CN106353636A - 适用于不同尺寸连接器的测试装置 - Google Patents

适用于不同尺寸连接器的测试装置 Download PDF

Info

Publication number
CN106353636A
CN106353636A CN201610735657.1A CN201610735657A CN106353636A CN 106353636 A CN106353636 A CN 106353636A CN 201610735657 A CN201610735657 A CN 201610735657A CN 106353636 A CN106353636 A CN 106353636A
Authority
CN
China
Prior art keywords
mentioned
different size
test
hole
test card
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN201610735657.1A
Other languages
English (en)
Inventor
黎伟
梅进晖
李俊武
任正伟
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Kunshan Ming Chuan Electronic Science And Technology Co Ltd
Original Assignee
Kunshan Ming Chuan Electronic Science And Technology Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Kunshan Ming Chuan Electronic Science And Technology Co Ltd filed Critical Kunshan Ming Chuan Electronic Science And Technology Co Ltd
Priority to CN201610735657.1A priority Critical patent/CN106353636A/zh
Publication of CN106353636A publication Critical patent/CN106353636A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/50Testing of electric apparatus, lines, cables or components for short-circuits, continuity, leakage current or incorrect line connections
    • G01R31/66Testing of connections, e.g. of plugs or non-disconnectable joints
    • G01R31/68Testing of releasable connections, e.g. of terminals mounted on a printed circuit board

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)

Abstract

本发明公开了一种适用于不同尺寸连接器的测试装置,包括:放置具有多个连接器的PCB基板的基台,置于基台上的移动件,连接于移动件的升降组件,连接于升降组件并用于固定测试卡的固定组件;固定组件组成有:垂直固定于升降组件的连接杆,设于连接杆上的连接通孔,设有安装片并卡接于测试卡两侧的限位片,穿过安装片与连接通孔的螺栓。本发明提供一种能够自动完成一个PCB板上全部连接器的检测工作的连接器检测装置,本发明通过限位片稳定固定测试卡,限位片的位置可以调节,从而适应不同尺寸的连接器;本发明能自动将测试卡移位到另一个连接器位置,进行插拔测试,期间只需人为将测试卡更换即可,无需移动PCB,降低人力消耗,提高测试效率。

Description

适用于不同尺寸连接器的测试装置
技术领域
一种测试装置,特别是一种连接器测试装置。
背景技术
连接器泛指所有用于电子信号或电源连接的元件及其附属元件,主要功能为接通电路或连接电子装置以传输电源或信号。为避免因为连接器的质量不合格造成电子装置损坏或无法使用,制造商就需对连接器进行测试,检测是否是良品。在连接器的测试过程中,有一项为连接器的插拔测试,其方法是制作一个与待测连接器配合的测试卡,将也就是用测试卡与待测连接器进行插拔测试,当插拔次数达到规定的次数后,待测连接器仍然可以正常工作,即表示待测连接器插拔测试成功。现有技术中缺乏能自动完成一个PCB板上全部连接器的检测工作的检测装置。
发明内容
为解决现有技术的不足,本发明的目的在于提供一种能够自动完成一个PCB板上全部连接器的检测工作的连接器检测装置,本发明通过限位片稳定固定测试卡,限位片的位置可以调节,从而适应不同尺寸的连接器;本发明能自动将测试卡移位到另一个连接器位置,进行插拔测试,期间只需人为将测试卡更换即可,无需移动PCB,降低人力消耗,提高测试效率。
为了实现上述目标,本发明采用如下的技术方案:
适用于不同尺寸连接器的测试装置,包括:放置具有多个连接器的PCB基板的基台,置于基台上的移动件,连接于移动件的升降组件,连接于升降组件并用于固定测试卡的固定组件;固定组件组成有:垂直固定于升降组件的连接杆,设于连接杆上的连接通孔,设有安装片并卡接于测试卡两侧的限位片,穿过安装片与连接通孔的螺栓。
前述的适用于不同尺寸连接器的测试装置,安装片上设有贯穿螺栓的安装通孔。
前述的适用于不同尺寸连接器的测试装置,连接通孔的中心点的连线平行于连接器。
前述的适用于不同尺寸连接器的测试装置,限位片设有卡接于测试卡的卡接槽,对应于测试卡通孔的安装孔。
前述的适用于不同尺寸连接器的测试装置,还包括:贯穿于测试卡通孔与安装孔的安装螺栓,限位于安装螺栓两侧的螺帽。
前述的适用于不同尺寸连接器的测试装置,移动件垂直于测试卡。
前述的适用于不同尺寸连接器的测试装置,移动件为导轨。
前述的适用于不同尺寸连接器的测试装置,升降组件组成有:置于移动件上的气缸,连接于气缸并固定于连接杆的活塞杆。
本发明的有益之处在于:本发明提供一种能够自动完成一个PCB板上全部连接器的检测工作的连接器检测装置,本发明通过限位片稳定固定测试卡,限位片的位置可以调节,从而适应不同尺寸的连接器;本发明能自动将测试卡移位到另一个连接器位置,进行插拔测试,期间只需人为将测试卡更换即可,无需移动PCB,降低人力消耗,提高测试效率。
附图说明
图1是本发明的一种实施例的截面图;
图2是本发明的一种实施例的主视图;
图3是本发明限位片的一种实施例的主视图;
图中附图标记的含义:
1 连接器,2 基台,3 移动件,4 连接杆,401 连接通孔,5 限位片,501卡接槽,502安装孔,6 气缸,7 活塞杆,8 测试卡,9 安装片,901 安装通孔。
具体实施方式
以下结合附图和具体实施例对本发明作具体的介绍。
适用于不同尺寸连接器的测试装置,包括:放置具有多个连接器1的PCB基板的基台2,置于基台2上的移动件3,连接于移动件3的升降组件,连接于升降组件并用于固定测试卡8的固定组件;固定组件组成有:垂直固定于升降组件的连接杆4,设于连接杆4上的连接通孔401,设有安装片9并卡接于测试卡8两侧的限位片5,穿过安装片9与连接通孔401的螺栓。需要说明的是,安装片9为延伸于限位片5的薄片凸起。安装片9上设有贯穿螺栓的安装通孔901;通过螺栓穿过安装通孔901与连接通孔401,实现将安装片9固定在连接杆4上;这样的设计方便限位片5根据测试卡8的尺寸更改固定位置,从而适应多种尺寸。连接通孔401有多个,连接通孔401的中心点的连线平行于连接器1。
限位片5设有卡接于测试卡8的卡接槽501,对应于测试卡8通孔的安装孔502。为了能够稳定固定测试卡8在限位片5之间,测试装置,还包括:贯穿于测试卡8通孔与安装孔502的安装螺栓,限位于安装螺栓两侧的螺帽。测试卡8限位在两个卡接槽501之间,将安装螺栓穿过测试卡8自身带有的通孔和限位片5上的安装孔502,在安装螺栓的两侧限位螺母,实现稳定固定。
移动件3垂直于测试卡8,移动件3垂直于测试卡8,作为一种优选,移动件3为导轨。在测试卡8完成一个连接器1的测试后,将测试卡8更换后,驱动导轨,将连接杆4移动到另一个连接器1的位置,继续驱动升降组件实现活塞运动,完成插拔测试。
升降组件组成有:置于移动件3上的气缸6,连接于气缸6并固定于连接杆4的活塞杆7。驱动气缸6运行,带动活塞杆7实现活塞运动,完成插拔测试。
本发明提供一种能够自动完成一个PCB板上全部连接器1的检测工作的连接器1检测装置,本发明通过限位片5稳定固定测试卡8,限位片5的位置可以调节,从而适应不同尺寸的连接器1;本发明能自动将测试卡8移位到另一个连接器1位置,进行插拔测试,期间只需人为将测试卡8更换即可,无需移动PCB,降低人力消耗,提高测试效率。
以上显示和描述了本发明的基本原理、主要特征和优点。本行业的技术人员应该了解,上述实施例不以任何形式限制本发明,凡采用等同替换或等效变换的方式所获得的技术方案,均落在本发明的保护范围内。

Claims (8)

1.适用于不同尺寸连接器的测试装置,其特征在于,包括:放置具有多个连接器的PCB基板的基台,置于上述基台上的移动件,连接于上述移动件的升降组件,连接于上述升降组件并用于固定测试卡的固定组件;上述固定组件组成有:垂直固定于上述升降组件的连接杆,设于上述连接杆上的连接通孔,设有安装片并卡接于测试卡两侧的限位片,穿过上述安装片与通孔的螺栓。
2.根据权利要求1所述的适用于不同尺寸连接器的测试装置,其特征在于,上述安装片上设有贯穿螺栓的安装通孔。
3.根据权利要求1所述的适用于不同尺寸连接器的测试装置,其特征在于,上述连接通孔的中心点的连线平行于连接器。
4.根据权利要求1所述的适用于不同尺寸连接器的测试装置,其特征在于,上述限位片设有卡接于上述测试卡的卡接槽,对应于测试卡通孔的安装孔。
5.根据权利要求4所述的适用于不同尺寸连接器的测试装置,其特征在于,还包括:贯穿于上述测试卡通孔与安装孔的安装螺栓,限位于上述安装螺栓两侧的螺帽。
6.根据权利要求1所述的适用于不同尺寸连接器的测试装置,其特征在于,上述移动件垂直于上述测试卡。
7.根据权利要求6所述的适用于不同尺寸连接器的测试装置,其特征在于,上述移动件为导轨。
8.根据权利要求1所述的适用于不同尺寸连接器的测试装置,其特征在于,上述升降组件组成有:置于上述移动件上的气缸,连接于上述气缸并固定于上述连接杆的活塞杆。
CN201610735657.1A 2016-08-26 2016-08-26 适用于不同尺寸连接器的测试装置 Pending CN106353636A (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201610735657.1A CN106353636A (zh) 2016-08-26 2016-08-26 适用于不同尺寸连接器的测试装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201610735657.1A CN106353636A (zh) 2016-08-26 2016-08-26 适用于不同尺寸连接器的测试装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN106353636A true CN106353636A (zh) 2017-01-25

Family

ID=57855108

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201610735657.1A Pending CN106353636A (zh) 2016-08-26 2016-08-26 适用于不同尺寸连接器的测试装置

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN106353636A (zh)

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1821790A (zh) * 2006-02-10 2006-08-23 友达光电股份有限公司 电子组件测试系统的万用型探针装置
CN1991399A (zh) * 2005-12-26 2007-07-04 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 连接器测试装置
CN102645592A (zh) * 2011-02-21 2012-08-22 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 连接器寿命测试机
CN103308788A (zh) * 2012-03-09 2013-09-18 海洋王(东莞)照明科技有限公司 一种灯具充电插头插拔测试固定装置
CN104002126A (zh) * 2014-05-22 2014-08-27 昆山市大久电子有限公司 全自动螺丝刀

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1991399A (zh) * 2005-12-26 2007-07-04 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 连接器测试装置
CN1821790A (zh) * 2006-02-10 2006-08-23 友达光电股份有限公司 电子组件测试系统的万用型探针装置
CN102645592A (zh) * 2011-02-21 2012-08-22 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 连接器寿命测试机
CN103308788A (zh) * 2012-03-09 2013-09-18 海洋王(东莞)照明科技有限公司 一种灯具充电插头插拔测试固定装置
CN104002126A (zh) * 2014-05-22 2014-08-27 昆山市大久电子有限公司 全自动螺丝刀

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US11415557B2 (en) Tempo-spatial evolution test system for rock breaking in deep and complex environment
CN208889994U (zh) 一种连接器
CN1991399A (zh) 连接器测试装置
CN102621443B (zh) 一种拖线板的测试装置
CN210690754U (zh) 多线路快速连接防错装置
CN2789980Y (zh) 一种提高连接器寿命的装置
CN101526577A (zh) 连接器检测治具
CN106353636A (zh) 适用于不同尺寸连接器的测试装置
CN102749484A (zh) 在线测试治具
CN205982508U (zh) 适用于不同尺寸连接器的测试装置
CN102692594A (zh) Led驱动板恒流测试工装及其测试方法
CN205982478U (zh) 流水线连接器测试装置
CN109270309B (zh) 一种数据线功能测试平台
CN201170796Y (zh) 连接器检测治具
CN105277832A (zh) Pos机自动化测试工装及工作方法
CN106443232A (zh) 连接器通用的测试装置
CN106443231A (zh) 高效连接器测试装置
CN204612644U (zh) 一种电路板安装孔检测设备
CN106353627A (zh) 连接器测试装置
CN204594392U (zh) 印刷板孔径测量器
CN205982492U (zh) 连接器测试装置
CN109387721B (zh) 一种多功能自动检测设备
CN205982477U (zh) 高效连接器测试装置
CN206074707U (zh) 连接器通用的测试装置
CN106249080A (zh) 流水线连接器测试装置

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
RJ01 Rejection of invention patent application after publication

Application publication date: 20170125

RJ01 Rejection of invention patent application after publication