CN106291454B - 一种干涉仪近场测试装置、测试方法及校准方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种干涉仪近场测试装置、测试方法及校准方法，涉及干涉仪校准及测试技术领域。本发明技术要点：包括若干测试天线阵元、若干移相器、功分器、射频信号源及控制器；控制器与射频信号源、功分器均具有信号连接；射频信号源的射频信号输出端与功分器的信号输入端通过射频线缆连接，功分器用于将射频信号分为多路射频信号，功分器的各个信号输出端对应与各移相器的信号输入端连接，各移相器的信号输出端对应与各测试天线阵元的信号输入端连接；功分器的各信号输出端与各移相器通过射频线缆连接，各移相器与各测试天线阵元通过射频线缆连接等。

Description

一种干涉仪近场测试装置、测试方法及校准方法

技术领域

本发明涉及干涉仪校准及测试技术领域。

背景技术

干涉仪天线体制由于在测向准确度、灵敏度、测向时效性、仰角测量等方面均优于传统的比幅测向方法，目前广泛用于雷达及电子战领域的高精度测向性能验证。本发明的技术背景基于干涉仪测向系统的校准和测试领域，其干涉仪天线阵一般的布阵方式如图1所示，由方位面和俯仰面两个阵列组成，方位面阵列含m个单元天线，俯仰面阵列含n个单元天线，干涉仪天线阵接收信号后进入信号处理系统进行测向，从而得到信号的方位到达角。

目前传统的干涉仪测试方法如图2所示。传统测试方法的步骤是先对干涉仪系统进行校准，测量出干涉仪系统的测向误差，然后在远场标定方位，并在标定的方位上架设天线进行信号辐射，干涉仪系统的测向结果与标定的方位进行比较，判断系统测向是否正确并计算出系统的测向误差。传统方法测试原理简单，但过程较为复杂，缺点有以下几项：

a.校准方法复杂且精度低。校准一直以来都是干涉仪系统性能测试的技术难点，其校准精度取决于辐射源方位的标定精度，而方位的标定目前大多都通过测绘的手段进行，标定过程复杂、精度和一致性较差，因此传统方法的校准并不能最大程度地消除干涉仪系统的测向误差。

b.测试效率及测试精度低。传统方法完成干涉仪系统的测向性能验证需要三个步骤：方位标定、架设天线和性能测试，一般完成干涉仪系统整个测向范围内的性能测试需要数小时以上，测试效率低，无法满足外场快速测试的要求。同样，测试精度主要取决于方位标定的精度，通过测绘手段的标定精度一般在1°以上，精度较低，不能准确表征干涉仪的测向精度。

c.测试场地要求高，条件较苛刻。为满足远场条件，需要开阔的场地，若周围杂波较多，可能无法进行测试，需在暗室进行。而在实际的外场测试中，场地不固定，无法避免杂波，大多情况下也没有暗室，无法提供有效的测试手段。

因此，基于传统的测试方法，测试过程复杂，很难完成在不同场地的环境中高效、精确的测试要求。

发明内容

为了解决上述技术问题，本发明提供了一种干涉仪近场测试装置、测试方法及校准方法。

本发明提供的一种干涉仪近场测试装置，包括若干测试天线阵元、若干移相器、功分器、射频信号源及控制器；

控制器与射频信号源、功分器均具有信号连接；

射频信号源的射频信号输出端与功分器的信号输入端通过射频线缆连接，功分器用于将射频信号分为多路射频信号，功分器的各个信号输出端对应与各移相器的信号输入端连接，各移相器的信号输出端对应与各测试天线阵元的信号输入端连接；

功分器的各信号输出端与各移相器通过射频线缆连接，各移相器与各测试天线阵元通过射频线缆连接。

进一步，所述若干测试天线阵元包含方位面测试天线阵元及俯仰面测试天线阵元；方位面测试天线阵元安装于方位面安装架上，且各方位面测试天线阵元水平位于一条水平直线上；俯仰面天线阵元安装于俯仰面安装架上，且各俯仰面测试天线阵元水平位于一条竖直直线上。

发明基于前述的测试装置提出了一种干涉仪近场测试方法，包括：

步骤1：将待测试干涉仪的天线阵元与测试装置的测试天线阵元一一对准放置；

步骤2：测试装置的控制器控制射频信号源输出射频信号，同时控制移相器将接收到的射频信号偏移一定相位，并将偏移一定相位的射频信号传输给测试天线阵元以便使测试天线阵辐射出一定空间角度的射频信号；

