CN106500969B - 显示屏均匀性测试方法及显示屏均匀性测试系统 - Google Patents

显示屏均匀性测试方法及显示屏均匀性测试系统 Download PDF

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Abstract

本发明公开了一种显示屏均匀性测试方法，包括：获取预设的图像模板和待测试显示屏的显示状态图片，对所述图像模板进行缩放处理，以生成与所述显示状态图片尺寸相同的模板图像；将所述显示状态图片与所述模板图像进行叠加处理得到叠加图片，计算所述叠加图片的像素值均值；获取预设的参考均值，将所述像素值均值和所述参考均值进行比对，根据比对结果，输出所述待测试显示屏的均匀性测试结果。本发明还公开了一种显示屏均匀性测试系统。本发明的技术方案旨在提高显示屏的均匀性测试结果的准确性。

Description

显示屏均匀性测试方法及显示屏均匀性测试系统
技术领域
本发明涉及显示屏测试技术领域，尤其涉及一种显示屏均匀性测试方法及显示屏均匀性测试系统。
背景技术
显示屏常用作电视机或电脑等显示装置的显示部件，显示屏的亮度均匀性反应了显示屏均匀性的好坏。若显示屏均匀，则图像显示效果较好，反之，则显示效果较差。
现有技术中，通常采用九点测试法检测显示屏的均匀性，即在显示屏上随机选取九个样点或模块进行亮度测试，由于样点或模块的选择具有随机性，因此，样点的选择结果将影响显示屏的均匀性测试结果。
上述技术方案的弊端是，显示屏的均匀性测试结果不准确。
发明内容
本发明的主要目的在于提供一种显示屏均匀性测试方法，旨在避免显示屏的均匀性测试结果不准确的弊端。
为实现上述目的，本发明提供的显示屏均匀性测试方法，包括如下步骤：
获取预设的图像模板和待测试显示屏的显示状态图片，对所述图像模板进行缩放处理，以生成与所述显示状态图片尺寸相同的模板图像；
将所述显示状态图片与所述模板图像进行叠加处理得到叠加图片，计算所述叠加图片的像素值均值；
获取预设的参考均值，将所述像素值均值和所述参考均值进行比对，根据比对结果，输出所述待测试显示屏的均匀性测试结果。
优选地，所述获取预设的图像模板和待测试显示屏的显示状态图片，对所述图像模板进行缩放处理，以生成与所述显示状态图片尺寸相同的模板图像，包括：
获取预设的像素值自图像中部向图像边缘逐渐递减的像素值变化规律；
按照所述像素值变化规律，生成符合预设的像素值变化规律的所述图像模板；
获取所述图像模板的尺寸；
获取待测试显示屏的所述显示状态图片及所述显示状态图片的尺寸；
根据所述图像模板的尺寸、所述显示状态图片的尺寸和差值算法，对所述图像模板进行缩放处理，以生成与所述显示状态图片尺寸相同的模板图像。
优选地，所述根据所述图像模板的尺寸、所述显示状态图片的尺寸和差值算法，对所述图像模板进行缩放处理，以生成与所述显示状态图片尺寸相同的模板图像，包括：
根据所述显示状态图片的尺寸，对所述图像模板的尺寸进行缩放处理以生成尺寸与所述显示状态图片的尺寸相同的第一中间图像；
根据所述插值算法，对所述第一中间图像进行数据增删处理，以生成符合所述像素值变化规律的第一模板图像；
根据所述显示状态图片的尺寸，对所述图像模板的尺寸进行缩放处理以生成长度为所述显示状态图片的长度的四分之一，且宽度为所述显示状态图片的宽度的四分之一的第二中间图像；
根据所述插值算法，对所述第二中间图像进行数据增删处理，以使所述第二中间图像符合所述像素值变化规律；
对所述第二中间图像进行拷贝处理，以生成左上角、左下角、右上角及右下角分别分布所述第二中间图像，且尺寸与所述显示状态图片相同的第二模板图像。
优选地，所述将所述显示状态图片与所述模板图像进行叠加处理得到叠加图片，计算所述叠加图片的像素值均值之前，还包括：
将所述显示状态图片进行R、G、B三通道分离，以得到单独的R通道图像、G通道图像及B通道图像；
所述将所述显示状态图片与所述模板图像进行叠加处理得到叠加图片，计算所述叠加图片的像素值均值，包括：
将所述R通道图像分别与所述第一模板图像及所述第二模板图像进行叠加处理，以得到第一R通道叠加图片、第二R通道叠加图片、所述第一R通道叠加图片的像素值均值XR1及所述第二R通道叠加图片的像素值均值XR2，根据XR1及XR2计算得到R通道叠加图片像素值均值XR；
将所述G通道图像分别与所述第一模板图像及所述第二模板图像进行叠加处理，以得到第一G通道叠加图片、第二G通道叠加图片、所述第一G通道叠加图片的像素值均值XG1及所述第二G通道叠加图片的像素值均值XG2，根据XG1及XG2计算得到G通道叠加图片像素值均值XG；
将所述B通道图像分别与所述第一模板图像及所述第二模板图像进行叠加处理，以得到第一B通道叠加图片、第二B通道叠加图片、所述第一B通道叠加图片的像素值均值XB1及所述第二B通道叠加图片的的像素值均值XB2，根据XB1及XB2计算得到B通道叠加图片像素值均值XB；
根据XR、XG及XB，计算得到所述叠加图片的像素值均值S。
优选地，所述获取预设的参考均值，将所述像素值均值和所述参考均值进行比对，根据比对结果，输出所述待测试显示屏的均匀性测试结果之前，还包括：
获取各个像素点的像素值均相等的样本图片，将所述样本图片与所述模板图像进行叠加处理得到样本叠加图片，计算所述样本叠加图片的像素值均值；
将所述样本叠加图片的像素值均值确定为所述参考均值。
此外，为实现上述目的，本发明还提供一种显示屏均匀性测试系统，包括：
处理模块，用于获取预设的图像模板和待测试显示屏的显示状态图片，对所述图像模板进行缩放处理，以生成与所述显示状态图片尺寸相同的模板图像；
