CN107393456B - 一种显示面板及其检测方法、检测系统 - Google Patents

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Abstract

本发明的实施例提供一种显示面板及其检测方法、检测系统，涉及显示技术领域，用于减小由于数据线较多而导致阈值电压检测过程中，出现探针扎针错位问题的几率。该显示面板显示区内划分有M个并排设置的驱动组，每个驱动组包括多列像素单元。像素单元包括N个亚像素；显示面板的布线区内设置有M个焊垫组；每个焊垫组包括N个数据检测端，数据检测端用于接收检测设备输出的信号；焊垫组与驱动组一一对应，且该驱动组中，发光颜色相同的亚像素，通过数据线引线与该焊垫组中的同一个数据检测端相连接。该显示面板用于显示。

Description

一种显示面板及其检测方法、检测系统
技术领域
本发明涉及显示技术领域，尤其涉及一种显示面板及其检测方法、检测系统。
背景技术
OLED(Organic Light Emitting Diode，有机发光二极管)作为一种电流型发光器件，因其所具有的自发光、快速响应、宽视角和可制作在柔性衬底上等特点而越来越多地被应用于高性能显示领域当中。
在制备过程中，OLED显示装置在成盒工艺后，需要对该OLED显示装置的显示面板上的TFT(Thin Film Transistor，薄膜晶体管)的阈值电压进行检测，以对不合格的显示面板进行筛查。
现有技术中，采用检测设备通过探针与显示面板上的每一条数据线电连接，以实现上述阈值电压的检测。然而，随着面板PPI(Pixels Per Inch，像素密度)的不断提高，数据线的数量也大大增加，从而导致相邻两条数据线的距离很小。例如，对于UHD(Ultra HighDefinition Television，超高清电视)的显示面板而言，数据线的数量可以达到3840×(4+1)＝19200条。在此情况下，相邻两条数据线的间距大约在15μm左右。此时，检测过程中，需要通过19200个探针分别与19200条数据线一一相接触，以检测设备与数据线的电连接。这样一来，容易发生扎针错位的问题，从而降低检测结果的精确性。
发明内容
本发明的实施例提供一种显示面板及其检测方法、检测系统，用于减小由于数据线较多而导致阈值电压检测过程中，出现探针扎针错位问题的几率。
为达到上述目的，本发明的实施例采用如下技术方案：
本发明实施例的一方面，提供一种显示面板，所述显示面板的显示区内划分有M个并排设置的驱动组，每个所述驱动组包括多列像素单元；所述像素单元包括N个亚像素，其中，N≥3，M≥2，M、N为正整数；所述显示面板的布线区内设置有M个焊垫组；每个所述焊垫组包括N个数据检测端，所述数据检测端用于接收检测设备输出的信号；所述焊垫组与所述驱动组一一对应，且该驱动组中，发光颜色相同的所述亚像素，通过数据线引线与该焊垫组中的同一个数据检测端相连接。
可选的，所述布线区内设置有多个读取检测端；所述显示面板上设置有多条检测线；每一条所述检测线与一个所述读取检测端相连接；位于同一像素单元中的各个亚像素的像素电路连接同一条所述检测线，所述检测线用于对所述像素电路中驱动晶体管的阈值电压进行采集，并通过所述读取检测端输出至所述检测设备。
可选的，在所述布线区内设置有多条短接线；每一条短接线的一端与一所述焊垫组中的一个数据检测端相连接，另一端与位于同一所述驱动组中，发光颜色相同的所述亚像素的数据线相连接。
进一步可选的，所述显示区内具有与所述数据线交叉设置的选通信号线；所述短接线与所述选通信号线同层同材料。
可选的，所述亚像素的像素电路包括第一开关模块、第二开关模块、驱动模块以及发光器件；所述驱动模块包括驱动晶体管；所述第一开关模块连接所述亚像素的数据线、第一选通信号线以及所述驱动晶体管的栅极；所述第一开关模块用于在所述第一选通信号线的控制下，将所述数据线的提供的数据电压输出至所述驱动晶体管的栅极；所述第二开关模块连接所述检测线、第二选通信号线以及所述驱动晶体管的第二极，所述第二开关模块用于在所述第二选通信号线的控制下，将所述驱动晶体管第二极的电压输出至所述检测线；所述驱动晶体管的第一极连接第一电压端，第二极还与发光器件的阳极相连接；所述发光器件的阴极连接第二电压端。
