CN107431081B - 具有电子可调节的检测器位置的检测器阵列 - Google Patents

具有电子可调节的检测器位置的检测器阵列 Download PDF

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Abstract

本发明公开一种包含被配置为从目标对象接收电磁(EM)辐射的检测器阵列的系统，所述检测器阵列具有一个或多个检测器。所述系统还包含读出集成电路和一个或多个处理器。所述读出集成电路具有包括多个检测器边界选择组件的电路，所述多个检测器边界选择组件中的每一个被配置为从子列边界或可调节的边界中的至少一个选择或调节检测器边界。

Description

具有电子可调节的检测器位置的检测器阵列
技术领域
本教导涉及具有电子可调节的检测器位置的检测器阵列和具有电子可调节的检测器位置的检测器阵列的应用方法。应用包含对图像扫描仪中的未对准的补偿，以及图像分辨率的综合提高。
背景技术
对于检测器阵列存在许多可能的应用，其从目标对象接收电磁辐射，其中可调节的检测器位置将是期望的。那些应用中的一个是对图像扫描仪中的未对准的补偿。另一个应用是空间分辨率的综合提高。
当对象相对于扫描仪移动时，时间延迟和积分(TDI)图像扫描仪累积相同对象的多次曝光。当扫描成像仪或其中的元件通过为侧摆(off-nadir)的扫描进行扫描时，图像以弧形跨焦平面跟踪，并且在一个扫描列中开始的图像元素可以在不同的扫描列中结束。如果未被校正，则其跨多列使图像拖尾(smear)并且降低调制传递函数(MTF)。数字校正可以通过扫描的过程将每个图像元素的近似列位置考虑为整数，以将拖尾减少至半像素，但当其从一列跟踪至下一列时，不能补偿跨两个检测器像素的图像元素的分裂。
“侧摆”扫描拖尾可以通过考虑在扫描期间跟踪跨多行扫描仪的列的图像而被校正。这可以数字化地进行；例如，在时间延迟积分(TDI)扫描仪的情况下，一个人可以将列1的行1-10添加至单个集成图像像素，随后是列2的行11-20。该方法可以将拖尾减少至半像素。校正还可以通过将尺寸小于对应的最终图像像素(在交叉扫描尺寸中)的检测器像素动态聚合为单个图像像素而进行。该方法再次最多可以将拖尾减少至半像素。由于对于这两种情况，拖尾量是相对于检测器像素尺寸的，所以其可以通过减少交叉扫描像素尺寸而被减少。然而，这需要额外的像素单元格。因此对于混合式传感器，检测器至读出集成电路(ROIC)互连件的数目、尺寸和密度在间距和对准公差方面存在额外的约束。因为对于给定的检测器尺寸需要将更多每像素电路压缩至相同空间，并且由于恒定每像素噪声源的倍增使得被检测器收集到的信号的总体噪声增加，所以像素单元格的增加也不总是期望的。
对于校正的类似的需要起因于可以取代来自其中其一般是被预期的标称列的图像的其他因素，包含但不限于：机械抖动；系统中的光学像差；由介于目标对象和成像系统之间的环境造成的光学像差。
存在对于可以减少未对准或拖尾好于半个像素的系统和方法的需要。
在许多应用诸如但不限于提高图像分辨率中存在对于用于调节检测器位置和尺寸的系统和方法的需要。
发明内容
一种用于在检测器阵列中调节检测器位置和尺寸的系统和方法在下文中被公开。
在一个或多个实施例中，这些教导的所述系统包含被配置为从目标对象接收电磁(EM)辐射的检测器阵列，所述检测器阵列具有一个或多个检测器。所述系统还包含读出集成电路和一个或多个处理器，其中任何一个可以被包含于所述读出电路内。在所述检测器阵列中，所述检测器被组织为多个分块，每个分块具有基本上垂直于所设计的扫描轴线的一行或多行所述检测器，每个分块具有基本上平行于所述所设计的扫描轴线的一列或多列检测组件，所述一列或多列中的每一列具有一个或多个子列；所述一个或多个子列中的每一个具有被预先确定的位置，所述被预先确定的位置由所预先确定的子列边缘或可调节的边缘中的一个定义。所述读出集成电路具有包括多个检测器边界选择组件的电路，所述多个检测器边界选择组件中的每一个被配置为从子列边界或可调节的边界中的至少一个选择或调节检测器边界。对于所述检测器阵列的每个分块，所述一个或多个处理器被配置为执行以下：如果校正信号被接收到，则启用所述多个检测器边界选择组件中的选出的检测器边界选择组件，否则，以常规配置使用检测器边界，并且从每个检测器获得多个信号。
