CN107151227A - 阿普斯特无定形的制备方法 - Google Patents
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Abstract
本发明提供了阿普斯特无定形的制备方法,属于药物化学领域。本发明所述方法通过常见良溶剂或混合溶剂溶解阿普斯特粗品后,经降温或反滴入不良溶剂制备阿普斯特无定形,操作简单,条件温和,便于工业化应用。
Description
技术领域
本发明涉及阿普斯特无定形的制备方法,属于药物化学领域。
背景技术
阿普斯特(Apremilast,Otezla),一种磷酸二酯酶-4(PDE-4)抑制剂,用于治疗有活动性银屑病关节炎的成年患者。2014年3月21日,美国食品药品监督管理局(FDA)批准阿普斯特片上市,其结构如下式(1)所示:
药物的微观形式如多晶型还是无定形对药品质量有重要影响。阿普斯特的无定形相对于多晶型具有较好的溶解度,对制剂较有利。
现有技术公开了一些阿普斯特无定形的制备方法,如下:
专利申请WO2015173792 A1公开了使用阿普斯特粗品通过熔融后降温的方式得到阿普斯特无定形产品。所述制备阿普斯特无定形产品的工艺方法需要高温加热,不便于工业应用。
专利申请CN201510513824.3公开了使用有机溶剂加热溶解阿普斯特,随后将所得溶液减压浓缩至干,再经干燥至恒重得到阿普斯特无定形产品。所述制备阿普斯特无定形产品的的工艺方法,操作比较繁琐,需要减压浓缩,难以实现产业化。
发明内容
发明概述
本发明提供了两种制备阿普斯特无定形的方法。本发明所提供的制备方法,采用常见溶剂,通过溶液结晶的方式制备阿普斯特无定形产品,具有工艺简洁、经济环保,便于工业化应用等优点。
术语定义
本发明意图涵盖所有的替代、修改和等同技术方案,它们均包括在如权利要求定义的本发明范围内。本领域技术人员应认识到,许多与本文所述类似或等同的方法和材料能够用于实践本发明。本发明绝不限于本文所述的方法和材料。在所结合的文献、专利和类似材料的一篇或多篇与本申请不同或相矛盾的情况下(包括但不限于所定义的术语、术语应用、所描述的技术等等),以本申请为准。
应进一步认识到,本发明的某些特征,为清楚可见,在多个独立的实施方案中进行了描述,但也可以在单个实施例中以组合形式提供。反之,本发明的各种特征,为简洁起见,在单个实施方案中进行了描述,但也可以单独或以任意合适的子组合提供。
除非另外说明,本发明所使用的所有科技术语具有与本发明所属领域技术人员的通常理解相同的含义。本发明涉及的所有专利和公开出版物通过引用方式整体并入本发明。
除非另外说明,应当应用本文所使用的下列定义。出于本发明的目的,化学元素与元素周期表CAS版,和1994年第75版《化学和物理手册》一致。此外,有机化学一般原理可参考"Organic Chemistry",Thomas Sorrell,University Science Books,Sausalito:1999,和"March's Advanced Organic Chemistry”by Michael B.Smith and Jerry March,John Wiley&Sons,New York:2007中的描述,其全部内容通过引用并入本文。
术语“包含”或“包括”为开放式表达,即包括本发明所指明的内容,但并不排除其他方面的内容。
术语“晶型”用来描述固体化合物的存在状态,描述晶体内部的离子、原子或分子组成、对称性质与周期排列规律的多种参量集合体。
在本发明的上下文中,X-射线粉末衍射图中的2θ(又称2theta或衍射峰)值均以度(°)为单位。
当提及图谱和/或图中数据,术语“衍射峰”是指本领域的技术人员不会归属于背景噪音的一个特征。
