CN108627759A - 信号检测用的辅助设备和信号检测系统 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种信号检测用的辅助设备和信号检测系统,包括:固定机构、探针机构、调节机构和接触机构,固定机构用于支撑并固定待检测显示面板;探针机构包括并排设置的多个辅助探针,辅助探针用于接触待检测显示面板上的信号测试探头;调节机构设置于固定机构上并与探针机构连接,用于调节探针机构的位置;接触机构设置于固定机构上,包括与辅助探针电连接的导电接触部,导电接触部用于供信号检测设备的检测探针进行接触。本发明提供的辅助设备可供检测人员能够方便、快速地对显示面板进行信号检测;此外,通过该辅助设备,可使得信号检测设备的检测探针不再直接与待检测显示面板上的信号测试探头进行接触,因此可避免检测探针划伤ESD单元。
Description
技术领域
本发明涉及显示技术领域,特别涉及一种信号测试用的辅助设备。
背景技术
在显示面板量产前,需要对样本产品进行一系列的检测,并根据检测结果对待量产的产品或生产工艺进行调整,以保证生产出的产品的质量。其中,对显示面板进行信号检测是必不可少的一个环节。
图1为显示面板上信号测试探头的示意图,如图1所示,为便于进行信号检测,在显示面板上预先设置有一些信号测试探头(Pad)1;在进行信号检测时,仅需将信号检测设备的检测探针与信号测试探头1接触,从而可读取出相应的电信号。
然而,在实际检测过程中发现,现有技术存在如下技术问题:
其一、随着显示面板尺寸越来越小,预先设置的信号测试探头1也越来越小、越来越密(相邻信号测试探头的间距H小于0.1mm),导致检测人员无法用肉眼分清各信号测试探头;
其二、由于每一个信号测试探头1的附近都静电释放(Electro-StaticDischarge)单元,在利用信号检测设备的检测探针直接扎信号测试探头1时,容易划伤ESD单元;
其三、需要设计相应的支架以固定检测探针,以保证检测探针稳定的与信号测试探头1接触。
发明内容
本发明旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一,提出了一种信号检测用的辅助设备和信号检测系统。
为实现上述目的,本发明提供了一种信号检测用的辅助设备,包括:
固定机构,用于支撑并固定待检测显示面板;
探针机构,包括并排设置的多个辅助探针,所述辅助探针用于接触待检测显示面板上的信号测试探头;
调节机构,设置于所述固定机构上并与所述探针机构连接,用于调节所述探针机构的位置;
接触机构,设置于所述固定机构上,包括与所述辅助探针电连接的若干个导电接触部,所述导电接触部用于供信号检测设备的检测探针进行接触。
可选地,所述调节结构包括:第一水平驱动部、第二水平驱动部和竖直驱动部;
所述第一水平驱动部设置于所述固定机构上并与所述第二水平驱动部连接,用于驱动所述第二水平驱动部沿第一水平方向运动;
所述第二水平驱动部与所述竖直驱动部连接,用于驱动所述竖直驱动部沿第二水平方向运动;
所述竖直驱动部与所述探针机构连接,用于驱动所述探针机构沿竖直方向运动。
可选地,所述探针机构的数量为两个,所述竖直驱动部的数量为两个,所述第二水平驱动部的数量为两个,所述探针机构与所述竖直驱动部一一对应,所述竖直驱动部与所述第二水平驱动部一一对应。
可选地,所述固定机构包括:基台和限位部;
所述基台用于承载所述待检测显示面板;
所述限位部设置于所述基台上,用于限定所述待检测显示面板在所述基台上的位置。
可选地,所述限位部包括:限位条和至少两个限位柱;
所述限位条沿第一水平方向延伸;
所述限位柱设置于所述基台上靠近探针机构的一侧,全部所述限位柱沿第二水平方向并排设置。
可选地,所述基台上设置有若干个吸附孔;
所述固定机构还包括:抽真空部,所述抽真空部的吸气口与所述吸附孔连通。