第一计算模块，用于将所述显示状态图片与所述模板图像进行叠加处理得到叠加图片，计算所述叠加图片的像素值均值；
比对模块，用于获取预设的参考均值，将所述像素值均值和所述参考均值进行比对，根据比对结果，输出所述待测试显示屏的均匀性测试结果。
优选地，所述处理模块包括：
第一获取单元，用于获取预设的像素值自图像中部向图像边缘逐渐递减的像素值变化规律；
第一生成单元，用于按照所述像素值变化规律，生成符合预设的像素值变化规律的所述图像模板；
第二获取单元，用于获取所述图像模板的尺寸；
第三获取单元，用于获取待测试显示屏的所述显示状态图片及所述显示状态图片的尺寸；
第二生成单元，用于根据所述图像模板的尺寸、所述显示状态图片的尺寸和差值算法，对所述图像模板进行缩放处理，以生成与所述显示状态图片尺寸相同的模板图像。
优选地，所述第二生成单元包括：
第一缩放子单元，用于根据所述显示状态图片的尺寸，对所述图像模板的尺寸进行缩放处理以生成尺寸与所述显示状态图片的尺寸相同的第一中间图像；
第一处理子单元，用于根据所述插值算法，对所述第一中间图像进行数据增删处理，以生成符合所述像素值变化规律的第一模板图像；
第二缩放子单元，用于根据所述显示状态图片的尺寸，对所述图像模板的尺寸进行缩放处理以生成长度为所述显示状态图片的长度的四分之一，且宽度为所述显示状态图片的宽度的四分之一的第二中间图像；
第二处理子单元，用于根据所述插值算法，对所述第二中间图像进行数据增删处理，以使所述第二中间图像符合所述像素值变化规律；
第三处理子单元，用于对所述第二中间图像进行拷贝处理，以生成左上角、左下角、右上角及右下角分别分布所述第二中间图像，且尺寸与所述显示状态图片相同的第二模板图像。
优选地，所述显示屏均匀性测试系统还包括：
分离模块，用于将所述显示状态图片进行R、G、B三通道分离，以得到单独的R通道图像、G通道图像及B通道图像；
所述第一计算模块包括：
第一计算单元，用于将所述R通道图像分别与所述第一模板图像及所述第二模板图像进行叠加处理，以得到第一R通道叠加图片、第二R通道叠加图片、所述第一R通道叠加图片的像素值均值XR1及所述第二R通道叠加图片的像素值均值XR2，根据XR1及XR2计算得到R通道叠加图片像素值均值XR；
第二计算单元，用于将所述G通道图像分别与所述第一模板图像及所述第二模板图像进行叠加处理，以得到第一G通道叠加图片、第二G通道叠加图片、所述第一G通道叠加图片的像素值均值XG1及所述第二G通道叠加图片的像素值均值XG2，根据XG1及XG2计算得到G通道叠加图片像素值均值XG；
第三计算单元，用于将所述B通道图像分别与所述第一模板图像及所述第二模板图像进行叠加处理，以得到第一B通道叠加图片、第二B通道叠加图片、所述第一B通道叠加图片的像素值均值XB1及所述第二B通道叠加图片的的像素值均值XB2，根据XB1及XB2计算得到B通道叠加图片像素值均值XB；
第四计算单元，用于根据XR、XG及XB，计算得到所述叠加图片的像素值均值S。
优选地，所述显示屏均匀性测试系统还包括：
第二计算模块，用于获取各个像素点的像素值相等的样本图片，将所述样本图片与所述模板图像进行叠加处理得到样本样本叠加图片，计算所述样本叠加图片的像素值均值；
确定模块，用于将所述样本叠加图片的像素值均值确定为所述参考均值。
在本发明的技术方案中，对所述图像模板进行缩放处理后，生成的模板图像与所述显示状态图片的尺寸相同，由所述显示状态图片与所述模板图像进行叠加处理得到叠加图片，通过将所述叠加图片的像素值均值与所述参考均值相比对，根据比对结果输出所述待测试显示屏的均匀性测试结果，计算得到的比对效果准确，有利于提高显示屏均匀性测试结果的准确性。
附图说明
图1为本发明显示屏均匀性测试方法第一实施例的流程示意图；
图2为本发明显示屏均匀性测试方法第二实施例的流程示意图；
图3为本发明显示屏均匀性测试方法第三实施例的流程示意图；
图4为本发明显示屏均匀性测试方法中的第一模板图像示意图；
图5为本发明显示屏均匀性测试方法中的第二模板图像示意图；
图6为本发明显示屏均匀性测试方法第四实施例的流程示意图；
图7为本发明显示屏均匀性测试方法中滤波后的显示状态图片变换到频域的示意图；
图8为图7所示的图片变换到时域的示意图；
图9为本发明显示屏均匀性测试方法中滤波后的显示状态图片与第一模板图像叠加得到的叠加图片示意图；
图10为本发明显示屏均匀性测试方法中滤波后的显示状态图片与第二模板图像叠加得到的叠加图片示意图；
图11为本发明显示屏均匀性测试方法中的第一R通道叠加图片示意图；
图12为本发明显示屏均匀性测试方法中的第二R通道叠加图片示意图；
图13为本发明显示屏均匀性测试方法中的第一G通道叠加图片示意图；
图14为本发明显示屏均匀性测试方法中的第二G通道叠加图片示意图；
图15为本发明显示屏均匀性测试方法中的第一B通道叠加图片示意图；
图16为本发明显示屏均匀性测试方法中的第二B通道叠加图片示意图；
图17为本发明显示屏均匀性测试方法第五实施例的流程示意图；
图18为本发明显示屏均匀性测试系统第一实施例的功能模块示意图；
图19为本发明显示屏均匀性测试系统第二实施例的功能模块示意图；
图20为本发明显示屏均匀性测试系统第三实施例的功能模块示意图；
图21为本发明显示屏均匀性测试系统第四实施例的功能模块示意图；
图22为本发明显示屏均匀性测试系统第五实施例的功能模块示意图。
本发明目的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。
具体实施方式
应在理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。
