CN106444715A - 一种温控器自动检测台 - Google Patents

Abstract

本发明提供了一种温控器自动检测台，包括台体和设置在所述台体上的发热体、降温装置和至少一个移动工作台，所述至少一个移动工作台包括插座、驱动装置和计数器；所述驱动装置连接所述插座，驱动所述插座靠近所述发热体或所述降温装置。本发明能够增加测试温控器使用寿命的效率。

Description

一种温控器自动检测台

技术领域

本发明涉及测试装置技术领域，尤其涉及一种温控器自动测试台。

背景技术

温控器是根据工作环境的温度变化，在开关内部发生物理形变，从而产生某些特殊效应，产生导通或者断开动作的一系列自动控制元件，也叫温控开关、温度保护器、温度控制器，简称温控器。或是通过温度保护器将温度传到温度控制器，温度控制器发出开关命令，从而控制设备的运行以达到理想的温度及节能效果，其应用范围非常广泛，根据不同种类的温控器应用在家电、电机、制冷或制热等众多产品中。

温控器的使用寿命是质量的主要技术指标，要测试温控器的寿命，现在用多道的测试手段，先将温控器连接上电源和负载，负载的大小要调整到温控器的额定电流，加热温控器外壳，加热到温控器的额定温度时，温控器就断开负载，再用吹风机吹冷温控器，如此加热、断开负载、吹冷后加热，一次次重复，至温控器到损坏，记录通断次数，这样手动测试，测试效率比较低。

发明内容

有鉴于此，本发明提供一种温控器自动检测台，能够增加测试温控器使用寿命的效率。

本发明提出的一种温控器自动检测台，包括台体和设置在所述台体上的发热体、降温装置和至少一个移动工作台，所述至少一个移动工作台包括插座、驱动装置和计数器；所述驱动装置连接所述插座，驱动所述插座靠近所述发热体或所述降温装置。

优选的，所述驱动装置包括电源，所述插座串联连接在所述驱动装置与所述电源的连接电路上。

优选的，所述驱动装置包括复位装置。

优选的，所述发热体为硅钼棒或硅碳棒或铬酸镧发热元件。

优选的，所述计数器为预置式计数器。

优选的，所述至少一个移动工作台还包括报警器。

优选的，所述降温装置为冷风机。

本发明提出的温控器自动检测台，通过将需要检测的温控器安装在插座上，至少一个工作台通过驱动装置驱动靠近发热体加热，并通过降温装置进行降温，重复加热和降温操作，计数器记录加热和降温的次数，从而不需要手动加热和降温，增加了测试的效率。

附图说明

图1为本发明温控器自动检测台的结构示意图；

图2为图1中A处放大图。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

如图1和图2所示，本发明实施例公开了一种温控器自动检测台，包括台体1和设置在台体1上的发热体2、降温装置3和至少一个移动工作台4，至少一个移动工作台4包括插座401、驱动装置402和计数器403；驱动装置402连接插座401，驱动插座401靠近发热体2或降温装置3。

可见，本发明实施例提出的温控器自动检测台，通过将需要检测的温控器安装在插座上，至少一个工作台通过驱动装置驱动靠近发热体加热，并通过降温装置进行降温，重复加热和降温操作，计数器记录加热和降温的次数，从而不需要手动加热和降温，增加了测试的效率。

在本发明的一个优选实施例中，驱动装置包括电源，插座串联连接在驱动装置与电源的连接电路上，驱动装置包括复位装置。

详细的，温控器可以控制电路的通断，通过将温控器串联在连接电路上，可以控制驱动装置的得电和失电。举例来说，温控器的控制温度在80摄氏度，当温控器的温度低于80摄氏度时，驱动装置通电，驱动带有温控器的插座靠近发热体加热温控器，此时压缩复位装置；当温控器被加热到80摄氏度时，驱动装置失电，驱动插座靠近发热体的驱动力消失，复位装置产生驱动力，驱动插座远离发热体，靠近降温装置进行降温，当温度降低到80摄氏度以下时，驱动装置再次得电驱动温控器靠近发热体加热，如此往复，至温控器损坏或达到规定次数。

其中，复位装置可以为复位弹簧等弹性元件，从而可以通过机械形变产生驱动力，从而可以节约能源。

在本发明的一个优选实施例中，发热体为硅钼棒或硅碳棒或铬酸镧发热元件。

其中，发热体的温度可以调节，根据温控器的测试温度进行设置和调整，便于迅速加热温控器，加快测试效率。

硅钼棒电热元件是一种以二硅化钼为基础制成的耐高温、抗氧化、低老化的电阻发热元件。在高温氧化性气氛下使用时，表面生成一层光亮致密的石英(SiO2)玻璃膜，能够保护硅钼棒内层不再氧化，因此硅钼棒元件具有独特的高温抗氧化性。当温度不变时电阻值稳定，在正常情况下元件电阻不随使用时间的长短而发生变化，因此，新旧硅钼棒电热元件可以混合使用。

硅碳棒是用高纯度绿色六方碳化硅为主要原料，按一定料比加工制坯，经2200℃高温硅化再结晶烧结而制成的棒状、管状非金属高温电热元件。氧化性气氛中正常使用温度可达1450℃，连续使用可达2000小时。由于硅碳棒使用温度高，具有耐高温、抗氧化、耐腐蚀、升温快、寿命长、高温变形小、安装维修方便等特点，且有良好的化学稳定性。与自动化电控系统配套，可得到精确的恒定温度，又可根据生产工艺的需要按曲线自动调温，通过硅碳棒可以十分便捷的控制温度。

铬酸镧发热元件是以铬酸镧为主要成分,在高温氧化气氛电炉中使用的电阻发热元件，耗能少，可以精确控制温度。

在本发明的一个优选实施例中，计数器为预置式计数器。

在进行温控器的使用寿命测试时，当不需要完全测试出温控器的使用寿命时，可以预置合格温控器所需的测试次数，当达到预置的次数，即完成测试，从而增加了测试的效率。

在本发明的一个优选实施例中，至少一个移动工作台还包括报警器。

当完成单个温控器的寿命测试后，报警器可以进行灯光或声音等进行报警，提醒工作人员记录次数并及时更换新的温控器进行测试，从而增加了测试的效率。

在本发明的一个优选实施例中，降温装置为冷风机。

冷风机(蒸发式冷气机)降温原理是：当风机运行时进入腔内产生负压，使机外空气流过多孔湿润的湿帘表面迫使过帘空气的干球温度降至接近于机外空气的湿球温度，即冷风机出口的干球温度比室外干球温度低5-12℃(干热地区可达15℃)，空气愈干热，其温差愈大，降温效果越好。通过冷风机可以迅速将温控器降温，增加测试效率。

在本发明实施例中，将至少一个移动工作台安装在降温装置和发热体之间，进行温控器的使用寿命测试时，驱动装置驱动插座带着温控器在降温装置和发热体之间往复运动，从而可以同时测试多个温控器的使用寿命。发热体和降温装置一直处于工作状态，控制至少一个温控器接近发热体或降温装置就可以进行加热或降温。当不同的温控器的加热速率不同时，温控器之间也不会受到影响，通过各自的移动工作台中的计数器进行计数，从而可以避免不同温控器之间的干扰。同时也可以避免发热体周围温度不均匀导致温控器测试困难的情况。

综上所述，本发明实施例至少可以实现如下效果：

在本发明实施例中，通过将需要检测的温控器安装在插座上，至少一个工作台通过驱动装置驱动靠近发热体加热，并通过降温装置进行降温，重复加热和降温操作，计数器记录加热和降温的次数，从而不需要手动加热和降温，增加了测试的效率。

本发明实施例中，通过将插座串联连接在驱动装置与电源的连接电路上，从而当温控器安装在插座上时，可以控制驱动装置的电源，从而不需要安装额外的控制装置控制驱动装置，从而节约了成本。

在本发明实施例中，驱动装置包括复位装置，从而可以通过复位装置的机械能产生驱动力驱动移动工作台移动，从而节约了能源。

在本发明实施例中，发热体为硅钼棒或硅碳棒或铬酸镧发热元件，从而可以根据需要控制发热体的温度，使测试的效率更高。

在本发明实施例中，计数器为预置式计数器，从而可以不用测试温控器完全损坏的次数，当温控器达到一定的次数即合格，从而节约了时间，增加了测试效率。

在本发明实施例中，降温装置为冷风机，从而可以迅速给温控器降温，增加了测试效率。

在本发明实施例中，至少一个移动工作台还包括报警器，从而可以在测试完成后及时通知工作人员进行下一步操作，增加了测试效率。

最后需要说明的是：以上所述仅为本发明的较佳实施例，仅用于说明本发明的技术方案，并非用于限定本发明的保护范围。凡在本发明的精神和原则之内所做的任何修改、等同替换、改进等，均包含在本发明的保护范围内。

Claims (7)

1.一种温控器自动检测台，其特征在于，包括台体和设置在所述台体上的发热体、降温装置和至少一个移动工作台，所述至少一个移动工作台包括插座、驱动装置和计数器；所述驱动装置连接所述插座，驱动所述插座靠近所述发热体或所述降温装置。

2.如权利要求1所述的温控器自动检测台，其特征在于，所述驱动装置包括电源，所述插座串联连接在所述驱动装置与所述电源的连接电路上。

3.如权利要求2所述的温控器自动检测台，其特征在于，所述驱动装置包括复位装置。

4.如权利要求1所述的温控器自动检测台，其特征在于，所述发热体为硅钼棒或硅碳棒或铬酸镧发热元件。

5.如权利要求1所述的温控器自动检测台，其特征在于，所述计数器为预置式计数器。

6.如权利要求1所述的温控器自动检测台，其特征在于，所述至少一个移动工作台还包括报警器。

7.如权利要求1-6任一项所述的温控器自动检测台，其特征在于，所述降温装置为冷风机。