可选的，所述第一开关模块包括第一晶体管；所述第一晶体管的栅极连接所述第一选通信号线，第一极连接所述数据线，第二极与所述驱动晶体管的栅极相连接。
可选的，所述第二开关模块包括第二晶体管；所述第二晶体管的栅极连接所述第二选通信号线，第一极连接所述驱动晶体管的第二极，第二极与所述检测线相连接。
可选的，所述驱动模块还包括存储电容；所述存储电容的第一端与所述驱动晶体管的栅极相连接，另一端与所述驱动晶体管的第二极相连接。
可选的，所述布线区内设置有多个选通检测端，每个所述选通检测端与所述第一选通信号线或所述第二选通信号线相连接；所述选通检测端用于接收所述检测设备输出的选通信号。
本发明实施例提供一种检测系统，包括如上述所述的任意一种显示面板以及检测设备；其中，所述检测设备包括至少一个源极驱动器，所述源极驱动器与所述显示面板中的焊垫组相连接。
可选的，所述检测设备包括多个并排设置的所述源极驱动器；所述源极驱动器与所述显示面板中的驱动组一一对应，且每个所述源极驱动器和与该驱动组相对应的焊垫组中的各个数据检测端电连接。
可选的，在所述显示面板具有读取信号端的情况下；所述源极驱动器通过所述读取信号端和与该源极驱动器相对应的驱动组中的检测线电连接。
可选的，所述检测设备还包括多个依次排列的栅极驱动器；在所述显示面板具有选通检测端的情况下，每一个所述栅极驱动器与多个依次排列的所述选通检测端电连接。
本发明实施例提供一种用于对如上所述的任意一种显示面板进行检测的方法，在所述显示面板具有检测线、第一选通信号线、第二选通信号线；且亚像素的像素电路中具有驱动晶体管的情况下，所述方法包括：逐行向所述第一选通信号线和所述第二选通信号线输出选通信号；当一行所述第一选通信号线和所述第二选通信号线接收到所述选通信号时，焊垫组中的多个数据检测端逐个接收检测设备输出的数据电压；当焊垫组中的一个数据检测端接收到所述数据电压时，检测线接收检测设备输出的复位电压；当所述驱动晶体管截止时，所述检测线对所述驱动晶体管第二极的电压进行采集并通过读取检测端输出。
本发明的实施例提供一种显示面板及其检测方法、检测系统。由上述可知，该显示面板中一个焊垫组对应一个驱动组，且该驱动组中发光颜色相同的亚像素，通过数据线与焊垫组中同一个数据检测端相连接，且该焊垫组中的数据检测端的数量N与像素单元中亚像素的数量N相同。从而可以保证每一种颜色的亚像素均能够与一焊垫组中的同一个数据检测端电连接。基于此，检测设备中的一个源极驱动器可以与一个驱动组相对应。在此情况下，通过N个探针分别与一焊垫组中的N个数据检测端一一相连接，就可以使得检测设备中的一个源极驱动器和与其相对应的驱动组电连接。这样一来，探针无需直接与各条数据线电连接，而可以有效减小探针的数量。此外，通过增大每个焊垫组中，相邻两个数据检测端之间的距离，还可以达到增加相邻两个探针之间间距的目的。从而可以减小探针扎针出现错位现象的几率，进而有利于提高阈值电压检测精确度。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明实施例提供的一种显示面板的结构示意图；
图2为基于图1的结构，本发明实施例提供的另一种显示面板的结构示意图；
图3为图2中检测线与亚像素的连接关系示意图；
图4为图2中数据线与数据检测端的连接方式示意图；
图5为图4中短接线与数据线的连接方式示意图；
图6为图1中亚像素的像素电路结构示意图；
图7为本发明实施例提供的一种检测系统结构示意图；
图8为本发明实施例提供的一种显示面板的检测方法流程图。
附图标记：
01-显示面板；02-检测设备；10-驱动组；100-像素单元；101-亚像素；110-衬底基板；111-栅极绝缘层；112-刻蚀阻挡材料层；113-过孔；114-钝化层；20-焊垫组；201-数据检测端；202-短接线；30-读取检测端；31-选通检测端；32-绑定焊盘；41-第一开关模块；42-第二开关模块；43-驱动模块；50-源极驱动器；51-栅极驱动器。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
