CN107346212B - 损坏数据行的筛选方法与具有损坏数据行总表的数据储存装置 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及一种损坏数据行的筛选方法,可应用于数据储存媒体。在此方法中,首先是读取至少一数据区块中之至少一数据页的写入数据;接着,比对默认数据与写入数据,以取得每一区段之每一数据行的错误比特数,并据以计算每一区段之错误数;然后,选取其中具有最大之错误数的区段;接着,将选出之区段中具有最大之错误比特数的数据行记录成损坏数据行。此外,一种具有损坏数据行总表的数据储存装置亦被提出。
Description
技术领域
本发明涉及一种数据储存之相关技术,尤其是关于一种损坏数据行的筛选方法与一种具有损坏数据行总表的数据储存装置。
背景技术
数据储存装置,例如是固态硬盘(solid state drive,SSD)、SD记忆卡(securedigital memory card)或闪存碟(U盘)等,主要由控制单元与数据储存媒体所构成,而其中数据储存媒体又是由多个用以储存数据的数据行(column)所构成。
在数据储存装置的制造过程中,难免会生产出次级品,而这些次级品在贩卖给使用者之前,都要先将数据储存媒体中的损坏数据行(bad column)筛选出来并记录在损坏数据行总表中。据此,控制单元在往后的操作中,便不会再对记录的损坏数据行存取数据,进而避免存取的数据发生错误。
数据储存装置系利用错误校正码(error correcting code,ECC)来校正其所储存的数据,习知的损坏数据行筛选方法不仅会浪费许多原本可用的数据储存空间,亦无法有效地降低损坏数据行所造成的数据保存或校正的问题。
发明内容
因此,本发明之一目的在提供一种损坏数据行的筛选方法,其可应用于数据储存媒体,使用此新筛选方法可以保留数据储存媒体中许多原本会被错杀的数据储存空间,进而避免过分地减少数据储存媒体的数据储存容量。
本发明之另一目的在提供一种具有损坏数据行总表的数据储存装置,其采用上述之损坏数据行的筛选方法。
本发明提出一种损坏数据行的筛选方法,其可应用于数据储存媒体。所述数据储存媒体包括有复数数据区块,每一数据区块包括复数数据行并将上述数据行划分为复数区段,且所述数据储存媒体包括复数数据页,每一数据页包括位于同一列的数据行。所述之筛选方法包括:读取至少一数据区块之至少一数据页的写入数据;比对至少一默认数据与至少一数据页的写入数据以取得每一区段之每一数据行之错误比特数,并据以计算每一区段之错误数;选取其中之一区段其具有最大之错误数;以及将其中之一区段中具有最大之错误比特数之其中之一数据行记录成损坏数据行。
本发明另提出一种具有损坏数据行总表的数据储存装置,所述数据储存装置包括控制单元以及数据储存媒体,且数据储存媒体包括复数数据区块,每一数据区块包括复数数据行并将上述数据行划分为复数区段。所述之数据储存媒体包括复数数据页,每一数据页包括位于同一列的数据行。所述损坏数据行总表系依据下列步骤而产生,包括:读取至少一数据区块之至少一数据页的写入数据;比对至少一默认数据与至少一数据页的写入数据以取得每一区段之每一数据行之错误比特数,并据以计算每一区段之错误数;选取其中之一区段其具有最大之错误数;以及将其中之一区段中具有最大之错误比特数之其中之一数据行记录至损坏数据行总表。
本发明之筛选方法系在上述区段中找出具有最高的错误数的区段,再将此区段中具有最高错误比特数或最高平均错误比特数的数据行视为损坏数据行,并将其记录至损坏数据行总表中,控制单元不会再对损坏数据行总表的损坏数据行存取数据,因此,除了损坏数据行之外,其他数据行皆可用以储存数据,因此,可以将数据储存媒体的数据储存容量优化。
上述说明仅是本发明技术方案的概述,为了能够更清楚了解本发明的技术手段,而可依照说明书的内容予以实施,并且为了让本发明的上述和其他目的、特征和优点能够更明显易懂,以下特举优选实施例,并配合附图,详细说明如下。
附图说明
图1为数据储存媒体的示意图。
图2为依照本发明一实施例之数据储存媒体之损坏数据行的筛选方法的流程图。
图3绘示8个区段的错误比特数之加总结果的示意图。
图4为重新划分多个区段的示意图。
图5为数据储存媒体的另一示意图。
图6为数据储存装置的示意图。
具体实施方式
图6为数据储存装置的示意图。如图6所示,数据储存装置包括数据储存媒体10与控制单元20,其中控制单元20电性耦接数据储存媒体10,以对数据储存媒体10存取数据。
图1为数据储存媒体的示意图。如图1所示,此数据储存媒体10包括Z个数据区块(block),即数据区块B0到BZ-1。因应数据逻辑管理上的方便,数据储存媒体10包括数据区11与备用区12,数据区11与备用区12各自包含许多数据行(column)以分别储存数据以及额外数据,额外数据报括诠释数据(metadata)。其中,每一数据行较佳可储存8个比特(bit)的数据。另外,置于同一列的数据行称之为数据页(page)。每一数据区块包含N个数据页,即数据页P0到PN-1。每一数据页包括数据区11与备用区12的数据行。依据用户之需求可将数据区11的数据行划分为M个区段(segment),即区段S0到SM-1,每一区段包含Y个数据行。其中,数据区11的数据行的总数可被M所整除。上述中的Z、N、M及Y皆为正整数。而在此例中,数据储存媒体10包括以非挥发性内存来实现,例如是以闪存(Flash memory)、磁阻式随机存取内存(Magnetoresistive RAM)、相变内存(Phase-Change Memory)、铁电随机存取内存(Ferroelectric RAM)等具有长时间数据保存之内存装置来实现。
接下来将说明本发明之损坏数据行的筛选方法,为了提高此方法之执行效率,较佳为随机挑选数据储存媒体10的数个数据区块当作样本区块来执行本发明损坏数据行的筛选方法,而不必使用到全部的数据区块,但不以此为限。以下将以数据区块B0与B1作为样本区块来进行说明。
图2为依照本发明一实施例之数据储存媒体之损坏数据行的筛选方法的流程图。请同时参照图1与图2,首先,将默认数据写入样本区块之数据页(如步骤S201所示),以此例而言就是将默认数据写入样本区块B0与B1之数据页P0到PN-1,其中,默认数据可为连续相同、不同或随机产生的数据。接着,读取上述样本区块之数据页所储存之数据以取得写入数据(如步骤S202所示),以此例而言就是读取样本区块B0与B1之数据页P0到PN-1所储存的写入数据。然后,以比特为单位,比对默认数据与写入数据是否相同,如果有比特不同则视为错误比特,加总样本区块B0与B1之每一数据行的错误比特数(如步骤S203所示),以取得每一数据行之错误比特数的总数。需注意的是,由于数据行较佳可储存8个比特,若仅有1个比特数据错误则错误比特数为1;若8个比特的数据全部错误则错误元数为8,以此类推。
假设M=8,图3即绘示此8个区段的错误比特数之加总结果的示意图,直线的位置代表数据行的位置,长度即代表对应之数据行之错误比特数的总数,长度愈长表示错误比特数的总数愈大,而数据行的错误比特数的总数低于一阈值者予以省略。由图3可知,区段S1有三条直线且直线304的长度最长;区段S4中有一条直线302且直线302的长度长于直线304。
请同时参照图2与图3,在执行完步骤S203之后,将每一区段的每一数据行之错误比特数的总数加总即可取得每一区段的错误比特数的总数(如步骤S204所示)。接着,选取错误比特数的总数最高的区段,如步骤S205所示。假设区段S4的直线302所对应之总数为60,而区段S1的三条直线所对应之总数分别25、30及20。虽然直线302所对应之总数大于直线304所对应之总数,但是,经过计算的结果,区段S1为错误比特数的总数最高的区段,其总数为75。在执行完步骤S205之后,将错误比特数的总数最高的区段中错误比特数的总数最大的数据行记录为损坏数据行(如步骤S206所示)。由于区段S1中直线304的错误比特数的总数最大,因此被列成损坏数据行,并记录在一个损坏数据行总表中,该损坏数据行总表可储存于数据储存装置中。图3中标上符号”x”的直线304即表示其被记录为损坏数据行。重复上述步骤即可将直线302记录为损坏数据行,并记录在一个损坏数据行总表,依此类推。
数据储存装置中的控制单元藉由读取损坏数据行总表而得知损坏数据行之位置,便不会再对损坏数据行存取数据。当直线304被记录为损坏数据行,造成区段S1的数据行的总数减少。为了确保区段S1的正常运作,区段S1的边界向区段S2延申一个数据行,使区段S1的数据行的总数维持不变,而后续区段的边界,包含区段S2至区段S7,则进行重新划分,可想而知地,区段S7的边界将包含备用区的一个数据行,而备用区将减少一个数据行。图4为重新划分多个区段的示意图。如图4所示,由于区段S1中包含有一个损坏数据行,因此区段S1的右边界右移至原本属于区段S2的直线306,使区段S1在扣除掉损坏数据行后的数据行的总数维持不变。而由于区段S1的右边界右移一个数据行,因此区段S2至区段S7的边界也都会右移一个数据行,而区段S7的边界将包含备用区的一个直线页308。当重复上述的步骤四次后,区段S1的三条直线且以及区段S4的一条直线302都会被记录至损坏数据行总表中,使重新划分后之多数区段的比特错误平均值越来越接近。
ECC的校正能力与区段中所包含的比特错误数成反比。以上述区段S1以区段S2为例,区段S1的损坏数据行的错误比特数皆小于直线302的错误比特数,然而,区段S1的错误比特数的总数却大于区段S4,可能超过ECC的校正能力,因此,区段S1比区段S4更需要移除区段内的损坏数据行。
上述找出损坏数据行的操作可以重复地执行,直到损坏数据行总表已无法再记录损坏数据行为止,例如:上限为256条损坏数据,或所有区段的平均错误比特数皆低于一个阈值为止,例如:阈值为10。利用本发明损坏数据行的筛选方法来移除损坏数据行,可有效地降低需修正的错误比特数超出了错误校正码的修正能力(例如可修正44个错误比特),而导致必须将对应的整个数据页视为损坏数据页之情况。综上所述,本发明所提出的损坏数据行的筛选方法虽然会降低备用区的数据行的数目,但是可以使用原本会被记录而不再使用的区段,这使得数据储存装置所能提供的数据储存容量增加,同时也确保数据储存装置所储存的数据皆能被有效地读取或校正。
在另一实施例中,错误比特数的总数可被替代为错误比特数的平均值,此乃数值计算上的另一种选择,其他步骤可依上述之说明或类推得知,一样可以达到本发明之目的,故不多作说明。
在另一实施例中,为了加速本发明所提出的损坏数据行的筛选方法之执行,仅计算少数数据页的每一数据行的错误比特数,而非全部数据页的每一数据行的错误比特数。此乃数值取样上的另一种选择,其他步骤可依上述之说明或类推得知,一样可以达到本发明之目的,故不多作说明。
图5为数据储存媒体的另一示意图。图5与图1的主要差别在于备用区12的位置。如图5所示,备用区12与数据区11皆置于同一区段内,如区段S1所示。此乃数据储存媒体在数据管理上的设计,仍可适用本发明所提出的损坏数据行的筛选方法。
综上所述,本发明之筛选方法系在上述区段中找出具有最高的平均错误比特数的区段,再将此区段中具有最高错误比特数或最高平均错误比特数的数据行视为损坏数据行,并将其记录至损坏数据行总表中,控制单元不会再对损坏数据行总表的损坏数据行存取数据,因此,除了损坏数据行之外,其他数据行皆可用以储存数据,因此,可以将数据储存媒体的数据储存容量优化。
虽然本发明以前述的实施例揭露如上,然其并非用以限定本发明,任何熟习此技艺者,在不脱离本发明的精神和范围内,当可作些许的更动与润饰,因此本发明的专利保护范围须视本说明书所附的申请专利范围所界定者为准。
Claims (10)
1.一种损坏数据行的筛选方法,可应用于数据储存媒体,所述数据储存媒体包括复数数据区块,每一所述数据区块包括复数数据行并将所述数据行划分为复数区段,所述数据储存媒体包括复数数据页,每一所述数据页包括位于同一列的被划分为所述复数区段的所述数据行,所述筛选方法其特征在于,包括:
读取至少一所述数据区块之至少一所述数据页的写入数据;
比对至少一默认数据与至少一所述数据页的所述写入数据以取得所比对的至少一所述数据页的每一所述区段之每一所述数据行之错误比特数,并据以计算每一所述区段之错误数;
选取其中之一所述区段其具有最大之所述错误数;以及
将其中之一所述区段中具有最大之所述错误比特数之其中之一所述数据行记录成所述损坏数据行。
2.如权利要求1所述之损坏数据行的筛选方法,其特征在于,所述错误数为错误比特数的总数。
3.如权利要求1所述之损坏数据行的筛选方法,其特征在于,所述错误数为错误比特数的平均值。
4.如权利要求1所述之损坏数据行的筛选方法,其特征在于,每一所述区段包括数据区以及备用区。
5.如权利要求1所述之损坏数据行的筛选方法,其特征在于,每一所述数据页包括数据区以及备用区且所述区段置于所述数据区。
6.一种具有损坏数据行总表的数据储存装置,所述数据储存装置包括控制单元以及数据储存媒体,所述数据储存媒体包括有复数数据区块,每一所述数据区块包括复数数据行并将所述数据行划分为复数区段,所述数据储存媒体包括复数数据页,每一所述数据页包括位于同一列的被划分为所述复数区段的所述数据行,所述损坏数据行总表系依据下列步骤而产生,包括:
读取至少一所述数据区块之至少一所述数据页的写入数据;
比对至少一默认数据与至少一所述数据页的所述写入数据以取得所比对的至少一所述数据页的每一所述区段之每一所述数据行之错误比特数,并据以计算每一所述区段之错误数;
选取其中之一所述区段其具有最大之所述错误数;以及
将其中之一所述区段中具有最大之所述错误比特数之其中之一所述数据行记录至所述损坏数据行总表。
7.如权利要求6所述之数据储存装置,其特征在于,所述错误数为所述错误比特数的总数。
8.如权利要求6所述之数据储存装置,其特征在于,所述错误数为所述错误比特数的平均值。
9.如权利要求6所述之数据储存装置,其特征在于,每一所述区段包括数据区以及备用区。
10.如权利要求6所述之数据储存装置,其特征在于,每一所述数据页包括数据区以及备用区且所述区段置于所述数据区。
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