步骤3：待测试干涉仪的天线阵元接收到测试装置的测试天线阵元辐射出的射频信号，待测试干涉仪输出接收射频信号的空间角度；

步骤4：比较待测干涉仪输出的空间角度与测试装置测试天线阵元辐射出的射频信号的空间角度，从而确定待测干涉仪的测量精度。

进一步，步骤2中，控制器根据所述一定空间角度分别计算出其他测试天线阵元相对于基准测试天线阵元输出射频信号的相位差，并控制相应的移相器将接收到的射频信号的相位偏移所述相位差。

进一步，步骤2中，控制器根据所述一定空间角度分别计算出其他测试天线阵元相对于基准测试天线阵元输出射频信号的相位差，并在相位差中减去该测试天线阵元相对于基准测试天线阵元之间的固有相位差得到通道间校准后的相位差，并控制相应的移相器将接收到的射频信号的相位偏移所述通道间校准后的相位差。

进一步，步骤2中，步骤2中，控制器在通道间校准后的相位差中减掉其对应的测试天线阵元的固有相位偏移误差得到校准后的相位差，并控制相应的移相器将接收到的射频信号的相位偏移所述校准后的相位差。

进一步，还包括步骤5：按照一定的步进调整射频信号辐射的空间角度，重新执行步骤2～4；

重复执行步骤5直到得到待测试干涉仪在不同空间角度射频信号下的输出结果。

本发明还提供了前述测试装置的校准方法以便得到各测试天线阵元之间在不同频点上的固有相位差，包括：

步骤1：将校准用单元天线与测试装置的其中一个测试天线阵元对准，两者之间的间距与测试过程中待测试干涉仪的天线阵元与测试天线阵元的间距相等；

步骤2：测试装置的控制器控制矢量网络分析仪输出不同频率的射频信号，同时控制各移相器将接收到的射频信号偏移相同的相位，并将偏移一定相位的射频信号传输给测试天线阵元；

步骤3：校准用单元天线接收与其对准的测试天线阵元辐射出的射频信号，校准用单元天线通过射频电缆将接收到的射频信号输出给矢量网络分析仪的输入端；

步骤4：矢量网络分析仪记录该测试天线阵元辐射出的不同频率的射频信号的相位；

步骤5：校准用单元天线与测试装置的下一个测试天线阵元对准，两者之间的间距与测试过程中待测试干涉仪的天线阵元与测试天线阵元的间距相等，重复步骤3与步骤4，得到当前测试天线阵元辐射出的不同频率的射频信号的相位；

重复步骤5直到得到全部测试天线阵元辐射出的不同频率的射频信号的相位，将其他测试天线阵元辐射出的射频信号相位分别与基准测试天线阵元辐射出的同频点的射频信号相位相减，得到其他各测试天线阵元相对于基准测试天线阵元的在不同频点的固有相位差。

本发明还提供了测试装置的另一种校准方法以获取各测试天线阵元的固有移相误差，包括：

步骤1：将校准用单元天线与测试装置的其中一个测试天线阵元对准，两者之间的间距与测试过程中待测试干涉仪的天线阵元与测试天线阵元的间距相等；

步骤2：测试装置的控制器控制矢量网络分析仪输出不同频率的射频信号，同时控制各移相器将接收到的射频信号的相位偏移理论移相相位，并将偏移一定相位的射频信号传输给测试天线阵元；

步骤3：校准用单元天线接收与其对准的测试天线阵元辐射出的射频信号，校准用单元天线通过射频电缆将接收到的射频信号输出给矢量网络分析仪的输入端；

步骤4：矢量网络分析仪记录该测试天线阵元辐射出的不同频率的射频信号经移相器移相后的实际移相相位；

步骤5：校准用单元天线与测试装置的下一个测试天线阵元对准，两者之间的间距与测试过程中待测试干涉仪的天线阵元与测试天线阵元的间距相等，重复步骤3与步骤4，得到当前测试天线阵元辐射出的不同频率的射频信号经移相器移相后的实际移相相位；

重复步骤5直到得到全部测试天线阵元辐射出的不同频率的射频信号的经移相器移相后的实际移相相位，将此实际移相相位与其对应的移相器的理论移相相位相减，便得到各测试天线阵元的固有移相误差。