本发明实施例提供一种显示面板01，该显示面板01可以为OLED显示面板或者LED显示面板。如图1所示，该显示面板01的显示区内划分有M个并排设置的驱动组10，每个驱动组10包括多列像素单元100。该像素单元100包括N个亚像素101。其中，N≥3，M≥2，M、N为正整数。
需要说明的是，本发明实施例中一列像素单元100，是指连接同一条数据线的亚像素101所属的各个像素单元100所构成的一组像素单元100。在此情况下，上述像素单元100可以以矩阵形式排列，或者以其他形式排列均属于本发明所述的一列像素单元100的范围内。具体的，当N＝3时，每个像素单元100中包括的三个亚像素101可以分别为红色(R)亚像素，绿色(G)亚像素以及蓝色(B)亚像素；或者青色亚像素，品红色亚像素以及黄色亚像素。
当N＝4时，每个像素单元100中包括的四个亚像素101可以分别为红色(R)亚像素，绿色(G)亚像素、蓝色(B)亚像素以及白色(W)亚像素；或者红色(R)亚像素，绿色(G)亚像素、蓝色(B)亚像素以及黄色(Y)亚像素。
上述仅仅是对亚像素设置的举例说明，本发明不限于此。
在此基础上，该显示面板01的布线区内设置有M个焊垫组20，该布线区设置于显示区的周边。每个焊垫组20包括N个数据检测端201，该数据检测端201用于接收检测设备输出的信号，例如数据电压Vdata。
需要说明的是，上述数据检测端201为焊垫(Pad)。该数据检测端201可以通过与探针相接触而达到与检测设备电连接的目的。本申请将多个数据检测端201划分为一组，以构成上述焊垫组20。
具体的，该检测设备中包括如图7所示的源极驱动器(Source IC)50，该源极驱动器50能够向上述数据检测端201提供上述信号，例如数据电压Vdata。此外，焊垫组20与驱动组10一一对应，且该驱动组10中，发光颜色相同的亚像素101，通过数据线引线与该焊垫组20中的同一个数据检测端201相连接。
其中，上述数据引线为设置于布线区中，用于与显示区内的数据线DL(Data Line)或栅线GL(Gate Line)相连接的走线。当发光颜色相同的亚像素101，通过数据线引线与该焊垫组20中的同一个数据检测端201相连接时，上述数据线引线靠近数据线DL的一部分可以位于数据线DL在布线区的延长线上。
具体的，图1中，是以每个像素单元100具有三个亚像素100(分别为R、G、B)为例进行的说明。在此情况下，上述焊垫组20也包括三个数据检测端201。一个数据检测端201(R)用于与一个驱动组10中的所有红色(R)亚像素电连接；另一个数据检测端201(G)用于与该驱动组10中的所有绿色(G)亚像素电连接；再一个数据检测端201(B)用于与该驱动组10中的所有蓝色(B)亚像素电连接。
由此可知，一个焊垫组20对应一个驱动组10，且该驱动组10中发光颜色相同的亚像素101，通过数据线DL与焊垫组20中同一个数据检测端201相连接，且该焊垫组20中的数据检测端201的数量N与像素单元100中亚像素101的数量N相同。从而可以保证每一种颜色的亚像素101均能够与一焊垫组20中的同一个数据检测端201电连接。基于此，检测设备中的一个源极驱动器50可以与一个驱动组10相对应。在此情况下，通过N个探针，例如图1中，仅需要三个探针分别与一焊垫组20中的三个数据检测端201一一相连接，就可以使得检测设备中的一个源极驱动器50和与其相对应的驱动组10电连接。这样一来，探针无需直接与各条数据线DL电连接，从而可以有效减小探针的数量。此外，通过增大每个焊垫组20中，相邻两个数据检测端201之间的距离，还可以达到增加相邻两个探针之间间距的目的。从而可以减小探针扎针出现错位现象的几率，进而有利于提高阈值电压检测精确度。