在一个或多个实施例中，用于校正未对准的这些教导的所述方法包含在检测器阵列处从目标对象接收电磁(EM)辐射。所述检测器阵列包含一个或多个检测器，所述检测器被组织为多个分块，每个分块具有基本上垂直于所设计的扫描轴线的一行或多行所述检测器，每个分块具有基本上平行于所述所设计的扫描轴线的一列或多列检测组件，每列具有一个或多个子列。所述检测器阵列相对于目标对象在相对扫描方向上移动。读出集成电路被可操作地连接至所述检测器阵列，所述读出集成电路包含多个检测器边界选择组件，所述多个检测器边界选择组件中的每一个被配置为在被预先确定的子列边界或可调节的子列边界处选择或调节检测器边界。对于所述检测器阵列的每个分块，以下操作被执行：如果在每个分块处存在未对准，则启用所述多个检测器边界选择组件中的选出的检测器边界选择组件；为了校正未对准，所述选出的检测器边界选择组件被选择为通过移动检测器边界而校正所述未对准，否则，以常规配置使用检测器边界，并且从所述检测器阵列的每个分块获得多个信号。
在这些教导的一个实施例中，当所述多个检测中的每一个与其他检测以已知量偏移时，收集目标的多个检测的给定系统综合地创建出自所述多个检测的目标的更高分辨率图像。
在一个或多个实施例中，用于提高图像分辨率的这些教导的所述方法包含(a)在检测器阵列处从目标对象接收电磁(EM)辐射。所述检测器阵列包含一个或多个检测器，所述检测器被组织为多个分块，每个分块具有基本上垂直于所设计的扫描轴线的一行或多行所述检测器，每个分块具有基本上平行于所述所设计的扫描轴线的一列或多列检测组件，每列具有一个或多个子列。所述检测器阵列相对于所述目标对象在相对扫描方向上移动。读出集成电路被可操作地连接至所述检测器阵列，所述读出集成电路包含多个检测器边界选择组件，所述多个检测器边界选择组件中的每一个被配置为在被预先确定的子列边界或可调节的子列边界处选择或调节检测器边界。(b)对于所述检测器阵列的每个分块，以下被执行：如果在第一检测中电磁(EM)辐射从所述目标对象被接收到，则以常规配置使用检测器边界；否则，启用所述多个检测器边界选择组件中的选出的检测器边界选择组件。(c)多个信号从所述检测器阵列的每个分块被获得。步骤(a)至步骤(c)被重复被预先确定的次数。所述多个检测器边界选择组件中的所述选出的检测器边界选择组件被选择为产生被预先确定的数目的重叠的多个信号。所述多个检测器边界选择组件中的所述选出的检测器边界选择组件还根据图像分辨率提高方案被选择。
多个其他实施例也被公开。
为了更好理解本教导以及其其他的和进一步的目的，参考附图和具体实施方式并且其范围将在附加的权利要求中被指出。
附图说明
图1a和图1b示出这些教导的系统的实施例；
图2a-图2d示出如在这些教导的系统中被使用的边界选择组件的实施例；
图3a-图3c示出如在这些教导的系统中被使用的边界选择组件的其他实施例；
图4a示出用于未对准的校正的常规方法；
图4b示出用于未对准的校正的这些教导的方法的一个实施例；并且
图5示出用于提高图像分辨率的这些教导的方法的一个实施例。
具体实施方式
以下详细描述呈现目前预期的实施这些教导的模式。该描述不被认为是限制性的，而被作出仅仅是为了示出这些教导的一般原理。
如这里所使用，单数形式“一”、“一个”和“该”包含复数参考除非上下文清楚地另有规定。
