TW201822146A - 建立均勻化補償對應表之方法 - Google Patents

Abstract

本發明係有關一種建立均勻化補償對應表之方法，其步驟包含量測欲均勻化之一平面的複數量測區域，而分別取得一量測值；依據該些量測值與該些量測值和平面之中心位置間的距離，而計算出在平面之中心位置上的一中心均勻估算值；分別以該些量測值與中心估算值而形成一直線骨架；依據該些量測值、中心均勻估算值以及該些量測值和平面之中心位置間的距離，以內插或外插方式依序計算出該些直線骨架上之複數骨架均勻估算值；以及依序依據相鄰之直線骨架的該些骨架均勻估算值，而計算出平面上之複數平面均勻估算值，以建立一均勻化補償對應表。

Description

建立均勻化補償對應表之方法

本發明係有關一種演算法，其係尤指一種建立均勻化補償對應表之方法。

按，隨著影像視訊科技的不斷發展，高畫質及高解析度的液晶顯示裝置或電漿顯示器等已廣泛受到眾人的矚目。為使顯示裝置呈現良好的畫質，顯示裝置除了必須顯示出良好的色彩品質之外，還必須對畫面亮度的均勻性盡量做到盡善盡美。以液晶顯示裝置為例，若以肉眼仔細觀察一個未經亮度校正的液晶顯示裝置，常人可輕易發現液晶顯示裝置中的區域及區域之間的亮度不盡相同。其次，若實際以光度計加以量測，則可發現不同畫素於表現相同灰階資料時，其實際所量測到的亮度值並不均勻，尤其若以比較畫面的中間區域及邊緣區域時，通常可以觀測到較大的亮度差。在此情形下，為使顯示裝置的亮度均勻性能夠達到一定的標準，勢必需要於產品設計時加入可供亮度校正的電路並於顯示裝置的生產過程中加入嚴謹的亮度校正程序。

基於上述原理，一般矩陣式加熱器有可能因為裝置內的每一加熱元件在出廠的特性皆會有些許的不同，因此，矩陣式加熱器再進行加熱時則可會有部分區域是溫度過熱或是溫度過低等的溫度不均勻現象產 生，也因為如此，為使矩陣式加熱器的溫度均勻性能夠達到一定的標準，也勢必需要於產品設計時加入可供溫度校正的電路並於矩陣式加熱器的生產過程中加入嚴謹的溫度校正程序。

由上述二個例子可知，一般在亮度、溫度，甚至是影像的亮度、色飽和度與光譜皆會有需要做到均勻化的情況，勢必須要加入校正的機制才可達到均勻化補償的目的。

本發明之目的之一，在於提供一種建立均勻化補償對應表之方法，其藉由複數量測值而取得一中心均勻估算值，再依據該些量測值與中心均勻估算值並配合內插與外插運算而計算出整個平面的複數平面均勻估算值，以建立均勻補償對應表，以供後續均勻化補償，如此，可避免平面產生不均勻的現象，並且應用在影像領域時並不會出現馬賽克現象。

本發明之目的之一，在於提供一種建立均勻化補償對應表之方法，其藉由內插運算而依序得知在平面上不同大小比例之一同心圓之圓周位置上的複數平面均勻估算值，以達到均勻化補償，如此，本發明可容易以數位邏輯電路即時實現，並且本發明應用在影像領域時並不會出現馬賽克現象。

未達上述之目的，本發明之建立均勻化補償對應表之方法的步驟包含量測欲均勻化之一平面的複數量測區域，而分別取得一量測值；依據該些量測值與該些量測值和平面之中心位置間的距離，而計算出在平面之中心位置上的一中心均勻估算值；分別以該些量測值與中心估算值而 形成一直線骨架；依據該些量測值、中心均勻估算值以及該些量測值和平面之中心位置間的距離，以內插或外插方式依序計算出該些直線骨架上之複數骨架均勻估算值；以及依序依據相鄰之直線骨架的該些骨架均勻估算值，而計算出平面上之複數平面均勻估算值，以建立一均勻化補償對應表。如此，本發明之藉由複數量測值而取得一中心均勻估算值，再依據該些量測值與中心均勻估算值並配合內插與外插運算而計算出整個平面的複數平面均勻估算值，以建立均勻補償對應表，以供後續均勻化補償，以避免平面產生不均勻的現象，並且應用在影像領域時並不會出現馬賽克現象。

