CN107064779A - 一种电路板测试方法、装置及系统 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种电路板测试方法、装置及系统，方法包括：S1.构建电路板坐标系和测试部件坐标系；S2.在电路板坐标系中确定待测点，并确定所述待测点在测试部件坐标系中的测试坐标；S3.根据所述待测点在各测试部件坐标系中的坐标确定执行测试动作的测试部件；S4.根据所述待测点在所述测试部件中的测试坐标计算确定测试部件的动作参数，所述动作参数包括所述测试部件的旋转角度；S5.所述测试部件执行所述动作参数，对所述待测点进行测试。装置包括底座、测试执行组件和控制器。本发明具有结构简单、操作方便、自动化程度高等优点。
Description
技术领域
本发明涉及电路板检测领域，尤其涉及一种电路板测试方法、装置及系统。
背景技术
PCB板(Printed Circuit Board，印刷电路板)是电子工业的重要部件之一，其可以提供集成电路等各种电子元器件固定、装配的机械支撑，实现集成电路等各种电子元器件之间的布线和电气连接或电绝缘，提供所要求的电气特性(如特性阻抗等)，并为自动焊锡提供阻焊图形和为元件插装、检查、维修提供识别字符和图形等。
如申请号为201610137314.5的专利申请中所公开的电路板检测装置，具有固定的X向导轨和可以X向导轨上运动的Y向导轨，测试探头设置在Y向导轨上，并可沿Y向导轨运动。为了保证对被测电路板的全覆盖，其X向导轨和Y向导轨的长度不能小于被测电路板的边长。其结构复杂，并且只有一个测试探头，不具备多点同时测试能力。按照现有技术的设计思路，即使设置有多个测试探头，各测试探头之间也难以做到各测试探头之间不相互干扰。因此，有必要进行进一步研究。
发明内容
本发明要解决的技术问题就在于：针对现有技术存在的技术问题，本发明提供一种结构简单、操作方便、自动化程度高的电路板测试方法、装置及系统。
为解决上述技术问题，本发明提出的技术方案为：一种电路板测试方法，包括如下步骤：
S1.构建电路板坐标系和测试部件坐标系；
S2.在电路板坐标系中确定待测点，并确定所述待测点在测试部件坐标系中的测试坐标；
S3.根据所述待测点在各测试部件坐标系中的坐标确定执行测试动作的测试部件；
S4.根据所述待测点在所述测试部件中的测试坐标计算确定测试部件的动作参数，所述动作参数包括所述测试部件的旋转角度；
S5.所述测试部件执行所述动作参数，对所述待测点进行测试。
作为本发明的进一步改进，步骤S3包括为顺序执行的待测点确定执行测试动作的测试部件和为同步执行的待测点确定执行测试动作的测试部件；
所述为顺序执行的待测点确定执行测试动作的测试部件的判定依据包括：
A.分析各测试部件的测试范围对所述待测点的覆盖情况，选择覆盖所述待测点的测试部件；
B.分析各测试部件执行所述待测点测试的执行成本，选择所述执行成本最低的测试部件；
所述为同步执行的待测点确定执行测试动作的测试部件的判定依据包括：
A1.根据各测试部件的测试范围对所述同步执行的待测点的覆盖情况分配测试部件；
B1.当有多个测试部件均覆盖所述同步执行的待测点时，根据同步执行的待测点在测试部件的测试部件坐标系中的坐标值分配测试部件。
作为本发明的进一步改进，所述执行成本根据所述待测点的角度所确定，所述角度越大，执行成本越高；
所述角度为所述待测点与所述测试部件坐标系原点连接线与所述测试部件坐标系X轴之间的夹角；
或者：
所述角度为所述测试部件的前一待测点与所述测试部件坐标系原点的连接线与所述待测点与所述测试部件坐标系原点的连接线之间的夹角。
作为本发明的进一步改进，所述B1中根据同步执行的待测点在测试部件的测试部件坐标系中的坐标值分配测试部件包括：选定一个未分配待测点的测试部件为基准测试部件，评估同步执行的待测点中各点在所述基准测试部件的测试部件坐标系中的坐标值，将坐标值最小的点分配给基准测试部件，重复上述过程，完成对同步执行的待测点的分配；
所述坐标值根据待测点的y轴坐标所确定，当y轴坐标相同时，根据x轴坐标所确定。
作为本发明的进一步改进，步骤S4的具体步骤包括：
S4.1a.根据所述待测点在测试部件中的测试坐标，计算确定所述待测点与原点之间的目标距离，计算确定所述待测点与原点的连线与测试部件坐标系X轴之间的目标角度；
S4.2a.根据所述测试部件的当前旋转角度和所述目标角度计算所述测试部件的旋转角度；根据所述测试部件的当前步长和所述目标距离计算所述测试部件的驱动步长；
或者：
S4.1b.根据所述待测点在测试部件中的测试坐标计算确定所述测试部件的第一目标角度和第二目标角度；
S4.2b.根据所述测试部件当前的第一角度和所述第一目标角度计算第一旋转角度；根据所述测试部件当前的第二角度和所述第二目标角度计算第二旋转角度。
一种电路板测试装置，包括底座、测试执行组件和控制器；
所述底座上设置有电路板安装区和电路板固定装置；
所述测试执行组件安装在所述底座上，并可绕安装点在水平面上转动；
所述测试执行组件包括立柱、测试臂和测试探头；所述立柱垂直安装在所述底座上，所述测试臂安装在所述立柱上，所述测试探头安装在所述测试臂上；
所述控制器与所述测试执行组件连接，用于控制所述测试执行组件进行测试。
作为本发明的进一步改进，所述测试探头可以在所述控制器的控制下在测试臂上移动。
作为本发明的进一步改进，所述测试臂包括第一旋转臂和第二旋转臂；所述第一旋转臂的一端安装在所述立柱上，并可绕其安装点在水平面上可控转动；所述第二旋转臂的一端安装在所述第一旋转臂的另一端，所述第二旋转臂可绕其安装点在水平面上可控转动；所述测试探头固定安装在所述第二旋转臂的另一端。
作为本发明的进一步改进，所述测试执行组件为1个，安装在所述底座的中轴线区域。
作为本发明的进一步改进，所述测试执行组件为2个，安装在所述底座的中轴线区域，且分别位于所述电路板安装区的两侧；
或者：安装在所述底座的对角区域。
一种电路板测试系统，包括如上所述的电路板测试装置和测试计算机；所述测试计算机与所述电路板测试装置的控制器连接，用于向控制器改善测试指令，并接收测试信号。
与现有技术相比，本发明的优点在于：
1、本发明的电路板测试方法算法简单，自动化程度高，可快速控制测试部件定位待测点，对待测点进行测试；根据待测点对执行测试的测试部件进行任务分配，可有效防止各测试部件之间相互干扰。
2、本发明的电路板测试装置及系统采用可旋转的测试执行组件，结构简单、成本低、测试执行组件覆盖面积大，容易防止各测试执行组件之间的相互干扰。
附图说明
图1为本发明具体实施例测试方法流程示意图。
图2为本发明具体实施例计算旋转臂转动角度示意图。
图3为本发明具体实施例分配测试部件示意图。
图4为本发明具体实施例测试装置结构示意图。
图5为本发明具体实施例测试装置结构示意图。
图6为本发明具体实施例测试臂示意图。
图7为本发明具体实施例测试臂示意图及不同使用状态示意图。
图8为本发明具体实施例测试系统结构示意图。
图例说明：1、底座；2、测试执行组件；21、立柱；22、测试臂；221、第一旋转臂；222、第二旋转臂；23、测试探头；3、控制器。
具体实施方式
以下结合说明书附图和具体优选的实施例对本发明作进一步描述，但并不因此而限制本发明的保护范围。
实施例一：
如图1所示，本实施例的电路板测试方法，步骤为：S1.构建电路板坐标系和测试部件坐标系；S2.在电路板坐标系中确定待测点，并确定待测点在测试部件坐标系中的测试坐标；S3.根据待测点在各测试部件坐标系中的坐标确定执行测试动作的测试部件；S4.根据待测点在测试部件中的测试坐标计算确定测试部件的动作参数，动作参数包括测试部件的旋转角度；S5.测试部件执行动作参数，对待测点进行测试。
在电路板测试中，测试计算机中存储有被测电路板的原理图，以一个正四边形的被测电路板为例，通常的，以被测电路板原理图的一个角为坐标原点，以该角的一条侧边为X轴，另一侧边为Y轴构建电路板坐标系。如图4中所示，电路板坐标系为XOY坐标系，对于被测电路板上的任意一个待测点，都可以确定其在电路板坐标系中的坐标。
同时，构建测试部件坐标系，在本实施例中，以测试部件的安装点O1为坐标原点，以与电路板一侧边平行的方向为X轴，构建测试部件坐标系。如图4中所示，由于只设置有一个测试部件，图4中只需要确定与该测试部件对应的测试部件坐标系：X1O1Y1坐标系。对于被测电路板上的任意一个待测点，同时还可以确定其在测试部件坐标系中的坐标。当然，如果设置有多个测试部件时，需要针对每个测试部件分别构建测试部件坐标系。对于被测电路板上的任意一个待测点，其在电路板坐标系与测试部件坐标系中的坐标可根据两坐标系之间的关系自由转换。
在本实施例中，根据测试任务在原理图中确定待测点，得到待测点在电路板坐标系中的坐标，并根据电路板坐标系与测试部件坐标系之间的转换关系计算确定待测点在测试部件坐标系中的测试坐标。
在本实施例中，当仅有一个测试部件时，对于任意待测点的测试工作，毫无疑义地都由该测试部件执行。当有一个以上测试部件时，则需要将测试工作分配至具体的测试部件执行，以防止各测试部件之间发生碰撞。本实施例中，步骤S3包括为顺序执行的待测点确定执行测试动作的测试部件和为同步执行的待测点确定执行测试动作的测试部件；为顺序执行的待测点确定执行测试动作的测试部件的判定依据包括：A.分析各测试部件的测试范围对待测点的覆盖情况，选择覆盖待测点的测试部件；B.分析各测试部件执行待测点测试的执行成本，选择执行成本最低的测试部件。执行成本根据待测点的角度所确定，角度越大，执行成本越高；角度为待测点与测试部件坐标系原点连接线与测试部件坐标系X轴之间的夹角；或者：角度为测试部件的前一待测点与测试部件坐标系原点的连接线与待测点与测试部件坐标系原点的连接线之间的夹角。
本实施例中，顺序执行的待测点是指在同一时间，只对一个待测点进行测试，各待测点按照测试的时间顺序进行测试。本实施例以具有两个测试部件时确定待测点的测试部件为例进行说明，如图3所示，第一个测试部件的测试坐标系如图中X1O1Y1所定义，其测试覆盖范围以是O1为圆心的扇面，第二个测试部件的测试坐标系如图中X2O2Y2所定义，其测试覆盖范围是以O2为圆心的扇面。待测点的执行顺序为B、C、A。对于其中的待测点B，只处于第一测试部件的测试范围内，毫无疑义的可以确定，待测点B的测试工作只能分配给第一测试部件。同理，对于待测点C的测试工作毫无疑义的分配给第二测试部件。但是对于待测点A，同时处于第一测试部件和第二测试部件的测试覆盖范围，需要进一步的进行任务分配。在本实施例中，进一步分析比较第一测试部件执行对待测点A的测试成本与第二测试部件对待测点A的测试成本，选择待测点A的测试工作分配至测试成本较小的测试部件。在本实施例中，执行成本根据待测点的角度所确定，角度越大，执行成本越高。角度为待测点与测试部件坐标系原点连接线与测试部件坐标系X轴之间的夹角。对于待测点A，第一执行部件的执行成本由∠AO1X1的大小所确定，第二执行部件的执行成本由∠AO2X2的大小所确定，很明显，∠AO1X1小于∠AO2X2，因此，将待测点A的测试工作分配给第一测试部件。
当然，还可以通过其它方式来评估各测试部件的执行成本。本实施例给出另一种角度确定方法。如图3所示，待测点的执行顺序为B、C、A。点B为第一测试部件的前一待测点，即由第一测试部件已完成测试的上一个待测点，点C为第二测试部件的前一待测点，即由第二测试部件已完成测试的上一个待测点，点A是当前需要分配测试部件的待测点。以∠AO1B的大小来评估第一测试部件对待测点A进行测试的执行成本，以∠AO2C的大小来评估第二测试部件对待测点A进行测试的执行成本，由于∠AO1B小于∠AO2C，因此，将待测点A的测试工作分配给第一测试部件。
在本实施例中，为同步执行的待测点确定执行测试动作的测试部件的判定依据包括：A1.根据各测试部件的测试范围对同步执行的待测点的覆盖情况分配测试部件；B1.当有多个测试部件均覆盖同步执行的待测点时，根据同步执行的待测点在测试部件的测试部件坐标系中的坐标值分配测试部件。B1中根据同步执行的待测点在测试部件的测试部件坐标系中的坐标值分配测试部件包括：选定一个未分配待测点的测试部件为基准测试部件，评估同步执行的待测点中各点在基准测试部件的测试部件坐标系中的坐标值，将坐标值最小的点分配给基准测试部件，重复上述过程，完成对同步执行的待测点的分配，坐标值根据待测点的y轴坐标所确定，当y轴坐标相同时，根据x轴坐标所确定。同步执行的待测点是指在同一时刻，需要对两个或两个以上的待测点进行测量，由于一个测试部件在同一时刻只能对一个待测点进行测试，因此需要为同步执行的待测点中的各点分别分配测试部件。如图3中需要同时对B点和C点进行测试，或者同时对B点和A点进行测试，或者同时对A点和D点进行测试。在本实施例中，以具有两个测试部件时确定待测点的测试部件为例进行说明。如图3所示，第一个测试部件的测试坐标系如图中X1O1Y1所定义，其测试覆盖范围以是O1为圆心的扇面，第二个测试部件的测试坐标系如图中X2O2Y2所定义，其测试覆盖范围是以O2为圆心的扇面。同步执行的待测点数也为2个。根据同步执行的待测点的分布，分几种情况：当同步执行的待测点分别位于不同测试部件的覆盖范围时，如图3中B点和C点，分别位于不同测试部件的覆盖范围，毫无疑问，将B点分配给第一个测试部件，将C点分配给第二个测试部件。第二种情况，当同步执行的待测点部件的位于不同测试部件的覆盖范围，如图3中的B点和A点，均位于第一个测试部件的测试范围，但只有A点位于第二个测试部件的测试范围，同样，毫无疑问，将B点分配给第一个测试部件，将A点分配给第二个测试部件。第三种情况：如图3的A点和D点，两点均落入第一个测试部件和第二个测试部件的测试范围，因此，不能仅通过测试部件的测试范围对待测点进行分配。在本实施例中，由于一个测试部件在同一时刻只能对一个测试点进行测试，因此，只能将待测点分配给未分配待测点的测试部件。设第一测试部件和第二测试部件均未分配待测点，从中选择一个测试部件为基准测试部件，如选第一测试部件为基准测试部件，当然，确定基准测试部件的方式可以有多种，比如随机确定，或者对测试部件进行排序，按照顺序所确定。选定好基准测试部件后，确定要分配的待测点在基准测试部件的测试部件坐标系中的坐标，设A点的坐标为(xa，ya)，D点的坐标为(xd，yd)，以y轴坐标确定待测点的坐标值，y轴坐标越小，坐标值越小，当y轴坐标相同时，根据x轴坐标确定待测点的坐标值，x轴坐标越小，坐标值越小。将坐标值最小的待测点分配给基准测试部件。在本实施例中，当ya<yd时，将A点分配给第一测试部件，否则将D点分配给第一测试部件；当ya＝yd时，如果xa<xd，将A点分配给第一测试部件，否则将D点分配给第一测试部件。在分配完A点后，则转化为单个待测点的分配，将D点分配给第二测试部件即可。当有3个或3个以上同步执行的待测点，同样也具有3个或3个以上的测试部件时，参照上述方法，先在测试部件中确定一个基准测试部件，并将其中一个待测点分配给该基准测试部件，再在其余待测点和其余测试部件的基础上执行上述分配过程，直到完成对所有待测点的分配。
在本实施例中，在分配好待测点A的测试部件后，需要进一步计算测试部件的动作参数，并由测试部件执行该动作参数，以完成对待测点A的测试。在本实施例中，根据测试部件类型的不同，有两种不同的计算方法。第一种为：S4.1a.根据待测点在测试部件中的测试坐标，计算确定待测点与原点之间的目标距离，计算确定待测点与原点的连线与测试部件坐标系X轴之间的目标角度；S4.2a.根据测试部件的当前旋转角度和目标角度计算测试部件的旋转角度；根据测试部件的当前步长和目标距离计算测试部件的驱动步长。该类型的测试部件如图6所示，测试部件只有一条测试臂，测试探头可以在测试臂上移动。因此，只需要计算∠AO1X1的大小，和O1A长度。如果第一测试部件复位到初始状态，即测试臂旋转角度回到0度，测试探头在测试臂上的位置回复到原点位置，则直接根据∠AO1X1驱动第一测试部件的旋转角度，根据O1A长度驱动测试探头的位移即可使得第一测试部件定位到待测点A，完成对待测点A的测试。如果第一测试部件处于前一待测点B的位置，可以确定第一测试部件当前的旋转角度为∠BO1X1，测试探头的位移为O1B，因此，通过简单的计算即可得到第一测试部件需要旋转的角度∠AO1B和测试探头需要驱动的位移O1A-O1B。
第二种为：S4.1b.根据待测点在测试部件中的测试坐标计算确定测试部件的第一目标角度和第二目标角度；S4.2b.根据测试部件当前的第一角度和第一目标角度计算第一旋转角度；根据测试部件当前的第二角度和第二目标角度计算第二旋转角度。如图7所示，测试部件有测试臂包括具有固定长度的第一旋转臂和第二旋转臂，第一旋转臂和第二旋转臂均可分别绕其原点独立旋转，测试探头固定安装在第二旋转臂的前端，测试部件通过旋转第一旋转臂和第二旋转臂来使测试探头定位到其所覆盖测试范围内的任意待测点。如图2所示，测试部件坐标系为XOY，A为待测点，在测试部件坐标系中的坐标为(x，y)，第一旋转臂的长度为R1，即OB的长度，第一旋转臂绕O点转动；第二旋转臂的长度为R2，即BA的长度，第二旋转臂可绕B点转动。C点为待测点A在坐标系XOY中X轴上的垂点。通过平面几何关系，可以很容易确定∠AOC的大小，线段OA的长度，同时，由于R1和R2为已知量，由平面几何关系也可以很容易计算得到∠AOB和∠OBA的大小，并计算得到∠BOC的大小，∠BOC即第一旋转臂的第一目标角度，∠OBA即第二旋转臂的第一目标角度。再根据第一旋转臂在当前状态的角度，即第一角度，即可方便的计算得到第一测试部件定位到待测点A第一旋转臂还需要转动的第一旋转角度；根据第二旋转臂在当前状态的角度，即第二角度，即可方便的计算得到第一测试部件定位到待测点A第二旋转臂还需要转动的第一旋转角度。
在本实施例中，计算角度的公式如下式所示：
∠OBA＝arccos(((R12+R22-(x2+y2))/2×R1×R2)
上式中，x，y为待测点A的坐标值，R1为第一旋转臂的长度，R2为第二旋转臂的长度。
在本实施例中，通过上述方法，即可方便计算得到测试部件的动作参数，通过动作参数即可控制测试部件定位到电路板上的任意待测点。再控制测试探头移动探针与待测点A接触，采集测试信号，即可完成对待测点A的测试。
实施例二：
如图4所示，本实施例的电路板测试装置，包括底座1、测试执行组件2和控制器3；底座1上设置有电路板安装区和电路板固定装置；测试执行组件2安装在底座1上，并可绕安装点在水平面上转动；测试执行组件2包括立柱21、测试臂22和测试探头23；立柱21垂直安装在底座1上，测试臂22安装在立柱21上，测试探头23安装在测试臂22上；控制器3与测试执行组件2连接，用于控制测试执行组件2进行测试。
在本实施例中，如图6所示，测试臂22的一端安装在立柱21上，并且可以在控制器3的控制下绕立柱21旋转，安装点即为测试臂22的转动圆心。测试臂22上设置有导轨，测试探头23安装在测试臂22上，并且测试探头23可以在控制器3的控制下在测试臂22上移动。通过测试臂22的转动，以及测试探头23在测试臂22上的移动，则可以对以转动圆心为圆心，以测试臂22的长度为半径的圆面积所覆盖区域进行测试。
在本实施例中，通过测试臂22的旋转和测试探头23的移动，可以准确的定位到待测点。定位到待测点后，在控制器3的控制下测试探头23向下移动探针，使探针与待测点接触，采集测试信号，从而完成对待测点的测试。
在本实施例中，测试执行组件2为1个，安装在底座1的中轴线区域；优选在中轴线上。如图4中，O1点测试执行组件2的安装点，也即测试臂22的转动圆心，O1Y1为中轴线。采用这种安装方式，测试臂22的长度只需要达到OO1的长度，即可实现对整个电路板的全覆盖测试。
实施例三：
本实施例与实施例二基本相同，不同之处在于：测试执行组件2的结构如图7所示，包括立柱21、测试臂22和测试探头23。其中，测试臂22包括第一旋转臂221和第二旋转臂222；第一旋转臂221的一端安装在立柱21上，并可在控制器3的控制下绕其安装点在水平面上可控转动；第二旋转臂222的一端安装在第一旋转臂221的另一端，第二旋转臂222可在控制器3的控制下绕其安装点在水平面上可控转动；测试探头23固定安装在第二旋转臂222的另一端。如图7所示，分别示意了测试臂22在初始状态(复位状态)、使用状态一(不完全伸展)和使用状态二(完全伸展)时的侧视图和俯视图。测试臂22通过采用两段式结构，可以缩短测试臂22的长度，同时又能保证测试臂22具有较大的测试范围。
实施例四：
本实施例与实施例三基本相同，不同之处在于测试执行组件2为2个，安装在底座1的对角区域，如图5所示。当然，测试执行组件2也可以安装在底座1的中轴线区域，且分别位于电路板安装区的两侧。
实施例五：
本实施例的电路板测试系统，如图8所示，包括如上的电路板测试装置和测试计算机；测试计算机与电路板测试装置的控制器连接，用于向控制器改善测试指令，并接收测试信号。在本实施例中，电路板测试装置可以是上述任意一种电路板测试装置。
上述只是本发明的较佳实施例，并非对本发明作任何形式上的限制。虽然本发明已以较佳实施例揭露如上，然而并非用以限定本发明。因此，凡是未脱离本发明技术方案的内容，依据本发明技术实质对以上实施例所做的任何简单修改、等同变化及修饰，均应落在本发明技术方案保护的范围内。
Claims (11)
1.一种电路板测试方法，其特征在于，包括如下步骤：
S1.构建电路板坐标系和测试部件坐标系；
S2.在电路板坐标系中确定待测点，并确定所述待测点在测试部件坐标系中的测试坐标；
S3.根据所述待测点在各测试部件坐标系中的坐标确定执行测试动作的测试部件；
S4.根据所述待测点在所述测试部件中的测试坐标计算确定测试部件的动作参数，所述动作参数包括所述测试部件的旋转角度；
S5.所述测试部件执行所述动作参数，对所述待测点进行测试。
2.根据权利要求1所述的电路板测试方法，其特征在于：步骤S3包括为顺序执行的待测点确定执行测试动作的测试部件和为同步执行的待测点确定执行测试动作的测试部件；
所述为顺序执行的待测点确定执行测试动作的测试部件的判定依据包括：
A.分析各测试部件的测试范围对所述待测点的覆盖情况，选择覆盖所述待测点的测试部件；
B.分析各测试部件执行所述待测点测试的执行成本，选择所述执行成本最低的测试部件；
所述为同步执行的待测点确定执行测试动作的测试部件的判定依据包括：
A1.根据各测试部件的测试范围对所述同步执行的待测点的覆盖情况分配测试部件；
B1.当有多个测试部件均覆盖所述同步执行的待测点时，根据同步执行的待测点在测试部件的测试部件坐标系中的坐标值分配测试部件。
3.根据权利要求2所述的电路板测试方法，其特征在于：所述执行成本根据所述待测点的角度所确定，所述角度越大，执行成本越高；
所述角度为所述待测点与所述测试部件坐标系原点连接线与所述测试部件坐标系X轴之间的夹角；
或者：
所述角度为所述测试部件的前一待测点与所述测试部件坐标系原点的连接线与所述待测点与所述测试部件坐标系原点的连接线之间的夹角。
4.根据权利要求2所述的测试方法，其特征在于：所述B1中根据同步执行的待测点在测试部件的测试部件坐标系中的坐标值分配测试部件包括：选定一个未分配待测点的测试部件为基准测试部件，评估同步执行的待测点中各点在所述基准测试部件的测试部件坐标系中的坐标值，将坐标值最小的点分配给基准测试部件，重复上述过程，完成对同步执行的待测点的分配；
所述坐标值根据待测点的y轴坐标所确定，当y轴坐标相同时，根据x轴坐标所确定。
5.根据权利要求2至4任一项所述的测试方法，其特征在于，步骤S4的具体步骤包括：
S4.1a.根据所述待测点在测试部件中的测试坐标，计算确定所述待测点与原点之间的目标距离，计算确定所述待测点与原点的连线与测试部件坐标系X轴之间的目标角度；
S4.2a.根据所述测试部件的当前旋转角度和所述目标角度计算所述测试部件的旋转角度；根据所述测试部件的当前步长和所述目标距离计算所述测试部件的驱动步长；
或者：
S4.1b.根据所述待测点在测试部件中的测试坐标计算确定所述测试部件的第一目标角度和第二目标角度；
S4.2b.根据所述测试部件当前的第一角度和所述第一目标角度计算第一旋转角度；根据所述测试部件当前的第二角度和所述第二目标角度计算第二旋转角度。
6.一种电路板测试装置，其特征在于：包括底座(1)、测试执行组件(2)和控制器(3)；
所述底座(1)上设置有电路板安装区和电路板固定装置；
所述测试执行组件(2)安装在所述底座(1)上，并可绕安装点在水平面上转动；
所述测试执行组件(2)包括立柱(21)、测试臂(22)和测试探头(23)；所述立柱(21)垂直安装在所述底座(1)上，所述测试臂(22)安装在所述立柱(21)上，所述测试探头(23)安装在所述测试臂(22)上；
所述控制器(3)与所述测试执行组件(2)连接，用于控制所述测试执行组件(2)进行测试。
7.根据权利要求6所述的电路板测试装置，其特征在于：所述测试探头(23)可以在所述控制器(3)的控制下在测试臂(22)上移动。
8.根据权利要求6所述的电路板测试装置，其特征在于：所述测试臂(22)包括第一旋转臂(221)和第二旋转臂(222)；所述第一旋转臂(221)的一端安装在所述立柱(21)上，并可绕其安装点在水平面上可控转动；所述第二旋转臂(222)的一端安装在所述第一旋转臂(221)的另一端，所述第二旋转臂(222)可绕其安装点在水平面上可控转动；所述测试探头(23)固定安装在所述第二旋转臂(222)的另一端。
9.根据权利要求6至8任一项所述的电路板测试装置，其特征在于：所述测试执行组件(2)为1个，安装在所述底座(1)的中轴线区域。
10.根据权利要求6至8任一项所述的电路板测试装置，其特征在于：所述测试执行组件(2)为2个，安装在所述底座(1)的中轴线区域，且分别位于所述电路板安装区的两侧；
或者：安装在所述底座(1)的对角区域。
11.一种电路板测试系统，包括如权利要求6至10任一项所述的电路板测试装置和测试计算机；所述测试计算机与所述电路板测试装置的控制器连接，用于向控制器改善测试指令，并接收测试信号。
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