在此基础上，为了实现对亚像素101内驱动晶体管Md阈值电压的检测，可选的，如图2所示，在布线区内设置有多个读取检测端30。此外在上述显示面板01上设置有多条检测线RL(Read Line)。其中，每一条检测线RL与一个读取检测端30相连接。该检测线RL用于对与该检测线RL相连接的亚像素101中驱动晶体管Md的阈值电压或迁移率进行采集，并通过读取检测端30输出至检测设备。
这样一来，通过探针可以将上述检测设备与读取检测端30相连接，从而可以使得检测设备接收到检测线RL采集到的阈值电压。
基于此，为了减少显示区内的布线数量，以提高开口率。可选的，如图3所示，位于同一像素单元100中的各个亚像素101的像素电路连接同一条检测线RL。这样一来，无需每个亚像素101均连接有一条检测线RL，从而达到减小显示区域内布线数量的目的。
在此情况下，以对驱动晶体管的阈值电压进行检测为例，对该阈值电压的检测过程进行说明，具体为：对于一个像素单元100而言，可以分次对该像素单元100中不同颜色的亚像素101分别进行检测。例如，当N＝4时，即每个像素单元100中包括的四个亚像素101时，可以先对一行亚像素101中的红色(R)亚像素进行检测，此时通过上述检测线RL采集到的阈值电压，为该行亚像素101中红色(R)亚像素内的驱动晶体管Md的阈值电压。然后再依次对该行亚像素101中的绿色(G)亚像素、蓝色(B)亚像素以及白色(W)亚像素进行检测，从而使得检测设备依次接收到该行亚像素101中绿色(G)亚像素、蓝色(B)亚像素以及白色(W)亚像素内的驱动晶体管Md的阈值电压。
由上述可知，数据线DL需要与上述焊垫组20中的一个数据检测端201电连接。基于此，优选的，如图4所示，在上述布线区内设置有多条短接线202。
具体的，每一条短接线202的一端与一上述焊垫组20中的一个数据检测端201相连接，另一端与位于同一驱动组10中，发光颜色相同的亚像素101的数据线DL相连接。在此情况下，可以通过短接线202将一焊垫组20中的一数据检测端201与一数据线DL电连接。此时数据线DL在布线区的长度无需过度延长。
此外，当上述短接线202可以与数据线DL异层设置时，数据线DL无需为了与数据检测端201相连接而形成拐角，从而可以减小布线区布线拐角的设置数量，有利于降低尖端放电的风险。
基于此，可选的，在上述显示区内具有与数据线DL交叉设置的选通信号线GL(GateLine)。该短接线202可以与上述选通信号线GL同层同材料。这样一来，在制作上述选通信号线GL的同时，即可完成短接线202的制备。
需要说明的是，上述亚像素101由横纵交叉的选通信号线GL和数据线DL交叉界定而成。因此上述亚像素101的数据线DL是指，用于界定该亚像素101的数据线DL。
以下，以上述显示面板01为OLED显示面板为例，对上述短接线202的制作过程进行详细的说明。
首先，在如图5所示的衬底基板110上，沉积一层栅极金属层。然后，通过一次构图工艺形成多条选通信号线GL以及上述多条短接线202。
需要说明的是，在本发明中，构图工艺，可指包括光刻工艺，或，包括光刻工艺以及刻蚀步骤，同时还可以包括打印、喷墨等其他用于形成预定图形的工艺；光刻工艺，是指包括成膜、曝光、显影等工艺过程的利用光刻胶、掩模板、曝光机等形成图形的工艺。可根据本发明中所形成的结构选择相应的构图工艺。
其中，本发明实施例中的一次构图工艺，是以通过一次掩膜曝光工艺形成不同的曝光区域，然后对不同的曝光区域进行多次刻蚀、灰化等去除工艺最终得到预期图案为例进行的说明。
接下来，在形成有选通信号线GL和短接线202的衬底基板110上，沉积栅极绝缘层(GI)111以及半导体有源材料层(图5中未示出)。然后，对上述半导体有源材料层进行构图工艺，形成亚像素101的像素电路中各个TFT的半导体有源层(IGZO)。
接下来，在形成有上述结构的衬底基板110上，形成刻蚀阻挡材料层112，并通过构图工艺形成位于TFT半导体有源层上方的刻蚀阻挡层(ESL)。该刻蚀阻挡层能够在制作TFT源极和漏极的过程中，对半导体有源层进行保护。
接下来，在上述刻蚀阻挡材料层112对应短接线202的位置，对刻蚀阻挡材料层112进行光刻，然后再利用干法刻蚀工艺对栅极绝缘层111进行刻蚀，最终形成过孔113.