再者，本發明在依序依據相鄰該些直線骨架之該些骨架均勻估算值，而計算出平面上之複數平面均勻估算值之步驟中，係包含：以中心均勻估算值為中心之一圓的一圓周之位置上，依序取得相鄰之該些直線骨架上的骨架均勻估算值，依據相鄰之該些直線骨架上的骨架均勻估算值而依序以內插方式計算出上圓周之不同位置上的該些平面均勻估算值；以及重複上一步驟，以計算出在平面上不同大小比例之一同心圓之圓周位置上的該些平面均勻估算值。如此，本發明藉由內插運算而依序得知在平面上不同大小比例之一同心圓之圓周位置上的複數平面均勻估算值，以達到均勻化補償，如此，本發明可容易以數位邏輯電路即時實現，並且本發明應用在影像領域時並不會出現馬賽克現象。

10‧‧‧平面

20‧‧‧量測裝置

30‧‧‧圓

40‧‧‧圓

A‧‧‧骨架均勻估算值

A1‧‧‧量測區域

A2‧‧‧量測區域

A3‧‧‧量測區域

A4‧‧‧量測區域

arcA‧‧‧弧長A

arcAB‧‧‧弧長AB

arcB‧‧‧弧長B

AREA1‧‧‧第一區域

AREA2‧‧‧第二區域

AREA3‧‧‧第三區域

AREA4‧‧‧第四區域

B‧‧‧骨架均勻值

D1‧‧‧距離

D2‧‧‧距離

D3‧‧‧距離

D4‧‧‧距離

DA‧‧‧距離

DB‧‧‧距離

DI1[i]‧‧‧距離

Dm1‧‧‧距離

DO1[j]‧‧‧距離

LineS1‧‧‧直線骨架

LineS2‧‧‧直線骨架

LineS3‧‧‧直線骨架

LineS4‧‧‧直線骨架

V1‧‧‧量測值

V2‧‧‧量測值

V3‧‧‧量測值

V4‧‧‧量測值

Vc‧‧‧中心均勻估算值

第1圖為本發明之第一實施例之建立均勻化補償對應表之方法的流程 圖。

第2圖為本發明之第二實施例之建立均勻化補償對應表之方法的流程圖。

第3A圖為本發明之第一實施例與第二實施例之建立均勻化補償對應表之方法的步驟示意圖。

第3B圖為本發明之第一實施例與第二實施例之建立均勻化補償對應表之方法的步驟示意圖。

第3C圖為本發明之第一實施例與第二實施例之建立均勻化補償對應表之方法的步驟示意圖。

第3D圖為本發明之第二實施例之建立均勻化補償對應表之方法的步驟示意圖。

第3E圖為本發明之第二實施例之建立均勻化補償對應表之方法的步驟示意圖。

第4圖為本發明之第三實施例之建立均勻化補償對應表之方法的流程圖。

第SA圖為本發明之第三實施例之建立均勻化補償對應表之方法的步驟示意圖。

第5B圖為本發明之第三實施例之建立均勻化補償對應表之方法的步驟示意圖。

第6圖為本發明之第五實施例之建立均勻化補償對應表之方法利用10個量測點計算的動作示意圖。

在說明書及後續的申請專利範圍當中使用了某些詞彙來指稱特定的元件。所屬領域中具有通常知識者應可理解，硬體製造商可能會用不同的名詞來稱呼同一個元件。本說明書及後續的申請專利範圍並不以名稱的差異來作為區分元件的方式，而是以元件在功能上的差異來作為區分的準則。在通篇說明書及後續的請求項當中所提及的「包含」係為一開放式的用語，故應解釋成「包含但不限定於」。