由于采用了上述技术方案，本发明具备以下优点：

1.由于使用本发明测试装置测试干涉仪时，将测试装置上的测试天线阵元与干涉仪的天线阵元一一对准，且距离较近，在测试过程中受环境中的电磁杂波干扰较小，因此不需提供暗室、不需标定测试方位、不需进行大功率辐射，能够满足在外场各种环境条件下的测试需求。

2.提高了测试效率。采用本发明测试装置对干涉仪进行测试，只需要完成两个步骤，即架设设备与测向性能验证。架设测试装置及待测试干涉仪的工作平均在10分钟内可以完成，在辐射信号空间角度在[-90°,90°]范围内以10°的步进完成测试过程一般需要2分钟。而传统的方法要完成干涉仪的测向验证需要三个步骤：方位标定、架设天线和测向性能验证。方位标定根据方法的不同，在[-90°,90°]范围内以10°的步进完成标定一般需要2个小时以上。在每个标定的方位都需要架设天线进行一次测试，然后再移动到下一个方位进行测试，完成所有标定方位的测试一般需要1小时以上。可见本发明较传统方法测试效率提高了15倍以上。

通过本发明进行干涉仪校准时，只需将测试天线阵元辐射出的信号入射角设定为需要校准的角度即可，完成一次信号入射角设定不超2s。

3.提高了信号入射角设定精度。本发明的测试精度主要取决于移相器的移相精度、校准精度以及测试天线阵安装精度，经过精确校准后的测试天线阵进行测向时，一般信号入射角设定精度可控制在0.2°范围内。传统方法在进行方位标定时，根据标定方法的不同，误差平均一般在1°以上。因此本发明较传统方法信号入射角的设定精度提高了5倍以上。

附图说明

本发明将通过例子并参照附图的方式说明，其中：

图1为干涉仪天线阵元布阵示意图。

图2为现有的干涉仪测试过程中待测试干涉仪及测试设备的连接原理图。

图3为本发明测试装置的原理框图。

图4为相控阵天线原理图。

图5为测试过程中本发明测试装置与待测试干涉仪的连接原理图。

图6为校准过程中本发明测试装置与其它设备的连接原理图。

具体实施方式

本说明书中公开的所有特征，或公开的所有方法或过程中的步骤，除了互相排斥的特征和/或步骤以外，均可以以任何方式组合。

本说明书中公开的任一特征，除非特别叙述，均可被其他等效或具有类似目的的替代特征加以替换。即，除非特别叙述，每个特征只是一系列等效或类似特征中的一个例子而已。

如图3所示，本发明提供的干涉仪测试装置包括：

若干测试天线阵元、若干移相器、功分器、射频信号源及控制器。

控制器与射频信号源、功分器均具有信号连接。

射频信号源的射频信号输出端与功分器的信号输入端通过射频线缆连接，功分器用于将射频信号分为多路射频信号，功分器的各个信号输出端对应与各移相器的信号输入端连接，各移相器的信号输出端对应与各测试天线阵元的信号输入端连接。

功分器的各信号输出端与各移相器通过射频线缆连接，各移相器与各测试天线阵元通过射频线缆连接。

测试装置中的所述若干测试天线阵元与待测试干涉仪的天线阵元布阵方式、尺寸完全一致，以便在测试过程中，能使各测试天线阵元与干涉仪的天线阵元一一对准，因此测试装置的测试天线阵元也包含方位面测试天线阵元及俯仰面测试天线阵元；方位面测试天线阵元安装于方位面安装架上，且各方位面测试天线阵元水平位于一条水平直线上；俯仰面天线阵元安装于俯仰面安装架上，且各俯仰面测试天线阵元水平位于一条竖直直线上。

为了方便拆装，本实施例中将移相器也安装于测试天线阵元安装架中。本实施例中功分器包含多个功分单元，射频信号首先进入一个二功分单元，然后二功分单元输出两路完全相同的射频信号，每一路射频信号再进入一个m路功分单元，m路功分单元输出m路完全相同的射频信号，m路射频信号再一对一的输出到m个方位面测试天线阵元对应的移相器。二功分单元输出的另一路射频信号再进入一个n路功分单元，n路功分单元输出n路完全相同的射频信号，n路射频信号再一对一的输出到n个俯仰面测试天线阵元对应的移相器。这里，输入每个测试天线阵元的射频信号都是相同的。

各个移相器通过射频电缆一对一的将射频信号输出到测试天线阵元。

改变输入到测试天线阵元的射频信号间的相位差便可改变测试天线阵元辐射出射频信号的空间角度，如出射角或入射角。

参见图4，移相器调节相位的基本原理简述如下：

空间放置的两个天线A、B，其间距为d，则可推导A、B两信号的相位差如公式(1)所示：

式中：

d为基线长度，即天线A、B之间的距离，为已知值。

λ为射频信号波长，λ＝c/f，c＝3×108m/s为常数，f为射频信号的频率。

信号空间入射角θ为测试时的已知量。

通过以上参数便可解算出A、B两信号的相位差取2π的模，使相位差转换为0到2π之间。因此通过调节移相器，使两个测试天线阵元辐射出的信号之间的相位差满足即可按照预设空间角度辐射射频信号。

下面介绍本测试装置的使用方法，即对干涉仪进行测试的步骤。

步骤1：将待测试干涉仪的天线阵元与测试装置的测试天线阵元一一对准放置；参见图5。测试天线阵元与干涉仪的天线阵元间距为D，一般D取2cm～5cm。

步骤2：测试装置的控制器控制射频信号源输出射频信号，同时控制移相器将接收到的射频信号的偏移一定相位，并将偏移一定相位的射频信号传输给测试天线阵元以便使测试天线阵辐射出一定空间角度的射频信号。

步骤3：待测试干涉仪的天线阵元接收到测试装置的测试天线阵元辐射出的射频信号，待测试干涉仪输出接收射频信号的空间角度。

步骤4：比较待测干涉仪输出的空间角度与测试装置测试天线阵元辐射出的射频信号的空间角度，从而确定待测干涉仪的测量精度。

在一个具体实施例中，步骤2中，控制器根据所述一定空间角度分别计算出其他测试天线阵元相对于基准测试天线阵元输出射频信号的相位差，并控制相应的移相器将接收到的射频信号的相位偏移所述相位差。具体过程参见前述的移相器调节相位的基本原理简述。基准测试天线阵元是测试天线阵元中的一个，一般选择位于两端的其中一个测试天线阵元，如A1或B1。

考虑到两个测量天线阵元之间存在一个固有相位差，即两个天线阵元接收完全相同的射频信号，其辐射出的信号仍然会有一个相位差。为了提高精度，控制器根据所述一定空间角度分别计算出其他测试天线阵元相对于基准测试天线阵元输出射频信号的相位差后，需要在相位差中减去该测试天线阵元相对于基准测试天线阵元之间的固有相位差得到通道间校准后的相位差，并控制相应的移相器将接收到的射频信号的相位偏移所述通道间校准后的相位差。

两个测试天线阵元A1，Am在频点f处固有的相位差为若以测试天线阵元A1为基准，则计算出来的测试天线阵元Am的移相(此处应转化为0～360°之间)。由于两测试天线阵元固有的相位差为若移相要达到理论值，则控制器需要控制移相器实际将射频信号的相位偏移

与此同时，我们还发现每个测试天线阵元还具有自身的固有相位偏移误差，即是说，其接收30°相位的射频信号辐射出的信号相位会变为32°。为此，在又一实施例的步骤2中，控制器在通道间校准后的相位差中减掉其对应的测试天线阵元的固有相位偏移误差得到校准后的相位差，并控制相应的移相器将接收到的射频信号的相位偏移所述校准后的相位差。这样便可进一步提高移相准确度。

一般说来，需要在不同空间角度的辐射信号下测试干涉仪的测向能力，为此按照一定的步进调整射频信号辐射的空间角度，重新执行步骤2～4。

重复执行前述步骤直到得到待测试干涉仪在不同空间角度射频信号下的输出结果。如以10°为步进，依次在-90°、-80°、-70°、0、10°、20°…、90°空间角度的辐射信号下测试干涉仪。

本发明还提供了前述测试装置的校准方法以便得到测试天线阵元之间的相位差，包括：

步骤1：将校准用单元天线与测试装置的其中一个测试天线阵元对准，两者之间的间距与测试过程中待测试干涉仪的天线阵元与测试天线阵元的间距相等；参见图6。

步骤2：测试装置的控制器控制矢量网络分析仪输出射频信号，同时控制各移相器将接收到的射频信号偏移相同的相位，并将偏移一定相位的射频信号传输给测试天线阵元。

步骤3：校准用单元天线接收与其对准的测试天线阵元辐射出的射频信号，校准用单元天线通过射频电缆将接收到的射频信号输出给矢量网络分析仪；

步骤4：矢量网络分析仪记录该测试天线阵元辐射出的射频信号的相位；

步骤5：校准用单元天线与测试装置的下一个测试天线阵元对准，两者之间的间距与测试过程中待测试干涉仪的天线阵元与测试天线阵元的间距相等，重复步骤3与步骤4，得到当前测试天线阵元辐射出的射频信号的相位；

重复步骤5直到得到全部测试天线阵元辐射出的射频信号的相位，将其他测试天线阵元辐射出的射频信号相位分别与基准测试天线阵元射出的射频信号相位相减，便得到其他各测试天线阵元相对于基准测试天线阵元的固有相位差。

改变矢量网络分析仪输出射频信号的频率可以测出不同频点上的其他各测试天线阵元相对于基准测试天线阵元的固有相位差。

本发明还提供了另一种校准方法以便得到各个测试天线阵元的固有相位偏移误差，包括：

步骤1：将校准用单元天线与测试装置的其中一个测试天线阵元对准，两者之间的间距与测试过程中待测试干涉仪的天线阵元与测试天线阵元的间距相等；连接方式仍然参见图6。

步骤2：测试装置的控制器控制矢量网络分析仪输出不同频率的射频信号，同时控制各移相器将接收到的射频信号的相位偏移理论移相相位，并将偏移一定相位的射频信号传输给测试天线阵元。

步骤3：校准用单元天线接收与其对准的测试天线阵元辐射出的射频信号，校准用单元天线通过射频电缆将接收到的射频信号输出给矢量网络分析仪的输入端。

步骤4：矢量网络分析仪记录该测试天线阵元辐射出的不同频率的射频信号经移相器移相后的实际移相相位。

步骤5：校准用单元天线与测试装置的下一个测试天线阵元对准，两者之间的间距与测试过程中待测试干涉仪的天线阵元与测试天线阵元的间距相等，重复步骤3与步骤4，得到当前测试天线阵元辐射出的不同频率的射频信号经移相器移相后的实际移相相位。

重复步骤5直到得到全部测试天线阵元辐射出的不同频率的射频信号的经移相器移相后的实际移相相位，将此实际移相相位与其对应的移相器的理论移相相位相减，便得到各测试天线阵元的固有移相偏移误差。

改变矢量网络分析仪输出射频信号的频率可以测出不同频点上的各测试天线阵元固有相位偏移误差。

改变理论移相相位，可得到各个测试天线阵元在不同理论移相相位上的固有相位偏移误差。实际中，一般是在0～360°范围内，以一定步进改变理论移相相位。

本发明并不局限于前述的具体实施方式。本发明扩展到任何在本说明书中披露的新特征或任何新的组合，以及披露的任一新的方法或过程的步骤或任何新的组合。

Claims (9)

1.一种干涉仪近场测试装置，其特征在于，包括若干测试天线阵元、若干移相器、功分器、射频信号源及控制器；

控制器与射频信号源、功分器均具有信号连接；

射频信号源的射频信号输出端与功分器的信号输入端通过射频线缆连接，功分器用于将射频信号分为多路射频信号，功分器的各个信号输出端对应与各移相器的信号输入端连接，各移相器的信号输出端对应与各测试天线阵元的信号输入端连接；

功分器的各信号输出端与各移相器通过射频线缆连接，各移相器与各测试天线阵元通过射频线缆连接。

2.根据权利要求1所述的一种干涉仪近场测试装置，其特征在于，所述若干测试天线阵元包含方位面测试天线阵元及俯仰面测试天线阵元；方位面测试天线阵元安装于方位面安装架上，且各方位面测试天线阵元水平位于一条水平直线上；俯仰面天线阵元安装于俯仰面安装架上，且各俯仰面测试天线阵元水平位于一条竖直直线上。

3.一种基于权利要求1～2中任意一项测试装置的干涉仪近场测试方法，其特征在于，包括：

步骤1：将待测试干涉仪的天线阵元与测试装置的测试天线阵元一一对准放置；

步骤2：测试装置的控制器控制射频信号源输出射频信号，同时控制移相器将接收到的射频信号偏移一定相位，并将偏移一定相位的射频信号传输给测试天线阵元以便使测试天线阵辐射出一定空间角度的射频信号；

步骤3：待测试干涉仪的天线阵元接收到测试装置的测试天线阵元辐射出的射频信号，待测试干涉仪输出接收射频信号的空间角度；

步骤4：比较待测干涉仪输出的空间角度与测试装置测试天线阵元辐射出的射频信号的空间角度，从而确定待测干涉仪的测量精度。

4.根据权利要求3所述的干涉仪近场测试方法，其特征在于，步骤2中，控制器根据所述一定空间角度分别计算出其他测试天线阵元相对于基准测试天线阵元输出射频信号的相位差，并控制相应的移相器将接收到的射频信号的相位偏移所述相位差。

5.根据权利要求4所述的干涉仪近场测试方法，其特征在于，步骤2中，控制器根据所述一定空间角度分别计算出其他测试天线阵元相对于基准测试天线阵元输出射频信号的相位差，并在相位差中减去该测试天线阵元相对于基准测试天线阵元之间的固有相位差得到通道间校准后的相位差，并控制相应的移相器将接收到的射频信号的相位偏移所述通道间校准后的相位差。

6.根据权利要求5所述的干涉仪近场测试方法，其特征在于，步骤2中，控制器在通道间校准后的相位差中减掉其对应的测试天线阵元的固有相位偏移误差得到校准后的相位差，并控制相应的移相器将接收到的射频信号的相位偏移所述校准后的相位差。

7.根据权利要求3所述的干涉仪近场测试方法，其特征在于，还包括步骤5：按照一定的步进调整射频信号辐射的空间角度，重新执行步骤2～4；

重复执行步骤5直到得到待测试干涉仪在不同空间角度射频信号下的输出结果。

8.权利要求1～2中任意一项测试装置的校准方法，其特征在于，包括：

步骤1：将校准用单元天线与测试装置的其中一个测试天线阵元对准，两者之间的间距与测试过程中待测试干涉仪的天线阵元与测试天线阵元的间距相等；

步骤2：测试装置的控制器控制矢量网络分析仪输出不同频率的射频信号，同时控制各移相器将接收到的射频信号偏移相同的相位，并将偏移一定相位的射频信号传输给测试天线阵元；

步骤3：校准用单元天线接收与其对准的测试天线阵元辐射出的射频信号，校准用单元天线通过射频电缆将接收到的射频信号输出给矢量网络分析仪的输入端；

步骤4：矢量网络分析仪记录该测试天线阵元辐射出的不同频率的射频信号的相位；

步骤5：校准用单元天线与测试装置的下一个测试天线阵元对准，两者之间的间距与测试过程中待测试干涉仪的天线阵元与测试天线阵元的间距相等，重复步骤3与步骤4，得到当前测试天线阵元辐射出的不同频率的射频信号的相位；

重复步骤5直到得到全部测试天线阵元辐射出的不同频率的射频信号的相位，将其他测试天线阵元辐射出的射频信号相位分别与基准测试天线阵元辐射出的同频点的射频信号相位相减，得到其他各测试天线阵元相对于基准测试天线阵元的在不同频点的固有相位差。

9.权利要求1～2中任意一项测试装置的校准方法，其特征在于，包括：

步骤1：将校准用单元天线与测试装置的其中一个测试天线阵元对准，两者之间的间距与测试过程中待测试干涉仪的天线阵元与测试天线阵元的间距相等；

步骤2：测试装置的控制器控制矢量网络分析仪输出不同频率的射频信号，同时控制各移相器将接收到的射频信号的相位偏移理论移相相位，并将偏移一定相位的射频信号传输给测试天线阵元；

步骤3：校准用单元天线接收与其对准的测试天线阵元辐射出的射频信号，校准用单元天线通过射频电缆将接收到的射频信号输出给矢量网络分析仪的输入端；

步骤4：矢量网络分析仪记录该测试天线阵元辐射出的不同频率的射频信号经移相器移相后的实际移相相位；

步骤5：校准用单元天线与测试装置的下一个测试天线阵元对准，两者之间的间距与测试过程中待测试干涉仪的天线阵元与测试天线阵元的间距相等，重复步骤3与步骤4，得到当前测试天线阵元辐射出的不同频率的射频信号经移相器移相后的实际移相相位；

重复步骤5直到得到全部测试天线阵元辐射出的不同频率的射频信号的经移相器移相后的实际移相相位，将此实际移相相位与其对应的移相器的理论移相相位相减，便得到各测试天线阵元的固有移相误差。