接下来，在形成有上述结构的衬底基板110上，沉积数据金属层，然后通过构图工艺形成数据线DL。该数据线DL通过上述过孔113与短接线202相连接，从而可以通过该短接线202与上述焊垫组20中的一个数据检测端201电连接。
最后，在上述基板上形成钝化层(PVX)114、以及用于构成OLED器件的有机发光层、空穴层、电子层等。此外，当该OLED面板中的有机发光层(EL)用于发白光时，还需要在形成有上述有机发光层的基板上，形成滤色层，用于实现彩色显示。另外，为了完成OLED器件的制备，还需要形成采用透明导电材料，例如ITO构成的阴极层，以及位于该阴极层靠近衬底基板110一侧的绝缘层。
以下，对每个亚像素101的像素电路的具体结构进行说明。
具体的，如图6所示，上述像素电路包括第一开关模块41、第二开关模块42、驱动模块43以及发光器件L。其中，驱动模块43包括驱动晶体管Md。
第一开关模块41连接用于界定该亚像素101的数据线DL和第一选通信号线GL1，此外还连接驱动晶体管Md的栅极。该第一开关模块41用于在第一选通信号线GL1的控制下，将数据线DL的提供的数据电压Vdata输出至驱动晶体管Md的栅极。
具体的，该第一开关模块41可以包括第一晶体管T1，或者多个并联的第一晶体管T1。
其中，第一晶体管T1的栅极连接第一选通信号线GL1，第一极连接数据线DL，第二极与驱动晶体管Md的栅极相连接。
此外，第二开关模块42连接检测线RL、第二选通信号线GL2以及驱动晶体管Md的第二极。该第二开关模块42用于在第二选通信号线GL2的控制下，将驱动晶体管Md第二极的电压输出至检测线RL。
具体的，该第二开关模块42包括第二晶体管T2，或者多个并联的第二晶体管T2。
其中，该第二晶体管T2的栅极连接第二选通信号线GL2，第一极连接驱动晶体管Md的第二极，第二极与检测线RL相连接。
此外，驱动晶体管Md的第一极连接第一电压端VDD，第二极还与发光器件L的阳极相连接。该发光器件L的阴极连接第二电压端VSS。
在此基础上，该驱动模块43还包括存储电容C。该存储电容C的第一端与驱动晶体管Md的栅极相连接，另一端与驱动晶体管Md的第二极相连接。
需要说明的是，上述晶体管可以均为N型晶体管，或者均为P型晶体管。以下以上述晶体管均为N型晶体管为例。在此情况下，上述各个晶体管的第一极为漏极，第二极为源极。
基于此，以该图6所示的像素电路为例，通过上述检测线RL对该像素电路中的驱动晶体管Md的阈值电压Vth进行检测的方法为：
首先，上述第一选通信号线GL1和第二选通信号线GL2输出高电平，以分别将第一晶体管T1和第二晶体管T2导通。
在此情况下，数据线DL将数据电压Vdata＝3V通过第一晶体管T1写入至驱动晶体管Md的栅极，即节点A。此时驱动晶体管Md的栅极电压Vg＝VA＝Vdata。
需要说明的是，上述是以数据电压Vdata＝3V为例进行的说明。本发明对数据电压Vdata的大小不做限定。本领域技术人员可以根据显示面板01中驱动晶体管Md导通到截止的时间进行设定。
此外，检测线RL与检测设备02中的模数转换器(ADC)相连接，从而使得该检测设备02将复位电压，例如0V通过第二晶体管T2写入至驱动晶体管Md的源极，即节点B。此时，驱动晶体管Md的源极电压Vs＝VB＝0V。
接下来，驱动晶体管Md导通，开始对检测线RL进行充电，经过一段充电时间(Charge Time)后，驱动晶体管Md的栅源电压Vgs＝Vth，该驱动晶体管Md截止。此时，检测线RL上的电压为该驱动晶体管Md的源极电压Vs＝Vg-Vth，从而使得该驱动晶体管Md的阈值电压Vth被检测线RL检测到。
在此情况下，将检测线RL与检测设备02中的数模转换器(DAC)相连接，从而将该检测线RL检测到的驱动晶体管Md的阈值电压Vth输出至检测设备02，以完成对该像素电路中驱动晶体管Md的阈值电压Vth进行检测。