茲為使 貴審查委員對本發明之結構特徵及所達成之功效有更進一步之瞭解與認識，謹佐以較佳之實施例及配合詳細之說明，說明如後：請參閱第1圖，其係為本發明之第一實施例之建立均勻化補償對應表之方法的流程圖。如圖所示，本發明之建立均勻化補償對應表之方法係先執行步驟S100量測欲均勻化之一平面10的複數量測區域A1，A2，A3，A4，而分別取得一量測值V1，V2，V3，V4。即如第3A圖所示，提供一量測裝置20量測平面10上的複數量測區域，於本實施例中，量測裝置20量測平面上的量測區域A1，A2，A3，A4等四個量測區域，為了方便說明，本實施例係以四個量測區域A1，A2，A3，A4進行說明，但本發明並不侷限於四個量測區域，只要是二個量測區域即可進行均勻化補償的計算，量測平面10上的量測區域越多，其均勻化補償的效果自然越好。

此外，除了可以直接使用量測裝置20量測平面10上該些量測區域A1，A2，A3，A4而直接取得量測值V1，V2，V3，V4之外，本發明也可透過量測裝置20分別量測平面10上的量測區域A1，A2，A3，A4，而產生 複數感測值，而在平均該些感測值，以分別取得量測值V1，V2，V3，V4。所以，只要透過量測裝置20平面10上的量測區域所取得任何數值皆是本發明所要保護的範圍。

請復參閱第1圖，接著執行步驟S102依據該些量測值V1，V2，V3，V4與該些量測值V1，V2，V3，V4和平面10之中心位置P(x,y)間的距離D1，D2，D3，D4，而計算出在平面10之中心位置P(x,y)上的一中心均勻估算值V_C。即如第3B圖所示，其係為本發明之第一實施例與第二實施例之均勻化補償之演算法的步驟示意圖。如圖所示，當取得該些量測值V1，V2，V3，V4之後，計算該些量測值V1，V2，V3，V4分別與平面10之中心位置P(x,y)的距離D1，D2，D3，D4，之後依據該些量測值V1，V2，V3，V4和距離D1，D2，D3，D4而計算出中心均勻估算值V_C，其計算中心均勻估算值V_C方程式如下所示： 其中，Tmp為距離D1，D2，....，Dn的總和，即Tmp=D1+D2+....+Dn，上述為n個量測值的方程式，若以本實施例以4個量測點為例時，其計算中心均勻估算值V_C方程式如下所示： 其中，Tmp為距離D1，D2，D3，D4的總和。

之後，執行步驟S104分別以該些量測值V1，V2，V3，V4與中心均勻估算值V_C而呈現一直線骨架。即根據兩點可形成一直線的原理，從中心均勻估算值V_C經量測值V1至平面10的邊，以呈現直線骨架 LineS1，以本實施例為例，中心均勻估算值V_C分別與該些量測值V1，V2，V3，V4呈現出複數直線骨架LineS1，LineS2，LineS3，LineS4。接下來執行步驟S106依據該些量測值V1，V2，V3，V4、中心均勻估算值V_C以及該些量測值V1，V2，V3，V4和平面10之中心位置P(x,y)間的距離D1，D2，D3，D4，以內插或外插方式依序計算出該些直線骨架上LineS1，LineS2，LineS3，LineS4之複數骨架均勻估算值。以本實施例為例，當骨架均勻估算值的位置的距離是有小於該些量測值V1，V2，V3，V4和平面10之中心位置P(x,y)間的距離D1，D2，D3，D4時，則以內插方式計算出該些直線骨架上LineS1，LineS2，LineS3，LineS4之該些骨架均勻估算值；反之，當骨架均勻估算值的位置的距離是大於該些量測值V1，V2，V3，V4和平面10之中心位置P(x,y)間的距離D1，D2，D3，D4時，則以外插方式計算出該些直線骨架上LineS1，LineS2，LineS3，LineS4之該些骨架均勻估算值。

