CN107315021A - 数字平板成像器敏感区辐射防护装置 - Google Patents

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王浩
禾继旺
李芳�
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Abstract

本发明公开了一种数字平板成像器敏感区辐射防护装置,包括:防护罩板、固定滑槽、铅板条和滑动插板。用固定垫圈螺栓将数字平板成像器固定安装在成像器固定架上,防护罩板通过两侧的固定螺栓固定安装在成像器固定架的上面,在防护罩板中间方孔的上下边及左边固定设有固定滑槽,滑动插板沿着固定滑槽从右侧插进防护罩板内,在滑动插板方孔四面周边用胶粘接铅板条。本装置即有效的解决了在调试期间不需要遮挡的校正问题,又对平板成像器敏感区域进行了必要的防护,从而延长了设备使用寿命,节约了成本,提高了检测效率,适于广泛推广。

Description

数字平板成像器敏感区辐射防护装置
技术领域
本发明涉及一种X射线保护装置,具体说是一种应用在X射线数字平板成像检测系统中的数字平板成像器敏感区辐射防护装置。
背景技术
近年来X射线无损检测技术快速发展,特别是X射线数字平板成像检测技术得到了广泛应用。数字平板成像器价格十分昂贵作为检测中的核心部件其性能和使用寿命直接关系到检测效果、检测效率及检测成本,但在目前的检测使用中往往忽视了对数字平板成像器的必要的防护,数字平板成像器中间区域为检测接收成像区域,在此区域周边一圈为电子元件区的敏感区域,此区域如果长时间受到X射线照射会大幅减小使用寿命,造成数字平板成像器检测灵敏度降低使用时间缩短等,从而降低了检测生产效率及增加了购置设备的成本。数字平板成像器在初始安装调试时还需要对检测区域进行无防护遮挡的校正处理,如果仅仅在敏感区域外粘贴铅板进行防护,就无法满足对成像器的有效校正,在安装调试过程中需要单独拆下成像器进行校正也很不方便,而且校正的精度无法保证,在当前的技术状况下存在两难处理的弊端,造成现在使用的很多设备中都没有对数字平板成像器的敏感区域进行防护,或者设备使用中没有对成像器进行精确的校正,影响了使用效果。现有技术缺乏对数字平板成像器敏感区域的有效防护,致使降低了使用寿命、检测精度和生产效率,影响生产进度,也在经济上造成巨大损失。
发明内容
本发明针对以上问题的提出,而研制一种数字平板成像器敏感区辐射防护装置。
本发明的技术手段如下:一种数字平板成像器敏感区辐射防护装置,包括:防护罩板、固定滑槽、铅板条和滑动插板。用固定垫圈螺栓将数字平板成像器固定安装在成像器固定架上,防护罩板通过两侧的固定螺栓固定安装在成像器固定架的上面,使得其开口处正对着平板成像器的检测区域。在防护罩板中间方孔的上下边及左边固定设有固定滑槽,滑动插板沿着固定滑槽从右侧插进防护罩板内,滑动插板中间开方孔,方孔大小与成像器检测透照区大小一致,在滑动插板方孔四面周边用胶粘接铅板条。
由于采用了上述技术方案,本发明可对平板成像器的敏感区域进行有效的防护,采用插板式的灵活拆卸方式,更有效的解决了在调试期间不需要遮挡的问题,从而即方便了调试期间对平板成像器的校正,又对平板成像器敏感区域进行了必要的防护,大幅减小了设备的损耗,节约了成本,提高了检测效率,提高生产率,适于广泛推广。
附图说明
图1是本发明的正视图;
图2是图1的右视图;
图3是图1的俯视图;
图4是检测应用图;
图中:1、成像器固定架,2、固定垫圈螺栓,3、数字平板成像器,4、防护罩板,5、固定滑槽,6、铅板条,7、滑动插板,8、固定螺钉,9、X射线机,10、检测工件。
具体实施方式
如图1、图2、图3及图4所示的一种数字平板成像器敏感区辐射防护装置,包括:防护罩板4、固定滑槽5、铅板条6和滑动插板7。用固定垫圈螺栓2将数字平板成像器3固定安装在成像器固定架1上,防护罩板4通过两侧的固定螺栓8固定安装在成像器固定架1的上面,使得其开口处正对着平板成像器的检测区域。在防护罩板4中间方孔的上下边及左边固定设有固定滑槽5,滑动插板7沿着固定滑槽5从右侧插进防护罩板4内,滑动插板7中间开方孔,方孔大小与成像器检测透照区大小一致,在滑动插板7方孔四面周边用胶粘接铅板条6。
检测应用过程:
X射线机9发出X射线透过检测工件10,数字平板成像器3在相对应的另一侧接收射线,从而转换成透照图像信号,本装置设置在平板成像器前端用于保护平板成像器成像敏感区。在前期安装调试整体设备时需要对平板成像器进行校正,此时将的滑动插板7及其上粘接上的板条6一同抽出,打开X射线机对平板成像器进行校正处理,校正完毕后,将的滑动插板7及其上粘接上的板条6一同插入到本装置即可正常检测使用,数字平板成像器四周敏感区域既被保护。
以上所述,仅为本发明较佳的具体实施方式,但本发明的保护范围并不局限于此,任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内,根据本发明的技术方案及其发明构思加以等同替换或改变,都应涵盖在本发明的保护范围之内。

Claims (1)

1.一种数字平板成像器敏感区辐射防护装置,其特征在于:包括防护罩板、固定滑槽、铅板条和滑动插板,用固定垫圈螺栓将数字平板成像器固定安装在成像器固定架上,防护罩板通过两侧的固定螺栓固定安装在成像器固定架的上面,使得其开口处正对着平板成像器的检测区域,在防护罩板中间方孔的上下边及左边固定设有固定滑槽,滑动插板沿着固定滑槽从右侧插进防护罩板内,滑动插板中间开方孔,方孔大小与成像器检测透照区大小一致,在滑动插板方孔四面周边用胶粘接铅板条。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN112461279A (zh) * 2019-09-06 2021-03-09 中国人民解放军国防科技大学 一种闪光x射线系统射线管可移动防护支架

Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN2338940Y (zh) * 1998-07-15 1999-09-15 成都市计划生育技术指导所 移动式射线屏蔽罩
CN1508565A (zh) * 2002-12-16 2004-06-30 清华大学 一种辐射成像固体探测器模块结构
CN102590852A (zh) * 2011-12-02 2012-07-18 云南电力试验研究院(集团)有限公司电力研究院 一种数字x射线成像板保护装置
CN203208040U (zh) * 2013-03-19 2013-09-25 王春祥 四功能婴幼儿x线摄影辅助床
CN204142659U (zh) * 2014-09-16 2015-02-04 北京一体通探测技术有限公司 屏蔽射线用的快门装置及射线扫描成像系统
CN104458769A (zh) * 2014-12-29 2015-03-25 丹东奥龙射线仪器集团有限公司 在线ct无损检测装置
CN205458758U (zh) * 2016-01-13 2016-08-17 杭州市余杭区第五人民医院 智能化x射线防护装置
CN206214108U (zh) * 2016-06-28 2017-06-06 史臣 体检车及其x光拍片系统
CN207067032U (zh) * 2017-08-24 2018-03-02 丹东华日理学电气股份有限公司 数字平板成像器敏感区辐射防护装置

Patent Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN2338940Y (zh) * 1998-07-15 1999-09-15 成都市计划生育技术指导所 移动式射线屏蔽罩
CN1508565A (zh) * 2002-12-16 2004-06-30 清华大学 一种辐射成像固体探测器模块结构
CN102590852A (zh) * 2011-12-02 2012-07-18 云南电力试验研究院(集团)有限公司电力研究院 一种数字x射线成像板保护装置
CN203208040U (zh) * 2013-03-19 2013-09-25 王春祥 四功能婴幼儿x线摄影辅助床
CN204142659U (zh) * 2014-09-16 2015-02-04 北京一体通探测技术有限公司 屏蔽射线用的快门装置及射线扫描成像系统
CN104458769A (zh) * 2014-12-29 2015-03-25 丹东奥龙射线仪器集团有限公司 在线ct无损检测装置
CN205458758U (zh) * 2016-01-13 2016-08-17 杭州市余杭区第五人民医院 智能化x射线防护装置
CN206214108U (zh) * 2016-06-28 2017-06-06 史臣 体检车及其x光拍片系统
CN207067032U (zh) * 2017-08-24 2018-03-02 丹东华日理学电气股份有限公司 数字平板成像器敏感区辐射防护装置

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN112461279A (zh) * 2019-09-06 2021-03-09 中国人民解放军国防科技大学 一种闪光x射线系统射线管可移动防护支架
CN112461279B (zh) * 2019-09-06 2021-07-27 中国人民解放军国防科技大学 一种闪光x射线系统射线管可移动防护支架

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