由上述可知，为了提高显示区的开口率，同一像素单元100中的各个亚像素101连接同一条检测线RL。在此情况下，该像素单元100中的各个亚像素101内的驱动晶体管Md的阈值电压Vth可以分次进行检测。具体检测过程同上所述，此处不再赘述。
此外，每行亚像素101连接有上述第一选通信号线GL1和第二选通信号线GL2。在检测过程中，逐行向亚像素101的第一选通信号线GL1和第二选通信号线GL2提供选通信号。
需要说明的是，上述发光器件L可以为OLED器件，在此情况下，上述显示面板01为上述OLED显示面板；或者，该发光器件L可以为Micro-LED，在此情况下，该显示面板01为上述LED显示面板。
在此基础上，在显示面板01包括上述第一选通信号线GL1和第二选通信号线GL2的情况下，如图7所示，上述布线区内可以设置多个选通检测端31，每个选通检测端31与该第一选通信号线GL1或第二选通信号线GL2相连接。该选通检测端31用于接收检测设备02输出的选通信号。具体的，该检测设备02中包括栅极驱动器(Gate IC)51，该栅极驱动器51能够向上述选通检测端31提供上述选通信号。
本发明实施例提供一种检测系统，包括如上所述的任意一种显示面板01以及检测设备02。该检测设备02包括至少一个源极驱动器50，该源极驱动器50与显示面板01中的焊垫组20相连接。在此情况下，该检测设备02可以通过源极驱动器50向焊垫组20中的各个数据检测端201输出信号，例如上述数据电压Vdata。
此外，该如图7所示，该检测设备02还包括多个依次排列的栅极驱动器51。在上述显示面板01具有选通检测端31的情况下，每一个栅极驱动器51与多个依次排列的选通检测端31电连接，从而可以通过栅极驱动器51向各条第一选通信号线GL1和第二选通信号线GL2提供选通信号。
在此基础上，由上述可知检测设备02还连接读取检测端30，从而可以通过读取检测端30接收检测线RL上的采集信号。
综上所述，该检测设备02用于通过向显示面板01中的数据线DL。第一选通信号线GL1、第二选通信号线GL2输入信号，以使得显示面板01上亚像素的像素电路工作，并通过检测线RL将像素电路中驱动晶体管Md的阈值电压进行采集。然后将采集到的阈值电压与基准值进行比对，当采集到的阈值电压与基准值之间的差值较大，不符合规定时，可以判断出该检测设备02检测的显示面板不合格，从而筛出达到不合格产品的目的。其中，该检测设备02包括多个并排设置的上述源极驱动器50。该源极驱动器50与显示面板中的驱动组10一一对应，且每个源极驱动器50和与该驱动组10相对应的焊垫组20中的各个数据检测端201电连接。
具体的，以分辨率达到4096×2160的4K显示面板为例，可以在显示区划分出20个上述驱动组10。在此情况下，该检测设备02中可以并排设置20个源极驱动器50，每一个源极驱动器50通过探针与一个焊垫组20电连接，从而使得一个源极驱动器50对应于一个驱动组10，并与该驱动组10中的多列像素单元100电连接。
上述检测系统具有与前述实施例提供的显示面板相同的有益效果，此处不再赘述。
此外，在该显示面板具有读取信号端30的情况下，上述源极驱动器50通过读取信号端30和与该源极驱动器50相对应的驱动组10中的检测线RL电连接。即与同一个源极驱动器50相连接的检测线RL所连接的亚像素101均位于同一个驱动组10中。从而可以对从不同驱动组10的亚像素采集到的阈值电压分别进行分析处理。
需要说明的是，当阈值电压Vth检测完成后，可以将显示面板上的上述短接线202以及焊垫组20切除。然后，在驱动绑定工艺中，将源极驱动芯片绑定于图7中的绑定焊盘(Bonding Pad)32处。
