CN107101756A - 一种测量工件内部残余应力的方法 - Google Patents

一种测量工件内部残余应力的方法 Download PDF

Info

Publication number
CN107101756A
CN107101756A CN201710284191.2A CN201710284191A CN107101756A CN 107101756 A CN107101756 A CN 107101756A CN 201710284191 A CN201710284191 A CN 201710284191A CN 107101756 A CN107101756 A CN 107101756A
Authority
CN
China
Prior art keywords
stress
measurement
hole
stress value
value
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CN201710284191.2A
Other languages
English (en)
Other versions
CN107101756B (zh
Inventor
孙剑飞
王子标
王天明
陈五
陈五一
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Beihang University
Original Assignee
Beihang University
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Beihang University filed Critical Beihang University
Priority to CN201710284191.2A priority Critical patent/CN107101756B/zh
Publication of CN107101756A publication Critical patent/CN107101756A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN107101756B publication Critical patent/CN107101756B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01LMEASURING FORCE, STRESS, TORQUE, WORK, MECHANICAL POWER, MECHANICAL EFFICIENCY, OR FLUID PRESSURE
    • G01L1/00Measuring force or stress, in general
    • G01L1/24Measuring force or stress, in general by measuring variations of optical properties of material when it is stressed, e.g. by photoelastic stress analysis using infrared, visible light, ultraviolet

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Investigating Strength Of Materials By Application Of Mechanical Stress (AREA)

Abstract

本发明提供一种测量工件内部残余应力的方法,该方法包括:把测量工件沿深度方向切出一个斜面;沿所述斜面的法向方向打应力测量孔;采用激光干涉应力仪获取所述应力测量孔中的测量残余应力值;根据所述测量残余应力值,利用残余应力修正公式获得实际残余应力值;将所述实际残余应力值进行坐标转换获得初始残余应力值。本发明提供的测量工件内部残余应力的方法,效率高,测量快、结果精确。

