CN107145416A - 一种支持ocp接口的pcie信号测试方法及测试治具系统 - Google Patents

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Abstract

本发明提出一种支持OCP接口的PCIE信号测试方法及测试治具系统，测试治具上包含OCP PCIE接口，方便测试治具与被测设备的连接，在测试治具上将PCIE及Clock信号以SMP接口的方式引出，方便测试治具通过SMA‑SMP线缆与示波器的连接，操作简便；测试治具与示波器连接紧密、牢固，测试精度高。

Description

一种支持OCP接口的PCIE信号测试方法及测试治具系统
技术领域
本发明涉及计算机测试的技术领域，具体涉及到一种支持OCP接口的PCIE信号测试方法及测试治具系统。
背景技术
OCP全称Open Compute Project，是Facebook主导的开源项目，它重新设计硬件，使其更高效、灵活和可扩展。PCIE作为OCP设计中重要的IO接口，其信号完整性测试必不可少。在OCP设计中，PCIE接口进行了重新定义，封装比传统的标准PCIE更小，对信号完整性测试的挑战更大，用探头直接在接口上点测非常难以实现，且测试精度无法得到保障。
因此，在本领域亟需解决上述问题，本发明提出一种支持OCP接口的PCIE信号测试方法及测试治具系统。
发明内容
基于现有技术的上述问题，本发明提出了一种支持OCP接口的PCIE信号测试方法及测试治具系统，其主要思想是：测试治具上包含OCP PCIE接口，方便测试治具与被测设备的连接，在测试治具上将PCIE及Clock信号以SMP接口的方式引出，方便测试治具通过SMA-SMP线缆与示波器的连接。
本发明提供如下技术方案：
一方面，本发明提供一种支持OCP接口的PCIE信号测试方法，包括：
测试治具与被测设备连接，所述测试治具将PCIE信号及Clock信号以SMP接口方式引出，所述测试治具通过SMA-SMP线缆与示波器连接，开始测试。
其中，所述测试治具包括PCIE TX信号接口。
其中，所述测试治具包括OCP PCIE接口，测试治具通过所述OCP PCIE接口与被测设备连接。
其中，将PCIE信号及Clock信号以SMP接口方式引出，在信号传输路径上仅包括连接器。
其中，所述测试治具与示波器连接紧密牢固。
另外，本发明还提供一种支持OCP接口的PCIE信号测试治具系统，所述测试治具系统包括：
测试治具，被测设备以及示波器；测试治具与被测设备连接，所述测试治具将PCIE信号及Clock信号以SMP接口方式引出，所述测试治具通过SMA-SMP线缆与示波器连接。
其中，所述测试治具包括PCIE TX信号接口。
其中，所述测试治具包括OCP PCIE接口，测试治具通过所述OCP PCIE接口与被测设备连接。
其中，将PCIE信号及Clock信号以SMP接口方式引出，在信号传输路径上仅包括连接器。
其中，所述测试治具与示波器连接紧密牢固。
本发明提出一种支持OCP接口的PCIE信号测试方法及测试治具系统，测试治具上包含OCP PCIE接口，方便测试治具与被测设备的连接，在测试治具上将PCIE及Clock信号以SMP接口的方式引出，方便测试治具通过SMA-SMP线缆与示波器的连接，操作简便；测试治具与示波器连接紧密、牢固，测试精度高。
附图说明
图1是本发明的测试治具俯视图；
图2是本发明的测试治具仰视图；
具体实施方式
为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图。
一方面，本发明提供一种支持OCP接口的PCIE信号测试方法，测试治具俯视图和仰视图分别如附图1、2所示，包括：
测试治具与被测设备连接，所述测试治具将PCIE信号及Clock信号以SMP接口方式引出，所述测试治具通过SMA-SMP线缆与示波器连接，开始测试。
附图1为测试治具俯视图，包括一对CLK信号接口，8对PCIE TX信号接口，图中的圆形表示SMP接口，这些接口的目的是方便测试治具通过SMA-SMP线缆与示波器的连接。附图2为测试治具的仰视图，包含一个OCP PCIE接口，此接口的目的是方便测试治具与被测设备的连接。
根据图1所示，设计测试治具的原理图，本发明的原理是将OCP接口的PCIE及Clock信号以SMP接口的形式引出来，在信号传输路径上除了连接器不需要加其他任何器件，以保证引出信号的真实性；测试治具与示波器连接紧密、牢固，测试精度高。
本发明中提到治具的用途是用来测试，那么首先要保证信号在治具上传输不会对信号产生影响。为实现此目的，我们要从板材、走线宽度、走线距离、阻抗要求等方面进行严格的仿真，从而制定出合理的布线规则；
Layout布线设计：按照仿真给出的布线规则进行布线设计；
打板：Layout布线设计完成后进行打板；
测试验证：打板完成后进行阻抗、Loss等测试，确保治具满足设计要求；
实际应用：将测试治具通过OCP PCIE接口与被测设备连接，通过SMA-SMP线缆与示波器连接，连接完成后开展测试。
本发明提出一种支持OCP接口的PCIE信号测试方法，测试治具上包含OCP PCIE接口，方便测试治具与被测设备的连接，在测试治具上将PCIE及Clock信号以SMP接口的方式引出，方便测试治具通过SMA-SMP线缆与示波器的连接，操作简便；测试治具与示波器连接紧密、牢固，测试精度高。
另外，本发明还提供一种支持OCP接口的PCIE信号测试治具系统，测试治具俯视图和仰视图分别如附图1、2所示，所述测试治具系统包括：
测试治具，被测设备以及示波器；测试治具与被测设备连接，所述测试治具将PCIE信号及Clock信号以SMP接口方式引出，所述测试治具通过SMA-SMP线缆与示波器连接。
附图1为测试治具俯视图，包括一对CLK信号接口，8对PCIE TX信号接口，图中的圆形表示SMP接口，这些接口的目的是方便测试治具通过SMA-SMP线缆与示波器的连接。附图2为测试治具的仰视图，包含一个OCP PCIE接口，此接口的目的是方便测试治具与被测设备的连接。
根据图1所示，设计测试治具的原理图，本发明的原理是将OCP接口的PCIE及Clock信号以SMP接口的形式引出来，在信号传输路径上除了连接器不需要加其他任何器件，以保证引出信号的真实性；测试治具与示波器连接紧密、牢固，测试精度高。
本发明中提到治具的用途是用来测试，那么首先要保证信号在治具上传输不会对信号产生影响。为实现此目的，我们要从板材、走线宽度、走线距离、阻抗要求等方面进行严格的仿真，从而制定出合理的布线规则；
Layout布线设计：按照仿真给出的布线规则进行布线设计；
打板：Layout布线设计完成后进行打板；
测试验证：打板完成后进行阻抗、Loss等测试，确保治具满足设计要求；
实际应用：将测试治具通过OCP PCIE接口与被测设备连接，通过SMA-SMP线缆与示波器连接，连接完成后开展测试。
本发明提出一种支持OCP接口的PCIE信号测试治具系统，测试治具上包含OCPPCIE接口，方便测试治具与被测设备的连接，在测试治具上将PCIE及Clock信号以SMP接口的方式引出，方便测试治具通过SMA-SMP线缆与示波器的连接，操作简便；测试治具与示波器连接紧密、牢固，测试精度高。
对所公开的实施例的上述说明，使本领域技术人员能够实现或使用本发明。对这些实施例的多种修改对本领域技术人员来说将是显而易见的，本文中所定义的一般原理可以在不脱离本发明的精神或范围的情况下，在其他实施例中实现。因此，本发明将不会被限制于本文所示的这些实施例，而是符合与本文所公开的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。

Claims (10)

1.一种支持OCP接口的PCIE信号测试方法，其特征在于：
测试治具与被测设备连接，所述测试治具将PCIE信号及Clock信号以SMP接口方式引出，所述测试治具通过SMA-SMP线缆与示波器连接，开始测试。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于：所述测试治具包括PCIE TX信号接口。
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于：所述测试治具包括OCP PCIE接口，测试治具通过所述OCP PCIE接口与被测设备连接。
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于：将PCIE信号及Clock信号以SMP接口方式引出，在信号传输路径上仅包括连接器。
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于：所述测试治具与示波器连接紧密牢固。
6.一种支持OCP接口的PCIE信号测试治具系统，其特征在于：所述测试治具系统包括：测试治具，被测设备以及示波器；测试治具与被测设备连接，所述测试治具将PCIE信号及Clock信号以SMP接口方式引出，所述测试治具通过SMA-SMP线缆与示波器连接。
7.根据权利要求6所述的系统，其特征在于：所述测试治具包括PCIE TX信号接口。
8.根据权利要求6所述的系统，其特征在于：步骤102的提示步骤具体为：所述测试治具包括OCP PCIE接口，测试治具通过所述OCP PCIE接口与被测设备连接。
9.根据权利要求6所述的系统，其特征在于：将PCIE信号及Clock信号以SMP接口方式引出，在信号传输路径上仅包括连接器。
10.根据权利要求6所述的系统，其特征在于：所述测试治具与示波器连接紧密牢固。
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