本发明实施例提供一种用于对如上所述的任意一种显示面板的进行检测的方法，在该显示面板01具有检测线RL、第一选通信号线GL1、第二选通信号线GL2；且亚像素101的像素电路中具有驱动晶体管Md的情况下，如图8所示，该方法包括：
S101、逐行向图7所示的，第一选通信号线GL1和第二选通信号线GL2输出选通信号。
其中，当与该上述选通信号线相连接的亚像素中的TFT均为N型晶体管时，上述选通信号为高电平。
S102、当一行第一选通信号线GL1和第二选通信号线GL2接收到选通信号时，焊垫组20中的多个数据检测端201逐个接收检测设备输出的数据电压Vdata。
具体的，以第一行亚像素101为例，当与该第一行亚像素101相连接的第一选通信号线GL1和第二选通信号线GL2接收到选通信号时。在焊垫组20，如图7所示具有四个数据检测端201的情况下，用于与一驱动组10中红色(R)亚像素相连接的数据检测端201可以先接收到上述数据电压Vdata，然后与该驱动组10中绿色(G)亚像素相连接的数据检测端201、与该驱动组10中蓝色(B)亚像素相连接的数据检测端201以及该驱动组10中白色(W)亚像素相连接的数据检测端201再依次接收到上述数据电压Vdata。
S103、当焊垫组20中的一个数据检测端201接收到上述数据电压Vdata时，检测线RL接收检测设备02输出的复位电压。
例如，当与一驱动组10中红色(R)亚像素相连接的数据检测端201可以接收到上述数据电压Vdata(例如3V)时，与该驱动组10中红色(R)亚像素相连接的检测线RL接收检测设备02输出的复位电压，例如0V。从而使得上述红色(R)亚像素的像素电路中，如图6所示，驱动晶体管Md的栅极电压Vg＝3V，源极电压Vs＝0V。
S104、当驱动晶体管Md截止时，上述检测线RL对该驱动晶体管Md第二极，即源极的电压Vs＝Vg-Vth进行采集，并通过读取检测端30输出。在此情况下，可以实现对驱动晶体管Md的阈值电压进行检测的目的。
需要说明的是，当与上述驱动组10中绿色(G)亚像素相连接的数据检测端201、与该驱动组10中蓝色(B)亚像素相连接的数据检测端201以及该驱动组10中白色(W)亚像素相连接的数据检测端201再依次接收到上述数据电压Vdata时，上述各个颜色的亚像素中阈值电压的检测过程同上所述，此处不再赘述。
此外，本发明实施例提供的显示面板的检测方法具有与前述实施例提供的显示面板相同的有益效果，此处不再赘述。
以上所述，仅为本发明的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此，本发明的保护范围应以所述权利要求的保护范围为准。

Claims (12)

1.一种显示面板，其特征在于，所述显示面板的显示区内划分有M个并排设置的驱动组，每个所述驱动组包括多列像素单元；所述像素单元包括N个亚像素，其中，N≥3，M≥2，M、N为正整数；
所述显示面板的布线区内设置有M个焊垫组；每个所述焊垫组包括N个数据检测端，所述数据检测端用于接收检测设备输出的信号；
所述焊垫组与所述驱动组一一对应，且该驱动组中，发光颜色相同的所述亚像素，通过数据线引线与该焊垫组中的同一个数据检测端相连接；
所述布线区内设置有多个读取检测端；所述显示面板上设置有多条检测线；每一条所述检测线与一个所述读取检测端相连接；
位于同一像素单元中的各个亚像素的像素电路连接同一条所述检测线，所述检测线用于对所述像素电路中驱动晶体管的阈值电压进行采集，并通过所述读取检测端输出至所述检测设备；
所述亚像素的像素电路包括第一开关模块、第二开关模块、驱动模块以及发光器件；所述驱动模块包括驱动晶体管；
所述第一开关模块连接所述亚像素的数据线、第一选通信号线以及所述驱动晶体管的栅极；所述第一开关模块用于在所述第一选通信号线的控制下，将所述数据线的提供的数据电压输出至所述驱动晶体管的栅极；
所述第二开关模块连接所述检测线、第二选通信号线以及所述驱动晶体管的第二极，所述第二开关模块用于在所述第二选通信号线的控制下，将所述驱动晶体管第二极的电压输出至所述检测线；
所述驱动晶体管的第一极连接第一电压端，第二极还与发光器件的阳极相连接；所述发光器件的阴极连接第二电压端。
2.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，在所述布线区内设置有多条短接线；
每一条短接线的一端与一所述焊垫组中的一个数据检测端相连接，另一端与位于同一所述驱动组中，发光颜色相同的所述亚像素的数据线相连接。
3.根据权利要求2所述的显示面板，其特征在于，所述显示区内具有与所述数据线交叉设置的选通信号线；所述短接线与所述选通信号线同层同材料。
4.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述第一开关模块包括第一晶体管；
所述第一晶体管的栅极连接所述第一选通信号线，第一极连接所述数据线，第二极与所述驱动晶体管的栅极相连接。
5.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述第二开关模块包括第二晶体管；
所述第二晶体管的栅极连接所述第二选通信号线，第一极连接所述驱动晶体管的第二极，第二极与所述检测线相连接。
6.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述驱动模块还包括存储电容；所述存储电容的第一端与所述驱动晶体管的栅极相连接，另一端与所述驱动晶体管的第二极相连接。
7.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，
所述布线区内设置有多个选通检测端，每个所述选通检测端与所述第一选通信号线或所述第二选通信号线相连接；所述选通检测端用于接收所述检测设备输出的选通信号。
8.一种检测系统，其特征在于，包括检测设备以及如权利要求1-7任一项所述的显示面板；其中，所述检测设备包括至少一个源极驱动器，所述源极驱动器与所述显示面板中的焊垫组相连接。
9.根据权利要求8所述的检测系统，其特征在于，所述检测设备包括多个并排设置的所述源极驱动器；
所述源极驱动器与所述显示面板中的驱动组一一对应，且每个所述源极驱动器和与该驱动组相对应的焊垫组中的各个数据检测端电连接。
10.根据权利要求9所述的检测系统，其特征在于，在所述显示面板具有读取信号端的情况下；
所述源极驱动器通过所述读取信号端和与该源极驱动器相对应的驱动组中的检测线电连接。
11.根据权利要求8所述的检测系统，其特征在于，所述检测设备还包括多个依次排列的栅极驱动器；
在所述显示面板具有选通检测端的情况下，每一个所述栅极驱动器与多个依次排列的所述选通检测端电连接。
12.一种用于对如权利要求1-7任一项所述的显示面板进行检测的方法，其特征在于，在所述显示面板具有检测线、第一选通信号线、第二选通信号线；且亚像素的像素电路中具有驱动晶体管的情况下，所述方法包括：
逐行向所述第一选通信号线和所述第二选通信号线输出选通信号；
当一行所述第一选通信号线和所述第二选通信号线接收到所述选通信号时，焊垫组中的多个数据检测端逐个接收检测设备输出的信号；
当焊垫组中的一个数据检测端接收到所述检测设备输出的信号时，检测线接收检测设备输出的复位电压；
当所述驱动晶体管截止时，所述检测线对所述驱动晶体管第二极的电压进行采集并通过读取检测端输出。
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