Description

一种测量工件内部残余应力的方法
技术领域
本发明涉及应力测量技术领域,更具体地,涉及一种测量工件内部残余应力的方法。
背景技术
残余应力是指物体在不受外力作用状态下或所受外力卸载后,物体内部存在的保持自相平衡的应力系统。残余应力的存在严重影响了工件的疲劳强度、静力强度及抗腐蚀性能,使工件在制造时产生变形和开裂等工艺缺陷,进而影响零件的使用寿命;残余应力还是影响零件几何尺寸稳定性的主要因素;因此,有效地测量工件的残余应力具有重大意义。
残余应力的测量方法分为无损测量和有损测量。其中,无损测量包括X射线法、X射线衍射法、中子衍射法、扫描电镜声显微镜法、电子散斑干涉法、超声法和磁性法;有损测量包括钻孔法、环芯法、分割切条法、裂纹柔度法和剥层曲率半径法。
其中,钻孔法、环芯法、分割切条法、X射线法、X射线衍射法和电子散斑干涉法,只能测量一层的残余应力,只有与剥层法结合才能测量内部的残余应力。而传统的剥层法耗时很大,每测量一次便要去除一层材料,重新贴一次应变花,而且每一次贴片都会有人为随机误差,工件越大耗时越多。裂纹柔度法、中子衍射法和超声法可以检测内部残余应力分布,但超声法测量精度低,中子衍射设备昂贵且成本太高,裂纹柔度法作为一种新型的测量方法,有很大的前景但是其依然采用贴应变片法测量,会引起较大的人为误差。
发明内容
为了至少部分地克服现有技术中存在的上述问题,本发明提供一种测量工件内部残余应力的方法。
根据本发明的一个方面,提供一种测量工件内部残余应力的方法,包括:把测量工件沿深度方向切出一个斜面;沿所述斜面的法向方向打应力测量孔;采用激光干涉应力仪获取所述应力测量孔中的测量残余应力值;根据所述测量残余应力值,利用残余应力修正公式获得实际残余应力值;将所述实际残余应力值进行坐标转换获得初始残余应力值。
其中,所述方法还包括:在所述测量工件的上表面打竖直应力测量孔。
其中,在所述测量工件的上表面打竖直应力测量孔之后,采用激光干涉应力仪获取所述竖直应力测量孔中的初始残余应力值。
其中,所述沿所述斜面的法向方向打应力测量孔包括:采用直径为D的刀具在所述斜面的法向方向打应力测量孔,其中,所述应力测量孔的深度为0.6D。
其中,所述方法还包括:所述应力测量孔为多个,各个孔之间在与所述斜面平行方向上的距离至少为4D。
其中,所述方法还包括:所述应力测量孔在所述斜面上成直线排列或者折线形排列。
其中,所述采用激光干涉应力仪获取所述应力测量孔中的测量残余应力值包括:建立空间坐标系;其中,X轴、Y轴在所述斜面上,Z轴垂直向上,X轴、Y轴、Z轴满足右手法则;其中,所述应力测量孔包括多个,每个所述应力测量孔具有相同的深度;采用激光干涉应力仪获取所述应力测量孔中的X轴、Y轴方向的测量残余应力值。
其中,所述采用激光干涉应力仪获取所述应力测量孔中的测量残余应力值还包括:获取所述应力测量孔在X轴方向的投影;通过激光干涉应力仪在所述投影的位置获取Z轴方向的实际残余应力值。
其中,所述采用激光干涉应力仪获取所述应力测量孔中的测量残余应力值之后,根据所述测量残余应力值,利用残余应力修正公式获得实际残余应力值包括:获取所述应力测量孔的上面材料去除厚度和剩余材料厚度;获取去除材料时对剩余材料产生的在所述应力测量孔的X轴、Y轴方向的作用力和去除材料时对剩余材料产生的在所述应力测量孔的X轴、Y轴方向的弯矩;获取所述应力测量孔在X轴、Y轴方向的作用力产生的应力值和所述应力测量孔在X轴、Y轴方向的弯矩产生的弯曲应力值;获取所述应力测量孔在X轴、Y轴方向的总的应力值,其中,所述应力测量孔在X轴方向的总的应力值等于所述应力测量孔在X轴方向的应力值和所述应力测量孔在X轴方向的弯曲应力值之和,所述应力测量孔在Y轴方向的总的应力值等于所述应力测量孔在Y轴方向的应力值和所述应力测量孔在Y轴方向的弯曲应力值之和;获取所述应力测量孔在X轴、Y轴方向的实际残余应力值,其中,所述应力测量孔在X轴方向的实际残余应力值等于所述应力测量孔在X轴方向的测量残余应力值和所述应力测量孔在X轴方向的总的应力值之差,所述应力测量孔在Y轴方向的实际残余应力值等于所述应力测量孔在Y轴方向的测量残余应力值和所述应力测量孔在Y轴方向的总的应力值之差。
其中,所述获得实际残余应力值之后,将所述实际残余应力值进行坐标转换获得初始残余应力值包括:把X轴、Y轴、Z轴方向的实际残余应力值进行坐标转换获得所述初始残余应力值。
综上,本发明提供的一种测量工件内部残余应力的方法,把测量工件沿深度方向切出一个斜面;沿斜面的法向方向打应力测量孔;采用激光干涉应力仪获取应力测量孔中的测量残余应力值;根据测量残余应力值,利用残余应力修正公式获得实际残余应力值;将实际残余应力值进行坐标转换获得初始残余应力值。本发明提供的测量工件内部残余应力的方法,效率高,测量快、结果精确。
附图说明
图1为本发明实施例提供的一种测量工件内部残余应力的方法流程图;
图2为本发明实施例提供的一种测量工件内部残余应力的方法中测量点成直线排布方式示意图和折线型排布方式示意图;
图3为本发明实施例提供的一种测量工件内部残余应力的方法第j个测量点沿深度测量m层示意图;
图4为本发明实施例提供的一种测量工件内部残余应力的方法中获得实际残余应力值的方法流程图;
图5为本发明实施例提供的一种测量工件内部残余应力的方法中坐标系的转换示意图。
