CN106768372A - 一种低温辐射计黑体腔 - Google Patents

一种低温辐射计黑体腔 Download PDF

Info

Publication number
CN106768372A
CN106768372A CN201610998162.8A CN201610998162A CN106768372A CN 106768372 A CN106768372 A CN 106768372A CN 201610998162 A CN201610998162 A CN 201610998162A CN 106768372 A CN106768372 A CN 106768372A
Authority
CN
China
Prior art keywords
cavity
chamber
cone
low temperature
normal cone
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CN201610998162.8A
Other languages
English (en)
Other versions
CN106768372B (zh
Inventor
刘红博
史学舜
刘玉龙
刘长明
赵坤
陈海东
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
CETC 41 Institute
Original Assignee
CETC 41 Institute
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by CETC 41 Institute filed Critical CETC 41 Institute
Priority to CN201610998162.8A priority Critical patent/CN106768372B/zh
Priority to PCT/CN2016/107244 priority patent/WO2018086162A1/zh
Publication of CN106768372A publication Critical patent/CN106768372A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN106768372B publication Critical patent/CN106768372B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J5/00Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
    • G01J5/02Constructional details
    • G01J5/0225Shape of the cavity itself or of elements contained in or suspended over the cavity

Abstract

本发明涉及光辐射测量领域,具体涉及一种低温辐射计黑体腔,包括由正圆锥侧面(6)、圆柱侧面(5)、斜底面(4)连接组成的腔体,正圆锥和圆柱的轴线(3)重合,正圆锥的母线与正圆锥的轴线形成夹角(1);正圆锥的细端设有腔入射口径(7),腔入射口径(7)所在平面与正圆锥的轴线(3)垂直;斜底面(4)与圆柱的轴线(3)之间形成夹角(2)。本发明采用斜底‑圆柱‑圆锥组合型腔体结构,圆锥形挡光设计可阻挡腔体外部杂散光,并减少腔体内部反射光溢出腔外,腔体内壁涂层采用纯镜面反射石墨烯材料,可减少光辐射在腔内的漫反射,温度分布相对集中,温度响应速度快。

Description

一种低温辐射计黑体腔
技术领域
本发明涉及光辐射测量领域,具体涉及一种低温辐射计黑体腔。
背景技术
低温辐射计是目前光辐射功率测量方面精度最高和光谱探测范围最宽的计量标准,它利用低温、真空和超导技术,将光辐射加热测量完全等效为电功率测量,其测量不确定度优于10-5量级,在遥感校准、气候变化、环境监测、光辐射计量等领域发挥了基础性的关键作用。
自上世纪90年代,英国NPL和美国NIST相继研制出低温辐射计,建立了光辐射功率测量基标准,开展了大量的实验研究和技术集成。其低温辐射计黑体腔基本都是采用斜底圆柱腔结构,主要由圆柱形侧面、倾角为30°的斜底面组成。被测光辐射沿腔体轴线方向进入黑体腔,经多次反射吸收后,将光辐射等效为电参数进行测量。美国Prokhorov等人曾对这种腔型结构的有效发射率进行过详细研究,当圆柱腔直径一定时,通过增加腔长可以获得接近1的光谱吸收率。但腔长不可能无限增长,入射到黑体腔内部的光辐射在腔体内表面发生漫反射,部分反射光将溢出腔外,造成光能损失。现有黑体腔内壁涂层材料的一次吸收率低,光辐射反射到圆柱腔壁上,增加光电不等效对测量不确定度的影响。
中国专利公告号CN102538958B公开了一种高吸收率辐射吸收腔,但与斜底圆柱腔相比,在相同腔长、相同半径及相同斜底面倾角的情况下,斜底圆锥腔体的内部表面积较大,为了实现斜底圆锥腔体温度响应的精确测量,需要在更多位置布置更多测温点,系统成本高且结构较复杂。
发明内容
为了解决现有技术在腔长有限的条件下光谱吸收率较低的问题,本发明提供了一种低温辐射计黑体腔,包括由正圆锥侧面(6)、圆柱侧面(5)、斜底面(4)连接组成的腔体,所述正圆锥和圆柱的轴线(3)重合,正圆锥的母线与正圆锥的轴线形成夹角(1);所述正圆锥的细端设有腔入射口径(7),腔入射口径(7)所在平面与正圆锥的轴线(3)垂直;所述斜底面(4)与圆柱的轴线(3)之间形成夹角(2)。
作为优选,所述夹角(1)的角度为45°。
作为优选,所述夹角(2)的角度为30°。
作为优选,所述腔入射口径(7)的半径为所述圆柱的半径的1/2。
作为优选,所述腔体的腔壁厚度为0.1mm。
作为优选,所述腔体的腔壁材料为OFHC高电导无氧铜。
作为优选,所述腔体的腔壁内侧涂抹石墨烯涂层,所述涂层采用纯镜面反射。
本发明的低温辐射计黑体腔的制作方法,包括如下步骤:
S1:采用精密机械加工工艺制作腔体壁厚0.1mm的圆柱腔,在圆柱腔一端切割,形成与腔体轴线夹角为30°的切割面,得到圆柱侧面(5);
S2:制作腔体壁厚0.1mm、顶角为45°的正圆锥形侧面,在正圆锥的粗端切割,得到与圆柱腔口径相同的切割面,在正圆锥细端切割得到腔入射口径1,保证切割面与圆锥的轴线垂直,得到正圆锥侧面(6);
S3:根据圆柱腔切割面的几何参数,制作与圆柱腔切割面相配合的的圆柱斜底面,得到斜底面(4);
S4:对步骤S1、S2、S3制作的圆柱侧面(5)、正圆锥侧面(6)、斜底面(4)的内表面进行高度抛光处理,并喷涂纯镜面反射的石墨烯涂层;
S5:把经过步骤S4处理的圆柱侧面(5)、正圆锥侧面(6)、斜底面(4)进行粘合。
本发明的低温辐射计黑体腔,具有如下优点:
(1)采用斜底-圆柱-圆锥组合型腔体结构,圆锥形挡光设计,即可作为入射孔径的光阑,阻挡腔体外部杂散光;又可以有效的增加表面反射次数或将射向出口的光线再次反射回腔内部,减少腔体内部漫反射光溢出腔外。该设计与无圆锥挡光设计情况下相比,随腔体长度增加可快速达到黑体腔吸收平衡状态,缩短腔体长度;
(2)内壁表面高度抛光,方便制作镜面反射石墨烯涂层,腔体内壁涂层采用纯镜面反射石墨烯材料,可减少光辐射在腔内的漫反射,使得光辐射在斜底面区域被最大限度的吸收;石墨烯材料光学性质稳定,吸收特性好,提高光辐射的单次吸收率,减少光辐射在腔内的反射次数,使得光辐射吸收区域相对集中,减小黑体腔光电不等效特性对测量不确定度的影响;石墨烯涂层可提升金属的热传导率,提高腔体热响应特性;
(3)与斜底圆锥腔体结构相比,在相同腔长、相同半径以及相同的斜底面倾角的情况下,本专利的斜底-圆柱-圆锥组合型吸收腔表面积小,温度分布相对集中,仅需要在腔体表面布置几个测温点,即可实现温度的精确测量,减小温度测量的不确定度;
(4)在腔体壁厚度相同的情况下,本发明腔体质量小于斜底-圆锥腔腔体质量,使得腔体具备较小的时间常数,温度响应速度快,实现低温辐射计的高精度测量。
附图说明
图1为本发明的整体结构示意图。
具体实施方式
下面结合附图和实例对本发明作进一步说明:
实施例1:
如图1所示,本实施例的低温辐射计黑体腔,包括由正圆锥侧面6、圆柱侧面5、斜底面4连接组成的腔体,所述正圆锥和圆柱的轴线3重合,正圆锥的母线与正圆锥的轴线形成夹角1为45°;所述正圆锥的细端设有腔入射口径7,腔入射口径7所在平面与正圆锥的轴线3垂直;所述斜底面4与圆柱的轴线3之间形成夹角2为30°。
正圆锥侧面6形成挡光设计,可作为腔入射口径7的光阑,阻挡腔体外部杂散光进入,并将射向出口的光线再次反射回腔内部;斜底面4可以有效增加表面反射次数;两者结合可以有效减少腔体内部漫反射光溢出腔外。与现有技术相比,本发明随腔体长度的增加可快速达到黑体腔吸收平衡的状态,通过设计正圆锥侧面6形成光阑,在相同光辐射吸收率的情况下,可以有效减小腔体的长度。
与斜底圆锥腔体结构相比,在相同腔长、相同半径以及相同的斜底面倾角的情况下,本专利的斜底-圆柱-圆锥组合型吸收腔表面积小,温度分布相对集中,仅需要在腔体表面布置几个测温点,即可实现温度的精确测量,温度测量的不确定度较低。
本实施例中,腔入射口径7的半径Rc为圆柱的半径Ra的1/2,即Rc=1/2Ra
腔体的腔壁厚度为0.1mm,腔体的腔壁材料为OFHC高电导无氧铜,在低温条件下,OFHC高电导无氧铜的热学性质良好,腔壁厚度为0.1mm,在腔壁厚度相同的情况下,本实施例的黑体腔质量更轻,导热速度较现有产品更快,可以实现低温辐射计的高精度校准。
腔体的腔壁内侧涂抹石墨烯涂层,所述涂层采用纯镜面反射。本实施例中的石墨烯涂层采用纳米纹理结构技术制造的超薄石墨烯片层,可吸收99%的入射光,石墨烯涂层厚度为15nm左右,光谱范围覆盖紫外到中红外的宽光谱范围。纯镜面反射的石墨烯涂层可减少光辐射在腔内的漫发射,使得光辐射在斜底面区域被最大限度的吸收,光辐射吸收率高;石墨烯材料化学性质稳定,吸收特性好,提高光辐射的单次吸收率,减少光辐射在腔内的反射次数,使得光辐射的吸收区域相对集中,减小黑体腔光电不等效特性对测量不确定度的影响;同时,石墨烯涂层可以提升腔壁金属的热传导率,提高腔体的热响应特性。
实施例2:
本实施例为实施例1的低温辐射计黑体腔的制作方法,包括如下步骤:
S1:采用精密机械加工工艺制作腔体壁厚0.1mm的圆柱腔,在圆柱腔一端切割,形成与圆柱轴线夹角为30°的切割面,得到圆柱侧面5;
S2:制作腔体壁厚0.1mm、顶角为45°的正圆锥形侧面,在正圆锥的粗端切割,得到与圆柱腔口径相同的切割面,在正圆锥细端切割得到腔入射口径7,保证切割面与圆锥的轴线垂直,得到正圆锥侧面6;
S3:根据圆柱腔切割面的几何参数,制作与圆柱腔切割面相配合的的圆柱斜底面,得到斜底面4;
S4:对步骤S1、S2、S3制作的圆柱侧面5、正圆锥侧面6、斜底面4的内表面进行高度抛光处理,并喷涂纯镜面反射的石墨烯涂层;
S5:把经过步骤S4处理的圆柱侧面5、正圆锥侧面6、斜底面4进行粘合,三者组合形成斜底-圆柱-圆锥组合型腔体结构。
对所公开的实施例的上述说明,使本领域专业技术人员能够实现或使用本发明,对这些实施例的多种修改对本领域的专业技术人员来说将是显而易见的。
应当理解的是,本申请旨在涵盖本发明的任何变型、用途或者适应性变化,这些变型、用途或者适应性变化遵循本发明的一般性原理并包括本发明未公开的本技术领域中的公知常识或惯用技术手段。

Claims (8)

1.一种低温辐射计黑体腔,其特征在于:包括由正圆锥侧面(6)、圆柱侧面(5)、斜底面(4)连接组成的腔体,所述正圆锥和圆柱的轴线(3)重合,正圆锥的母线与正圆锥的轴线形成夹角(1);所述正圆锥的细端设有腔入射口径(7),腔入射口径(7)所在平面与正圆锥的轴线(3)垂直;所述斜底面(4)与圆柱的轴线(3)之间形成夹角(2)。
2.如权利要求1所述的一种低温辐射计黑体腔,其特征在于:所述夹角(1)的角度为45°。
3.如权利要求1所述的一种低温辐射计黑体腔,其特征在于:所述夹角(2)的角度为30°。
4.如权利要求1所述的一种低温辐射计黑体腔,其特征在于:所述腔入射口径(7)的半径为所述圆柱的半径的1/2。
5.如权利要求1所述的一种低温辐射计黑体腔,其特征在于:所述腔体的腔壁厚度为0.1mm。
6.如权利要求1所述的一种低温辐射计黑体腔,其特征在于:所述腔体的腔壁材料为OFHC高电导无氧铜。
7.如权利要求1所述的一种低温辐射计黑体腔,其特征在于:所述腔体的腔壁内侧涂抹石墨烯涂层,所述涂层采用纯镜面反射。
8.一种如权利要求1-7中任一项所述低温辐射计黑体腔的制作方法,其特征在于,包括如下步骤:
S1:采用精密机械加工工艺制作腔体壁厚0.1mm的圆柱腔,在圆柱腔一端切割,形成与腔体轴线夹角为30°的切割面,得到圆柱侧面;
S2:制作腔体壁厚0.1mm、顶角为45°的正圆锥形侧面,在正圆锥的粗端切割,得到与圆柱腔口径相同的切割面,在正圆锥细端切割得到腔入射口径1,保证切割面与圆锥的轴线垂直,得到正圆锥侧面;
S3:根据圆柱腔切割面的几何参数,制作与圆柱腔切割面相配合的的圆柱斜底面,得到斜底面;
S4:对步骤S1、S2、S3制作的圆柱侧面、正圆锥侧面、斜底面的内表面进行高度抛光处理,并喷涂纯镜面反射的石墨烯涂层;
S5:把经过步骤S4处理的圆柱侧面、正圆锥侧面、斜底面进行粘合。
CN201610998162.8A 2016-11-14 2016-11-14 一种低温辐射计黑体腔 Active CN106768372B (zh)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201610998162.8A CN106768372B (zh) 2016-11-14 2016-11-14 一种低温辐射计黑体腔
PCT/CN2016/107244 WO2018086162A1 (zh) 2016-11-14 2016-11-25 一种低温辐射计黑体腔

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201610998162.8A CN106768372B (zh) 2016-11-14 2016-11-14 一种低温辐射计黑体腔

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN106768372A true CN106768372A (zh) 2017-05-31
CN106768372B CN106768372B (zh) 2019-04-30

Family

ID=58973319

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201610998162.8A Active CN106768372B (zh) 2016-11-14 2016-11-14 一种低温辐射计黑体腔

Country Status (2)

Country Link
CN (1) CN106768372B (zh)
WO (1) WO2018086162A1 (zh)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN108747213A (zh) * 2018-05-23 2018-11-06 中国电子科技集团公司第四十研究所 一种低温辐射计暗腔的精密成型方法
CN108801454A (zh) * 2018-05-24 2018-11-13 中国电子科技集团公司第四十研究所 一种低温辐射计热结构
CN110927841A (zh) * 2019-12-10 2020-03-27 中国计量科学研究院 光陷阱
US20210116305A1 (en) * 2019-10-18 2021-04-22 Joseph D LaVeigne Radiometric performance enhancement of extended area blackbodies

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN114279562B (zh) * 2021-12-24 2024-04-19 西安应用光学研究所 一种变温条件下黑体腔吸收系数的定标方法