本发明提供一种显示屏均匀性测试方法。
请参阅图1，为实现上述目的，本发明的第一实施例提供一种显示屏均匀性测试方法，包括如下步骤：
步骤S10，获取预设的图像模板和待测试显示屏的显示状态图片，对所述图像模板进行缩放处理，以生成与所述显示状态图片尺寸相同的模板图像；
步骤S20，将所述显示状态图片与所述模板图像进行叠加处理得到叠加图片，计算所述叠加图片的像素值均值；
步骤S30，获取预设的参考均值，将所述像素值均值和所述参考均值进行比对，根据比对结果，输出所述待测试显示屏的均匀性测试结果。
在本发明的技术方案中，对所述图像模板进行缩放处理后，生成的模板图像与所述显示状态图片的尺寸相同，由所述显示状态图片与所述模板图像进行叠加处理得到叠加图片，通过将所述叠加图片的像素值均值与所述参考均值相比对，根据比对结果输出所述待测试显示屏的均匀性测试结果，计算得到的比对效果准确，有利于提高显示屏均匀性测试结果的准确性。
在对所述图像模板进行缩放处理时，最好还能保持所述图像模板的像素值变化规律，例如，所述图像模板预设为符合像素值自图像中心向图像边缘逐渐递减的变化规律，所述图像模板的中心像素点为a0，a0外围环绕一圈像素点a1，此圈像素点a1的外围还环绕有一圈像素点a2，如此类推，直至所述图像模板的边缘环绕一圈像素点an，a0、a1、a2直至an的像素值依次递减，假设所述图像模板的尺寸小于所述显示状态图片，需要对所述图像模板进行放大处理，在放大过程中，各个像素点a0、a1、a2至an的相对位置关系不变，a0、a1、a2至an的像素值关系仍符合依次递减的规律，按照差值计算方法对a0与a1之间、a1与a2之间及其他各个像素点之间进行数据填充，因此放大后获得的所述模板图像还能保持缩放前的像素值变化规律，也就是保持像素值自图像中心向图像边缘逐渐递减的规律。这样的好处是，便于用户通过叠加图片初步判断所述显示状态图片的均匀性好坏。具体的，若所述待测试显示屏的显示均匀性好，则由所述显示状态图片与所述模板图像进行叠加处理得到的叠加图片，仍能保持所述图像模板的像素值变化规律，反之，若所述待测试显示屏的显示均匀性不好，则所述叠加图片不能保持所述图像模板的像素值变化规律。
由所述显示状态图片与所述模板图像进行叠加处理得到叠加图片，通过将所述叠加图片的像素值均值与所述参考均值相比对，根据比对结果输出所述待测试显示屏的均匀性测试结果，计算得到的比对效果准确，有利于提高显示屏均匀性测试结果的准确性。
采用上述方法测量显示屏的均匀性，不需要移动亮度计对每个像素点样点进行测试，避免了样点选取的随机性导致的均匀性测试不准确问题，同时，也能提高测试速度。
所述显示状态图片是由高清晰度的摄像机拍摄获得，为了全面分析所述待测试显示屏的均匀性，因此，所述显示状态图片应当包括完整的显示屏。为了获得亮度高的所述显示状态图片，在进行显示状态图片拍摄时，可以使待测试显示屏处于全白场信号的显示状态。
在本实施例中，采用分辨率为2120×3800的摄像机获取所述显示状态图片。
所述图像模板优选小于或等于所述显示状态图片的尺寸。在本实施例中，初始生成的模板图像为1200*1920，当然，所述模板图像的尺寸并不以此为限，只要不超过所述显示状态图片的尺寸，均同理包含在本发明的保护范围之内。
将所述像素值均值和预设的所述参考均值进行比对，比对的结果还能直接反应出所述待测试显示屏的均匀性好坏。
请参阅图2，基于本发明的显示屏均匀性测试方法的第一实施例，本发明的显示屏均匀性测试方法的第二实施例中，步骤S10包括：
步骤S11，获取预设的像素值自图像中部向图像边缘逐渐递减的像素值变化规律；
步骤S12，按照所述像素值变化规律，生成符合预设的像素值变化规律的所述图像模板；
步骤S13，获取所述图像模板的尺寸；
步骤S14，获取待测试显示屏的所述显示状态图片及所述显示状态图片的尺寸；
步骤S15，根据所述图像模板的尺寸、所述显示状态图片的尺寸和差值算法，对所述图像模板进行缩放处理，以生成与所述显示状态图片尺寸相同的模板图像。
所述图像模板可以为16bit的图像，所述图像模板中的像素点符合像素值自图像中部向图像边缘逐渐递减的规律，此变化规律符合人眼的视觉观察规律，更便于用户进行显示屏均匀性分析。
在对所述图像进行缩放处理时，采用差值算法对缩放后的图像进行数据增删。所述插值算法的种类不限，在本实施例中，采用双线性差值算法。
同样的，对所述图像模板进行缩放处理后，形成的模板图像仍符合预设的像素值变化规律，因此，将所述图像模板与所述显示状态图片进行叠加后，可以通过观察所述叠加图片的像素值变化规律，初步判断所述待测试显示屏的均匀性好坏。具体的，若所述待测试显示屏的显示均匀性好，则由所述显示状态图片与所述模板图像进行叠加处理得到的叠加图片，仍能保持像素值自图像中部向图像边缘逐渐递减的变化规律，反之，若所述待测试显示屏的显示均匀性不好，则所述叠加图片不能保持像素值自图像中部向图像边缘逐渐递减的变化规律。
所述图像模板上的每个像素值均为预设值。在本实施例中，为了符合所述图像模板大小，将所述图像模板的中点的像素值设置为65535。为了利于计算，采用excel不断缩减填充方法生成亮度图像。所述图像模板的中点(600,960)像素值为65535，中点外围的像素点的像素值为65534，依次类推，像素值依次向外围递减1，直至所述图像模板的边缘像素点的像素值递减到0。
从图像中部到边缘的像素值变化规律可以是递减1，也可以是递减预设的任意数值，递减规律并不限于等差数列，也可以是任意其他规律，只要符合从图像中部到图像边缘像素值逐渐递减的规律即可。
