算值之后,可以如同步骤S304而以以内插或外插方式依序计算出平面均匀估算值与中心均匀估算值两点直线上的所述平面均匀估算值,之后重复此步骤而依序计算出圆40的圆周上所述平面均匀估算值分别与中心均匀估算值两点直线上的所述平面均匀估算值,而得知平面上所述平面均匀估算值,以完成均匀化补偿的目的。
请参阅图6,其是为本发明的第五实施例的均匀化补偿的演算法利用10 个测量点计算的动作示意图。如图所示,本发明的均匀化补偿的演算法是取样10个测量点,所以可以把平面10切分为10个区域而进行均匀化的补偿,由于将平面10切分的越细,其均匀化补偿的效果佳,但运算的复杂度相对也就会比较高,所以,本发明并不局限于取样的测量点数量,其只有取样二个测量点以上公开本发明所要保护的范围。
本发明是实为一具有新颖性、进步性及可供产业利用者,应符合我国专利法所规定的专利申请要件无疑,依法提出发明专利申请。
而以上所述者,仅为本发明的一较佳实施例而已,并非用来限定本发明实施的范围,举凡依本发明权利要求所述的形状、构造、特征及精神所为的均等变化与修饰,均应包括于本发明的权利要求内。

Claims (8)

1.一种建立均匀化补偿对应表的方法,其被应用于可在平面显示出物理值的领域,其步骤包含:
测量欲均匀化的一平面的多个测量区域,而分别取得一测量值;
依据所述测量值与所述多个测量区域内的个别测量点和该平面的中心位置间的距离,而计算出在该平面的中心位置上的一中心均匀估算值;
分别以所述测量值与该中心均匀估算值而形成一直线骨架;
依据所述测量值、该中心均匀估算值以及所述多个测量区域内的个别测量点和该平面的中心位置间的距离,以内插或外插方式依序计算出所述直线骨架上的多个骨架均匀估算值;以及
依序依据相邻的该直线骨架的所述骨架均匀估算值,而以内插计算出该平面上的多个平面均匀估算值,以建立一均匀化补偿对应表。
2.如权利要求1所述的建立均匀化补偿对应表的方法,其中于依序依据相邻所述直线骨架的所述骨架均匀估算值,而以内插计算出该平面上的多个平面均匀估算值的步骤中,是包含:
以该中心均匀估算值为中心的一圆的一圆周的位置上,依序取得相邻的所述直线骨架上的该骨架均匀估算值,依据相邻的所述直线骨架上的该骨架均匀估算值而依序以内插方式计算出该圆周的不同位置上的所述平面均匀估算值;以及
重复上一步骤,以计算出在该平面上不同大小比例的一同心圆的圆周位置上的所述平面均匀估算值。
3.如权利要求2所述的建立均匀化补偿对应表的方法,其中于依据相邻的所述直线骨架上的该骨架均匀估算值而依序以内插方式计算出该圆周的不同位置上的所述平面均匀估算值的步骤中,是包含:
相邻的所述直线骨架上的该骨架均匀估算值依序依据对应该圆周上的位置的弧度比例而以内插方式计算出相邻的所述直线骨架之间的该圆周区域上的位置的所述平面均匀估算值;以及
重复上述步骤,直至计算出该圆周上每一位置的该平面均匀估算值。
4.如权利要求2所述的建立均匀化补偿对应表的方法,其中于依据相邻的所述直线骨架上的该骨架均匀估算值而依序以内插方式计算出该圆周的不同位置上的所述平面均匀估算值的步骤中,是包含:
相邻的所述直线骨架上的该骨架均匀估算值依序依据对应该圆周上的位置的距离比例而以内插方式计算出相邻的所述直线骨架之间的该圆周区域上的位置的所述平面均匀估算值;以及
重复上述步骤,直至计算出该圆周上每一位置的该平面均匀估算值。
5.如权利要求1所述的建立均匀化补偿对应表的方法,其中于依序依据相邻所述直线骨架的所述骨架均匀估算值,而以内插计算出该平面上的多个平面均匀估算值的步骤中,是包含:
以该中心均匀估算值为中心的一圆的一圆周的位置上,依序取得相邻的所述直线骨架上的该骨架均匀估算值,依据相邻的所述直线骨架上的该骨架均匀估算值而依序以内插方式计算出该圆周的不同位置上的所述平面均匀估算值;以及
依序依据该圆周的不同位置上的该平面均匀估算值与该中心均匀估算值,而分别以内插或外插方式依序计算出该平面均匀估算值与该中心均匀估算值两点直线上的所述平面均匀估算值。
6.如权利要求1所述的建立均匀化补偿对应表的方法,其中于测量欲均匀化的一平面的多个测量区域,而分别取得一测量值的步骤中,包含:
测量该平面的该测量区域,产生多个感测值;以及
平均所述感测值而产生该测量值。
7.如权利要求1所述的建立均匀化补偿对应表的方法,其中于依据所述测量值、该中心均匀估算值以及所述多个测量区域内的个别测量点和该平面的中心位置间的距离,分别以内插或外插方式依序计算出所述直线骨架上的多个骨架均匀估算值的步骤中,当欲得知的该骨架均匀估算值的位置与该中心均匀估算值的位置之间的距离小于该测量值的位置与中心均匀估算值的位置之间的距离,是以内插方式计算出该骨架均匀估算值;当欲得知的该骨架均匀估算值的位置与该中心均匀估算值的位置之间的距离大于该测量值的位置与中心均匀估算值的位置之间的距离,是以外插方式计算出该骨架均匀估算值。
8.如权利要求1所述的建立均匀化补偿对应表的方法,其中该方法应用于照度领域、光谱领域或温度领域。
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US20040100426A1 (en) * 2002-11-21 2004-05-27 Madhukar Gaganam Field emission display brightness uniformity compensation system and method
JP4369953B2 (ja) * 2006-12-06 2009-11-25 株式会社 日立ディスプレイズ 画像補正方法及び画像表示装置
KR100833757B1 (ko) * 2007-01-15 2008-05-29 삼성에스디아이 주식회사 유기 전계 발광 표시 장치 및 영상 보정 방법
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