所述产品的X-射线粉末衍射峰,其X-射线粉末衍射图谱的2θ或衍射峰的量度有实验误差,在一台机器和另一台机器之间以及一个样品和另一个样品之间,X-射线粉末衍射图谱的2θ或衍射峰的量度可能会略有差别,所述实验误差或差别的数值可能是+/-0.2个单位或+/-0.1个单位或+/-0.05个单位,因此所述2θ或衍射峰的数值不能视为绝对的。
所述产品的差示扫描量热曲线(DSC)有实验误差,在一台机器和另一台机器之间以及一个样品和另一个样品之间,吸热峰的位置和峰值可能会略有差别,实验误差或差别的数值可能小于等于5℃,或小于等于4℃,或小于等于3℃,或小于等于2℃,或小于等于1℃,因此所述DSC吸热峰的峰位置或峰值的数值不能视为绝对的。
所述产品的热重分析曲线(TGA)有实验误差,在一台机器和另一台机器之间以及一个样品和另一个样品之间,吸热曲线或失重率可能会略有差别,实验误差或差别的数值可能小于等于0.004%或0.003%或0.002%或0.001%,因此所述热重分析曲线或其失重率不能视为绝对的。
在本发明上下文中,无论是否使用“大约”或“约”等字眼,所有在此公开了的数字均为近似值。每一个数字的数值有可能会出现1%,2%,或5%等差异。当大约用来形容X-射线粉末衍射峰的2θ(又称2theta或衍射峰)值时,大约表示所述2θ值可能有+/-0.2个单位或+/-0.1个单位或+/-0.05个单位差异。
“室温”是指温度在大约20℃-35℃或大约23℃-28℃或大约25℃。
“迅速降温”是指把温度直接降到大约-10℃~25℃。
术语“良溶剂”可以是单一溶剂或混合溶剂,指阿普斯特在该单一溶剂或混合溶剂中的溶解度大于1g/L,或大于2g/L,或大于3g/L,或大于4g/L,或大于5g/L,或大于6g/L,或大于7g/L,或大于8g/L,或大于9g/L,或大于10g/L,或大于15g/L,或大于20g/L,或大于30g/L,或大于40g/L,或大于50g/L,或大于60g/L,或大于70g/L,或大于80g/L,或大于100g/L。在一些实施例中,阿普斯特在良溶剂中的溶解度比不良溶剂大;在一些实施例中,良溶剂和不良溶剂对阿普斯特的溶解度之差大约为10%,20%,30%,40%,50%,60%,70%,80%或90%;在一些实施例中,良溶剂对阿普斯特的溶解度比不良溶剂大,大于10%,20%,30%,40%,50%,60%,70%,80%或90%。
术语“不良溶剂”是指能促进溶液达到过度饱和状态或结晶的溶剂。在一些实施例中,阿普斯特在不良溶剂中的溶解度小于0.001g/L,或小于0.01g/L,或小于0.1g/L,或小于0.2g/L,或小于0.3g/L,或小于0.4g/L,或小于0.5g/L,或小于0.6g/L,或小于0.8g/L,或小于1g/L,或小于2g/L,或小于3g/L,或小于4g/L,或小于5g/L,或小于6g/L,或小于7g/L,或小于8g/L,或小于9g/L,或小于10g/L。
术语”阿普斯特”是指(S)-2-[1-(3-乙氧基-4-甲氧基苯基)-2-甲磺酰基乙基]-4-乙酰基氨基异吲哚啉-1,3-二酮。
发明详述
发明人通过研究开发了阿普斯特无定形的三种制备方法。
一种制备阿普斯特无定形的方法包括:将阿普斯特粗品加入良溶剂和不良溶剂组成的混合溶剂中,升温回流,待固体溶清后迅速降温,过滤,干燥即得阿普斯特无定型产品。所述良溶剂为甲醇、乙醇、三氟乙醇、正丙醇、正丁醇、仲丁醇、异丁醇中的一种或多种;所述不良溶剂为水、正己烷、环己烷、正戊烷、正庚烷、乙醚、异丙醚、乙二醇二甲醚、甲基叔丁基醚中的一种或多种。
在一些实施方式中,所述混合溶剂中的良溶剂为甲醇、乙醇、异丙醇、三氟乙醇、正丙醇、正丁醇、仲丁醇、异丁醇中的一种或多种,不良溶剂为水。
在一些实施方式中,所述混合溶剂中良溶剂为乙醇,不良溶剂为水、正己烷、环己烷、正戊烷、正庚烷、乙醚、异丙醚、乙二醇二甲醚、甲基叔丁基醚中的一种或多种。
在一些实施方式中,所述混合溶剂中良溶剂为乙醇,不良溶剂为水。
在一些实施方式中,所述混合溶剂中良溶剂为正丙醇,不良溶剂为水。
在一些实施方式中,所述混合溶剂中良溶剂与不良溶剂体积比为1:1~10:1。
在一些实施方式中,所述混合溶剂中良溶剂与不良溶剂体积比为4:1。
在一些实施方式中,所述固体溶清后降温至约-10℃~25℃。
在一些实施方式中,所述固体溶清后降温至约5℃。
另一种制备阿普斯特无定形的方法包括:将阿普斯特粗品加入良溶剂或良溶剂和不良溶剂组成的混合溶剂中,升温回流,待溶清后转入低温的不良溶剂中,过滤,得阿普斯特无定型产品。所述良溶剂为甲醇、乙醇、三氟乙醇、异丙醇、正丙醇、正丁醇、仲丁醇、异丁醇中的一种或多种。所述不良溶剂为水、正己烷、环己烷、正戊烷、正庚烷、乙醚、异丙醚、乙二醇二甲醚、甲基叔丁基醚中的一种或多种。
在一些实施方式中,所述混合溶剂中的良溶剂为甲醇、乙醇、三氟乙醇、异丙醇、正丙醇、正丁醇、仲丁醇、异丁醇中的一种,不良溶剂为水。
在一些实施方式中,所述混合溶剂中良溶剂为正丙醇,不良溶剂为水、正己烷、环己烷、正戊烷、正庚烷、乙醚、异丙醚、乙二醇二甲醚、甲基叔丁基醚中的一种或多种。
在一些实施方式中,所述混合溶剂中良溶剂为正丙醇,不良溶剂为水。
在一些实施方式中,所述混合溶剂中良溶剂为正丁醇,不良溶剂为水、正己烷、环己烷、正戊烷、正庚烷、乙醚、异丙醚、乙二醇二甲醚、甲基叔丁基醚中的一种或多种。
在一些实施方式中,所述混合溶剂中良溶剂为正丁醇,不良溶剂为水。
在一些实施方式中,所述混合溶剂中良溶剂为仲丁醇,不良溶剂为水、正己烷、环己烷、正戊烷、正庚烷、乙醚、异丙醚、乙二醇二甲醚、甲基叔丁基醚中的一种或多种。
在一些实施方式中,所述混合溶剂中良溶剂为仲丁醇,不良溶剂为水。
在一些实施方式中,所述混合溶剂中良溶剂与不良溶剂体积比为1:1~10:1。
在一些实施方式中,所述混合溶剂中良溶剂与不良溶剂体积比为4:1。
在一些实施方式中,所述良溶剂为乙醇,所述不良溶剂为水、正己烷、环己烷、正戊烷、正庚烷、乙醚、异丙醚、乙二醇二甲醚、甲基叔丁基醚中的一种或多种。
在一些实施方式中,所述良溶剂为乙醇,所述不良溶剂为水。
在一些实施方式中,所述良溶剂为乙醇,所述不良溶剂为异丙醚。
在一些实施方式中,所述良溶剂为乙醇,所述不良溶剂为正庚烷。
在一些实施方式中,所述低温的不良溶剂所处温度为约-10℃~25℃。
在一些实施方式中,所述低温的不良溶剂所处温度为约-5℃~5℃。
在一些实施方式中,所述低温的不良溶剂所处温度为约5℃。
另一种制备阿普斯特无定形的方法包括:将阿普斯特粗品加入良溶剂中,升温回流,待溶清后迅速降温至-10℃~25℃或者转入温度处于-10℃~25℃的良溶剂中,过滤,得阿普斯特无定型产品。所述良溶剂为甲醇、乙醇、三氟乙醇、异丙醇、正丙醇、正丁醇、仲丁醇、异丁醇中的一种或多种。
在一些实施方式中,所述良溶剂为甲醇、乙醇、三氟乙醇、异丙醇中的一种。在一些实施方式中,所述良溶剂为乙醇。
在一些实施方式中,所述固体溶清后降温至约0℃~10℃。在一些实施方式中,所述固体溶清后降温至约5℃。
在一些实施方式中,所述良溶剂所处温度为约0℃~10℃。在一些实施方式中,所述良溶剂所处温度为约5℃。
附图说明
图1示阿普斯特无定形的X-射线粉末衍射图。
图2示阿普斯特无定形的差示扫描热曲线(DSC)。
图3示阿普斯特无定形的热重分析图(TGA)
具体实施方式
为了使本领域的技术人员更好地理解本发明的技术方案,下面进一步披露一些非限制实施例对本发明作进一步的详细说明。
本发明所使用的试剂均可以从市场上购得或者可以通过本发明所描述的方法制备而得。
本发明中,g表示克,mL表示毫升,L表示升,h表示小时。
仪器参数
除非参数中另行规定,以下所有分析都在室温下进行。
X-射线粉末衍射(XRPD)