以直線骨架LineS1為例，當骨架均勻估算值DI₁[i]的位置的與平面10之中心位置P(x,y)間的距離是有小於量測值V1和平面10之中心位置P(x,y)間的距離D1時，則以內插方式計算出直線骨架LineS1上之該些骨架均勻估算值DI₁[i]，即該些骨架均勻估算值DI₁[i]所表示的方程式如下所示： 其中，i=0~N，即直線骨架上LineS1上有N個骨架均勻估算值。

當骨架均勻估算值DO₁[i]的位置與平面10之中心位置P(x,y)間的距離D_m1是有大於量測值V1和平面10之中心位置P(x,y)間的距離D1時，則以外插方式計算出直線骨架LineS1上之該些骨架均勻估算值DO₁[i]，即由於量測值V1的位置是位於骨架均勻估算值DO₁[i]的位置與平面10之中 心位置P(x,y)之間，所以，量測值V1相當於是利用骨架均勻估算值DO₁[i]與中心均勻估算值V_C經內插運算而得知，其方程式如下所示： 其中，j=0~M，方程式(4)經整理過後，即可得知利用外插的方式計算出骨架均勻估算值DO₁[i]的方程式如下所示：

以上即可完整計算出直線骨架LineS1上每點的骨架均勻估算值，以本實施例為例，利用重複上述的方式即可依序計算出直線骨架LineS2，LineS3，LineS4上每點的骨架均勻估算值。

最後執行步驟S108依序依據相鄰之直線骨架的該些骨架均勻估算值，而計算出平面上之複數平面均勻估算值。以本實施例為例，平面10被四條直線骨架LineS1，LineS2，LineS3，LineS4區分為一第一區域AREA1、一第二區域AREA2、一第三區域AREA3以及一第四區域AREA4，第一區域AREA1位於直線骨架LineS1與直線骨架LineS2之間，本實施例係依序依據相鄰之直線骨架LineS1的骨架均勻估算值與直線骨架LineS2的骨架均勻估算值而以內插計算出第一區域AREA1上的該些平面均勻估算值，也就是說，依序內插相鄰之直線骨架LineS1的骨架均勻估算值與直線骨架LineS2的骨架均勻估算值而以內插計算出第一區域AREA1上的該些平面均勻估算值。

同理，第二區域AREA2位於直線骨架LineS1與直線骨架LineS3之間，第三區域AREA3位於直線骨架LineS2與直線骨架LineS4之間，第四區域AREA4位於直線骨架LineS2與直線骨架LineS4之間。第二區域 AREA2之該些平面均勻估算值係依據直線骨架LineS1之該些骨架均勻估算值與直線骨架LineS3之該些骨架均勻估算值而以內插計算出，第三區域AREA3之該些平面均勻估算值係依據直線骨架LineS3之該些骨架均勻估算值與直線骨架LineS4之該些骨架均勻估算值而以內插計算出，第四區域AREA4之該些平面均勻估算值係依據直線骨架LineS2之該些骨架均勻估算值與直線骨架LineS4之該些骨架均勻估算值而以內插計算出。

以下係提供數種以內插計算相鄰之直線骨架的骨架均勻估算值，而得知該些平面均勻估算值的方法。

請參閱第2圖，其係為本發明之第二實施例之均勻化補償之演算法的流程圖。如圖所示，本實施例與第1圖之實施例不同之處在於，本實施例之步驟S208以中心均勻估算值V_C為中心之一圓30的圓周之位置上，依序取得相鄰之該些直線骨架上的骨架均勻估算值，依據相鄰之該些直線骨架上的骨架均勻估算值而依序以內插方式計算出上圓周之不同位置上的該些平面均勻估算值。在此步驟中，即如第3D圖所示，在以中心均勻估算值V_C為中心之圓30的圓周之位置上，被該些直線骨架LineS1，LineS2，LineS3，LineS4區分平面10為第一區域AREA1、第二區域AREA2、第三區域AREA3與第四區域AREA4，在第一區域AREA1中，在圓30的圓周之位置上取得直線骨架LineS1上的骨架均勻估算值A與直線骨架LineS2上的骨架均勻估算值B。

之後，相鄰之該些直線骨架LineS1，LineS2，LineS3，LineS4上的骨架均勻估算值依序依據對應圓周上之位置的弧度比例而以內插方式計算出相鄰之該些直線骨架LineS1，LineS2，LineS3，LineS4之間的圓周區 域上之位置的該些平面均勻估算值，即以第3D圖進行說明，內插相鄰直線骨架LineS1上的骨架均勻估算值A與直線骨架LineS2上的骨架均勻估算值B而依序計算出骨架均勻估算值A與骨架均勻估算值B之間弧上的該些平面均勻估算值，以本實施例之R點為例，R點位於圓30的圓周上，並位在相鄰直線骨架LineS1與直線骨架LineS2之間的第一區域AREA1，所以，R點係以依據直線骨架LineS1上的骨架均勻估算值A與直線骨架LineS2上的骨架均勻估算值B而利用內插運算而得知，即R點上之平面均勻估算值的方程式如下所示： 其中，R為平面均勻估算值，arcA為弧長A，arcB為弧長B，arcAB為弧長AB，弧長A與弧長B皆為弧長AB的一部分，即弧長AB為弧長A加上弧長B，弧長A為半徑r乘上角度ψ，弧長B為半徑r乘上角度θ。

此外，除了可以依據對應圓周上之位置的弧度比例而以內插方式計算出相鄰之該些直線骨架LineS1，LineS2，LineS3，LineS4之間的圓周區域上之位置的該些平面均勻估算值之外，本發明也可以利用相鄰之該些直線骨架LineS1，LineS2，LineS3，LineS4上的骨架均勻估算值依序依據對應圓30之圓周上之位置的距離比例而以內插方式計算出相鄰之該些直線骨架之間的圓周區域上之位置的該些平面均勻估算值，即同樣以P點為例，P點位於圓30的圓周上，並位在相鄰直線骨架LineS1與直線骨架LineS2之間的第一區域AREA1，所以，P點可以依據直線骨架LineS1上的骨架均勻估算值A與R點的距離D_A與直線骨架LineS2上的骨架均勻估算值B與R點距離D_B而利用內插運算而得知，即R點上之平面均勻估算值的方程式如下所示： 其中，R為平面均勻估算值，D_A為直線骨架LineS1上的骨架均勻估算值A與R點的距離，D_B為直線骨架LineS1上的骨架均勻估算值B與R點的距離。

重複上述步驟，直至計算出第一區域AREA1上圓30之圓周上每一位置的平面均勻估算值。之後，再依據不同相鄰之直線骨架LineS1，LineS2，LineS3，LineS4而內插計算出圓30在第二區域AREA2、第三區域AREA3以及第四區域AREA4上圓周的平面均勻估算值。

接著，執行步驟S210重複上一步驟，以計算出在平面10上不同大小比例之一同心圓之圓周位置上的該些平面均勻估算值。也就是說，本發明以中心均勻估算值為中心，而以不同大小比例之同心圓，從計算小同心圓之圓周上的該些平面均勻估算值，而逐漸外擴展至計算在平面10上最大的同心圓之圓周上的該些平面均勻估算值(如第3E圖所示)，以建立一均勻化補償對應表，即本發明可藉由量測值而計算出整個平面10的每點的均勻估算值(包含中心均勻估算值、骨架均勻估算值以及平面均勻估算值)，而建立該平面10的均勻化補償對應表，以影像亮度為例，由於亮度值為0-255，並且影像中的每一個畫面就需要一個亮度，所以，需要建立256個均勻化補償對應表，使得影像畫面在顯示亮度時，可對應找出均勻化補償對應表後進而進行補償，例如，當影像畫面需要的亮度為250時，則顯示電路則會依據亮度值為250，而對應找出均勻化補償對應表，並依據該均勻化補償對應表而進行補償。

此外，本發明並不侷限於應用於影像亮度領域中，亦可應用於照度領域、光譜領域或溫度領域等，只要是可在平面顯示出物理值的領 域中，並運用本發明所建立均勻化補償對應表的方式皆是本發明所要保護的範圍。

請參閱第4圖，其係為本發明之第三實施例之均勻化補償之演算法的流程圖。如圖所示，本實施例與第2圖之實施例不同之處在於，本實施例之步驟308，以中心均勻估算值V_C為中心之一圓40的一圓周之位置上，依序取得相鄰之該些直線骨架LineS1，LineS2，LineS3，LineS4上的骨架均勻估算值，依據相鄰之該些直線骨架LineS1，LineS2，LineS3，LineS4上的骨架均勻估算值而依序以內插方式計算出上圓周之不同位置上的該些平面均勻估算值，在此步驟中，即如第5A圖所示，在以中心均勻估算值V_C為中心之圓40的圓周之位置上，被該些直線骨架LineS1，LineS2，LineS3，LineS4區分平面10為第一區域AREA1、第二區域AREA2、第三區域AREA3與第四區域AREA4，如此，本實施例分別依據相鄰之該些直線骨架LineS1，LineS2，LineS3，LineS4上的骨架均勻估算值而依序以內插方式計算出上圓40之圓周上在第一區域AREA1、第二區域AREA2、第三區域AREA3與第四區域AREA4上的該些平面均勻估算值。由於計算的方式在上一實施例已經說明過，於此就不在加以贅述。

接著，執行步驟310依序依據該圓周之不同位置上的平面均勻估算值與中心均勻估算值V_C，而分別以內插或外插方式依序計算出平面均勻估算值與中心均勻估算值兩點直線上之該些平面均勻估算值。請一併參閱第5B圖，其係為本發明之第三實施例之均勻化補償之演算法的步驟示意圖。如圖所示，在得知圓40之圓周上的複數平面均勻估算值之後，可以如同步驟S304而以以內插或外插方式依序計算出平面均勻估算值與中心均 勻估算值兩點直線上之該些平面均勻估算值，之後重複此步驟而依序計算出圓40之圓周上該些平面均勻估算值分別與中心均勻估算值兩點直線上之該些平面均勻估算值，而得知平面上該些平面均勻估算值，以完成均勻化補償的目的。

請參閱第6圖，其係為本發明之第五實施例之均勻化補償之演算法利用10個量測點計算的動作示意圖。如圖所示，本發明之均勻化補償之演算法係取樣10個量測點，所以可以把平面10切分為10個區域而進行均勻化的補償，由於將平面10切分的越細，其均勻化補償的效果佳，但運算的複雜度相對也就會比較高，所以，本發明並不侷限於取樣的量測點數量，其只有取樣二個量測點以上揭示本發明所要保護的範圍。

本發明係實為一具有新穎性、進步性及可供產業利用者，應符合我國專利法所規定之專利申請要件無疑，爰依法提出發明專利申請，祈 鈞局早日賜准專利，至感為禱。

惟以上所述者，僅為本發明之一較佳實施例而已，並非用來限定本發明實施之範圍，舉凡依本發明申請專利範圍所述之形狀、構造、特徵及精神所為之均等變化與修飾，均應包括於本發明之申請專利範圍內。

Claims (8)

1. 一種建立均勻化補償對應表之方法，其步驟包含：量測欲均勻化之一平面的複數量測區域，而分別取得一量測值；依據該些量測值與該些量測值和該平面之中心位置間的距離，而計算出在該平面之中心位置上的一中心均勻估算值；分別以該些量測值與該中心均勻估算值而形成一直線骨架；依據該些量測值、該中心均勻估算值以及該些量測值和該平面之中心位置間的距離，以內插或外插方式依序計算出該些直線骨架上之複數骨架均勻估算值；以及依序依據相鄰之該直線骨架的該些骨架均勻估算值，而以內插計算出該平面上之複數平面均勻估算值，以建立一均勻化補償對應表。
2. 如申請專利範圍第1項所述之建立均勻化補償對應表之方法，其中於依序依據相鄰該些直線骨架之該些骨架均勻估算值，而以內插計算出該平面上之複數平面均勻估算值之步驟中，係包含：以該中心均勻估算值為中心之一圓的一圓周之位置上，依序取得相鄰之該些直線骨架上的該骨架均勻估算值，依據相鄰之該些直線骨架上的該骨架均勻估算值而依序以內插方式計算出上該圓周之不同位置上的該些平面均勻估算值；以及重複上一步驟，以計算出在該平面上不同大小比例之一同心圓之圓周位置上的該些平面均勻估算值。
3. 如申請專利範圍第2項所述之建立均勻化補償對應表之方法，其中於依據相鄰之該些直線骨架上的該骨架均勻估算值而依序以內插方式計算出上 該圓周之不同位置上的該些平面均勻估算值之步驟中，係包含：相鄰之該些直線骨架上的該骨架均勻估算值依序依據對應該圓周上之位置的弧度比例而以內插方式計算出相鄰之該些直線骨架之間的該圓周區域上之位置的該些平面均勻估算值；以及重複上述步驟，直至計算出該圓周上每一位置的該平面均勻估算值。
4. 如申請專利範圍第2項所述之建立均勻化補償對應表之方法，其中於依據相鄰之該些直線骨架上的該骨架均勻估算值而依序以內插方式計算出上該圓周之不同位置上的該些平面均勻估算值之步驟中，係包含：相鄰之該些直線骨架上的該骨架均勻估算值依序依據對應該圓周上之位置的距離比例而以內插方式計算出相鄰之該些直線骨架之間的該圓周區域上之位置的該些平面均勻估算值；以及重複上述步驟，直至計算出該圓周上每一位置的該平面均勻估算值。
5. 如申請專利範圍第1項所述之建立均勻化補償對應表之方法，其中於依序依據相鄰該些直線骨架之該些骨架均勻估算值，而以內插計算出該平面上之複數平面均勻估算值之步驟中，係包含：以該中心均勻估算值為中心之一圓的一圓周之位置上，依序取得相鄰之該些直線骨架上的該骨架均勻估算值，依據相鄰之該些直線骨架上的該骨架均勻估算值而依序以內插方式計算出上該圓周之不同位置上的該些平面均勻估算值；以及依序依據該圓周之不同位置上的該平面均勻估算值與該中心均勻估算值，而分別以內插或外插方式依序計算出該平面均勻估算值與該中心均勻估算值兩點直線上之該些平面均勻估算值。
6. 如申請專利範圍第1項所述之建立均勻化補償對應表之方法，其中於量測欲均勻化之一平面的複數量測區域，而分別取得一量測值之步驟中，係包含：量測該平面之該量測區域，產生複數感測值；以及平均該些感測值而產生該量測值。
7. 如申請專利範圍第1項所述之建立均勻化補償對應表之方法，其中於依據該些量測值、該中心均勻估算值以及該些量測值和該平面之中心位置間的距離，分別以內插或外插方式依序計算出該些直線骨架上之複數骨架均勻估算值之步驟中，當欲得知之該骨架均勻估算值之位置與該中心均勻估算值之位置之間的距離小於該量測值之位置與中心均勻估算值之位置之間的距離，係以內插方式計算出該骨架均勻估算值；當欲得知之該骨架均勻估算值之位置與該中心均勻估算值之位置之間的距離大於該量測值之位置與中心均勻估算值之位置之間的距離，係以外插方式計算出該骨架均勻估算值。
8. 如申請專利範圍第1項所述之建立均勻化補償對應表之方法，其應用於照度領域、光譜領域或溫度領域。