CN107345790A - 一种电子产品检测仪 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种电子产品检测仪，包括主体支架、摄像单元、存储单元、图像处理单元、微处理器；微处理器用于将获取的电子产品的深度图像与存储单元中存储的标准深度图像进行比较，当检测到电子产品的深度图像与标准深度图像相同时，则判定电子产品符合标准；当不同时，则判定电子产品的深度图像中与标准深度图像不相符的位置为异常区域。本发明的电子产品检测仪，可以探测物体中的通孔或凹槽的位置、数目、深度等数据是否符合标准，同时检测出物体表面的划痕、瑕疵的深度，对电子产品的检测更加精确、高效。

Description

一种电子产品检测仪
技术领域
本发明涉及检测设备领域，尤其涉及一种电子产品检测仪。
背景技术
日常生活中的很多物品上都设置有一定数目的通孔或者凹槽，这些物品在生产加工完成后一般都需要检测这些通孔或者凹槽的位置、数目、形状及深度是否符合标准，同时也要检测待测物品的表面是否存在划痕等瑕疵。现有技术中一般通过摄像装置拍摄待测物品的平面图像，然后通过将该待测物品平面图像与标准样本图像进行比对来判断待测物品表面的通孔或者凹槽是否符合标准。然而，通过平面图像只能判断出通孔或者凹槽的位置、数目是否正确，却很难判断出通孔是否打通、凹槽的深度是否符合标准，也很难判断出物品表面划痕的深度等，从而使得产品的检测效果大打折扣。
发明内容
针对现有技术的不足，本发明提供一种电子产品检测仪，通过获取电子产品的深度图像来探测物体中的通孔或凹槽的位置、数目、深度等数据是否符合标准，同时也可以检测出物体表面的划痕、瑕疵的深度，对电子产品的检测更加精确、高效。
本发明解决技术问题采用如下技术方案：
一种电子产品检测仪，包括：主体支架、摄像单元、存储单元、图像处理单元、微处理器；
主体支架，用于承载电子产品；
摄像单元，用于对主体支架上的电子产品进行深度摄像，进而生成电子产品的深度图像；
存储单元，用于存储摄像单元预先拍摄的电子产品的标准深度图像；
图像处理单元，用于获取所述摄像单元生成的该电子产品的深度图像；
微处理器，用于将所述图像处理单元获取的电子产品的深度图像与存储单元中存储的标准深度图像进行比较；当微处理器检测到电子产品的深度图像与标准深度图像相同时，则判定电子产品符合标准；当微处理器检测到电子产品的深度图像与标准深度图像不同时，则判定电子产品的深度图像中与标准深度图像不相符的位置为异常区域。
优选地，所述主体支架包括底座、水平设置于底座上的两个传输台以及两个传送带；所述两个传输台相隔一定距离且平行设置，两个传送带分别设置于两个传输台上，两个传送带分别用于承载电子产品的两端并带动电子产品同步运动。
优选地，所述微处理器置于一外部电脑中，所述微处理器与摄像单元通过无线网络进行通信，还可用于对检测过程中摄像单元每两次拍摄的时间间隔进行设定。
优选地，所述微处理器还用于将图像处理单元获取到的电子产品的深度图像进行傅里叶变换，得到深度图像的频谱图。
优选地，所述存储单元还用于存储电子产品的深度图像中与标准深度图像不相符的位置的异常区域信息。
优选地，所述电子产品检测仪还包括：
分析单元，用于判断微处理器检测到的异常区域是否与预先摄取的电子产品的标准深度图像匹配，若不匹配，则生成异常区域的信息；若匹配成功，则反馈给摄像单元重新对电子产品进行深度摄像。
优选地，所述电子产品检测仪还包括：
显示单元，用于显示微处理器检测到的异常区域。
优选地，所述显示单元为LED或OLED显示屏。
与现有技术相比，本发明具有如下有益效果：
（1）本发明的电子产品检测仪，通过获取电子产品的深度图像来探测物体中的通孔或凹槽的位置、数目、深度等数据是否符合标准，同时也可以检测出物体表面的划痕、瑕疵的深度，对电子产品的检测更加精确、高效。
（2）本发明的电子产品检测仪，主体支架包括底座、两个传输台以及两个传送带，传输台相隔一定距离且平行设置，传送带用于承载电子产品的两端并带动电子产品同步运动，主体支架方便了对大量电子产品的快速检测，提高了检测效率。
（3）本发明的微处理器可以将电子产品的深度图像进行傅里叶变换，得到深度图像的频谱图，能够更直观、简洁地反映深度信息；分析单元可以将异常区域的信息再次判断匹配，确保了刮痕、瑕疵等影响产品品质的因素再次被确认，防止机器的误判。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的有关本发明的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明实施例的一种电子产品检测仪的结构示意图；
图2为本发明实施例的一种检测系统的功能模块示意图；
图3为图1所示的电子产品检测仪拍摄深度图像的示意图；
附图标记：1-主体支架，11-底座，12-传输台，13-传送带，2-电子产品，3-顶架，4-摄像单元，5-存储单元，6-图像处理单元，7-微处理器，8-分析单元，9-显示单元，14-参考光束。
具体实施方式
下面详细描述本发明的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，仅用于解释本发明，而不能解释为对本发明的限制。
如图1-2所示，本实施例的一种电子产品检测仪，包括主体支架1、摄像单元4、存储单元5、图像处理单元6、微处理器7。
主体支架1，用于承载电子产品。摄像单元4，用于对主体支架上的电子产品进行深度摄像，进而生成电子产品的深度图像。存储单元5，用于存储摄像单元预先拍摄的电子产品的标准深度图像。图像处理单元6，用于获取所述摄像单元生成的该电子产品的深度图像。
微处理器7，用于将所述图像处理单元获取的电子产品的深度图像与存储单元中5存储的标准深度图像进行比较；当微处理器7检测到电子产品的深度图像与标准深度图像相同时，则判定电子产品符合标准；当微处理器7检测到电子产品的深度图像与标准深度图像不同时，则判定电子产品的深度图像中与标准深度图像不相符的位置为异常区域。
其中，主体支架1包括底座11、水平设置于底座11上的两个传输台12以及两个传送带13。两个传输台12相隔一定距离且平行设置，两个传送带13分别设置于两个传输台12上，两个传送带13分别用于承载电子产品的两端并带动电子产品同步运动。
微处理器7置于一外部电脑中，所述微处理器7与摄像单元4通过无线网络进行通信，还可用于对检测过程中摄像单元4每两次拍摄的时间间隔进行设定。
微处理器7还用于将图像处理单元6获取到的电子产品的深度图像进行傅里叶变换，得到深度图像的频谱图。
存储单元5还用于存储电子产品的深度图像中与标准深度图像不相符的位置的异常区域信息。
分析单元8，用于判断微处理器检测到的异常区域是否与预先摄取的电子产品的标准深度图像匹配，若不匹配，则生成异常区域的信息；若匹配成功，则反馈给摄像单元重新对电子产品进行深度摄像。
显示单元9，用于显示微处理器检测到的异常区域。显示单元9为LED或OLED显示屏。
如图1所示，电子产品2的两端可以分别放置在该两个传送带13上。两个传送带13用于同步运动而带动放置于传送带13上的电子产品2相对于该底座11运动。当一个电子产品2检测完毕后，能够通过该传送带13将该电子产品2传送出检测位置之外，并将传送带上的下一电子产品2传送至检测位置。这样使得该检测设备可以通过流水作业的方式连续检测多个电子产品2。
可以理解的是，该主体支架1也可以根据需要设置为一承载该电子产品2的固定底座，还可以根据需要设置为其他形式。顶架3设置于主体支架1的一侧，用于将摄像单元4固定于该主体支架1上方，使得当电子产品2放置于主体支架1上时，摄像单元4正对电子产品2。
具体地，如图3所示，摄像单元4首先向该电子产品2发射一参考光束14，该参考光束14照射到电子产品2的表面后被该电子产品2的表面反射，而该参考光束14照射到该电子产品2上设置有通孔的位置时，则透过该通孔而照射到主体支架1的表面，然后被该主体支架1反射。摄像单元4计算该反射光的回光时间差或相位差来换算该电子产品 2所在位置的各个点与摄像头之间的距离，从而生成该电子产品2的深度图像。
当摄像单元4发出参考光束14照射到该电子产品2的表面时，该电子产品2表面上没有通孔的位置直接将该参考光束14进行反射，而在该电子产品2表面上设置有通孔的位置，该参考光束14直接透过该通孔照射到主体支架1上，然后被该主体支架1反射，由于该电子产品2表面与该摄像单元4之间的距离小于该主体支架1与该摄像单元4之间的距离，因此该电子产品2上没有通孔位置的反射光到达摄像单元4的时间小于该电子产品2上开设有通孔位置的反射光到达该摄像单元4的时间，该摄像单元4根据接收到反射光时间的不同而生成的该电子产品2的深度图像。
微处理器7还用于通过外部计算机中的显示单元9将检测结果显示给用户。在本实施方式中，该显示单元9为该外部计算机中的显示器，微处理器7控制该显示器显示文字信息来将检测结果显示给用户。在其他实施方式中，微处理器7控制该外部计算机中的发声装置发出声音信息来向用户提示检测结果。
本发明的电子产品检测仪，通过获取电子产品的深度图像来探测物体中的通孔或凹槽的位置、数目、深度等数据是否符合标准，同时也可以检测出物体表面的划痕、瑕疵的深度，对电子产品的检测更加精确、高效。主体支架包括底座、两个传输台以及两个传送带，传输台相隔一定距离且平行设置，传送带用于承载电子产品的两端并带动电子产品同步运动，主体支架方便了对大量电子产品的快速检测，提高了检测效率；微处理器可以将电子产品的深度图像进行傅里叶变换，得到深度图像的频谱图，能够更直观、简洁地反映深度信息；分析单元可以将异常区域的信息再次判断匹配，确保了刮痕、瑕疵等影响产品品质的因素再次被确认，防止机器的误判。
以上所述仅是本发明的优选实施方式，本发明的保护范围并不仅局限于上述实施例，凡属于本发明思路下的技术方案均属于本发明的保护范围。应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明原理前提下的若干改进和润饰，也应视为本发明的保护范围。

Claims (8)

1.一种电子产品检测仪，其特征在于，包括：主体支架、摄像单元、存储单元、图像处理单元、微处理器；
主体支架，用于承载电子产品；
摄像单元，用于对主体支架上的电子产品进行深度摄像，进而生成电子产品的深度图像；
存储单元，用于存储摄像单元预先拍摄的电子产品的标准深度图像；
图像处理单元，用于获取所述摄像单元生成的该电子产品的深度图像；
微处理器，用于将所述图像处理单元获取的电子产品的深度图像与存储单元中存储的标准深度图像进行比较；当微处理器检测到电子产品的深度图像与标准深度图像相同时，则判定电子产品符合标准；当微处理器检测到电子产品的深度图像与标准深度图像不同时，则判定电子产品的深度图像中与标准深度图像不相符的位置为异常区域。
2.根据权利要求1所述的电子产品检测仪，其特征在于，所述主体支架包括底座、水平设置于底座上的两个传输台以及两个传送带；所述两个传输台相隔一定距离且平行设置，两个传送带分别设置于两个传输台上，两个传送带分别用于承载电子产品的两端并带动电子产品同步运动。
3.根据权利要求1所述的电子产品检测仪，其特征在于，所述微处理器置于一外部电脑中，所述微处理器与摄像单元通过无线网络进行通信，还可用于对检测过程中摄像单元每两次拍摄的时间间隔进行设定。
4.根据权利要求1所述的电子产品检测仪，其特征在于，所述微处理器还用于将图像处理单元获取到的电子产品的深度图像进行傅里叶变换，得到深度图像的频谱图。
5.根据权利要求1所述的电子产品检测仪，其特征在于，所述存储单元还用于存储电子产品的深度图像中与标准深度图像不相符的位置的异常区域信息。
6.根据权利要求1所述的电子产品检测仪，其特征在于，所述电子产品检测仪还包括：
分析单元，用于判断微处理器检测到的异常区域是否与预先摄取的电子产品的标准深度图像匹配，若不匹配，则生成异常区域的信息；若匹配成功，则反馈给摄像单元重新对电子产品进行深度摄像。
7.根据权利要求1所述的电子产品检测仪，其特征在于，所述电子产品检测仪还包括：
显示单元，用于显示微处理器检测到的异常区域。
8.根据权利要求7所述的电子产品检测仪，其特征在于，所述显示单元为LED或OLED显示屏。
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