可选地,所述探针机构还包括:间距调节部;
所述间距调节部与各所述辅助探针连接,用于调节相邻所述辅助探针之间的间距。
可选地,所述间距调节部包括:滑轨、两个滑块和伸缩件;
所述滑轨沿第二水平方向延伸;
所述滑块套置于所述滑轨外,可沿所述滑轨滑动;
所述伸缩件包括:沿所述第二水平方向设置的若干个交叉单元,所述交叉单元包括:交叉设置的第一连杆和第二连杆,所述第一连杆和所述第二连杆在交叉处通过连接件铰接,所述辅助探针与所述连接件连接;对于任意一个交叉单元,该交叉单元内的所述第一连杆与相邻交叉单元内的所述第二连杆铰接,该交叉单元内的所述第二连杆与相邻交叉单元内的所述第一连杆铰接;
位于所述伸缩件两端的两个交叉单元内的所述连接件分别与两个所述滑块连接。
可选地,所述接触机构还包括:放置台;
所述放置台设置于所述固定机构上,所述放置台上设置有与所述导电接触部一一对应的若干个放置槽,所述导电接触部位于对应的所述放置槽内,所述放置槽用于供信号检测设备的检测探针插入以与所述放置槽内的导电接触部接触。
为实现上述目的,本发明还提供了信号检测系统,包括:如上述的辅助设备。
附图说明
图1为显示面板上信号测试探头的示意图,
图2为本发明实施例提供的信号检测用的辅助设备的一种结构视图;
图3为本发明中固定机构的一种结构示意图;
图4为本发明中调节结构的一种结构示意图;
图5为本发明中探针机构的一种结构示意图;
图6为本发明中接触机构的一种结构示意图;
图7为图6中A-A向的截面示意图。
具体实施方式
为使本领域的技术人员更好地理解本发明的技术方案,下面结合附图对本发明提供的一种信号检测用的辅助设备和信号检测系统进行详细描述。
图2为本发明实施例提供的信号检测用的辅助设备的一种结构视图,图3为本发明中固定机构的一种结构示意图,图4为本发明中调节结构的一种结构示意图;图5为本发明中探针机构的一种结构示意图;图6为本发明中接触机构的一种结构示意图,图7为图6中A-A向的截面示意图。如图2~图7所示所示,该辅助设备包括:固定机构2、探针机构3、调节机构4和接触机构5。
其中,固定机构2用于支撑并固定待检测显示面板6。
探针机构3包括并排设置的多个辅助探针301,辅助探针301用于接触待检测显示面板6上的信号测试探头。
调节机构4设置于固定机构2上并与探针机构3连接,用于调节探针机构3的位置。
接触机构5设置于固定机构2上,包括与辅助探针301电连接的若干个导电接触部503,导电接触部503用于供信号检测设备的检测探针进行接触。
在对显示面板进行信号检测时,利用固定机构2固定待检测显示面板6,然后通过调节机构4调整探针机构3的位置,以使得探针机构3上的辅助探针301与待检测显示面板6上的信号测试探头接触。由于辅助探针301与接触结构上的导电接触部503接触,因此信号测试探头中的电信号可传导至导电接触部503,此时仅需将信号检测设备的检测探针与导电接触部503进行接触,即可获得相应的电信号。
需要说明的是,本发明中的信号检测设备具体可以为电流检测设备、电压检测设备、示波器等具有电信号检测功能的设备。
在该检测过程,检测人员仅需对各导电接触部503进行识别,而导电接触部503可预先设置的相对分散,因而便于识别。与此同时,由于信号检测设备的检测探针不再直接与待检测显示面板6上的信号测试探头进行接触,因此可避免检测探针划伤ESD单元。
需要说明的是,探针机构3内辅助探针301的数量可根据待检测显示面板6上的信号测试探头的数量进行设置,接触机构5内导电接触部503的数量可根据辅助探针301的数量进行设置。附图中,一个探针机构3包括四个辅助探针301,一个接触机构5包括四个导电接触部503,导电接触部503与辅助探针301一一对应的情况,仅起到示例性作用,其不会对本发明的技术方案产生限制。
可选地,导电接触部503通过可拆卸的导线7与对应的辅助探针301电连接。在实际应用中,一个辅助探针301可与一个或多个导电接触部503电连接,一个导电接触部503最多与一个辅助探针301电连接。
参见图3所示,作为本发明中的一种可选方案,固定机构2包括:基台201和限位部202。其中,基台201用于承载待检测显示面板6;限位部202设置于基台201上,用于限定待检测显示面板6在基台201上的位置。
进一步可选地,限位部202包括:限位条202a,限位条202a沿第一水平方向X延伸;至少两个限位柱202b,设置于基台201上靠近探针机构3的一侧,全部限位柱202b沿第二水平方向Y并排设置。
在进行检测时,将待检测显示面板6上设置有信号测试探头的侧边(又称为“台阶侧”)与各限位柱202b接触,并将待检测显示面板6上与台阶侧相邻的一个侧边与限位条202a接触,通过限位条202a和限位柱202b的配合,可对待检测显示面板6在基台201上的位置进行限定,以保证待检测显示面板6上的信号测试探头沿第二方向排列,有利于后续各辅助探针301与各信号测试探头的对齐、定位。
此外,由于限位柱202b所占用空间小,采用限位柱202b与待检测显示面板6的台阶侧进行接触,可使得探针机构3在被调节过程中具有较大的调节空间,方便于操作。
优选地,固定机构2还包括:抽真空部(未示出),基台201上设置有若干个吸附孔203,抽真空部的吸气口与吸附孔203连通;在利用限位部202限制待检测显示面板6在基台201表面的位置后,通过抽真空部对吸气孔进行抽真空处理,可使得待检测显示面板6吸附固定于基台201的表面。可选地,抽真空部为真空抽气泵。
参见图4所示,作为本发明中的一种可选方案,调节结构包括:第一水平驱动部401、第二水平驱动部402和竖直驱动部403。
其中,第一水平驱动部401设置于固定机构2上并与第二水平驱动部402连接,用于驱动第二水平驱动部402沿第一水平方向X运动。
第二水平驱动部402与竖直驱动部403连接,用于驱动竖直驱动部403沿第二水平方向Y运动。
竖直驱动部403与探针机构3连接,用于驱动探针机构3沿竖直方向Z运动。
通过第一水平驱动部401、第二水平驱动部402和竖直驱动部403可对探针机构3的空间位置进行调整,以使得探针机构3上的各辅助探针301与显示面板上的信号测试探头接触。可选地,第一水平驱动部401、第二水平驱动部402和竖直驱动部403均包括丝杠,通过三个丝杠可对探针机构3的位置进行精准控制。
当然,本发明中第一水平驱动部401、第二水平驱动部402和竖直驱动部403还可以为其他具有驱动功能的器件,此处不再一一举例。
在现有技术中,部分显示面板上的信号测试探头会分布于IC芯片的两侧。为对该类型显示面板进行信号检测,可设置两个探针机构3,此时竖直驱动部403的数量为两个,第二水平驱动部402的数量为两个,探针机构3与竖直驱动部403一一对应,竖直驱动部403与第二水平驱动部402一一对应。此时可利用两个第二水平驱动部402来分别控制两个竖直驱动部403在第二水平方向Y的位置,从而实现对两个竖直驱动部403之间的间距进行调节。
在实际应用中,可根据待检测显示面板6上IC芯片的尺寸大小,来对两个竖直驱动部403之间的间距进行调节,以保证两个探针机构3能分别与位于IC芯片两侧的信号测试探头接触。由此可见,本发明提供的辅助设备可应对不同类型的待检测显示面板6的信号检测。
作为一种具体的方案,第二水平驱动部402包括丝杠,丝杠穿过两个竖直驱动部403,但是每个丝杠仅与对应的竖直驱动部403连接,以驱动对应的竖直驱动部403沿第二水平方向Y运动。此外,第二水平驱动部402还可包括与丝杠平行设置的光杠8,光杠8也穿过两个竖直驱动部403,以起到导向的作用。
需要说明的是,上述探针机构3和竖直驱动部403的数量均为两个的情况,仅为本发明中的一种可选实施方案,其不会对本发明的技术方案产生限制。本发明中,仅需使得竖直驱动部403的数量与探针机构3的数量相等,探针机构3的数量可以为一个、两个或多个,竖直驱动部403的数量与探针机构3的数量相等。
此外,各驱动部包括丝杠的情况,也仅为本发明中的一种可选实施方案,本发明中各驱动部还可为其他具有驱动功能的结构,此处不再一一举例说明。
参见图5所示,作为本发明中的一种可选方案,探针机构3还包括:间距调节部302;其中,间距调节部302与辅助探针301连接,用于调节相邻辅助探针301之间的间距。
对于不同尺寸待检测显示面板6,其上所设置的信号测试探头之间的间距往往不同。通过设置上述间距调节部302,可使得探针机构3能应对具有不同间距的信号测试探头,以提高辅助设备的普适性。
进一步可选地,间距调节部302包括:滑轨302a、两个滑块302b和伸缩件。
其中,滑轨302a沿第二水平方向Y延伸。
两个滑块302b套置于滑轨302a外,滑块302b可沿滑轨302a滑动。
伸缩件包括:沿第二水平方向Y设置的若干个交叉单元302c,交叉单元302c包括:交叉设置的第一连杆312a和第二连杆312b,第一连杆312a和第二连杆312b在交叉处通过连接件312c铰接,辅助探针301与连接件312c连接;对于任意一个交叉单元302c,该交叉单元302c内的第一连杆312a与相邻交叉单元302c内的第二连杆312b铰接,该交叉单元302c内的第二连杆312b与相邻交叉单元302c内的第一连杆312a铰接;位于伸缩件两端的两个交叉单元302c内的连接件312c分别与两个滑块302b连接。
在本发明中,全部第一连接杆和第二连接杆基于平行四边形原理铰接以构成伸缩件,该伸缩件伸缩灵活、行程大;当滑块302b在滑轨302a上运动以使得伸缩件的长度发生变化时,伸缩件内的连接件312c之间的距离发生变化,辅助探针301之间的间距也发生变化。因此通过调节两个滑块302b之间的距离,即可对辅助探针301之间的间距进行调节。
参见图6和图7所示,作为本发明中的一种可选方案,接触机构5还包括:放置台501,放置台501设置于固定机构2上,放置台501上设置有与导电接触部503一一对应的若干个放置槽502,导电接触部503位于放置槽502内,放置槽502用于供信号检测设备的检测探针插入以与放置槽502内的导电接触部503接触。
在进行检测时,仅需将检测设备的检测探针插入相应的放置槽502内即可,无需再为检测探针设计支架。
本发明实施例一提供了一种信号检测用的辅助设备,该辅助设备可供检测人员能够方便、快速地对显示面板进行信号检测;此外,通过该辅助设备,可使得信号检测设备的检测探针不再直接与待检测显示面板上的信号测试探头进行接触,因此可避免检测探针划伤ESD单元。
本发明实施例二提供了一种信号检测系统,该信号检测系统包括:辅助设备和信号检测设备,其中该辅助设备可采用上述实施例一中提供的辅助设备。
可以理解的是,以上实施方式仅仅是为了说明本发明的原理而采用的示例性实施方式,然而本发明并不局限于此。对于本领域内的普通技术人员而言,在不脱离本发明的精神和实质的情况下,可以做出各种变型和改进,这些变型和改进也视为本发明的保护范围。
Claims (10)
1.一种信号检测用的辅助设备,其特征在于,包括:
固定机构,用于支撑并固定待检测显示面板;
探针机构,包括并排设置的多个辅助探针,所述辅助探针用于接触待检测显示面板上的信号测试探头;
调节机构,设置于所述固定机构上并与所述探针机构连接,用于调节所述探针机构的位置;
接触机构,设置于所述固定机构上,包括与所述辅助探针电连接的若干个导电接触部,所述导电接触部用于供信号检测设备的检测探针进行接触。
2.根据权利要求1所述的辅助设备,其特征在于,所述调节结构包括:第一水平驱动部、第二水平驱动部和竖直驱动部;
所述第一水平驱动部设置于所述固定机构上并与所述第二水平驱动部连接,用于驱动所述第二水平驱动部沿第一水平方向运动;
所述第二水平驱动部与所述竖直驱动部连接,用于驱动所述竖直驱动部沿第二水平方向运动;
所述竖直驱动部与所述探针机构连接,用于驱动所述探针机构沿竖直方向运动。
3.根据权利要求2所述的辅助设备,其特征在于,所述探针机构的数量为两个,所述竖直驱动部的数量为两个,所述第二水平驱动部的数量为两个,所述探针机构与所述竖直驱动部一一对应,所述竖直驱动部与所述第二水平驱动部一一对应。
4.根据权利要求1所述的辅助设备,其特征在于,所述固定机构包括:基台和限位部;
所述基台用于承载所述待检测显示面板;
所述限位部设置于所述基台上,用于限定所述待检测显示面板在所述基台上的位置。
5.根据权利要求4所述的辅助设备,其特征在于,所述限位部包括:限位条和至少两个限位柱;
所述限位条沿第一水平方向延伸;
所述限位柱设置于所述基台上靠近探针机构的一侧,全部所述限位柱沿第二水平方向并排设置。
6.根据权利要求4所述的辅助设备,其特征在于,所述基台上设置有若干个吸附孔;
所述固定机构还包括:抽真空部,所述抽真空部的吸气口与所述吸附孔连通。
7.根据权利要求1所述的辅助设备,其特征在于,所述探针机构还包括:间距调节部;
所述间距调节部与各所述辅助探针连接,用于调节相邻所述辅助探针之间的间距。
8.根据权利要求7所述的辅助设备,其特征在于,所述间距调节部包括:滑轨、两个滑块和伸缩件;
所述滑轨沿第二水平方向延伸;
所述滑块套置于所述滑轨外,可沿所述滑轨滑动;
所述伸缩件包括:沿所述第二水平方向设置的若干个交叉单元,所述交叉单元包括:交叉设置的第一连杆和第二连杆,所述第一连杆和所述第二连杆在交叉处通过连接件铰接,所述辅助探针与所述连接件连接;对于任意一个交叉单元,该交叉单元内的所述第一连杆与相邻交叉单元内的所述第二连杆铰接,该交叉单元内的所述第二连杆与相邻交叉单元内的所述第一连杆铰接;
位于所述伸缩件两端的两个交叉单元内的所述连接件分别与两个所述滑块连接。
9.根据权利要求1所述的辅助设备,其特征在于,所述接触机构还包括:放置台;
所述放置台设置于所述固定机构上,所述放置台上设置有与所述导电接触部一一对应的若干个放置槽,所述导电接触部位于对应的所述放置槽内,所述放置槽用于供信号检测设备的检测探针插入以与所述放置槽内的导电接触部接触。
10.信号检测系统,其特征在于,包括:如上述权利要求1-9中任一所述的辅助设备。
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| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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|---|---|
| CN108627759A true CN108627759A (zh) | 2018-10-09 |
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|---|---|---|---|
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| PB01 | Publication | ||
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| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
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| GR01 | Patent grant | ||
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