CN106301349A - 高电压电平转换电路 - Google Patents

高电压电平转换电路 Download PDF

Info

Publication number
CN106301349A
CN106301349A CN201510246614.2A CN201510246614A CN106301349A CN 106301349 A CN106301349 A CN 106301349A CN 201510246614 A CN201510246614 A CN 201510246614A CN 106301349 A CN106301349 A CN 106301349A
Authority
CN
China
Prior art keywords
hvnmos
intrinsic
lvnmos
transistor
hvpmos
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CN201510246614.2A
Other languages
English (en)
Other versions
CN106301349B (zh
Inventor
權彞振
倪昊
程昱
郁红
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Semiconductor Manufacturing International Shanghai Corp
Original Assignee
Semiconductor Manufacturing International Shanghai Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Semiconductor Manufacturing International Shanghai Corp filed Critical Semiconductor Manufacturing International Shanghai Corp
Priority to CN201510246614.2A priority Critical patent/CN106301349B/zh
Priority to US15/093,716 priority patent/US9768778B2/en
Publication of CN106301349A publication Critical patent/CN106301349A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN106301349B publication Critical patent/CN106301349B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K19/00Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
    • H03K19/0175Coupling arrangements; Interface arrangements
    • H03K19/0185Coupling arrangements; Interface arrangements using field effect transistors only
    • H03K19/018507Interface arrangements
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K3/00Circuits for generating electric pulses; Monostable, bistable or multistable circuits
    • H03K3/02Generators characterised by the type of circuit or by the means used for producing pulses
    • H03K3/353Generators characterised by the type of circuit or by the means used for producing pulses by the use, as active elements, of field-effect transistors with internal or external positive feedback
    • H03K3/356Bistable circuits
    • H03K3/356104Bistable circuits using complementary field-effect transistors
    • H03K3/356113Bistable circuits using complementary field-effect transistors using additional transistors in the input circuit

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Computing Systems (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Mathematical Physics (AREA)
  • Metal-Oxide And Bipolar Metal-Oxide Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
  • Logic Circuits (AREA)

Abstract

本发明公开了一种高电压电平转换电路,该高电压电压转换电路包括:第一HVPMOS 1、第二HVPMOS 2、放电晶体管30和Valance晶体管40;其中,所述放电晶体管30由串接的第一本征高压N沟道金属氧化物晶体管HVNMOS 3和第一低压N沟道金属氧化物晶体管LVNMOS 5组成;所述Valance晶体管40由串接第二本征HVNMOS 4及第二LVNMOS 6组成。

Description

高电压电平转换电路
技术领域
本发明涉及半导体技术领域,具体而言,涉及一种高电压电平转换电路。
背景技术
由于大多数的内存操作中使用了大量的电压电平的变化(例如,出字和位线驱动器),因此,大多数内存(例如,闪存、EEPROM)电路中使用HVLS(High Voltage Level Shift,高电压电平转换)来传输写入操作期间来自模拟传输块的高电压(10~16V)。由于高电压(HV)N沟道金属氧化物晶体管(NMOS)与HV P沟道金属氧化物晶体管(PMOS)阈值电压(Vt)大概为0.8V,尤其是在最恶劣条件下Vt接近于1.0V,因此,超低电源(~1V)不能运行常规的HVLS。图1和图2为分别为相关技术中的4个传输晶体管和6个传输晶体管的HVLS电路的电路图,如图所示,相关技术中的HVLS电路由高压NMOS(HVNMOS)晶体管和高压PMOS(HVPMOS)晶体管组成,其中晶体管的数量根据晶体管的高电压传输能力确定。尤其是在放电的情况下,HVNMOS的电压Vt与放电速度的关系密切,例如,在低VCC应用(1.2V)中,如果HVNMOS的电压Vt较高,则其放电速度较慢。
传统的HVLS能够支持1.2V的应用电路,但不支持超低电源(<1V)的应用。
发明内容
针对相关技术中的上述问题,本发明提供了一种高电压电平转换电路,以至少解决上述问题。
根据本发明,提供了一种高电压电平转换电路,包括:第一HVPMOS 1、第二HVPMOS2、放电晶体管30和Valance晶体管40;其中,所述放电晶体管30由串接的第一本征高压N沟道金属氧化物晶体管HVNMOS 3和第一低压N沟道金属氧化物晶体管LVNMOS 5组成;所述Valance晶体管40由串接第二本征HVNMOS 4及第二LVNMOS 6组成。
本发明提供的高电压电平转换电路,采用本征HVNMOS(Vt~0.4V)和LVNMOS(Vt~0.4V)替代HVNMOS(Vt~0.8V),由于低电压具有比高电压更快的放电速度,因此,即使在低VCC=1V的应用中,仍然可以快速的放电。因此,可以支持低于1V的超低电源。
附图说明
此处所说明的附图用来提供对本发明的进一步理解,构成本申请的一部分,本发明的示意性实施例及其说明用于解释本发明,并不构成对本发明的不当限定。在附图中:
图1示出了相关技术中的高电压电平转换电路一的电路图;
图2示出了相关技术中的高电压电平转换电路二的电路图;
图3示出了常规的栅极偏置的HVLS的电路图;
图4示出了本发明实施例的HVLS电路的电路图;
图5示出了采用传统的栅极偏置的HVLS的波形图;
图6示出了本发明实施例中的HVLS的波形图;
图7示出了常规HVLS的阵列布局结构示意图;
图8示出了本发明实施例的HVLS的阵列布局结构示意图。
具体实施方式
下文中将参考附图并结合实施例来详细说明本发明。需要说明的是,在不冲突的情况下,本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。
图3为常规的栅极偏置的HVLS的电路图,如图3所示,这种HVLS在valance晶体管中采用固定偏置以及最小化电源供给和布局面积。该HVLS使用双电源供电。
图4为本发明实施例的HVLS的电路图,如图4所示,本发明实施例中的高电压电平转换电路包括:第一HVPMOS 1、第二HVPMOS 2、放电晶体管30和Valance晶体管40;其中,所述放电晶体管30由串接的第一本征(native)HVNMOS 3和第一LVNMOS 5组成;所述Valance晶体管40由串接第二本征HVNMOS 4及第二LVNMOS 6组成。
本实施例中,放电晶体管30和valance晶体管40由4个晶体管即第一本征HVNMOS 3和第二本征HVNMOS 4以及第一LVNMOS 5和第二LVNMOS 6组成。这4个晶体管都是低压晶体管,因此,虽然HVNMOS晶体管会导致电压放电较慢,但本实施例中的4个晶体管都是低压晶体管,因此,本实施例中的HVLS的放电速度较快。
本发明实施例中,HVLS采用本征HVNMOS晶体管和低压NMOS晶体管替代HVNMOS晶体管。由于超低电源(<1V)影响排出高压NMOS放电,因此,本实施例中HVLS采用常规栅极偏置,采用低电压的高压NMOS(即本征HVNMOS)而不是高压NMOS。并且,由于还采用了LVNMOS可以保护本征HVNMOS漏电。
图4中示出了与现有技术中采用4个晶体管对应的HVLS(如图1所示)的改进的HVLS的电路图,如图4所示,在本实施例中,所述第一LVNMOS 5的源极、所述第二LVNMOS 6的栅极以及所述第二本征HVNMOS 4的栅极均与输入端(IN)连接,所述第一LVNMOS 5的漏极与所述第一本征HVNMOS 3的源极连接,所述第一LVNMOS 5栅极及所述第一本征HVNMOS 3的栅极连接到电源线VDD,所述第一本征HVNMOS 3的漏极与所述第一HVPMOS 1的漏极及所述第二HVPMOS 2的栅极连接;所述第一HVPMOS 1的源极及所述第二HVPMOS 2的源极连接到电源线VHH,所述第一HVPMOS 1的栅极、所述第二HVPMOS2的漏极以及所述第二本征HVNMOS 4的漏极均与输出端(OUT)连接;所述第二本征HVNMOS 4的源极与所述第二LVNMOS 6的漏极连接;所述第二LVNMOS 6的源极、所述第一LVNMOS 5的基板、所述第一本征HVNMOS 3的基板、所述第二本征HVNMOS 4的基板、以及所述第二LVNMOS 6的基板均连接到电源线VSS。
在本实施例的一个可选实施方式中,该HVLS电路可以采用常规的栅极偏置电源。
在本实施例的另一个可选实施方式中,该HVLS电路可以采用固定单电源供电。例如,该HVLS电路可以采用常规的栅极偏置及固定单电源供电。
在本实施例的另一个可选实施方式中,Valance晶体管40可以为栅极偏置晶体管。
在本实施例中,当输入端为0V,VHH偏压由第二HVPMOS 2传输到输出端,此时,第一HVPMOS 1闭合并关断。因此,使用第一本征HVNMOS 3和第一HVNMOS 5的“node”处的信号为0V。而由于输入端=0V,因此,第二本征HVNMOS 4及第二LVNMOS 6关闭。在相反的情况下,在输入端为VDD时,“node”处的信号为VDD伏,因此,第二HVPMOS 2关闭,第一HVPMOS 1开启,因此,“节点”处的信号电压为VHH。第二本征HVNMOS 4及第二LVNMOS 6开启,所以输出端的电压为0V。
图5为传统的栅极偏置的HVLS的波形图,如图5所示,这种HVLS电路在低VCC(1.08V)时,由于电源的电压较低,因此,不会切换电平移位。图6为本发明实施例中的HVLS的波形图,如图6所示,即使VCC为0.8V,该HVLS也可以执行电平转换操作。并且,由于采用了低电压的HVNMOS及LVNMOS,从而可以优化放电时间。
采用本发明实施例提供的HVLS支持的电源(参见图6)较传统的栅极偏置的HVLS(参见图5)更低,并且,相对于传统的栅极偏置的HVLS具有更快的放电速度。
图7示出了常规HVLS的阵列布局结构示意图,如图7所示,由于字线和位线区域的问题,该HVLS被分离为高压晶体管区和低压晶体管区。图8示出了本发明实施例的HVLS的阵列布局结构示意图,它可以影响HVLS布局在内存中的布局,但它可以克服图7中的结构分离高低压区域的问题。
以上所述仅为本发明的优选实施例而已,并不用于限制本发明,对于本领域的技术人员来说,本发明可以有各种更改和变化。凡在本发明的精神和原则之内,所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (8)

1.一种高电压电平转换电路,包括:第一高压P沟道金属氧化物晶体管HVPMOS(1)、第二HVPMOS(2)、放电晶体管(30)和价VALANCE晶体管(40);其中,
所述放电晶体管(30)由串接的第一本征高压N沟道金属氧化物晶体管HVNMOS(3)和第一低压N沟道金属氧化物晶体管LVNMOS(5)组成;
所述VALANCE晶体管(40)由串接第二本征HVNMOS(4)及第二LVNMOS(6)组成。
2.根据权利要求1所述的电路,其特征在于,所述第一LVNMOS(5)的源极、所述第二LVNMOS(6)的栅极以及所述第二本征HVNMOS(4)的栅极均与输入端IN连接,所述第一LVNMOS(5)的漏极与所述第一本征HVNMOS(3)的源极连接,所述第一LVNMOS(5)栅极及所述第一本征HVNMOS(3)的栅极连接到电源线VDD,所述第一本征HVNMOS(3)的漏极与所述第一HVPMOS(1)的漏极及所述第二HVPMOS(2)的栅极连接。
3.根据权利要求1所述的电路,其特征在于,所述第一HVPMOS(1)的源极及所述第二HVPMOS(2)的源极连接到电源线VHH,所述第一HVPMOS(1)的栅极、所述第二HVPMOS(2)的漏极以及所述第二本征HVNMOS(4)的漏极均与输出端OUT连接。
4.根据权利要求1所述的电路,其特征在于,所述第二本征HVNMOS(4)的源极与所述第二LVNMOS(6)的漏极连接。
5.根据权利要求1所述的电路,其特征在于,所述第二LVNMOS(6)的源极、所述第一LVNMOS(5)的基板、所述第一本征HVNMOS(3)的基板、所述第二本征HVNMOS(4)的基板、以及所述第二LVNMOS(6)的基板均连接到电源线VSS。
6.根据权利要求1所述的电路,其特征在于,所述电路采用栅极偏置电源。
7.根据权利要求1至6中任一项所述的电路,其特征在于,所述电路采用固定单电源供电。
8.根据权利要求1至6中任一项所述的电路,其特征在于,所述VALANCE晶体管(40)为栅极偏置晶体管。
CN201510246614.2A 2015-05-14 2015-05-14 高电压电平转换电路 Active CN106301349B (zh)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201510246614.2A CN106301349B (zh) 2015-05-14 2015-05-14 高电压电平转换电路
US15/093,716 US9768778B2 (en) 2015-05-14 2016-04-07 High voltage level shifter in ultra low power supply memory application

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201510246614.2A CN106301349B (zh) 2015-05-14 2015-05-14 高电压电平转换电路

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN106301349A true CN106301349A (zh) 2017-01-04
CN106301349B CN106301349B (zh) 2019-09-20

Family

ID=57277246

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201510246614.2A Active CN106301349B (zh) 2015-05-14 2015-05-14 高电压电平转换电路

Country Status (2)

Country Link
US (1) US9768778B2 (zh)
CN (1) CN106301349B (zh)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109309493A (zh) * 2017-07-27 2019-02-05 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 高压电平位移电路及半导体器件

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1630194A (zh) * 2003-12-18 2005-06-22 松下电器产业株式会社 电平转换电路
US20100026366A1 (en) * 2008-07-10 2010-02-04 Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. Low Leakage Voltage Level Shifting Circuit
CN103259521A (zh) * 2012-02-21 2013-08-21 创意电子股份有限公司 具有低输入电压转宽范围高输出电压的高速电平切换器
CN104052454A (zh) * 2013-03-13 2014-09-17 台湾积体电路制造股份有限公司 用于高密度集成电路的电平转换器
CN104348474A (zh) * 2013-08-07 2015-02-11 瑞萨电子株式会社 电平转换器

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6556061B1 (en) * 2001-02-20 2003-04-29 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company Level shifter with zero threshold device for ultra-deep submicron CMOS designs
US20080129365A1 (en) * 2006-12-04 2008-06-05 Himax Technologies Limited Level Shift Circuit with Low-Voltage Input Stage

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1630194A (zh) * 2003-12-18 2005-06-22 松下电器产业株式会社 电平转换电路
US20100026366A1 (en) * 2008-07-10 2010-02-04 Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. Low Leakage Voltage Level Shifting Circuit
CN103259521A (zh) * 2012-02-21 2013-08-21 创意电子股份有限公司 具有低输入电压转宽范围高输出电压的高速电平切换器
CN104052454A (zh) * 2013-03-13 2014-09-17 台湾积体电路制造股份有限公司 用于高密度集成电路的电平转换器
CN104348474A (zh) * 2013-08-07 2015-02-11 瑞萨电子株式会社 电平转换器

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109309493A (zh) * 2017-07-27 2019-02-05 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 高压电平位移电路及半导体器件
CN109309493B (zh) * 2017-07-27 2022-05-13 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 高压电平位移电路及半导体器件

Also Published As

Publication number Publication date
US20160336940A1 (en) 2016-11-17
CN106301349B (zh) 2019-09-20
US9768778B2 (en) 2017-09-19

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US10325650B2 (en) Semiconductor storage device
US7646653B2 (en) Driver circuits for integrated circuit devices that are operable to reduce gate induced drain leakage (GIDL) current in a transistor and methods of operating the same
KR100475986B1 (ko) 고전압 및 저전압 버스용 출력 버퍼
US8446784B2 (en) Level shifting circuit
US20070121358A1 (en) Semiconductor integrated circuit
US9099991B2 (en) Inverter, NAND gate, and NOR gate
US20070188194A1 (en) Level shifter circuit and method thereof
CN102270984A (zh) 一种正高压电平转换电路
TWI691971B (zh) 組態用於存取快閃記憶體單元之陣列行及列的方法與設備
US8395434B1 (en) Level shifter with negative voltage capability
US8483004B2 (en) Semiconductor device with transistor storing data by change in level of threshold voltage
US9054700B2 (en) Apparatus and methods of driving signal for reducing the leakage current
CN109801653B (zh) 非挥发存储器的区块解码器与位准移位器
US9064552B2 (en) Word line driver and related method
US8947122B2 (en) Non-volatile latch structures with small area for FPGA
CN106301349A (zh) 高电压电平转换电路
US9620185B1 (en) Voltage supply devices generating voltages applied to nonvolatile memory cells
JP3466593B2 (ja) 電圧トランスレータ回路
US20140043091A1 (en) Voltage Output Circuit and Apparatus for Selectively Outputting Negative Voltage Using the Same
US7372308B2 (en) High-voltage generation circuits and nonvolatile semiconductor memory device with improved high-voltage efficiency and methods of operating
KR20040006337A (ko) 출력 버퍼 회로

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant