CN107300652A - 铝电解电容器测试装置及测试方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种铝电解电容器测试装置及测试方法，其中该铝电解电容器测试装置包括容量损耗测试模块、短路测试模块、漏电测试模块、耐压测试模块、二次漏电测试模块；容量损耗测试模块、短路测试模块及漏电测试模块，分别依次对待测电容进行容量测试、损耗测试、短路测试及漏电测试；耐压测试模块，对待测电容进行耐压测试；二次漏电测试模块，在耐压模块完成耐压测试后，对待测电容再次进行漏电测试。本发明技术方案提高了出厂的铝电解电容器的稳定性和可靠性。

Description

铝电解电容器测试装置及测试方法

技术领域

本发明涉及电子电路技术领域，特别涉及一种铝电解电容器测试装置及应用该铝电解电容器测试装置的测试方法。

背景技术

随着电力电子技术的发展，人们对铝电解电容器的要求越来越高，特别是稳定性和可靠性方面。

目前，大多数铝电解电容器厂家仅用测试铝电解电容器的三参数方法(容量测试、损耗测试、及漏电测试)判断铝电解电容器是否是良品，虽然大部分产品都可以通过这种方法判断出，但存在少数的有缺陷产品也能通过测试机，流到良品中，减低了电容器的出厂可靠性。

发明内容

本发明的主要目的是提供一种铝电解电容器测试方法，旨在提高出厂的铝电解电容器的出厂可靠性。

为实现上述目的，本发明提出了一种铝电解电容器测试装置，该铝电解电容器测试装置包括容量损耗测试模块、短路测试模块、一次漏电测试模块、耐压测试模块及二次漏电测试模块；其中，

所述容量损耗测试模块、短路测试模块及所述一次漏电测试模块，分别依次对待测电容进行容量测试、损耗测试短路测试及漏电测试；

所述耐压测试模块，对所述待测电容进行耐压测试；

所述二次漏电测试模块，在耐压模块完成耐压测试后，对所述待测电容再次进行漏电测试。

优选地，所述耐压测试模块，对所述待测电容进行充电至预设电压。

优选地，所述耐压测试模块，对所述待测电容进行恒流充电至预设电压。

优选地，所述耐压测试模块采用多组电压值依次增大的电压逐步对所述待测电容进行充电至预设电压。

此外，本发明还提出一种应用上述铝电解电容器测试装置的测试方法，该方法包括如下步骤:

依次对待测电容进行容量测试、损耗测试、及漏电测试；

对所述待测电容进行耐压测试；

对所述待测电容再次进行漏电测试。

优选地，在所述步骤“依次对待测电容进行容量测试、损耗测试”之后、“对所述待测电容再次进行漏电测试”之前还包括以下步骤：

对所述待测电容进行短路测试。

优选地，所述步骤“对所述待测电容进行耐压测试”具体包括：

对所述待测电容进行充电，并充电至预设电压。

优选地，所述“对所述待测电容进行充电至预设电压”的步骤为：

对所述待测电容进行恒流充电至预设电压。

优选地，所述“对所述待测电容进行充电至预设电压”的步骤为包括：

采用多组电压值依次增大的电压逐步对所述待测电容进行充电至预设电压。

本发明技术方案通过设置容量损耗测试模块、短路测试模块、一次漏电测试模块、耐压测试模块及二次漏电测试模块，实现了一种铝电解电容器测试装置。因为有缺陷的电容器产品在进行耐压测试后，预设电压对产品进行了冲击，有缺陷电容器产品的漏电流会急剧增大，在进行耐压检测及再一次的漏电测试后，将缺陷电容器剔除出来，提高了出厂铝电解电容器的可靠性。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图示出的结构获得其他的附图。

图1为本发明铝电解电容器测试装置一实施例的模块示意图；

图2为本发明耐压测试模块一实施例的结构示意图；

图3为本发明测试方法一实施例的流程示意图。

附图标号说明：

标号	名称	标号	名称
				200	容量损耗测试模块	R4	第四电阻
300	短路测试模块	R5	第五电阻
				400	一次漏电测试模块	R6	第六电阻
500	耐压测试模块	R7	第七电阻
				600	二次漏电测试模块	R8	第八电阻
R1	第一电阻	R9	第九电阻
				R2	第二电阻	R10	第十电阻
R3	第三电阻	R11	第十一电阻

本发明目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

需要说明，本发明实施例中所有方向性指示(诸如上、下、左、右、前、后……)仅用于解释在某一特定姿态(如附图所示)下各部件之间的相对位置关系、运动情况等，如果该特定姿态发生改变时，则该方向性指示也相应地随之改变。

另外，在本发明中涉及“第一”、“第二”等的描述仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。另外，各个实施例之间的技术方案可以相互结合，但是必须是以本领域普通技术人员能够实现为基础，当技术方案的结合出现相互矛盾或无法实现时应当认为这种技术方案的结合不存在，也不在本发明要求的保护范围之内。

本发明提出一种铝电解电容器测试装置。

参照图1，在本发明实施例中，铝电解电容器测试装置包括容量损耗测试模块200、短路测试模块300、一次漏电测试模块400、耐压测试模块500及二次漏电测试模块600；其中，所述容量损耗测试模块200、短路测试模块300及所述一次漏电测试模块400，分别依次对待测电容进行容量测试、损耗测试、短路测试及漏电测试；所述耐压测试模块500，对所述待测电容进行耐压测试；所述二次漏电测试模块600，在耐压模块完成耐压测试后，对所述待测电容再次进行二次漏电测试。

本实施例中，容量损耗测试模块200检测待测电容的电容值，并判断检测到的电容值是否在正常容值范围内，从而完成容量测试。容量损耗测试模块200还检测待测电容的损耗角正切值，并判断损耗角正切值是否在正常损耗范围内，从而完成损耗测试。一次漏电测试模块400和二次漏电测试模块600检测待测电容的漏电流，并判断漏电流是否在正常漏电范围内，从而完成漏电测试。容量损耗测试模块200、一次漏电测试模块400和二次漏电测试模块600均采用现有的测试仪器进行测试，例如容量测试仪、电容漏电流测试仪等。

耐压测试模块500则通过预设的高电压对待测电容进行冲击，在完成高压冲击后，再进行漏电测试，通过产品是否可以达到预设电压和二次漏电流测试判断待测电容是否通过耐压测试。

本发明技术方案通过设置容量损耗测试模块200、一次漏电测试模块400、二次漏电测试模块600、及耐压测试模块500，实现了一种铝电解电容器测试装置。因为产品在进行耐压测试后，预设电压对电容器产品进行了冲击，有缺陷电容器产品的漏电流会急剧增大，通过对预设电压检测和再一次的漏电测试，从而将缺陷电容器产品剔除出来，提高了出厂电容器的稳定性和可靠性。

进一步地，所述铝电解电容器测试装置还包括短路测试模块300；所述短路测试模块300，在所述容量损耗测试模块200完成容量损耗测试后并在所述一次漏电测试模块400进行漏电测试之前，对所述待测电容进行短路测试。需要说明的是，短路测试的原理与漏电测试类似，即通过检测待测电容在设置的一个较低电压时的漏电流来实现。若待测电容的内部出现短路情况或没有老化好，则待测电容的漏电流会急剧增大，且待测电容的温度也会很快上升。

具体地，所述耐压测试模块500，对所述待测电容进行充电至预设电压。需要说明的是，预设电压设置要高于待测电容的额定电压。

进一步地，所述耐压测试模块500，对所述待测电容进行恒流充电至预设电压。例如，耐压测试模块500可采用20mA(毫安)的恒定电流对铝电解电容器进行充电。

进一步地，所述耐压测试模块500采用多组电压值依次增大的电压逐步对所述待测电容进行充电至预设电压。

需要说明的是，参照图2，该耐压测试模块500设置有直流电源，及多个限流电阻。本实施例中包括第一电阻R1、第二电阻R2、第三电阻R3、第四电阻R4、第五电阻R5、第六电阻R6、第七电阻R7、第八电阻R8、第九电阻R9、第十电阻R10、第十一电阻R11。

电阻R1至电阻R11的阻值根据待测电容的规格进行设置，在待测电容为低压产品(U_R≤100V)时，第一电阻R1至第五电阻R5均为300Ω(欧姆)，第六电阻至第八电阻均为50Ω，第九电阻至第十一电阻均为10Ω。

在待测电容为中高压产品(U_R≥160V)时，第一电阻R1至第五电阻R5均为1kΩ(千欧姆)，第六电阻至第八电阻均为680Ω，第九电阻至第十一电阻均为500Ω。

因此，在第一电阻R1至第五电阻R5区间，待测电容的充电电流为第一恒定电流；在第六电阻R6至第八电阻R8区间，待测电容的充电电流为第二恒定电流；在第九电阻至第十一电阻区间，待测电容的充电电流为第三恒定电流。通过多组电流值不同的电流对电容进行充电，使得待测电容的电压更接近预设电压。

根据不同额定电压的产品，设定一个大于产品浪涌电压的电压，以一个恒定的电流对电容充电，电阻R1到R11的阻值逐渐降低，待测电容从C1(图2中C1至C11为对应的测试点)位置开始充电，待测电容正常到C4位置其两端电压达到预设值，从C5到C11位置是预设电压对电容的一个冲击过程，耐压完成后，电容放电再进行一次漏电测试。

预设电压、浪涌电压和被测产品的额定电压有关，如额定电压为400V的产品，浪涌电压为450V，耐压测试时设定的电压是500V；测试过程中，电阻的数值是固定值，不会改变，待测电容两端的电压会慢慢增大，大约到C3或者C4位置时，测试产品会达到480V(设定电压为500V)。

电阻R1至电阻R11的还起到限流保护电源的作用。电阻慢慢变小，主要是想让待测电容的电压更接近设定电压。产品达到设定电压所需的时间与容量和电压有很大关系，一般容量较大时，会适当提高产品的充电电流。

本发明技术方案相对于传统的三参数测试(容量、损耗测试、及漏电测试)的基础上，增加了对待测电容的耐压测试，并在耐压测试后再进行一次漏电测试，从而将通过测试进一步的将有缺陷的产品挑选出来，提高了铝电解电容的稳定性和可靠性。

参照图3，本发明还提出了一种测试方法，应用于上述铝电解电容器测试装置，该方法包括如下步骤:

S1、依次对待测电容进行容量测试、损耗测试；

S2、对所述待测电容进行短路测试；

S3、对所述待测电容进行漏电测试；

S4、对所述待测电容进行耐压测试；

S5、对所述待测电容再次进行漏电测试。

具体地，所述步骤“对所述待测电容进行耐压测试”具体包括：

对所述待测电容进行充电至预设电压。

进一步地，所述“对所述待测电容进行充电预设电压”的步骤为：

对所述待测电容进行恒流充电至预设电压。

进一步地，所述“对所述待测电容进行充电至预设电压”的步骤为：

采用多组电压值依次增大的电压逐步对所述待测电容进行充电至预设电压。

以上所述仅为本发明的优选实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡是在本发明的发明构思下，利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构变换，或直接/间接运用在其他相关的技术领域均包括在本发明的专利保护范围内。

Claims (8)

1.一种铝电解电容器测试装置，其特征在于，所述铝电解电容器测试装置包括容量损耗测试模块、短路测试模块、一次漏电测试模块、耐压测试模块及二次漏电测试模块；其中，

所述容量损耗测试模块、短路测试模块及所述一次漏电测试模块，分别依次对待测电容进行容量测试、损耗测试、短路测试及漏电测试；

所述耐压测试模块，对所述待测电容进行耐压测试；

所述二次漏电测试模块，在所述耐压模块完成耐压测试后，对所述待测电容再次进行漏电测试。

2.如权利要求1所述的铝电解电容器测试装置，其特征在于，所述耐压测试模块，对所述待测电容进行充电至预设电压。

3.如权利要求2所述的铝电解电容器测试装置，其特征在于，所述耐压测试模块，对所述待测电容进行恒流充电至预设电压。

4.如权利要求2所述的铝电解电容器测试装置，其特征在于，所述耐压测试模块采用多组电压值依次增大的电压逐步对所述待测电容进行充电至预设电压。

5.一种应用如权利要求1-4任意一项所述的铝电解电容器测试装置的测试方法，其特征在于，该方法包括如下步骤:

依次对待测电容进行容量测试、损耗测试、短路测试及漏电测试；

对所述待测电容进行耐压测试；

对所述待测电容再次进行二次漏电测试。

6.如权利要求5所述的测试方法，其特征在于，所述步骤“对所述待测电容进行耐压测试”具体包括：

对所述待测电容进行充电至预设电压。

7.如权利要求6所述的测试方法，其特征在于，所述“对所述待测电容进行充电至预设电压”的步骤为：

对所述待测电容进行恒流充电至预设电压。

8.如权利要求6所述的测试方法，其特征在于，所述“对所述待测电容进行充电，并充电至预设电压”的步骤为：

采用多组电压值依次增大的电压逐步对所述待测电容进行充电至预设电压。