所述图像模板的边缘像素值为0，因此，所述图像模板与一般的显示屏外围环绕黑色边框的结构特征相匹配。
请参阅图3，基于本发明的显示屏均匀性测试方法的第二实施例，本发明的显示屏均匀性测试方法的第三实施例中，步骤S15包括：
步骤S151，根据所述显示状态图片的尺寸，对所述图像模板的尺寸进行缩放处理以生成尺寸与所述显示状态图片的尺寸相同的第一中间图像；
步骤S152，根据所述插值算法，对所述第一中间图像进行数据增删处理，以生成符合所述像素值变化规律的第一模板图像；
步骤S153，根据所述显示状态图片的尺寸，对所述图像模板的尺寸进行缩放处理以生成长度为所述显示状态图片的长度的四分之一，且宽度为所述显示状态图片的宽度的四分之一的第二中间图像；
步骤S154，根据所述插值算法，对所述第二中间图像进行数据增删处理，以使所述第二中间图像符合所述像素值变化规律；
步骤S155，对所述第二中间图像进行拷贝处理，以生成左上角、左下角、右上角及右下角分别分布所述第二中间图像，且尺寸与所述显示状态图片相同的第二模板图像。
参见图4，所述第一模板图像与所述模板图像的像素值变化规律相同，因此，所述第一模板图像为中间亮且四周暗的图像。
根据所述插值算法，对所述第一中间图像进行数据增删处理，处理后得到的所述第一模板图像与所述显示状态图片的尺寸相同，有利于进行后续的图片叠加处理。
参见图5，所述第二模板图像由四个所述第二中间图像获得，因此，所述第二模板图像呈现中间暗，四周亮的效果。
所述第一模板图像为中间亮并由中间向四周逐渐变暗的图像，只考虑了所述待测试显示屏的中部均匀性的情况，并没有考虑所述待测试显示屏的四周均匀性的情况。所述第二模板图像为四周亮，并由四周向中间逐渐变暗的图像，考虑了所述待测试显示屏的四周均匀性变化的情况，互补了所述第一模板图像的不足。对所述待测试显示屏的均匀性测试应该对整个显示屏进行测试，因此将所述第一模板图像和所述第二模板图像计算出来的结果相叠加将反应整个所述待测试显示屏的均匀性的情况，使得到的不均匀性测试结果更加准确。
所述第二图像模板不仅可以按照上述方法形成，在保证所述第二图像模板与所述显示状态图片的尺寸相同的情况下，所述第二图像模板不仅可以由四个所述中间图像形成，还可以由八个所述中间图像形成(各个所述中间图像的像素值变化规律与预设的像素值变化规律相同)，只要能使所述第二模板图像满足中间暗，四周亮的像素值变化规律，与所述第一图像模板形成亮度互不即可。
基于本发明的显示屏均匀性测试方法的第三实施例，本发明的显示屏均匀性测试方法的第四实施例中，步骤S20之前，还包括：
步骤S40(图未示)，将所述显示状态图片进行R、G、B三通道分离，以得到单独的R通道图像、G通道图像及B通道图像。
请参照图6，所述步骤S20，包括：
步骤S21，将所述R通道图像分别与所述第一模板图像及所述第二模板图像进行叠加处理，以得到第一R通道叠加图片、第二R通道叠加图片、所述第一R通道叠加图片的像素值均值XR1及所述第二R通道叠加图片的像素值均值XR2，根据XR1及XR2计算得到R通道叠加图片像素值均值XR；
步骤S22，将所述G通道图像分别与所述第一模板图像及所述第二模板图像进行叠加处理，以得到第一G通道叠加图片、第二G通道叠加图片、所述第一G通道叠加图片的像素值均值XG1及所述第二G通道叠加图片的像素值均值XG2，根据XG1及XG2计算得到G通道叠加图片像素值均值XG；
步骤S23，将所述B通道图像分别与所述第一模板图像及所述第二模板图像进行叠加处理，以得到第一B通道叠加图片、第二B通道叠加图片、所述第一B通道叠加图片的像素值均值XB1及所述第二B通道叠加图片的的像素值均值XB2，根据XB1及XB2计算得到B通道叠加图片像素值均值XB；
步骤S24，根据XR、XG及XB，计算得到所述叠加图片的像素值均值S；
其中，
XR＝XR1+XR2；
XG＝XG1+XG2；
XB＝XB1+XB2；
ImgR(i,j)为所述R通道图像上的像素点对应的像素值，ImgG(i,j)为所述G通道图像上的像素点对应的像素值，ImgB(i,j)为所述B通道图像上的像素点对应的像素值，m1(i,j)为所述第一模板图像上的像素点对应的像素值，m2(i,j)为所述第二模板图像上的像素点对应的像素值，N1为所述显示状态图片的长，N2为所述显示状态图片的宽，0≤i≤N1，0≤j≤N2。
在进行所述显示状态图片与所述模板图像进行叠加处理之前，还可以对所述显示状态图片进行图像滤波处理，以滤除图像的噪声。
在本方案中，采用高斯滤波，首先将所述显示状态图片变换到频域，如7所示；截取出一定频域范围的数据，再将此数据变换到时域，如图8所示。频域范围数据的选择根据实际显示屏的效果进行选择，若显示屏均匀性差，则数值大，均匀性好，则数值小。这样将图像的噪声滤除并保留了所述显示状态图片本身的均匀性。
完成滤波后，可以将滤波处理后的所述显示状态图片直接与所述第一模板图像进行叠加(叠加图像参见图9)，并与所述第二模板图像进行叠加(叠加图像参见图10)；也可以将所述滤波处理后的所述显示状态图片先进行R、G、B三通道分离处理。
第一R通道叠加图片参见图11，第二R通道叠加图片参见图12，第一G通道叠加图片参见图13，第二G通道叠加图片参见图14，第一B通道叠加图片参见图15，第二B通道叠加图片参见图16。
在完成图片叠加步骤后，为了便于分析，还可以对各个叠加图片进行有效像素点的获取，即排除像素值为0的像素点，仅对像素值不为0的像素点进行后续分析，在拍摄所述显示状态图片时，为了获取全部显示区域的图片，通常会将显示屏的边框拍摄到图片中，而显示屏边框一般为黑色，通过排除像素值为0的步骤，可以排除所述显示状态图片中拍摄到的显示屏边框，避免显示屏边框区域图像对后续的均匀性分析造成干扰，因而仅获得显示屏自身显示区域的均匀性分析结果。
将每个单通道的图像分别与所述第一模板图像及所述第二模板图像进行叠加处理，XR、XG及XB分别代表R、G、B三通道图片的像素值均值，因此，通过对XR、XG及XB进行分析处理，可以分别得到R通道的均匀性情况、G通道的均匀性情况，B通道的均匀性情况，有利于更加全面地分析所述待测试显示屏的均匀性。
计算像素值均值S，并将计算结果与所述参考均值比较，数据的比较结果将更能反应所述待测试显示屏的均匀性。
请参照图17，基于本发明的显示屏均匀性测试方法的第一实施例至第四实施例，本发明的显示屏均匀性测试方法的第五实施例中，步骤S30之前，还包括：
步骤S50，获取各个像素点的像素值均相等的样本图片，将所述样本图片与所述模板图像进行叠加处理得到样本叠加图片，计算所述样本叠加图片的像素值均值；
步骤S60，将所述样本叠加图片的像素值均值确定为所述参考均值。
所述样本图片上的各个像素值均相等，在本实施例中，可以选择均匀性好的显示屏进行显示状态图片的拍摄，将拍摄的图片作为样本图片。将所述样本图片进行前文所述的滤波步骤，再对滤波后的图片进行R、G、B三通道分离处理，以得到R通道样本图片、G通道样本图片及B通道样本图片，分别将每个通道的样本图片与所述第一模板图像和第二模板图像进行叠加处理，以获得共计六张叠加图片，计算每一张叠加图片的像素值均值，最后，通过公式计算得到样本图片的像素值均值S’，将S与S’比较，根据比较结果，得出所述待测试显示屏的均匀性好坏。
具体的，在所述样本图片上的像素值均相等的前提下，当所述样本图片上的像素值大于或等于所述待测试显示屏的所述显示状态图片上的每个像素值时，若S小于S’时，则表示待测试显示屏的均匀性差；当所述样本图片上的像素值小于所述待测试显示屏的所述显示状态图片上的每个像素值时，若S小于S’时，则表示待测试显示屏的均匀性好。
此外，请参阅图18，为实现上述目的，本发明的第一实施例提供一种显示屏均匀性测试系统，所述显示屏均匀性测试系统包括：
处理模块10，用于获取预设的图像模板和待测试显示屏的显示状态图片，对所述图像模板进行缩放处理，以生成与所述显示状态图片尺寸相同的模板图像；
第一计算模块20，用于将所述显示状态图片与所述模板图像进行叠加处理得到叠加图片，计算所述叠加图片的像素值均值；
比对模块30，用于获取预设的参考均值，将所述像素值均值和所述参考均值进行比对，根据比对结果，输出所述待测试显示屏的均匀性测试结果。
在本发明的技术方案中，对所述图像模板进行缩放处理后，生成的模板图像与所述显示状态图片的尺寸相同，由所述显示状态图片与所述模板图像进行叠加处理得到叠加图片，通过将所述叠加图片的像素值均值与所述参考均值相比对，根据比对结果输出所述待测试显示屏的均匀性测试结果，计算得到的比对效果准确，有利于提高显示屏均匀性测试结果的准确性。
在对所述图像模板进行缩放处理时，最好还能保持所述图像模板的像素值变化规律，例如，所述图像模板预设为符合像素值自图像中心向图像边缘逐渐递减的变化规律，所述图像模板的中心像素点为a0，a0外围环绕一圈像素点a1，此圈像素点a1的外围还环绕有一圈像素点a2，如此类推，直至所述图像模板的边缘环绕一圈像素点an，a0、a1、a2直至an的像素值依次递减，假设所述图像模板的尺寸小于所述显示状态图片，需要对所述图像模板进行放大处理，在放大过程中，各个像素点a0、a1、a2至an的相对位置关系不变，a0、a1、a2至an的像素值关系仍符合依次递减的规律，按照差值计算方法对a0与a1之间、a1与a2之间及其他各个像素点之间进行数据填充，因此放大后获得的所述模板图像还能保持缩放前的像素值变化规律，也就是保持像素值自图像中心向图像边缘逐渐递减的规律。这样的好处是，便于用户通过叠加图片初步判断所述显示状态图片的均匀性好坏。具体的，若所述待测试显示屏的显示均匀性好，则由所述显示状态图片与所述模板图像进行叠加处理得到的叠加图片，仍能保持所述图像模板的像素值变化规律，反之，若所述待测试显示屏的显示均匀性不好，则所述叠加图片不能保持所述图像模板的像素值变化规律。
由所述显示状态图片与所述模板图像进行叠加处理得到叠加图片，通过将所述叠加图片的像素值均值与所述参考均值相比对，根据比对结果输出所述待测试显示屏的均匀性测试结果，计算得到的比对效果准确，有利于提高显示屏均匀性测试结果的准确性。
采用上述方法测量显示屏的均匀性，不需要移动亮度计对每个像素点样点进行测试，避免了样点选取的随机性导致的均匀性测试不准确问题，同时，也能提高测试速度。
所述显示状态图片是由高清晰度的摄像机拍摄获得，为了全面分析所述待测试显示屏的均匀性，因此，所述显示状态图片应当包括完整的显示屏。为了获得亮度高的所述显示状态图片，在进行显示状态图片拍摄时，可以使待测试显示屏处于全白场信号的显示状态。
在本实施例中，采用分辨率为2120×3800的摄像机获取所述显示状态图片。
所述图像模板优选小于或等于所述显示状态图片的尺寸。在本实施例中，初始生成的模板图像为1200*1920，当然，所述模板图像的尺寸并不以此为限，只要不超过所述显示状态图片的尺寸，均同理包含在本发明的保护范围之内。
将所述像素值均值和预设的所述参考均值进行比对，比对的结果还能直接反应出所述待测试显示屏的均匀性好坏。
请参阅图19，基于本发明的显示屏均匀性测试系统的第一实施例，本发明的显示屏均匀性测试系统的第二实施例中，所述处理模块10包括：
第一获取单元11，用于获取预设的像素值自图像中部向图像边缘逐渐递减的像素值变化规律；
第一生成单元12，用于按照所述像素值变化规律，生成符合预设的像素值变化规律的所述图像模板；
第二获取单元13，用于获取所述图像模板的尺寸；
第三获取单元14，用于获取待测试显示屏的所述显示状态图片及所述显示状态图片的尺寸；
第二生成单元15，用于根据所述图像模板的尺寸、所述显示状态图片的尺寸和差值算法，对所述图像模板进行缩放处理，以生成与所述显示状态图片尺寸相同的模板图像。。
所述图像模板可以为16bit的图像，所述图像模板中的像素点符合像素值自图像中部向图像边缘逐渐递减的规律，此变化规律符合人眼的视觉观察规律，更便于用户进行显示屏均匀性分析。
在对所述图像进行缩放处理时，采用差值算法对缩放后的图像进行数据增删。所述插值算法的种类不限，在本实施例中，采用双线性差值算法。
同样的，对所述图像模板进行缩放处理后，形成的模板图像仍符合预设的像素值变化规律，因此，将所述图像模板与所述显示状态图片进行叠加后，可以通过观察所述叠加图片的像素值变化规律，初步判断所述待测试显示屏的均匀性好坏。具体的，若所述待测试显示屏的显示均匀性好，则由所述显示状态图片与所述模板图像进行叠加处理得到的叠加图片，仍能保持像素值自图像中部向图像边缘逐渐递减的变化规律，反之，若所述待测试显示屏的显示均匀性不好，则所述叠加图片不能保持像素值自图像中部向图像边缘逐渐递减的变化规律。
所述图像模板上的每个像素值均为预设值。在本实施例中，为了符合所述图像模板大小，将所述图像模板的中点的像素值设置为65535。为了利于计算，采用excel不断缩减填充方法生成亮度图像。所述图像模板的中点(600,960)像素值为65535，中点外围的像素点的像素值为65534，依次类推，像素值依次向外围递减1，直至所述图像模板的边缘像素点的像素值递减到0。
从图像中部到边缘的像素值变化规律可以是递减1，也可以是递减预设的任意数值，递减规律并不限于等差数列，也可以是任意其他规律，只要符合从图像中部到图像边缘像素值逐渐递减的规律即可。
所述图像模板的边缘像素值为0，因此，所述图像模板与一般的显示屏外围环绕黑色边框的结构特征相匹配。
请参阅图20，基于本发明的显示屏均匀性测试系统的第二实施例，本发明的显示屏均匀性测试系统的第三实施例中，所述第二生成单元15包括：
第一缩放子单元151，用于根据所述显示状态图片的尺寸，对所述图像模板的尺寸进行缩放处理以生成尺寸与所述显示状态图片的尺寸相同的第一中间图像；
第一处理子单元152，用于根据所述插值算法，对所述第一中间图像进行数据增删处理，以生成符合所述像素值变化规律的第一模板图像；
第二缩放子单元153，用于根据所述显示状态图片的尺寸，对所述图像模板的尺寸进行缩放处理以生成长度为所述显示状态图片的长度的四分之一，且宽度为所述显示状态图片的宽度的四分之一的第二中间图像；
第二处理子单元154，用于根据所述插值算法，对所述第二中间图像进行数据增删处理，以使所述第二中间图像符合所述像素值变化规律；
第三处理子单元155，用于对所述第二中间图像进行拷贝处理，以生成左上角、左下角、右上角及右下角分别分布所述第二中间图像，且尺寸与所述显示状态图片相同的第二模板图像。
参见图4，所述第一模板图像与所述模板图像的像素值变化规律相同，因此，所述第一模板图像为中间亮且四周暗的图像。
根据所述插值算法，对所述第一中间图像进行数据增删处理，处理后得到的所述第一模板图像与所述显示状态图片的尺寸相同，有利于进行后续的图片叠加处理。
参见图5，所述第二模板图像由四个所述第二中间图像获得，因此，所述第二模板图像呈现中间暗，四周亮的效果。
所述第一模板图像为中间亮并由中间向四周逐渐变暗的图像，只考虑了所述待测试显示屏的中部均匀性的情况，并没有考虑所述待测试显示屏的四周均匀性的情况。所述第二模板图像为四周亮，并由四周向中间逐渐变暗的图像，考虑了所述待测试显示屏的四周均匀性变化的情况，互补了所述第一模板图像的不足。对所述待测试显示屏的均匀性测试应该对整个显示屏进行测试，因此将所述第一模板图像和所述第二模板图像计算出来的结果相叠加将反应整个所述待测试显示屏的均匀性的情况，使得到的不均匀性测试结果更加准确。
所述第二图像模板不仅可以按照上述方法形成，在保证所述第二图像模板与所述显示状态图片的尺寸相同的情况下，所述第二图像模板不仅可以由四个所述中间图像形成，还可以由八个所述中间图像形成(各个所述中间图像的像素值变化规律与预设的像素值变化规律相同)，只要能使所述第二模板图像满足中间暗，四周亮的像素值变化规律，与所述第一图像模板形成亮度互不即可
基于本发明的显示屏均匀性测试系统的第三实施例，本发明的显示屏均匀性测试系统的第四实施例中，所述显示屏均匀性测试系统还包括：
分离模块(图未示)，用于将所述显示状态图片进行R、G、B三通道分离，以得到单独的R通道图像、G通道图像及B通道图像；
请参阅图21，所述第一计算模块20包括：
第一计算单元21，用于将所述R通道图像分别与所述第一模板图像及所述第二模板图像进行叠加处理，以得到第一R通道叠加图片、第二R通道叠加图片、所述第一R通道叠加图片的像素值均值XR1及所述第二R通道叠加图片的像素值均值XR2，根据XR1及XR2计算得到R通道叠加图片像素值均值XR；
第二计算单元22，用于将所述G通道图像分别与所述第一模板图像及所述第二模板图像进行叠加处理，以得到第一G通道叠加图片、第二G通道叠加图片、所述第一G通道叠加图片的像素值均值XG1及所述第二G通道叠加图片的像素值均值XG2，根据XG1及XG2计算得到G通道叠加图片像素值均值XG；