在装配有自动化3*15零背景样品架的透射反射样品台的荷兰PANalytical Empyrean X-射线衍射仪上收集X-射线粉末衍射(XRPD)图案。所用辐射源为(Cu,kα,1.540598;1.544426;Kα2/Kα1强度比例:0.50),其中电压设定在45KV,电流设定在40mA.X-射线的束发散度,即样品上X-射线约束的有效尺寸,为10mm.采用θ-θ连续扫描模式,得到3°~40°的有效2θ范围。取适量样品在环境条件(约18℃~32℃)下于零背景样品架圆形凹槽处,用洁净的载玻片轻压,得到一个平整的平面,并将零背景样品架固定。将样品以0.0168°的扫描步长在3~40°2θ±0.2°范围内产生传统的XRPD图案。用于数据收集的软件为Data Collector,数据用Data Viewer和HighScore Plus分析和展示。
差示扫描量热法(DSC)
DSC测量在TA InstrumentsTM型号Q2000中用密封盘装置进行。将样品(约1~3mg)在铝盘中称量,用Tzero压盖,精密记录到百分之一毫克,并将样品转移至仪器中进行测量。仪器用氮气以50mL/min吹扫。在室温到200℃之间以10℃/min的加热速率收集数据。以吸热峰向下进行绘图,数据用TAUniversal Analysis分析和展示。
热重分析法(TGA)
在TA Instruments Q500上采集TGA数据。使用认证的镍校准仪器的温度。通常将8-12mg样品加载到预称重的铂金坩埚上,并以10℃/min从室温加热至300℃。在样品上方保持60mL/min的氮气清扫。在TGA图中,横坐标表示温度(Temperature,℃),纵坐标表示失重的百分含量(Weight(%))。
实施例1
称取0.5g阿普斯特粗品加入10mL乙醇中,升温回流后,反滴至控温至5℃的2.5mL纯水中,搅拌2h后,过滤得阿普斯特无定型产品。经检测,其X射线粉末衍射图谱与图1基本一致,其DSC、TGA图谱与图2、图3基本一致。
实施例2
称取0.5g阿普斯特粗品加入10mL乙醇中,升温回流后,反滴至控温至5℃的2.5mL异丙醚中,搅拌2h后,过滤得阿普斯特无定型产品。经检测,其X射线粉末衍射图谱与图1基本一致,其DSC、TGA图谱与图2、图3基本一致。
实施例3
称取0.5g阿普斯特粗品加入10mL乙醇中,升温回流后,反滴至控温至5℃的2.5mL正庚烷中,搅拌2h后,过滤得阿普斯特无定型产品。经检测,其X射线粉末衍射图谱与图1基本一致,其DSC、TGA图谱与图2、图3基本一致。
实施例4
称取0.5g阿普斯特粗品加入6mL正丙醇和1.5mL纯水中,升温回流后反滴入控温至5℃的2.5mL纯水中,搅拌2h后,过滤得无定型产品。经检测,其X射线粉末衍射图谱与图1基本一致,其DSC、TGA图谱与图2、图3基本一致。
实施例5
称取0.5g阿普斯特粗品加入6mL正丁醇和1.5mL纯水中,升温回流后反滴入控温至5℃的2.5mL纯水中,搅拌2h后,过滤得无定型产品。经检测,其X射线粉末衍射图谱与图1基本一致,其DSC、TGA图谱与图2、图3基本一致。
实施例6
称取0.5g阿普斯特粗品加入6mL仲丁醇和1.5mL纯水中,升温回流后反滴入控温至5℃的2.5mL纯水中,搅拌2h后,过滤得无定型产品。经检测,其X射线粉末衍射图谱与图1基本一致,其DSC、TGA图谱与图2、图3基本一致。
实施例7
称取0.5g阿普斯特粗品加入6mL乙醇和1.5mL纯水中,升温回流后,迅速降温至5℃,搅拌2h后,过滤得无定型产品。经检测,其X射线粉末衍射图谱与图1基本一致,其DSC、TGA图谱与图2、图3基本一致。
实施例8
称取0.5g阿普斯特粗品加入10mL乙醇中,升温回流后,迅速降温至5℃,搅拌2h后,过滤得无定型产品。经检测,其X射线粉末衍射图谱与图1基本一致,其DSC、TGA图谱与图2、图3基本一致。
实施例9
称取0.5g阿普斯特粗品加入10mL乙醇中,升温回流后,反滴入控温至5℃的2.5mL乙醇中,搅拌2h后,过滤得无定型产品。经检测,其X射线粉末衍射图谱与图1基本一致,其DSC、TGA图谱与图2、图3基本一致。
本发明的方法已经通过较佳实施例进行了描述,相关人员明显能在本发明内容、精神和范围内对本文所述的方法和应用进行改动或适当变更与组合,来实现和应用本发明技术。本领域技术人员可以借鉴本文内容,适当改进工艺参数实现。特别需要指出的是,所有类似的替换和改动对本领域技术人员来说是显而易见的,它们都被视为包括在本发明内。
Claims (12)
1.一种制备阿普斯特无定形的方法,包括:
a)将阿普斯特粗品加入良溶剂和不良溶剂组成的混合溶剂中,升温回流;
b)待固体溶清后迅速降温;
c)过滤,干燥即得阿普斯特无定型产品;
其中,所述良溶剂为甲醇、乙醇、三氟乙醇、正丙醇、正丁醇、仲丁醇、异丁醇中的一种或多种;所述不良溶剂为水、正己烷、环己烷、正戊烷、正庚烷、乙醚、异丙醚、乙二醇二甲醚、甲基叔丁基醚中的一种或多种。
2.根据权利要求1所述的方法,其中,所述混合溶剂中的良溶剂为乙醇、异丙醇、三氟乙醇、正丙醇、正丁醇、仲丁醇、异丁醇中的一种或多种,不良溶剂为水。
3.根据权利要求1所述的方法,其中,所述混合溶剂中的良溶剂为乙醇,不良溶剂为水、正己烷、环己烷、正戊烷、正庚烷、乙醚、异丙醚、乙二醇二甲醚、甲基叔丁基醚中的一种或多种。
4.根据权利要求1所述的方法,其中,所述混合溶剂中的良溶剂为乙醇或正丙醇,不良溶剂为水。
5.根据权利要求1所述的方法,其中,所述固体溶清后降温至约-10℃~25℃。
6.一种制备阿普斯特无定形的方法,包括:
a)将阿普斯特粗品加入良溶剂或良溶剂和不良溶剂组成的混合溶剂中,升温回流;
b)待溶清后转入温度处于-10℃~25℃的不良溶剂中;
c)过滤,得阿普斯特无定型产品;
其中,所述良溶剂为甲醇、乙醇、三氟乙醇、异丙醇、正丙醇、正丁醇、仲丁醇、异丁醇中的一种或多种;所述不良溶剂为水、正己烷、环己烷、正戊烷、正庚烷、乙醚、异丙醚、乙二醇二甲醚、甲基叔丁基醚中的一种或多种。
7.根据权利6所述的方法,其中,所述不良溶剂为水。
8.根据权利6所述的方法,其中,所述良溶剂为乙醇、正丙醇、正丁醇或仲丁醇。
9.根据权利6所述的方法,其中,所述良溶剂为正丙醇、正丁醇或仲丁醇,不良溶剂为水。
10.根据权利6所述的方法,其中,所述良溶剂为乙醇,所述不良溶剂为水、异丙醚或正庚烷。
11.一种制备阿普斯特无定形的方法,包括:
a)将阿普斯特粗品加入良溶剂中,升温回流;
b)待溶清后迅速降温至-10℃~25℃或转入温度处于-10℃~25℃的良溶剂中;
c)过滤,得阿普斯特无定型产品;
其中,所述良溶剂为甲醇、乙醇、三氟乙醇、异丙醇、正丙醇、正丁醇、仲丁醇、异丁醇中的一种或多种。
12.根据权利要求11所述的方法,其中,所述良溶剂为乙醇。
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PB01 | Publication | ||
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SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
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RJ01 | Rejection of invention patent application after publication |
Application publication date: 20170912 |
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