用于在检测器阵列中调节检测器位置和尺寸的系统和方法在下文中被公开。
如这里所使用的“开关”，包含电子开关，诸如包含晶体管、FET和类似设备的开关。
如这里所使用的“场操纵器”，是边界选择组件，诸如网格(gird)和/或植入体(implant)，其被可操作地连接至检测器阵列以执行检测器边界选择或调节。
在一个或多个实施例中，这些教导的系统包含被配置为从目标对象接收电磁(EM)辐射的检测器阵列，检测器阵列具有一个或多个检测器。系统还包含读出集成电路和一个或多个处理器。在检测器阵列中，检测器被组织为多个分块，每个分块具有基本上垂直于所设计的扫描轴线的一行或多行检测器，每个分块具有基本上平行于所设计的扫描轴线的一列或多列检测组件，一列或多列中的每个具有一个或多个子列；一个或多个子列中的每一个具有被预先确定的位置，被预先确定的位置由被预先确定的子列边缘或可调节的边缘中的一个定义。读出集成电路具有包括多个检测器边界选择组件的电路，多个检测器边界选择组件中的每一个被配置为从被预先确定的子列边界或可调节的子列边界中的至少一个中选择或调节检测器边界。对于检测器阵列的每个分块，一个或多个处理器被配置为执行以下：如果校正信号被接收到，则启用多个检测器边界选择组件中的选出的检测器边界选择组件，否则，以常规配置使用检测器边界，并且从每个检测器获得多个信号。
这些教导的系统的一个实施例在图1a中被示出。参照图1a，在其中被示出的实施例中，来自目标对象的电磁辐射由光学子系统44成像至检测器阵列50上。系统还包含读出电路60和一个或多个处理器70。(在一个实例中，一个或多个处理器70可以被集成至读出电路60中。)读出电路包含多个检测器边界选择组件，多个检测器边界选择组件中的每一个被配置为从子列边界或可调节的子列边界中的至少一个中选择或调节检测器边界。对于检测器阵列的每个分块，一个或多个处理器被配置为执行以下：如果校正信号被接收到，则启用多个检测器边界选择组件中的选出的检测器边界选择组件，否则，以常规配置使用检测器边界，并且从每个检测器获得多个信号。在一个实例中，系统还包含被配置为显示从图像数据生成的结果图像的输出模块90。
这些教导的系统的另一个实施例在图1b中被示出。参照图1b，在其中被示出的实施例中，一个或多个处理器70被配置为通过执行在计算机可读介质80中被体现的计算机可读代码来执行上面描述的动作。计算机可读介质80由连接组件75可操作地连接至一个或多个处理器70。
在一个实例中，当在一个或多个分块处存在未对准时校正信号被接收到。为了产生结果图像的多个部分，对于来自多个信号的每个信号，一个或多个处理器70还被配置为执行以下：从所述每个信号获得扫描数据，所述每个信号累积目标对象的一部分的扫描数据；并且对于对应于目标对象的一部分的结果图像的一部分，从扫描数据生成图像数据。
在一个实例中，来自多个检测器边界选择组件的每个检测器边界选择组件包含开关。其中每个检测器边界选择组件包含开关的检测器边界选择组件的实施例在图2a-图2d中被示出。参照图2a，在其中被示出的实施例中，检测器像素被划分为子像素(对于其中检测器分块由单个列组成的实例，这些像素可以表示横截面中的列和子列)。具有两个子像素的实施例在图2b中被示出；具有4个子像素的实施例在图2c中被示出。读出电路中的开关110由独立接收器120控制收集。如图2a中示出的，在一个实施例中，检测器边界由右移或左移中的一个移动。如图2a中示出的，在一个实例中，检测器尺寸基本上被保持。
在图2d中被示出的一个实施例中，检测器边界被移动并且检测器尺寸不需要恒定。在那个实施例中，独立子像素可以被排除并且独立接收器可以被断开。当在一个或多个分块处存在未对准时校正信号被接收到时，那个实施例适应跨传感器的不同程度的拖尾或未对准。
在图3a中被示出的另一个实施例中，检测器像素边缘由场定义并且场由两个或更多场操纵器(网格和/或植入体)每检测器像素施加。场的控制还可以微调像素检测器边缘。参照图3a，在其中被示出的实施例中，启用场操纵器创建将载波分类至信号接收器的电场并且定义对于每个检测器分块选出的边界。图3b示出了检测器自上而下的视图。(启用场操纵器的组件没有被示出但是常规的。)信号输出组件被连接至独立接收器。图3c和图3d示出其中检测器像素边缘由场定义的实施例的另一个实例。参照图3c和图3d，在其中被示出的实施例中，三个场操纵器1、2、3被使用。
在图3a-图3d中被示出的实施例中，不同尺寸的像素可以被获得并且独立接收器可以被断开以获得更大的像素尺寸。
在一个或多个实施例中，用于校正未对准的这些教导的方法包含在检测器阵列处从目标对象接收电磁(EM)辐射。检测器阵列包含一个或多个检测器，检测器被组织为多个分块，每个分块具有基本上垂直于所设计的扫描轴线的一行或多行检测器，每个分块具有基本上平行于所设计的扫描轴线的一列或多列检测组件，每列具有一个或多个子列。检测器阵列相对于目标对象在相对扫描方向上移动。读出集成电路被可操作地连接至检测器阵列，读出集成电路包含多个检测器边界选择组件，多个检测器边界选择组件中的每一个被配置为在被预先确定的子列边界或可调节的子列边界处选择或调节检测器边界。对于检测器阵列每个的分块，以下操作被执行：如果在分块处存在未对准，则启用多个检测器边界选择组件中选出的检测器边界选择组件；为了校正未对准，选出的检测器边界选择组件被选择为通过移动检测器边界而校正未对准，否则，以常规配置使用检测器边界，并且从检测器阵列的每个分块获得多个信号。
未对准可能由多种情况造成。例如，系统的生产或使用中的故障可能造成系统未能在平行于所设计的扫描轴线的相对扫描方向上移动扫描子系统。作为另一示例，扫描系统可能使用使来自目标对象的辐射失真的光学仪器使得相对扫描方向未能平行于所设计的扫描轴线。作为另一示例，目标对象可能具有扫描系统不能在恒定平行于所设计的扫描轴线的相对扫描方向上扫描的形状(诸如非平坦形状)。在特定系统中呈现的未对准可以以任何适合的方式被确定。例如，未对准可以在系统的校准期间被确定。然后传感系统可以被配置为补偿未对准。作为另一示例，未对准可以当系统在使用中时被动态地确定。反馈系统可以当系统在使用中时检测未对准的出现或未对准中的变化。反馈系统可以将未对准通知给传感器系统，然后其可以被配置为补偿未对准。
图4a示出未对准的常规校正。图4a中被示出的未对准的校正是在美国专利No.8,300,276中被描述的未对准的校正，其在此通过引用全文并入本文并且用于所有目的。
图4b示出使用本教导的一个实施例的未对准的校正。在图4b中被示出的实施例中，检测器像素的边界(边缘)逐行地被改变，以便当图像元素跨检测器阵列被扫描时跟踪图像元素的交叉扫描移动。应用这些教导的方法，交叉扫描未对准(也被称为交叉扫描拖尾)可以被减少至少于半个像素。未对准的减少导致图像具有更好的调制传递函数。在应用中，对于作为一个整体的系统或对于相关子系统，未对准的减少导致减少的抖动需求或减少被传输的扰动需求。
在一个实例中，用于校正未对准的这些教导的方法的实施例还包括对于每个信号执行以下以产生结果图像的多个部分：从每个信号获得扫描数据，每个信号累积目标对象的一部分的扫描数据；并且对于对应于目标对象的一部分的结果图像的一部分，从扫描数据生成图像数据。
在另一个实例中，子列的数目每列为n，并且如果目标对象的一部分相对于每列基本上移动了至少列的1/2n，那么在每个分块处存在未对准。
在一个实例中，每个分块包含两行或更多行检测器。
在一个或多个其他实施例中，用于提高图像分辨率的这些教导的方法包含(a)在检测器阵列处从目标对象接收电磁(EM)辐射。检测器阵列包含一个或多个检测器，检测器被组织为多个分块，每个分块具有基本上垂直于所设计的扫描轴线的一行或多行检测器，每个分块具有基本上平行于所设计的扫描轴线的一列或多列检测组件，每列具有一个或多个子列。检测器阵列相对于目标对象在相对扫描方向上移动。读出集成电路被可操作地连接至检测器阵列，读出集成电路包含多个检测器边界选择组件，多个检测器边界选择组件中的每一个被配置为在被预先确定的子列边界或可调节的子列边界处选择或调节检测器边界。(b)对于检测器阵列的每个分块，以下被执行：如果在第一检测中电磁(EM)辐射从目标对象被接收到，则以常规配置使用检测器边界；否则，启用多个检测器边界选择组件中的选出的检测器边界选择组件。(c)多个信号从检测器阵列的每个分块被获得。步骤(a)至步骤(c)被重复被预先确定的次数。多个检测器边界选择组件中的选出的检测器边界选择组件被选择为产生被预先确定的数目的重叠的多个信号。多个检测器边界选择组件中的选出的检测器边界选择组件还根据图像分辨率提高方案和/或算法被选择。
在一个实例中，来自多个检测器边界选择组件的每个检测器边界选择组件为开关。在另一个实例中，来自多个检测器边界选择组件的每个检测器边界选择组件包括被可操作地附接至检测器阵列的至少两个场操纵器(网格和/或植入体)。
在一个实例中，检测器(像素)边界由右移或左移中的一个移动并且检测器(像素)尺寸基本上被保持。在另一个实例中，检测器(像素)边界被移动并且检测器(像素)尺寸不需要恒定。
图5示出用于提高图像分辨率的这些教导的方法的一个实施例。参照图5，在其中被示出的实施例中，在第一检测中常规像素位置被使用。在随后的检测中，为了获得像素位置，检测器边界选择组件被启用，使得像素组与先前检测相偏移。尽管在图5中，像素被示出好像都为一个尺寸，但该实施例不限于像素尺寸需要基本恒定的实例。
以下是借由被配置为执行可以与目前所公开的主题一起被使用的功能的设备(以下被称为计算设备)的示例的公开。计算设备的各种组件的描述并不意在表示互连组件的任何特定架构或方式。具有更少或更多组件的其他系统也可以与所公开的主题一起被使用。通信设备可以构成计算设备的形式并且可以至少包含计算设备。计算设备可以包含互连件(例如总线和系统核心逻辑)，其可以将计算设备的这些组件互连至数据处理设备诸如一个或多个处理器或一个或多个微处理器，或其他形式的部分地或全部地可编程的或被预编程的设备，例如硬连线的和或专用集成电路(ASIC)、定制逻辑电路诸如控制器或微控制器、数字信号处理器，或可以取指令、对被预加载的/被预编程的指令操作和/或遵循在硬连线的或定制电路中被发现的指令以实施一起执行如本公开中描述的步骤和整个过程与功能性的逻辑操作的任何其他形式的设备。
在本描述中，各种功能、功能性和/或操作可以被描述为由软件程序代码执行或造成以简化描述。然而，本领域技术人员将认识到这些表达的意思是功能是由如上面描述的计算设备例如包含处理器诸如微处理器、微控制器、逻辑电路等执行程序代码/指令而造成的。可替选地或结合地，功能和操作可以在具有或不具有软件指令的情况下使用专用电路而被实施，诸如使用ASIC或现场可编程门阵列(FPGA)，其可以是可编程的、部分可编程的或硬连线的。ASIC逻辑可以是诸如门阵列或标准单元等，其由基础门阵列ASIC架构的金属化互连来实施定制逻辑或在被包含于制造商的功能块库中的标准单元功能块之间选择和提供金属化互连等。因此实施例可以在没有程序软件代码/指令的情况下使用硬连线的电路或与使用被编程的软件代码/指令的电路结合而被实施。
因此，技术既不限于硬件电路和软件的任何特定组合，也不限于用于由计算设备内的一个或多个数据处理器执行的指令的任何特定有形源。尽管一些实施例可以在全功能的计算机和计算机系统中被实施，但各种实施例能够被分配为包括例如各种形式的计算设备并且能够不管被用于实际上影响功能和操作的性能和/或功能、功能性和/或操作的性能的分配的特定类型的机器或有形计算机可读介质而被应用。
互连件可以连接数据处理设备以定义包含存储器的逻辑电路。互连件可以在数据处理设备内部诸如将微处理器耦接至板上高速缓冲存储器或外部(相对于微处理器)存储器诸如主存储器，或计算设备外部的磁盘驱动器诸如远程存储器、光盘场或其他大容量存储设备等。
存储器可以包含任何有形计算机可读介质，其可以包含但不限于可记录的和不可记录的类型的介质诸如易失性存储器设备和非易失性存储器设备，诸如典型地被实施为持续地需要电力以刷新或维持存储器中的数据的动态RAM(DRAM)的易失性RAM(随机存取存储器)，和非易失性ROM(只读存储器)，以及其他类型的非易失性存储器诸如硬盘驱动器、闪速存储器、可拆卸记忆棒等。非易失性存储器典型地可以包含磁性硬盘驱动器、磁光驱动器或光驱动器(例如DVD RAM、CD ROM、DVD或CD)或即使从系统移除电源后也能维持数据的其他类型的存储器系统。
所公开的主题的至少一些方面可以利用被编程的软件代码/指令而至少部分地被实施。也就是说，功能、功能性和/或操作技术可以在计算设备或其他数据处理系统中响应于其处理器诸如微处理器而被实施，执行被包含于存储器诸如ROM、易失性RAM、非易失性存储器、高速缓冲存储器或远程存储设备中的指令序列。一般来说，被执行为实施所公开的主题的实施例的例程可以作为操作系统或具体应用、组件、程序、对象、模块或通常被称为“计算机程序”或“软件”的指令序列的一部分而被实施。计算机程序典型地包括在各种时间被存储于计算设备中的各种有形存储器和存储设备中的指令，诸如在高速缓冲存储器、主存储器、内部或外部磁盘驱动器和其他远程存储设备诸如光盘场中，并且当由计算设备中的一个或多个处理器读取和执行时造成计算设备执行一种或多种方法，例如执行作为所公开的主题的一种或多种方法的一些方面的一部分的一个或多个元素的过程和操作步骤。
有形机器可读介质可以被用于存储软件和数据，当由计算设备执行时，其造成计算设备执行如在定义所公开的主题的一个或多个所附权利要求中可以被叙述的一种或多种方法。有形机器可读介质可以包含可执行的软件程序代码/指令的存储和在包含例如ROM、易失性RAM、非易失性存储器和/或高速缓冲存储器的各种有形位置中的数据。该程序软件代码/指令和/或数据的部分可以被存储于这些存储设备中的任何一个中。另外，程序软件代码/指令可以从远程存储被获得，包含例如通过中央服务器或对等网络等。软件程序代码/指令和数据的不同部分可以在不同时间和在不同通信会话中或在相同通信会话中被获得。
软件程序代码/指令和数据可以在由计算设备执行相应的软件应用之前被完全获得。可替选地，软件程序代码/指令和数据的部分可以被动态地获得，例如当被需要用于执行时及时被获得。可替选地，借由示例，可以出现获得软件程序代码/指令和数据的这些方法的一些组合，例如，对于不同应用、组件、程序、对象、模块、例程或其他指令序列或指令序列的组织。因此，不需要数据和指令在任何特定时间实例全部在单个机器可读介质上。
一般来说，有形机器可读介质包含以由机器(即计算设备)可访问的形式提供(即存储)信息的任何有形机构，无论是否能够从通信网络诸如英特网下载和运行应用，其可以被包含例如在通信设备，网络设备，个人数字助理，移动通信设备例如苹果手机、黑莓或Droid等，制造工具或包含包括一个或多个数据处理器的计算设备的任何其他设备等中。
为了描述和定义本教导，应注意，术语“基本上”在此被用于表示可以被归因于任何定量比较、值、测量结果或其他表示的固有不确定性程度。术语“基本上”在此也被用于表示定量表示可以从所规定的参考变化而不导致所论述的主题的基本功能的变化的程度。
虽然本发明已关于各种实施例进行了描述，但应该认识到，这些教导还能够在附加的权利要求的精神和范围内实现多种进一步的和其他的实施例。
所要求保护的是：

Claims (27)

1.一种装置， 包括：
检测器阵列，其被配置为从目标对象接收电磁(EM)辐射，所述检测器阵列包括一个或多个检测器，每个检测器被组织为多个分块，每个分块包括垂直于所设计的扫描轴线的一行或多行所述检测器，每个分块包括平行于所述所设计的扫描轴线的一列或多列检测组件，所述一列或多列中的每一列包括一个或多个子列；所述一个或多个子列中的每一个具有被预先确定的位置，所述被预先确定的位置由预先确定的子列边界或可调节的子列边界中的一个定义；
读出电路，其包括多个检测器边界选择组件，所述多个检测器边界选择组件中的每一个被配置为从预先确定的子列边界或可调节的子列边界中的至少一个选择或调节检测器边界；以及
一个或多个处理器，其被配置为针对所述检测器阵列的每个分块执行以下：
如果校正信号被接收到，则启用所述多个检测器边界选择组件中的选出的检测器边界选择组件；
否则，不启用所述多个检测器边界选择组件中的选出的检测器边界选择组件；并且
从每个检测器获得多个信号。
2.根据权利要求1所述的装置，其中，来自所述多个检测器边界选择组件的每个检测器边界选择组件包括开关。
3.根据权利要求1所述的装置，其中，来自所述多个检测器边界选择组件的每个检测器边界选择组件包括被可操作地附接至所述检测器阵列的至少两个场操纵器。
4.根据权利要求1所述的装置，其中，当在所述每个分块中的任一个处存在未对准时，接收所述校正信号。
5.根据权利要求2所述的装置，其中，检测器边界由右移或左移中的一个移动；并且其中检测器尺寸被保持。
6.根据权利要求2所述的装置，其中，检测器边界被移动并且其中检测器尺寸不需要恒定。
7.根据权利要求4所述的装置，其中，所述一个或多个处理器被配置为，为了产生结果图像的多个部分，对于来自所述多个信号的每个信号执行以下：从所述每个信号获得扫描数据，所述每个信号累积所述目标对象的一部分的扫描数据；并且对于对应于所述目标对象的所述部分的所述结果图像的一部分，从所述扫描数据生成图像数据。
8.根据权利要求1所述的装置，其中，每列所述一个或多个子列的数目为n；并且其中如果所述目标对象的一部分相对于所述列移动了至少列的1/2n，那么在所述每个分块处存在未对准。
9.根据权利要求1所述的装置，每个分块包括两行或更多行所述检测器。
10.根据权利要求1所述的装置，其中，所述一个或多个处理器通过使计算机可用介质具有在其中体现的计算机可读代码而被配置，当其由所述一个或多个处理器执行时，造成所述一个或多个处理器对于所述检测器阵列的每个分块执行以下：
如果校正信号被接收到，则启用所述多个检测器边界选择组件中的选出的检测器边界选择组件；
否则，不启用所述多个检测器边界选择组件中的选出的检测器边界选择组件；并且
从每个检测器获得多个信号。
11.根据权利要求10所述的装置，其中，所述计算机可读代码还造成所述一个或多个处理器：
为了产生结果图像的多个部分，对于每个信号执行以下：从所述每个信号获得扫描数据，所述每个信号累积所述目标对象的一部分的所述扫描数据；并且对于对应于所述目标对象的所述部分的所述结果图像的一部分，从所述扫描数据生成图像数据。
12.根据权利要求11所述的装置，还包括被配置为显示从所述图像数据生成的结果图像的输出模块。
13.根据权利要求1所述的装置，其中，为了接收具有多个重叠信号的多个检测，所述边界选择组件接收校正信号。
14.根据权利要求1所述的装置，其中，所述一个或多个处理器被包含在读出电路中。
15.一种用于校正未对准的方法，所述方法包括：
在检测器阵列处从目标对象接收电磁(EM)辐射，所述检测器阵列包括一个或多个检测器，每个检测器被组织为多个分块，每个分块包括垂直于所设计的扫描轴线的一行或多行所述检测器，每个分块包括平行于所述所设计的扫描轴线的一列或多列检测组件，每列包括一个或多个子列；所述检测器阵列相对于所述目标对象在相对扫描方向上移动；读出电路被可操作地连接至所述检测器阵列，所述读出电路包括多个检测器边界选择组件，所述多个检测器边界选择组件中的每一个被配置为在预先确定的子列边界或可调节的子列边界处选择或调节检测器边界；并且
对于所述检测器的每个分块，执行以下：
如果在分块处存在未对准，则启用所述多个检测器边界选择组件中的选出的检测器边界选择组件；为了校正未对准，所述选出的检测器边界选择组件被选择为通过移动检测器边界而校正所述未对准；
否则，不启用所述多个检测器边界选择组件中的选出的检测器边界选择组件；并且
从所述检测器阵列的所述每个分块获得多个信号。
16.根据权利要求15所述的方法，还包括为了产生结果图像的多个部分，对于每个信号执行以下：从所述每个信号获得扫描数据，所述每个信号累积所述目标对象的一部分的所述扫描数据；并且对于对应于所述目标对象的所述部分的所述结果图像的一部分，从所述扫描数据生成图像数据。
17.根据权利要求15所述的方法，其中，每列所述一个或多个子列的数目为n；并且其中如果所述目标对象的一部分相对于所述每列移动了至少列的1/2n，那么在所述每个分块处存在未对准。
18.根据权利要求15所述的方法，其中，来自所述多个检测器边界选择组件的每个检测器边界选择组件为开关。
19.根据权利要求15所述的方法，其中，来自所述多个检测器边界选择组件的每个检测器边界选择组件包括被可操作地附接至所述检测器阵列的至少两个场操纵器。
20.根据权利要求15所述的方法，其中，检测器边界由右移或左移中的一个移动；并且其中检测器尺寸被保持。
21.根据权利要求15所述的方法，其中，检测器边界被移动并且其中检测器尺寸不需要恒定。
22.根据权利要求15所述的方法，其中，每个分块包括两行或更多行所述检测器。
23.一种用于提高图像分辨率的方法，所述方法包括：
a)在检测器阵列处从目标对象接收电磁(EM)辐射，所述检测器阵列包括一个或多个检测器，每个检测器被组织为多个分块，每个分块包括垂直于所设计的扫描轴线的一行或多行所述检测器，每个分块包括平行于所述所设计的扫描轴线的一列或多列检测组件，每列包括一个或多个子列；所述检测器阵列相对于所述目标对象在相对扫描方向上移动；读出电路被可操作地连接至所述检测器阵列，所述读出电路包括多个检测器边界选择组件，所述多个检测器边界选择组件中的每一个被配置为选择或调节预先确定的子列边界或可调节的子列边界；
b)对于所述检测器阵列的每个分块，执行以下：
如果在第一检测中电磁(EM)辐射从所述目标对象被接收到，则不启用所述多个检测器边界选择组件中的选出的检测器边界选择组件；
否则，启用所述多个检测器边界选择组件中的选出的检测器边界选择组件；
并且
c)从所述检测器阵列的所述每个分块获得多个信号；
d)以预先确定的次数重复步骤(a)至步骤(c)；所述多个检测器边界选择组件中的所述选出的检测器边界选择组件被选择为产生被预先确定的数目的重叠的多个信号；所述多个检测器边界选择组件中的所述选出的检测器边界选择组件根据图像分辨率提高方案被选择。
24.根据权利要求23所述的方法，其中，来自所述多个检测器边界选择组件的每个检测器边界选择组件为开关。
25.根据权利要求23所述的方法，其中，来自所述多个检测器边界选择组件的每个检测器边界选择组件包括被可操作地附接至所述检测器阵列的至少两个场操纵器。
26.根据权利要求23所述的方法，其中，检测器边界由右移或左移中的一个移动；并且其中检测器尺寸被保持。
27.根据权利要求23所述的方法，其中，检测器边界被移动并且其中检测器尺寸不需要恒定。
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