第三计算单元23，用于将所述B通道图像分别与所述第一模板图像及所述第二模板图像进行叠加处理，以得到第一B通道叠加图片、第二B通道叠加图片、所述第一B通道叠加图片的像素值均值XB1及所述第二B通道叠加图片的的像素值均值XB2，根据XB1及XB2计算得到B通道叠加图片像素值均值XB；
第四计算单元24，用于根据XR、XG及XB，计算得到所述叠加图片的像素值均值S；
其中，
XR＝XR1+XR2；
XG＝XG1+XG2；
XB＝XB1+XB2；
ImgR(i,j)为所述R通道图像上的像素点对应的像素值，ImgG(i,j)为所述G通道图像上的像素点对应的像素值，ImgB(i,j)为所述B通道图像上的像素点对应的像素值，m1(i,j)为所述第一模板图像上的像素点对应的像素值，m2(i,j)为所述第二模板图像上的像素点对应的像素值，N1为所述显示状态图片的长，N2为所述显示状态图片的宽，0≤i≤N1，0≤j≤N2。
在进行所述显示状态图片与所述模板图像进行叠加处理之前，还可以对所述显示状态图片进行图像滤波处理，以滤除图像的噪声。
在本方案中，采用高斯滤波，首先将所述显示状态图片变换到频域，如7所示；截取出一定频域范围的数据，再将此数据变换到时域，如图8所示。频域范围数据的选择根据实际显示屏的效果进行选择，若显示屏均匀性差，则数值大，均匀性好，则数值小。这样将图像的噪声滤除并保留了所述显示状态图片本身的均匀性。
完成滤波后，可以将滤波处理后的所述显示状态图片直接与所述第一模板图像进行叠加(叠加图像参见图9)，并与所述第二模板图像进行叠加(叠加图像参见图10)；也可以将所述滤波处理后的所述显示状态图片先进行R、G、B三通道分离处理。
第一R通道叠加图片参见图11，第二R通道叠加图片参见图12，第一G通道叠加图片参见图13，第二G通道叠加图片参见图14，第一B通道叠加图片参见图15，第二B通道叠加图片参见图16。
在完成图片叠加步骤后，为了便于分析，还可以对各个叠加图片进行有效像素点的获取，即排除像素值为0的像素点，仅对像素值不为0的像素点进行后续分析，在拍摄所述显示状态图片时，为了获取全部显示区域的图片，通常会将显示屏的边框拍摄到图片中，而显示屏边框一般为黑色，通过排除像素值为0的步骤，可以排除所述显示状态图片中拍摄到的显示屏边框，避免显示屏边框区域图像对后续的均匀性分析造成干扰，因而仅获得显示屏自身显示区域的均匀性分析结果。
将每个单通道的图像分别与所述第一模板图像及所述第二模板图像进行叠加处理，XR、XG及XB分别代表R、G、B三通道图片的像素值均值，因此，通过对XR、XG及XB进行分析处理，可以分别得到R通道的均匀性情况、G通道的均匀性情况，B通道的均匀性情况，有利于更加全面地分析所述待测试显示屏的均匀性。
计算像素值均值S，并将计算结果与所述参考均值比较，数据的比较结果将更能反应所述待测试显示屏的均匀性。
请参照图22，基于本发明的显示屏均匀性测试系统的第一实施例至第四实施例，本发明的显示屏均匀性测试系统的第五实施例中，所述显示屏均匀性测试系统还包括：
第二计算模块50，用于获取各个像素点的像素值相等的样本图片，将所述样本图片与所述模板图像进行叠加处理得到样本样本叠加图片，计算所述样本叠加图片的像素值均值；
确定模块60，用于将所述样本叠加图片的像素值均值确定为所述参考均值。
所述样本图片上的各个像素值均相等，在本实施例中，可以选择均匀性好的显示屏进行显示状态图片的拍摄，将拍摄的图片作为样本图片。将所述样本图片进行前文所述的滤波步骤，再对滤波后的图片进行R、G、B三通道分离处理，以得到R通道样本图片、G通道样本图片及B通道样本图片，分别将每个通道的样本图片与所述第一模板图像和第二模板图像进行叠加处理，以获得共计六张叠加图片，计算每一张叠加图片的像素值均值，最后，通过公式计算得到样本图片的像素值均值S’，将S与S’比较，根据比较结果，得出所述待测试显示屏的均匀性好坏。
具体的，在所述样本图片上的像素值均相等的前提下，当所述样本图片上的像素值大于或等于所述待测试显示屏的所述显示状态图片上的每个像素值时，若S小于S’时，则表示待测试显示屏的均匀性差；当所述样本图片上的像素值小于所述待测试显示屏的所述显示状态图片上的每个像素值时，若S小于S’时，则表示待测试显示屏的均匀性好。
以上仅为本发明的优选实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本发明的专利保护范围内。

Claims (6)

1.一种显示屏均匀性测试方法，其特征在于，包括如下步骤：
获取预设的像素值自图像中部向图像边缘逐渐递减的像素值变化规律；
按照所述像素值变化规律，生成符合预设的像素值变化规律的图像模板；
获取所述图像模板的尺寸；
获取待测试显示屏的显示状态图片及所述显示状态图片的尺寸；
根据所述显示状态图片的尺寸，对所述图像模板的尺寸进行缩放处理以生成尺寸与所述显示状态图片的尺寸相同的第一中间图像；
根据插值算法，对所述第一中间图像进行数据增删处理，以生成符合所述像素值变化规律的第一模板图像；
根据所述显示状态图片的尺寸，对所述图像模板的尺寸进行缩放处理以生成长度为所述显示状态图片的长度的四分之一，且宽度为所述显示状态图片的宽度的四分之一的第二中间图像；
根据所述插值算法，对所述第二中间图像进行数据增删处理，以使所述第二中间图像符合所述像素值变化规律；
对所述第二中间图像进行拷贝处理，以生成左上角、左下角、右上角及右下角分别分布所述第二中间图像，且尺寸与所述显示状态图片相同的第二模板图像；
获取预设的图像模板和待测试显示屏的显示状态图片，对所述图像模板进行缩放处理，以生成与所述显示状态图片尺寸相同的模板图像；
将所述显示状态图片与所述模板图像进行叠加处理得到叠加图片，计算所述叠加图片的像素值均值；
获取预设的参考均值，将所述像素值均值和所述参考均值进行比对，根据比对结果，输出所述待测试显示屏的均匀性测试结果。
2.根据权利要求1所述的显示屏均匀性测试方法，其特征在于，所述将所述显示状态图片与所述模板图像进行叠加处理得到叠加图片，计算所述叠加图片的像素值均值之前，还包括：
将所述显示状态图片进行R、G、B三通道分离，以得到单独的R通道图像、G通道图像及B通道图像；
所述将所述显示状态图片与所述模板图像进行叠加处理得到叠加图片，计算所述叠加图片的像素值均值，包括：
将所述R通道图像分别与所述第一模板图像及所述第二模板图像进行叠加处理，以得到第一R通道叠加图片、第二R通道叠加图片、所述第一R通道叠加图片的像素值均值XR1及所述第二R通道叠加图片的像素值均值XR2，根据XR1及XR2计算得到R通道叠加图片像素值均值XR；
将所述G通道图像分别与所述第一模板图像及所述第二模板图像进行叠加处理，以得到第一G通道叠加图片、第二G通道叠加图片、所述第一G通道叠加图片的像素值均值XG1及所述第二G通道叠加图片的像素值均值XG2，根据XG1及XG2计算得到G通道叠加图片像素值均值XG；
将所述B通道图像分别与所述第一模板图像及所述第二模板图像进行叠加处理，以得到第一B通道叠加图片、第二B通道叠加图片、所述第一B通道叠加图片的像素值均值XB1及所述第二B通道叠加图片的的像素值均值XB2，根据XB1及XB2计算得到B通道叠加图片像素值均值XB；
根据XR、XG及XB，计算得到所述叠加图片的像素值均值S。
3.根据权利要求1至2中任意一项所述的显示屏均匀性测试方法，其特征在于，所述获取预设的参考均值，将所述像素值均值和所述参考均值进行比对，根据比对结果，输出所述待测试显示屏的均匀性测试结果之前，还包括：
获取各个像素点的像素值均相等的样本图片，将所述样本图片与所述模板图像进行叠加处理得到样本叠加图片，计算所述样本叠加图片的像素值均值；
将所述样本叠加图片的像素值均值确定为所述参考均值。
4.一种显示屏均匀性测试系统，其特征在于，包括：
处理模块，包括：
第一获取单元，用于获取预设的像素值自图像中部向图像边缘逐渐递减的像素值变化规律；
第一生成单元，用于按照所述像素值变化规律，生成符合预设的像素值变化规律的图像模板；
第二获取单元，用于获取所述图像模板的尺寸；
第三获取单元，用于获取待测试显示屏的显示状态图片及所述显示状态图片的尺寸；
第二生成单元，包括：
第一缩放子单元，用于根据所述显示状态图片的尺寸，对所述图像模板的尺寸进行缩放处理以生成尺寸与所述显示状态图片的尺寸相同的第一中间图像；
第一处理子单元，用于根据插值算法，对所述第一中间图像进行数据增删处理，以生成符合所述像素值变化规律的第一模板图像；
第二缩放子单元，用于根据所述显示状态图片的尺寸，对所述图像模板的尺寸进行缩放处理以生成长度为所述显示状态图片的长度的四分之一，且宽度为所述显示状态图片的宽度的四分之一的第二中间图像；
第二处理子单元，用于根据所述插值算法，对所述第二中间图像进行数据增删处理，以使所述第二中间图像符合所述像素值变化规律；
第三处理子单元，用于对所述第二中间图像进行拷贝处理，以生成左上角、左下角、右上角及右下角分别分布所述第二中间图像，且尺寸与所述显示状态图片相同的第二模板图像，用于根据所述图像模板的尺寸、所述显示状态图片的尺寸和差值算法，对所述图像模板进行缩放处理，以生成与所述显示状态图片尺寸相同的模板图像；
第一计算模块，用于将所述显示状态图片与所述模板图像进行叠加处理得到叠加图片，计算所述叠加图片的像素值均值；
比对模块，用于获取预设的参考均值，将所述像素值均值和所述参考均值进行比对，根据比对结果，输出所述待测试显示屏的均匀性测试结果。
5.根据权利要求4所述的显示屏均匀性测试系统，其特征在于，所述显示屏均匀性测试系统还包括：
分离模块，用于将所述显示状态图片进行R、G、B三通道分离，以得到单独的R通道图像、G通道图像及B通道图像；
所述第一计算模块包括：
第一计算单元，用于将所述R通道图像分别与所述第一模板图像及所述第二模板图像进行叠加处理，以得到第一R通道叠加图片、第二R通道叠加图片、所述第一R通道叠加图片的像素值均值XR1及所述第二R通道叠加图片的像素值均值XR2，根据XR1及XR2计算得到R通道叠加图片像素值均值XR；
第二计算单元，用于将所述G通道图像分别与所述第一模板图像及所述第二模板图像进行叠加处理，以得到第一G通道叠加图片、第二G通道叠加图片、所述第一G通道叠加图片的像素值均值XG1及所述第二G通道叠加图片的像素值均值XG2，根据XG1及XG2计算得到G通道叠加图片像素值均值XG；
第三计算单元，用于将所述B通道图像分别与所述第一模板图像及所述第二模板图像进行叠加处理，以得到第一B通道叠加图片、第二B通道叠加图片、所述第一B通道叠加图片的像素值均值XB1及所述第二B通道叠加图片的的像素值均值XB2，根据XB1及XB2计算得到B通道叠加图片像素值均值XB；
第四计算单元，用于根据XR、XG及XB，计算得到所述叠加图片的像素值均值S。
6.根据权利要求4至5中任意一项所述的显示屏均匀性测试系统，其特征在于，所述显示屏均匀性测试系统还包括：
第二计算模块，用于获取各个像素点的像素值相等的样本图片，将所述样本图片与所述模板图像进行叠加处理得到样本叠加图片，计算所述样本叠加图片的像素值均值；
确定模块，用于将所述样本叠加图片的像素值均值确定为所述参考均值。
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