具体实施方式
为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚地描述,显然,所描述的实施例是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
在本发明的一个实施例中,参考图1,一种测量工件内部残余应力方法,包括:
S101,把测量工件沿深度方向切出一个斜面;
S102,沿所述斜面的法向方向打应力测量孔;
其中,由于激光干涉应力仪的理想测量表面为平面,并且根据残余应力边缘释放原理,应使得测量位置周围保证留有至少5倍刀具直径的面积,且测量表面的法向与刀具轴向重合,因此沿斜面的法向方向,采用刀具打孔。
S103,采用激光干涉应力仪获取所述应力测量孔中的测量残余应力值;
其中,激光干涉法利用激光干涉代替贴应变片法,并且其每两个像素点便能看作是一个应变片,则测量时所采集的是成千上万个应变片数值,利用算法求其平均值以避免测量误差,能够很好的防止人为贴片所引起的粗大误差,由于像素点代替应变片,就能减小测量残余应力所需的工件表面积,从而增大了其适用范围。
S104,根据所述测量残余应力值,利用残余应力修正公式获得实际残余应力值;
其中,由于经过加工的工件其内部自平衡的初始残余应力得到破坏,需要重新分布以达到新的平衡,因此所测量残余应力为重分布的。为得到初始的残余应力。需要对测量值进行修正。这与传统的修正法不同,原先的剥层法为去除一层释放一次,且每一层的去除量相同。而斜坡法是一次性去除材料然后释放,且去除形状为一个斜楔形,如果还看作一层层的话,每一层的材料去除体积沿深度方向为递减的过程。
S105,将所述实际残余应力值进行坐标转换获得初始残余应力值。
其中,斜坡上所测量残余应力的X、Y、Z方向与原始工件的X、Y、Z方向存在一个旋转角,即斜坡的倾斜角度。
具体地,把测量工件沿深度方向切出一个斜面;沿斜面的法向方向,采用刀具打应力测量孔;采用激光干涉应力仪获取应力测量孔中的测量残余应力值;根据测量残余应力值,利用残余应力修正公式获得实际残余应力值;将实际残余应力值进行坐标转换获得初始残余应力值。
本实施例提供了一种测量工件内部残余应力的方法,该方法通过把测量工件沿深度方向切出一个斜面;沿斜面的法向方向,采用刀具打应力测量孔;采用激光干涉应力仪获取应力测量孔中的测量残余应力值;根据测量残余应力值,利用残余应力修正公式获得实际残余应力值;将实际残余应力值进行坐标转换获得初始残余应力值。本发明实施例提供的测量工件内部残余应力方法,效率高,测量快、结果精确。
在本发明的另一个实施例中,在上述实施例的基础上,所述方法还包括:
在所述测量工件的上表面打竖直应力测量孔。
其中,工件的上表面可以防止残余应力边缘释放,并且工件上表面的残余应力更容易获得。
具体地,在工件的上表面采用刀具打竖直应力测量孔。优选地,根据残余应力测试仪的测试标准,采用直径为3.2mm的刀具在梯形上表面打竖直应力测量孔,则一个测试点最大深度为0.6倍的孔径即2mm。
在本发明的再一个实施例中,在上述实施例的基础上,在所述测量工件的上表面打竖直应力测量孔之后,采用激光干涉应力仪获取所述竖直应力测量孔中的初始残余应力值。
其中,在所述工件的上表面的孔的所有测量值都是初始残余应力值。
具体地,采用激光干涉应力仪获取工件的上表面的竖直应力测量孔中的X轴、Y轴、Z轴三个方向上的初始残余应力值。
在本发明又一个实施例中,在上述实施例的基础上,所述沿所述斜面的法向方向打应力测量孔包括:
采用直径为D的刀具在所述斜面的法向方向打应力测量孔,其中,所述应力测量孔的深度为0.6D。
具体地,采用直径为D的刀具在工件的斜面的法向方向获取深度为0.6D的孔。
在本发明又一个实施例中,在上述实施例的基础上,所述方法还包括:所述应力测量孔为多个,各个孔之间在与所述斜面平行方向上的距离至少为4D。
其中,为了保证能够测量工件中所有深度的残余应力,必须保证孔与孔之间在斜面平行方向上的距离至少为4D。
具体地,采用直径为D的刀具在梯形的斜面的法向方向获取的孔与孔之间在斜面平行方向上的距离至少为4D。
优选地,根据残余应力测试仪的测试标准,采用直径为3.2mm的刀具在工件斜面上打应力测量孔,斜面上测试点的布置需要满足测试点之间的距离至少为孔径的4倍即12.8mm。
在本发明又一个实施例中,参考图2,在上述实施例的基础上,所述方法还包括:
所述应力测量孔在所述斜面上成直线排列或者折线形排列。
其中,首先利用激光干涉仪测量工件上下表面各个位置的残余应力分布是否均匀,如果同一表面残余应力值十分相近,则可以选择折线形排布。
具体地,根据激光干涉仪孔在工件上下表面各个位置的残余应力测量结果,在工件的斜面的法向方向上把孔1、孔2、孔3……孔n设置成直线排列或者在工件的斜面的法向方向上把孔1、孔2、孔3…….孔n设置成折线形排列。
本实施例提供了一种测量工件内部残余应力方法,选择折线型排布可以有效的扩大测量点之间间距,减小在工件斜面上打孔时应力释放所引起的相互干涉,同时可以减少斜面所需的最小尺寸。
在本发明又一个实施例中,参考图3,在上述实施例的基础上,所述采用激光干涉应力仪获取所述应力测量孔中的测量残余应力值包括:
建立空间坐标系;其中,X轴、Y轴在所述斜面上,Z轴垂直向上,X轴、Y轴、Z轴满足右手法则;其中,所述应力测量孔包括多个,每个所述应力测量孔具有相同的深度;采用激光干涉应力仪获取所述应力测量孔中的X轴、Y轴方向的测量残余应力值。
具体地,首先在斜面上建立空间坐标系,其中,X轴、Y轴在斜面上,Z轴垂直向上,X轴、Y轴、Z轴满足右手法则;应力测量孔包括多个,每个应力测量孔具有相同的深度;采用激光干涉应力仪获取应力测量孔中的X轴、Y轴方向的测量残余应力值。
本实施例提供了一种测量工件内部残余应力的方法,采用激光干涉应力仪获取应力测量孔中的X轴、Y轴方向的测量残余应力值,可以测量出工件中所有深度的残余应力。
在本发明又一个实施例中,在上述实施例的基础上,所述采用激光干涉应力仪获取所述应力测量孔中的测量残余应力值还包括:获取所述应力测量孔在X轴方向的投影;通过激光干涉应力仪在所述投影的位置获取Z轴方向的实际残余应力值。
具体地,获取应力测量孔在X轴方向的投影;通过激光干涉应力仪在投影的位置获取Z轴方向的实际残余应力值。
在本发明又一个实施例中,参考图4,在上述实施例的基础上,所述采用激光干涉应力仪获取所述应力测量孔中的测量残余应力值之后,根据所述测量残余应力值,利用残余应力修正公式获得实际残余应力值包括:
S401,获取所述应力测量孔的上面材料去除厚度和剩余材料厚度;
S402,获取去除材料时对剩余材料产生的在所述应力测量孔的X轴、Y轴方向的作用力和去除材料时对剩余材料产生的在所述应力测量孔的X轴、Y轴方向的弯矩;
S403,获取所述应力测量孔在X轴、Y轴方向的作用力产生的应力值和所述应力测量孔在X轴、Y轴方向的弯矩产生的弯曲应力值;
S404,获取所述应力测量孔在X轴、Y轴方向的总的应力值,其中,所述应力测量孔在X轴方向的总的应力值等于所述应力测量孔在X轴方向的应力值和所述应力测量孔在X轴方向的弯曲应力值之和,所述应力测量孔在Y轴方向的总的应力值等于所述应力测量孔在Y轴方向的应力值和所述应力测量孔在Y轴方向的弯曲应力值之和;
S405,获取所述应力测量孔在X轴、Y轴方向的实际残余应力值,其中,所述应力测量孔在X轴方向的实际残余应力值等于所述应力测量孔在X轴方向的测量残余应力值和所述应力测量孔在X轴方向的总的应力值之差,所述应力测量孔在Y轴方向的实际残余应力值等于所述应力测量孔在Y轴方向的测量残余应力值和所述应力测量孔在Y轴方向的总的应力值之差。
优选地,共有n个孔,每个孔分m层,有m个测量点。以第j个孔的第i个点为例:
测量点深度:(j-1)×h+i×Δh,其中Δh为每一个测量点所在层材料厚度;
该点上方材料去除厚度:(j-1)×h-i×Δh×tan2α,其中,α为斜面的倾斜角;
剩余材料厚度:H-(j-1)×h+i×Δh×tan2α,其中,H为梯形的高度;
去除材料时对余下材料所产生的作用力:
其中σT(j-1)-m为第j-1个孔第m个测量点实际应力值;
去除材料时对余下材料所产生的弯矩:
作用力Fj,i产生的应力:
弯矩Mj,i所产生的弯曲应力:其中:
第j个孔第i个测量点所受到总的应力值σj,i=σFj,iMj,i
第j个孔第i个测量点的实际残余应力值σTj-i=σj-ij,i
上式中,σj-i为第j个孔第i个测量点的测量应力值。
其中,通过上述公式分别计算出第i个点在X轴、Y轴方向上的实际残余应力值。
在本发明又一个实施例中,参考图5,在上述实施例的基础上,所述获得实际残余应力值之后,将所述实际残余应力值进行坐标转换获得初始残余应力值包括:
把X轴、Y轴、Z轴方向的实际残余应力值进行坐标转换获得所述初始残余应力值。
优选地,斜面坐标系为OX0Y1Z1,平面坐标系为OX0Y0Z0,平面坐标系绕X0轴旋转α角即可得到斜面坐标系。其中,α角的大小为斜面的倾斜角。设初始残余应力值为(X0,Y0,Z0)T,其中,斜面坐标系中实际残余应力值为(X1,Y1,Z1)T
其中,旋转矩阵为:
(X0,Y0,Z0)T=R×(X1,Y1,Z1)T
X0=X1
Y0=Y1cosα-Z1sinα
Z0=Y1sinα+Z1cosα
由上式可以得到:
X0=X1
本发明提供了一种测量工件内部残余应力的方法,把测量工件沿深度方向切出一个斜面;沿斜面的法向方向,采用刀具打应力测量孔,采用激光干涉应力仪获取应力测量孔中的X轴、Y轴方向的测量残余应力值;获取应力测量孔在X轴方向的投影,通过激光干涉应力仪在投影的位置获取Z轴方向的实际残余应力值。根据X轴、Y轴方向的测量残余应力值,利用残余应力修正公式获得X轴、Y轴方向的实际残余应力值,将X轴、Y轴、Z轴方向的实际残余应力值进行坐标转换获得初始残余应力值。本发明实施例提供的测量工件内部残余应力方法,效率高,测量快、结果精确。
最后应说明的是:以上实施例仅用以说明本发明的技术方案,而非对其限制;尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明,本领域的普通技术人员应当理解:其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改,或者对其中部分技术特征进行等同替换;而这些修改或者替换,并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的精神和范围。

Claims (10)

1.一种测量工件内部残余应力的方法,其特征在于,包括:
把测量工件沿深度方向切出一个斜面;
沿所述斜面的法向方向打应力测量孔;
采用激光干涉应力仪获取所述应力测量孔中的测量残余应力值;
根据所述测量残余应力值,利用残余应力修正公式获得实际残余应力值;
将所述实际残余应力值进行坐标转换获得初始残余应力值。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:
在所述测量工件的上表面打竖直应力测量孔。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,在所述测量工件的上表面打竖直应力测量孔之后,采用激光干涉应力仪获取所述竖直应力测量孔中的初始残余应力值。
4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述沿所述斜面的法向方向打应力测量孔包括:
采用直径为D的刀具在所述斜面的法向方向打应力测量孔,其中,所述应力测量孔的深度为0.6D。
5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:所述应力测量孔为多个,各个孔之间在与所述斜面平行方向上的距离至少为4D。
6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:
所述应力测量孔在所述斜面上成直线排列或者折线形排列。
7.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述采用激光干涉应力仪获取所述应力测量孔中的测量残余应力值包括:
建立空间坐标系;其中,
X轴、Y轴在所述斜面上,Z轴垂直向上,X轴、Y轴、Z轴满足右手法则;其中,
所述应力测量孔包括多个,每个所述应力测量孔具有相同的深度;
采用激光干涉应力仪获取所述应力测量孔中的X轴、Y轴方向的测量残余应力值。
8.根据权利要求7所述的方法,其特征在于,所述采用激光干涉应力仪获取所述应力测量孔中的测量残余应力值还包括:
获取所述应力测量孔在X轴方向的投影;
通过激光干涉应力仪在所述投影的位置获取Z轴方向的实际残余应力值。
9.根据权利要求7所述的方法,其特征在于,所述采用激光干涉应力仪获取所述应力测量孔中的测量残余应力值之后,根据所述测量残余应力值,利用残余应力修正公式获得实际残余应力值包括:
获取所述应力测量孔的上面材料去除厚度和剩余材料厚度;
获取去除材料时对剩余材料产生的在所述应力测量孔的X轴、Y轴方向的作用力和去除材料时对剩余材料产生的在所述应力测量孔的X轴、Y轴方向的弯矩;
获取所述应力测量孔在X轴、Y轴方向的作用力产生的应力值和所述应力测量孔在X轴、Y轴方向的弯矩产生的弯曲应力值;
获取所述应力测量孔在X轴、Y轴方向的总的应力值,其中,所述应力测量孔在X轴方向的总的应力值等于所述应力测量孔在X轴方向的应力值和所述应力测量孔在X轴方向的弯曲应力值之和,所述应力测量孔在Y轴方向的总的应力值等于所述应力测量孔在Y轴方向的应力值和所述应力测量孔在Y轴方向的弯曲应力值之和;
获取所述应力测量孔在X轴、Y轴方向的实际残余应力值,其中,所述应力测量孔在X轴方向的实际残余应力值等于所述应力测量孔在X轴方向的测量残余应力值和所述应力测量孔在X轴方向的总的应力值之差,所述应力测量孔在Y轴方向的实际残余应力值等于所述应力测量孔在Y轴方向的测量残余应力值和所述应力测量孔在Y轴方向的总的应力值之差。
10.根据权利要求9所述的方法,其特征在于,所述获得实际残余应力值之后,将所述实际残余应力值进行坐标转换获得初始残余应力值包括:
把X轴、Y轴、Z轴方向的实际残余应力值进行坐标转换获得所述初始残余应力值。
CN201710284191.2A 2017-04-26 2017-04-26 一种测量工件内部残余应力的方法 Active CN107101756B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201710284191.2A CN107101756B (zh) 2017-04-26 2017-04-26 一种测量工件内部残余应力的方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201710284191.2A CN107101756B (zh) 2017-04-26 2017-04-26 一种测量工件内部残余应力的方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN107101756A true CN107101756A (zh) 2017-08-29
CN107101756B CN107101756B (zh) 2019-05-07

Family

ID=59657649

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201710284191.2A Active CN107101756B (zh) 2017-04-26 2017-04-26 一种测量工件内部残余应力的方法

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN107101756B (zh)

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN107764453A (zh) * 2017-10-16 2018-03-06 南京工业大学 基于应变变化和反推法的铣削加工零件表面残余应力测量方法
CN108181032A (zh) * 2017-12-21 2018-06-19 重庆市铜梁区华亿来铝材加工厂 一种残余应力检测方法
CN109708793A (zh) * 2018-12-24 2019-05-03 思特尔智能检测系统(苏州)有限公司 应力测试系统及测试方法
CN112113695A (zh) * 2020-09-18 2020-12-22 西南科技大学 基于五栅式应变花消除残余应力测试钻孔偏心误差的方法
CN114034421A (zh) * 2021-10-26 2022-02-11 成都飞机工业(集团)有限责任公司 一种预拉伸板残余应力测试方法、装置、设备及介质

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1435683A (zh) * 2002-01-29 2003-08-13 罗至善 微机调控激光干涉仪
CN101539506A (zh) * 2009-03-24 2009-09-23 西安交通大学 一种焊接残余应力测量方法
US7951672B2 (en) * 2007-09-07 2011-05-31 Kla-Tencor Corporation Measurement and control of strained devices
CN104236769A (zh) * 2014-10-14 2014-12-24 西安炬光科技有限公司 一种半导体激光器芯片残余应力分布测试方法及装置
CN104669448A (zh) * 2014-12-01 2015-06-03 广西大学 用于测量残余应力的定位打孔机
US20150219444A1 (en) * 2014-02-05 2015-08-06 MTU Aero Engines AG Method and apparatus for determining residual stresses of a component
CN105397134A (zh) * 2015-06-19 2016-03-16 中南大学 一种盲孔法测定残余应力的钻孔装置

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1435683A (zh) * 2002-01-29 2003-08-13 罗至善 微机调控激光干涉仪
US7951672B2 (en) * 2007-09-07 2011-05-31 Kla-Tencor Corporation Measurement and control of strained devices
CN101539506A (zh) * 2009-03-24 2009-09-23 西安交通大学 一种焊接残余应力测量方法
US20150219444A1 (en) * 2014-02-05 2015-08-06 MTU Aero Engines AG Method and apparatus for determining residual stresses of a component
CN104236769A (zh) * 2014-10-14 2014-12-24 西安炬光科技有限公司 一种半导体激光器芯片残余应力分布测试方法及装置
CN104669448A (zh) * 2014-12-01 2015-06-03 广西大学 用于测量残余应力的定位打孔机
CN105397134A (zh) * 2015-06-19 2016-03-16 中南大学 一种盲孔法测定残余应力的钻孔装置

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN107764453A (zh) * 2017-10-16 2018-03-06 南京工业大学 基于应变变化和反推法的铣削加工零件表面残余应力测量方法
CN108181032A (zh) * 2017-12-21 2018-06-19 重庆市铜梁区华亿来铝材加工厂 一种残余应力检测方法
CN109708793A (zh) * 2018-12-24 2019-05-03 思特尔智能检测系统(苏州)有限公司 应力测试系统及测试方法
CN109708793B (zh) * 2018-12-24 2021-04-27 思特尔智能检测系统(苏州)有限公司 应力测试系统及测试方法
CN112113695A (zh) * 2020-09-18 2020-12-22 西南科技大学 基于五栅式应变花消除残余应力测试钻孔偏心误差的方法
CN114034421A (zh) * 2021-10-26 2022-02-11 成都飞机工业(集团)有限责任公司 一种预拉伸板残余应力测试方法、装置、设备及介质

Also Published As

Publication number Publication date
CN107101756B (zh) 2019-05-07

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN107101756B (zh) 一种测量工件内部残余应力的方法
CN103822874B (zh) 一种基于裂纹柔度的板材内部残余应力检测方法
CN101750030B (zh) 曲面检测系统及方法
KR20220074927A (ko) 고형상비 구조의 형상 편차를 측정하기 위한 fib-sem 3d 단층 촬영
CN108534756A (zh) 风电机组塔筒倾斜度检测方法
CN103760177A (zh) 一种基于三维tem样品进行缺陷分析的方法
CN110261022A (zh) 三维光学轮廓法测试多个焊接残余应力分量的方法
CN112908909B (zh) 晶片存储器件、相关联方法和装置
CN113588488A (zh) 电缆的缺陷检测方法、装置、终端设备及存储介质
JP5602655B2 (ja) 亀裂サイズ推定方法
CN103700603B (zh) 一种钨接触栓塞高阻的检测方法
KR101393430B1 (ko) 인장 강도 및 피로 물성 측정용 압전 박막 시편 및 그 제조방법
CN103376217B (zh) Tem样品的精确定位的制作方法
US20230238288A1 (en) Gis-based method for producing spatial wafer map, and method for providing wafer test results using same
TWI293194B (en) Structure analysis method of deep trench
CN105973108A (zh) 顶针的检具
CN105845592B (zh) 用于失效分析的方法
CN115077823B (zh) 一种减少无效件的振动疲劳试验装置、振动疲劳试验方法
CN106017380A (zh) 一种三坐标测量支架
CN108010556A (zh) 一种用于精确定位大尺寸器件的小缺陷失效地址的方法
CN208109039U (zh) 一种液晶面板的平面度检测装置
CN105092403B (zh) 一种适合于精确评价金刚石玻式压头角度参数的方法
CN111159823B (zh) 一种针对结构件加工变形的快速测量和识别方法
JP6694489B2 (ja) 風車翼の品質評価方法
CN104851817B (zh) 电子束检测优化方法

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant