CN106571113A - 一种显示模组的测试设备和测试方法 - Google Patents

Abstract

一种显示模组的测试设备和测试方法。所述显示模组的测试设备包括测试模块、自适应模块和桥接转换器，测试模块用于向自适应模块发送测试信号和要求极性信息，所述要求极性信息指示桥接转换器所要求的时序控制信号极性；自适应模块用于从测试模块接收测试信号和要求极性信息，使测试信号中的时序控制信号的极性适应要求极性信息中指示的桥接转换器所要求的时序控制信号极性，并将经过极性适应的测试信号发送至桥接转换器；桥接转换器用于从自适应模块接收经过极性适应的测试信号，对接收到的经过极性适应的测试信号进行桥接转换并发送给显示模组。可以避免由于测试设备生成的测试信号不符合测试设备的桥接转换接口的要求而导致测试异常。

Description

一种显示模组的测试设备和测试方法

技术领域

本发明涉及显示模组测试技术领域，更具体地，涉及一种显示模组的测试设备和测试方法。

背景技术

目前人们对移动设备、便携式设备的显示效果的要求越来越高，显示模组在不断改进以满足人们日益增长的需求。在显示模组的生产过程中需要对显示模组进行测试，例如对显示屏进行点灯测试。这要求用于测试显示模组的测试设备具有与显示模组相对应的桥接转换接口，例如，MIPI桥接转换器，以便向显示模组输出对应的测试信号。然而在测试过程中，如果测试设备生成的测试信号不符合测试设备的桥接转换接口的要求，将会导致桥接转换接口配置不正确，最终导致点灯异常或者无法点亮。

发明内容

本发明的实施例提供了显示模组的测试设备和测试方法，以避免由于测试设备生成的测试信号不符合测试设备的桥接转换接口的要求而导致测试异常。

本发明的一方面提供了一种显示模组的测试设备，包括：测试模块、自适应模块和桥接转换器，所述测试模块用于向所述自适应模块发送测试信号和要求极性信息，所述要求极性信息指示所述桥接转换器所要求的时序控制信号极性；所述自适应模块用于从所述测试模块接收所述测试信号和所述要求极性信息，使所述测试信号中的时序控制信号的极性适应所述要求极性信息中指示的桥接转换器所要求的时序控制信号极性，并将经过极性适应的测试信号发送至所述桥接转换器；所述桥接转换器用于从所述自适应模块接收所述经过极性适应的测试信号，对接收到的所述经过极性适应的测试信号进行桥接转换并发送给所述显示模组。

在一些实施例中，所述自适应模块包括确定单元、比较单元和取反处理单元，所述确定单元用于从所述测试模块接收所述测试信号和所述要求极性信息，确定从所述测试信号中的时序信号的极性并生成对所述测试信号中的时序信号的极性加以指示的信号极性信息，将所述测试信号、所述要求极性信息和所述信号极性信息发送至所述比较单元；所述比较单元用于将所述要求极性信息与所述信号极性信息相比较，以确定所述测试信号中的时序信号的极性是否与所述桥接转换器所要求的时序控制信号极性一致，如果是，则将所述测试信号发送至所述桥接转换器，否则将所述测试信号发送至所述取反处理单元；所述取反处理单元用于将所述测试信号中的时序控制信号取反处理并将经过取反处理的测试信号发送至所述桥接转换器。

在一些实施例中，所述测试信号中的时序控制信号的极性是根据所述测试信号中的时序控制信号的占空比来确定的。

在一些实施例中，所述测试模块包括信号源、信号转换器和处理器，所述信号源用于生成所述测试信号；所述信号转换器用于将所述信号源生成的所述测试信号转换成晶体管-晶体管逻辑(Transistor-Transistor Logic，TTL)信号并发送至所述自适应模块；以及所述处理器用于初始化配置所述桥接转换器，根据所述桥接转换器的初始化配置信息来确定所述桥接转换器所要求的时序控制信号极性，生成对所述桥接转换器所要求的时序控制信号极性加以指示的要求极性信息并发送至所述自适应模块。

在一些实施例中，所述要求极性信息是通过串口通信被发送至所述自适应模块的。

在一些实施例中，所述桥接转换器为移动产业处理器接口(Mobile IndustryProcessor Interface，MIPI)桥接芯片。

本发明的另一方面提供了一种显示模组的测试方法，包括：使测试信号中的时序控制信号的极性适应显示模组的测试设备的桥接转换器所要求的时序控制信号极性；以及利用所述桥接转换器对经过极性适应的测试信号进行桥接转换并发送给所述显示模组。

在一些实施例中，所述使测试信号中的时序控制信号的极性适应所述显示模组的测试设备的所述桥接转换器所要求的时序控制信号极性包括：确定所述测试信号中的时序信号的极性；以及确定所述测试信号中的时序信号的极性是否与所述桥接转换器所要求的时序控制信号极性一致，如果是，则将所述测试信号发送至所述桥接转换器，否则将所述测试信号中的时序控制信号取反处理并将经过取反处理的测试信号发送至所述桥接转换器。

在一些实施例中，所述测试信号中的时序控制信号的极性是根据所述测试信号中的时序控制信号的占空比来确定的。

在一些实施例中，在所述使测试信号中的时序控制信号的极性适应所述显示模组的测试设备的所述桥接转换器所要求的时序控制信号极性之前，还包括：生成测试信号，并将生成的测试信号转换成晶体管-晶体管逻辑TTL信号；以及初始化配置所述桥接转换器，并根据所述桥接转换器的初始化配置信息来确定所述桥接转换器所要求的时序控制信号极性。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例的技术方案，下面将对实施例的附图作简单介绍，显而易见地，下面的描述中的附图仅涉及本发明的一些实施例，而非对本发明的限制。

图1示出了根据本发明的实施例的显示模组的测试设备的图。

图2示出了根据本发明的实施例的显示模组的测试方法的图。

图3示出了根据本发明的实施例的显示模组的测试设备的框图。

图4示出了根据本发明的实施例的显示模组的测试方法的流程图。

图5a和5b示出了测试信号的示例的时序图。

具体实施方式

为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例的附图，对本发明实施例的技术方案进行清楚、完整的描述。显然所描述的实施例是本发明的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于所描述的本发明的实施例，本领域普通技术人员在无需创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

图1示出了根据本发明的实施例的显示模组的测试设备100的图。本实施例中所述的显示模组包括但不限于诸如液晶屏之类的显示屏、集成在触摸屏中的显示屏部分等等。

如图1所示，显示模组的测试设备100包括测试模块110、自适应模块120和桥接转换器130。

测试模块110用于向自适应模块120发送测试信号和要求极性信息，要求极性信息用于指示桥接转换器130所要求的时序控制信号极性。测试信号可以包括数据使能(DataEnable，DE)信号、同步(Synchronization，SYNC)信号和红绿蓝(Red Green Blue，RGB)数据，测试信号中的时序控制信号可以包括DE信号和SYNC信号。在一些实施例中，要求极性信息可以通过串口通信被发送至自适应模块120。

自适应模块120用于从测试模块110接收测试信号和要求极性信息，使测试信号中的时序控制信号的极性适应要求极性信息中指示桥接转换器130所要求的时序控制信号极性，并将经过极性适应的测试信号发送至桥接转换器130。在一些实施例中，测试信号中的时序控制信号的极性可以是根据测试信号中的时序控制信号的占空比来确定的。

桥接转换器130用于从自适应模块120接收经过极性适应的测试信号，对接收到的经过极性适应的测试信号进行桥接转换并发送给所述显示模组。在一些实施例中，桥接转换器130可以为MIPI桥接芯片，例如SSD2828或SSD2858等。

通常，MIPI桥接芯片对于测试信号中的RGB数据没有极性要求，但对于DE和SYNC信号的极性要求较为严格，当经过转换的传输到MIPI桥接芯片的DE和SYNC信号极性与MIPI桥接芯片要求的不同时会导致MIPI桥接芯片配置不正确，最终导致点灯异常或者无法点亮。本发明的实施例通过使测试信号中的时序控制信号的极性适应测试设备的桥接转换器所要求的时序控制信号极性，避免了由于测试设备生成的测试信号不符合测试设备的桥接转换接口的要求而导致测试异常。

图2示出了根据本发明的实施例的显示模组的测试方法200的图。

在步骤S210，使测试信号中的时序控制信号的极性适应显示模组的测试设备的桥接转换器所要求的时序控制信号极性。

在步骤S220，利用桥接转换器对经过极性适应的测试信号进行桥接转换并发送给显示模组。

在一些实施例中，步骤S210可以包括：确定测试信号中的时序信号的极性；确定测试信号中的时序信号的极性是否与桥接转换器所要求的时序控制信号极性一致，如果是，则将测试信号发送至桥接转换器，否则将测试信号中的时序控制信号取反处理并将经过取反处理的测试信号发送至桥接转换器。在一些实施例中，测试信号中的时序控制信号的极性可以是根据测试信号中的时序控制信号的占空比来确定的。

在一些实施例中，在步骤S210之前还可以包括：生成测试信号，并将生成的测试信号转换成晶体管-晶体管逻辑TTL信号；以及初始化配置桥接转换器，并根据桥接转换器的初始化配置信息来确定桥接转换器所要求的时序控制信号极性。在一些实施例中，桥接转换器的初始化配置信息可以包括指示了桥接转换器所要求的时序控制信号极性的串行外围接口SPI协议配置信息。

在一些实施例中，桥接转换器可以为MIPI桥接芯片。在一些实施例中，测试信号可以包括DE信号、同步SYNC信号和RGB数据，测试信号中的时序控制信号包括DE信号和SYNC信号。在一些实施例中生成的测试信号可以为低压差分信号LVDS信号或高清晰度多媒体接口HDMI信号。

图3示出了根据本发明的实施例的显示模组的测试设备300的框图。本实施例中的显示模组包括但不限于诸如液晶屏之类的显示屏、集成在触摸屏中的显示屏部分等等。

如图3所示，测试设备300可以包括测试模块310、自适应模块320和桥接转换器330。

测试模块310可以包括信号源3101、信号转换器3102和处理器3103。

信号源3101用于生成测试信号。信号源3101可以是诸如LVDS或HDMI信号源等类型的信号源，其生成诸如LVDS或HDMI信号之类的测试信号。图5a和5b示出了测试信号的示例的时序图。如图5a和5b所示，测试信号包括DE信号、SYNC信号和RGB数据(由“DATA”表示)，其中DE信号和SYNC信号为时序控制信号，SYNC信号包括水平同步信号HSYNC和垂直同步信号VSYNC。图5a中，HSYNC信号和VSYNC信号的极性均为高电平有效，DE信号的极性为高电平有效；在图5b中，HSYNC信号和VSYNC信号的极性均为低电平有效，DE信号的极性为高电平有效。图5中，有效数据区段由“ACTIVE DATA”表示，无效数据区段由“BLANKING”表示。从图5中可以看出，当HSYNC信号和DE信号均有效时，行数据有效，当VSYNC信号和DE信号均有效时，帧数据有效。也就是说，只有当SYNC信号和DE信号均有效时，RGB数据才有效。需要指出的是，在图5a和5b中，为了便于理解，将VSYNC和DE均有效时的有效数据区段绘制为连续有效的形式，虽然理论上RGB数据是严格按照YSYNC和DE均有效时才有效的方式而逐个画面间断地有效的。另外，虽然图5a和5b中DE信号均为高有效，然而这仅仅是本发明的示例，本发明实施例涵盖了DE信号为低有效的情况。

信号转换器3102用于将信号源3101生成的测试信号转换成TTL信号并发送至自适应模块320。

处理器3103用于初始化配置桥接转换器330，根据桥接转换器330的初始化配置信息来确定桥接转换器330所要求的时序控制信号极性，并将桥接转换器330所要求的时序控制信号极性发送至自适应模块320。在一些实施例中，桥接转换器330的初始化配置信息可以包括指示了桥接转换器330所要求的时序控制信号极性的串行外围接口SPI协议配置信息。处理器3103可以通过串口通信将桥接转换器所要求的时序控制信号极性发送至自适应模块320。例如，如果处理器3103发送给桥接转换器310的SPI初始化代码中指示SYNC信号和DE信号的极性为：SYNC信号高电平有效，DE信号高电平有效，则处理器3103通过串口通信向自适应模块320告知该信息，从而自适应模块320可以获知桥接转换器330要求SYNC信号和DE信号均为高电平有效。在一些实施例中，处理器3103可以为微处理器，例如微控制单元(MCU)。

自适应模块320可以包括确定单元3201、比较单元3202和取反处理单元3203。

确定单元3201用于从信号转换器3102接收测试信号，确定接收到的测试信号中的时序信号的极性并发送至比较单元3202。在一些实施例中，可以根据测试信号中的时序控制信号的占空比来确定测试信号中的时序控制信号的极性。例如，可以当计算出时序控制信号的占空比大于0.5时，确定该时序信号的极性为高电平有效，而小于0.5时确定该时序信号的极性为低电平有效。作为示例，参考图5a的上半部，HSYNC信号的一个周期内，高电平的持续时间大于低电平的持续时间，即，占空比大于0.5，则HSYNC信号为高电平有效；DE信号的一个周期内，高电平的持续时间大于低电平的持续时间，即，占空比大于0.5，则DE信号为高电平有效。类似地，参考图5a的下半部，VSYNC信号占空比大于0.5，为高电平有效，DE信号占空比大于0.5，为高电平有效。作为另一示例，在图5b的上半部，HSYNC信号的一个周期内，高电平的持续时间小于低电平的持续时间，即，占空比小于0.5，则表示HSYNC信号为低电平有效，而DE信号占空比大于0.5，为高电平有效；参考图5b的下半部，VSYNC信号占空比小于0.5，为低电平有效，DE信号占空比大于0.5，为高电平有效。

比较单元3202用于确定测试信号中的时序信号的极性是否与从处理器3103收到的桥接转换器所要求的时序控制信号极性一致，如果是，则将测试信号发送至桥接转换器330，否则将测试信号发送至取反处理单元3203。

取反处理单元3203用于将测试信号中的时序控制信号取反处理并将经过取反处理的测试信号发送至测试模块310中的桥接转换器330。

例如，如果测试信号中的DE信号和SYNC信号的极性如图5a所示，而桥接转换器要求所要求的DE信号和SYNC信号的极性如图5b所示，那么经过比较单元3202的比较可以确定二者SYNC信号的极性不一致，从而将图5a所示的测试信号经由取反处理单元3203进行取反处理，得到图5b所示的测试信号，再发送给桥接转换器330。反之，如果测试信号中的DE信号和SYNC信号的极性和桥接转换器要求所要求的DE信号和SYNC信号的极性均是如图5a所示的情况，则比较单元3202可以确定二者一致，无需取反处理就将测试信号发送至桥接转换器。通过这样的方式，确保了发送给桥接转换器330的DE信号和SYNC信号的极性与桥接转换器要求所要求的DE信号和SYNC信号的极性始终保持一致。

桥接转换器330用于从自适应模块320接收经过极性适应的测试信号，将其桥接转换后发送至显示模组。在一些实施例中，桥接转换器330可以为MIPI桥接芯片，例如SSD2828或SSD2858等，其可以将来自自适应模块320的TTL信号转换成MIPI信号并将MIPI信号发送至显示模组以进行点灯测试。

图4示出了根据本发明的实施例的显示模组的测试方法的流程图。

在步骤S410，生成测试信号。作为示例，生成的测试信号可以为诸如LVDS或HDMI等类型的信号。在一些实施例中，测试信号可以包括DE信号、SYNC信号和RGB数据，测试信号中的时序控制信号可以包括DE信号和SYNC信号，例如，如图5a和5b所示。

在步骤S420，将生成的诸如LVDS或HDMI等类型的测试信号转换成TTL信号。

在步骤S430，初始化配置显示模组的测试设备中包含的桥接转换器，并根据桥接转换器的初始化配置信息来确定桥接转换器所要求的时序控制信号极性。在一些实施例中，桥接转换器可以为MIPI桥接芯片，例如SSD2828或SSD2858等。在一些实施例中，桥接转换器的初始化配置信息可以包括指示了桥接转换器所要求的时序控制信号极性的SPI协议配置信息。

在步骤S440，确定测试信号中的时序信号的极性，并确定测试信号中的时序信号的极性是否与桥接转换器所要求的时序控制信号极性一致，如果是，则进行至步骤S450，否则进行至步骤S460。在一些实施例中，可以根据测试信号中的时序控制信号的占空比来确定测试信号中的时序控制信号的极性。

在步骤S450，将测试信号发送至桥接转换器。

在步骤S460，将测试信号中的时序控制信号取反处理，并进行至步骤S450。

在步骤S470，桥接转换器对经过极性适应的测试信号进行桥接转换并发送给显示模组。例如，当桥接转换器可以为例如SSD2828或SSD2858之类的MIPI桥接芯片时，MIPI桥接芯片可以将接收到的TTL信号转换成MIPI信号并发送至显示模组。显示模组可以进而可以根据接收到的测试信号进行显示，完成点灯测试。

在一些实施例中，上述方法400可以由以上参考图3描述的测试设备300来执行。例如，步骤S410可以由信号源3101执行，步骤S420可以由信号转换器3102执行，步骤S430可以由处理器3103执行，步骤S440、S450和S460可以由自适应模块320执行，步骤S470可以由桥接转换器S3103执行。

另外，上述方法400中各步骤的执行顺序并不局限于以上描述的顺序。例如，步骤S430可以与步骤S410和S420同时执行，在其之前执行，或在其之后执行。

本发明的实施例在显示模组的测试中，通过使测试信号中的时序控制信号的极性适应测试设备中包含的桥接转换器所要求的时序控制信号极性，避免了由于测试设备生成的测试信号不符合测试设备的桥接转换接口的要求而导致测试异常。一方面，当测试设备中出现极性不一致的情况时，既不需要修改桥接转换器的初始化代码，也不需要修改测试设备的程序来产生相反的测试信号，就可实现测试信号与桥接转换器的适应，简化了测试过程，方便用户使用。另一方面，由于发送至桥接转换器的测试信号中时序控制信号的极性总是符合桥接转换器的要求，所以不会出现由于测试信号不符合要求而导致的点灯异常问题，避免了与其他异常问题混淆而无法确定问题根源的情况，帮助用户节省了测试时间，提高测试的效率。

以上仅是本发明的示范性实施方式，而非用于限制本发明的保护范围，本发明的保护范围由所附的权利要求确定。

Claims (10)

1.一种显示模组的测试设备，包括：测试模块、自适应模块和桥接转换器，

所述测试模块用于向所述自适应模块发送测试信号和要求极性信息，所述要求极性信息指示所述桥接转换器所要求的时序控制信号极性；

所述自适应模块用于从所述测试模块接收所述测试信号和所述要求极性信息，使所述测试信号中的时序控制信号的极性适应所述要求极性信息中指示的桥接转换器所要求的时序控制信号极性，并将经过极性适应的测试信号发送至所述桥接转换器；

所述桥接转换器用于从所述自适应模块接收所述经过极性适应的测试信号，对接收到的所述经过极性适应的测试信号进行桥接转换并发送给所述显示模组。

2.根据权利要求1所述的显示模组的测试设备，其中，所述自适应模块包括确定单元、比较单元和取反处理单元，

所述确定单元用于从所述测试模块接收所述测试信号和所述要求极性信息，确定从所述测试信号中的时序信号的极性并生成对所述测试信号中的时序信号的极性加以指示的信号极性信息，将所述测试信号、所述要求极性信息和所述信号极性信息发送至所述比较单元；

所述比较单元用于将所述要求极性信息与所述信号极性信息相比较，以确定所述测试信号中的时序信号的极性是否与所述桥接转换器所要求的时序控制信号极性一致，如果是，则将所述测试信号发送至所述桥接转换器，否则将所述测试信号发送至所述取反处理单元；

所述取反处理单元用于将所述测试信号中的时序控制信号取反处理并将经过取反处理的测试信号发送至所述桥接转换器。

3.根据权利要求2所述的显示模组的测试设备，其中，所述测试信号中的时序控制信号的极性是根据所述测试信号中的时序控制信号的占空比来确定的。

4.根据权利要求1所述的显示模组的测试设备，其中，所述测试模块包括信号源、信号转换器和处理器，

所述信号源用于生成所述测试信号；

所述信号转换器用于将所述信号源生成的所述测试信号转换成晶体管-晶体管逻辑TTL信号并发送至所述自适应模块；

所述处理器用于初始化配置所述桥接转换器，根据所述桥接转换器的初始化配置信息来确定所述桥接转换器所要求的时序控制信号极性，生成对所述桥接转换器所要求的时序控制信号极性加以指示的要求极性信息并发送至所述自适应模块。

5.根据权利要求1所述的显示模组的测试设备，其中，所述要求极性信息是通过串口通信被发送至所述自适应模块的。

6.根据权利要求1至5中任一项所述的显示模组的测试设备，其中，所述桥接转换器为移动产业处理器接口MIPI桥接芯片。

7.一种显示模组的测试方法，包括：

使测试信号中的时序控制信号的极性适应显示模组的测试设备的桥接转换器所要求的时序控制信号极性；以及

利用所述桥接转换器对经过极性适应的测试信号进行桥接转换并发送给所述显示模组。

8.根据权利要求7所述的显示模组的测试方法，其中，所述使测试信号中的时序控制信号的极性适应所述显示模组的测试设备的所述桥接转换器所要求的时序控制信号极性包括：

确定所述测试信号中的时序信号的极性；以及

确定所述测试信号中的时序信号的极性是否与所述桥接转换器所要求的时序控制信号极性一致，如果是，则将所述测试信号发送至所述桥接转换器，否则将所述测试信号中的时序控制信号取反处理并将经过取反处理的测试信号发送至所述桥接转换器。

9.根据权利要求8所述的显示模组的测试方法，其中，所述测试信号中的时序控制信号的极性是根据所述测试信号中的时序控制信号的占空比来确定的。

10.根据权利要求7所述的显示模组的测试方法，其中，在所述使测试信号中的时序控制信号的极性适应所述显示模组的测试设备的所述桥接转换器所要求的时序控制信号极性之前，还包括：

生成测试信号，并将生成的测试信号转换成晶体管-晶体管逻辑TTL信号；以及

初始化配置所述桥接转换器，并根据所述桥接转换器的初始化配置信息来确定所述桥接转换器所要求的时序控制信号极性。