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS60250223A (ja) * 1984-05-26 1985-12-10 Kawasaki Steel Corp 黒体炉
US4599507A (en) * 1981-07-07 1986-07-08 Chino Works, Ltd. Temperature control system for a blackbody furnace
TWI276787B (en) * 2004-03-11 2007-03-21 Ind Tech Res Inst Portable black body
CN202013242U (zh) * 2010-12-22 2011-10-19 中国计量科学研究院 一种带校准附件的黑体辐射源腔体装置

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101902162A (zh) * 2009-05-28 2010-12-01 北京智慧剑科技发展有限责任公司 一种黑体太阳能光电转化器
CN102538958B (zh) * 2011-12-23 2013-09-25 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 一种高吸收率辐射吸收腔

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4599507A (en) * 1981-07-07 1986-07-08 Chino Works, Ltd. Temperature control system for a blackbody furnace
JPS60250223A (ja) * 1984-05-26 1985-12-10 Kawasaki Steel Corp 黒体炉
TWI276787B (en) * 2004-03-11 2007-03-21 Ind Tech Res Inst Portable black body
CN202013242U (zh) * 2010-12-22 2011-10-19 中国计量科学研究院 一种带校准附件的黑体辐射源腔体装置

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
房落凤: "红外纺织品发射率测量方法", 《中国优秀硕士学位论文库》 *

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN108747213A (zh) * 2018-05-23 2018-11-06 中国电子科技集团公司第四十研究所 一种低温辐射计暗腔的精密成型方法
CN108801454A (zh) * 2018-05-24 2018-11-13 中国电子科技集团公司第四十研究所 一种低温辐射计热结构
US20210116305A1 (en) * 2019-10-18 2021-04-22 Joseph D LaVeigne Radiometric performance enhancement of extended area blackbodies
CN110927841A (zh) * 2019-12-10 2020-03-27 中国计量科学研究院 光陷阱

Also Published As

Publication number Publication date
WO2018086162A1 (zh) 2018-05-17
CN106768372B (zh) 2019-04-30

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN106768372A (zh) 一种低温辐射计黑体腔
CN107727247B (zh) 一种高温条件半透明材料光谱发射率测量装置及方法
US9933311B2 (en) Blackbody function
CN102749306B (zh) 双向反射分布函数(brdf)绝对测量装置
CN110993778A (zh) 一种基于薄膜横向热电效应的热流传感器
CN106370312A (zh) 绝对辐射计及绝对辐射计背景空间辐射传热的测量方法
JP2018073812A (ja) 層状構造を有する赤外線エミッタ
Worthing Temperature radiation emissivities and emittances
CN106969842A (zh) 一种光电传感器及红外测温仪
US6641302B2 (en) Thermal process apparatus for a semiconductor substrate
Chen et al. Temperature-dependent spectral emittance of bauxite and silica particle beds
CN103344341A (zh) 一种辐射测温装置及其温控方法
JP2006098295A (ja) 放射率測定装置
Shrestha et al. Steady heat conduction-based thermal conductivity measurement of single walled carbon nanotubes thin film using a micropipette thermal sensor
Che et al. Development of ReFaST pyrometer for measuring surface temperature with unknown emissivity: methodology, implementation, and validation
CN111678609A (zh) 一种高精度黑体腔及其制作方法
Zhang et al. A spectral emissivity measurement facility for solar absorbing coatings
CA2734960A1 (en) Calibration load
CN205808554U (zh) 无液氦光谱学恒温器黑体辐射光源样品室
Castrejón-García et al. Design, development, and evaluation of a simple blackbody radiative source
WO2018119573A1 (zh) 表面温度和发射率的测量装置和测量方法
US9182298B2 (en) Blackbody calibration standard for submillimeter frequency range
CN206787724U (zh) 一种光电传感器及红外测温仪
CN108240865B (zh) 表面温度和发射率的测量装置和测量方法
Liu et al. Research of a blackbody cavity for effective integrated emissivity with finite volume method

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant