CN106291327A - 一种运算放大器集成电路的检测机构 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种运算放大器集成电路的检测机构，包括检测座，检测座的上端面上设有电压表，检测座的一端成型有向外延伸的检测板，检测板的两侧成型有一对相向设置的弧形导向槽，弧形导向槽的侧壁上嵌置有与弧形导向槽相同弧形的导电圈，导电圈与电压表相连，弧形导向槽内设有检测探针，检测探针与导电圈接触；一对弧形导向槽之间的检测板底面上成型有“十”字形的导向槽，导向槽内插接有触发器底座，触发器底座的底面上成型有环形的调节槽，调节槽的两端内部嵌置有两个转动球，两个转动球的下端之间固定连接有横轴，横轴的中部固定插套有斜置的敲击杆。本发明方便对运算放大器集成电路进行检测，从而提高检测效率。
Description
技术领域：
本发明涉及集成电路检测设备的技术领域，具体是涉及一种运算放大器集成电路的检测机构。
背景技术：
运算放大器集成电路，又称为集成运算放大器，简称为集成运放，是由多级直接耦合放大电路组成的高增益模拟集成电路。现有的运算放大器集成电路的检测一般是人工使用万用表直流电压档，测量运算放大器输出端与负电源端之间的电压值(在静态时电压值较高)，同时用手持金属镊子依次点触运算放大器的两个输入端(加入干扰信号)，若万用表表针有较大幅度的摆动，则说明该运算放大器完好；若万用表表针不动，则说明运算放大器已损坏，由于此检测操作要在测量电压值的同时敲击，若通过单人实现检测则较为困难。
有鉴于上述的缺陷，本设计人，积极加以研究创新，以期创设一种新型结构的运算放大器集成电路的检测机构，使其更具有产业上的利用价值。
发明内容：
本发明的目的旨在解决现有技术存在的问题，提供一种方便对运算放大器集成电路进行检测，从而提高检测效率的运算放大器集成电路的检测机构。
本发明涉及一种运算放大器集成电路的检测机构，包括检测座，所述检测座的上端面上设有电压表，检测座的一端成型有向外延伸的检测板，所述检测板的两侧成型有一对相向设置的弧形导向槽，所述弧形导向槽的侧壁上嵌置有与弧形导向槽相同弧形的导电圈，所述导电圈上固定连接有导线，所述导线与所述电压表的电极柱固定连接在一起，弧形导向槽内设有检测探针，所述检测探针与导电圈接触，检测探针的探头穿过弧形导向槽并位于弧形导向槽的下方；
所述一对弧形导向槽之间的检测板底面上成型有“十”字形的导向槽，所述导向槽内插接有触发器底座，所述触发器底座的底面上成型有环形的调节槽，所述调节槽的两端内部嵌置有两个转动球，所述两个转动球的下端之间固定连接有横轴，所述横轴的中部固定插套有斜置的敲击杆；
所述检测板所在的检测座侧面上成型有长条形的夹持导轨，所述夹持导轨的中部固定有第一夹持板，所述第一夹持板两侧的夹持导轨上活动设置有一对与第一夹持板相垂直的第二夹持板，所述第二夹持板和第一夹持板上均成型有用于夹持运算放大器集成电路板的“匚”字形的夹持槽，一对第二夹持板上的夹持槽相向设置。
借由上述技术方案，本发明为辅助手工检测运算放大器集成电路的检测机构，工作时，将检测座移至待检测的工位，然后将待检测的运算放大器集成电路板夹持在第一夹持板和第二夹持板的夹持槽内，可根据运算放大器集成电路板的宽度来调节第二夹持板之间的距离，通过在夹持导轨上移动第二夹持板，使得运算放大器集成电路板的两侧边位于第二夹持板的夹持槽内，运算放大器集成电路板的另一侧边则被第一夹持板的夹持槽夹持，由此，运算放大器集成电路板被夹持在检测板的下方待检测。接着，通过在弧形导向槽内移动检测探针至运算放大器集成电路板的输出端与负电源端，使得检测探针的探头接触检测点，然后，在检测板的导向槽上移动触发器底座，使得触发器底座初步定位在运算放大器集成电路板的输入端的上方，之后在调节槽内移动两个转动球，使得敲击杆转动一定角度并进一步定位在输入端的上方，通过拨动敲击杆，敲击杆带动横轴转动，横轴带动两个转动球在调节槽内转动，使敲击杆点触运算放大器集成电路板的输入端，同时观察检测座上的电压表即可查看检测结果。
通过上述方案，本发明的检测机构通过在检测座上设置检测板，不会出现双手不够用而操作不过来的问题，方便对运算放大器集成电路进行检测，从而提高检测效率。
作为上述方案的一种优选，所述检测探针包括倒置的T型插套、探针本体、导电螺套和压簧，所述T型插套的下端抵靠在检测板的底面上，T型插套的上端穿过弧形导向槽并螺接所述导电螺套，导电螺套压靠在所述导电圈上，所述探针本体插接在T型插套内，探针本体的探头的上方成型有环台，所述环台上方的探针本体上插套有所述压簧，压簧的两端分别压靠在环台和T型插套上，探针本体的上端穿过T型插套并成型有提手。按上述方案，探针本体的探头在接触检测点时，探针本体在T型插套内向上移动，压簧压缩，由此使得探针本体与检测点的接触为弹性接触，避免接触不良。
作为上述方案的一种优选，所述导电螺套的上端固定套设有绝缘套。
作为上述方案的一种优选，所述夹持导轨上成型有导轨槽，所述导轨槽与第二夹持板的纵向方向垂直，所述第一夹持板固定在导轨槽内，第二夹持板的一端成型有移动块，所述移动块插接在导轨槽内并可沿导轨槽移动。
作为上述方案的一种优选，所述第一夹持板和第二夹持板均位于检测探针的探头和敲击杆的下方。
作为上述方案的一种优选，所述敲击杆的上下端均穿过横轴的中部，敲击杆的下端成型有球形敲打部。
作为上述方案的一种优选，所述触发器底座的上端面中部成型有导向块，所述导向块插接在所述导向槽中并可在导向槽内移动。
作为上述方案的一种优选，所述检测座的上端面上成型有凹台，所述电压表固定在所述凹台内。
作为上述方案的一种优选，所述检测座的底面上固定连接有磁力吸盘。
上述说明仅是本发明技术方案的概述，为了能够更清楚了解本发明的技术手段，并可依照说明书的内容予以实施，以下以本发明的较佳实施例并配合附图详细说明如后。
附图说明：
以下附图仅旨在于对本发明做示意性说明和解释，并不限定本发明的范围。其中：
图1为本发明的结构示意图；
图2为图1的俯视图；
图3为本发明的检测板的仰视图；
图4为本发明的触发器底座与敲击杆之间的结构示意图；
图5为本发明的夹持导轨、第一夹持板、第二夹持板之间的结构示意图；
图6为本发明的检测探针的结构示意图；
图7为本发明的触发器底座与导向槽的结构示意图；
图8为本发明的第二夹持板的剖视图。
具体实施方式：
下面结合附图和实施例，对本发明的具体实施方式作进一步详细描述。以下实施例用于说明本发明，但不用来限制本发明的范围。
参见图1、图2，本发明所述的一种运算放大器集成电路的检测机构，包括检测座10，所述检测座的底面上固定连接有磁力吸盘11，检测座的上端面上成型有凹台12，所述凹台内固定有电压表20，检测座10的一端成型有向外延伸的检测板13，所述检测板的两侧成型有一对相向设置的弧形导向槽131，所述弧形导向槽的侧壁上嵌置有与弧形导向槽相同弧形的导电圈30，所述导电圈上固定连接有导线31，所述导线与所述电压表20的电极柱21固定连接在一起，弧形导向槽131内设有检测探针40，所述检测探针与导电圈30接触，检测探针40的探头41穿过弧形导向槽131并位于弧形导向槽131的下方。
参见图3、图4、图7，所述一对弧形导向槽131之间的检测板13底面上成型有“十”字形的导向槽132，所述导向槽内插接有触发器底座50，所述触发器底座的上端面中部成型有导向块51，所述导向块插接在导向槽132中并可在导向槽132内移动，所述触发器底座50的底面上成型有环形的调节槽52，所述调节槽的两端内部嵌置有两个转动球60，所述两个转动球的下端之间固定连接有横轴61，所述横轴的中部固定插套有斜置的敲击杆62，所述敲击杆的上下端均穿过横轴61的中部，敲击杆62的下端成型有球形敲打部621。
参见图1、图5、图8，所述检测板13所在的检测座10侧面上成型有长条形的夹持导轨70，所述夹持导轨的中部固定有第一夹持板71，所述第一夹持板两侧的夹持导轨70上活动设置有一对与第一夹持板71相垂直的第二夹持板72，夹持导轨70上成型有导轨槽73，所述导轨槽与第二夹持板72的纵向方向垂直，第一夹持板71固定在导轨槽73内，第二夹持板72的一端成型有移动块721，所述移动块插接在导轨槽73内并可沿导轨槽73移动，所述第一夹持板71和第二夹持板72均位于检测探针40的探头41和敲击杆62的下方，第二夹持板72和第一夹持板71上均成型有用于夹持运算放大器集成电路板的“匚”字形的夹持槽74，一对第二夹持板72上的夹持槽74相向设置。
参见图1、图6，所述检测探针40包括倒置的T型插套42、探针本体43、导电螺套44和压簧45，所述T型插套43的下端抵靠在检测板13的底面上，T型插套42的上端穿过弧形导向槽131并螺接所述导电螺套44，导电螺套44压靠在所述导电圈30上，导电螺套44的上端固定套设有绝缘套46，所述探针本体43插接在T型插套42内，探针本体43的探头41的上方成型有环台431，所述环台上方的探针本体43上插套有所述压簧45，压簧的两端分别压靠在环台431和T型插套42上，探针本体43的上端穿过T型插套42并成型有提手432。
本发明为辅助手工检测运算放大器集成电路的检测机构，工作时，将检测座10移至待检测的工位，然后将待检测的运算放大器集成电路板夹持在第一夹持板71和第二夹持板72的夹持槽74内，可根据运算放大器集成电路板的宽度来调节第二夹持板72之间的距离，通过在夹持导轨70上移动第二夹持板72，使得运算放大器集成电路板的两侧边位于第二夹持板72的夹持槽74内，运算放大器集成电路板的另一侧边则被第一夹持板71的夹持槽74夹持，由此，运算放大器集成电路板被夹持在检测板13的下方待检测。接着，通过在弧形导向槽131内移动检测探针40至运算放大器集成电路板的输出端与负电源端，使得检测探针40的探头41接触检测点，然后，在检测板13的导向槽132上移动触发器底座50，使得触发器底座50初步定位在运算放大器集成电路板的输入端的上方，之后在调节槽52内移动两个转动球60，使得敲击杆62转动一定角度并进一步定位在输入端的上方，通过拨动敲击杆62，敲击杆62带动横轴61转动，横轴61带动两个转动球60在调节槽52内转动，使敲击杆62点触运算放大器集成电路板的输入端，同时观察检测座10上的电压表20即可查看检测结果。
综上所述，本发明的检测机构通过在检测座10上设置检测板13，不会出现双手不够用而操作不过来的问题，方便对运算放大器集成电路进行检测，从而提高检测效率。
本发明所提供的运算放大器集成电路的检测机构，仅为本发明的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本发明保护范围之内。因此，本发明的保护范围应以所述权利要求的保护范围为准。
Claims (9)
1.一种运算放大器集成电路的检测机构，包括检测座(10)，其特征在于：
所述检测座(10)的上端面上设有电压表(20)，检测座(10)的一端成型有向外延伸的检测板(13)，所述检测板的两侧成型有一对相向设置的弧形导向槽(131)，所述弧形导向槽的侧壁上嵌置有与弧形导向槽相同弧形的导电圈(30)，所述导电圈上固定连接有导线(31)，所述导线与所述电压表(20)的电极柱(21)固定连接在一起，弧形导向槽(131)内设有检测探针(40)，所述检测探针与导电圈(30)接触，检测探针(40)的探头(41)穿过弧形导向槽(131)并位于弧形导向槽(131)的下方；
所述一对弧形导向槽(131)之间的检测板(13)底面上成型有“十”字形的导向槽(132)，所述导向槽内插接有触发器底座(50)，所述触发器底座的底面上成型有环形的调节槽(52)，所述调节槽的两端内部嵌置有两个转动球(60)，所述两个转动球的下端之间固定连接有横轴(61)，所述横轴的中部固定插套有斜置的敲击杆(62)；
所述检测板(13)所在的检测座(10)侧面上成型有长条形的夹持导轨(70)，所述夹持导轨的中部固定有第一夹持板(71)，所述第一夹持板两侧的夹持导轨(70)上活动设置有一对与第一夹持板(71)相垂直的第二夹持板(72)，所述第二夹持板和第一夹持板(71)上均成型有用于夹持运算放大器集成电路板的“匚”字形的夹持槽(74)，一对第二夹持板(72)上的夹持槽(74)相向设置。
2.根据权利要求1所述的运算放大器集成电路的检测机构，其特征在于：所述检测探针(40)包括倒置的T型插套(42)、探针本体(43)、导电螺套(44)和压簧(45)，所述T型插套(42)的下端抵靠在检测板(13)的底面上，T型插套(42)的上端穿过弧形导向槽(131)并螺接所述导电螺套(44)，导电螺套压靠在所述导电圈(30)上，所述探针本体(43)插接在T型插套(42)内，探针本体(43)的探头(41)的上方成型有环台(431)，所述环台上方的探针本体(43)上插套有所述压簧(45)，压簧的两端分别压靠在环台(431)和T型插套(42)上，探针本体(43)的上端穿过T型插套(42)并成型有提手(432)。
3.根据权利要求2所述的运算放大器集成电路的检测机构，其特征在于：所述导电螺套(44)的上端固定套设有绝缘套(46)。
4.根据权利要求1所述的运算放大器集成电路的检测机构，其特征在于：所述夹持导轨(70)上成型有导轨槽(73)，所述导轨槽与第二夹持板(72)的纵向方向垂直，所述第一夹持板(71)固定在导轨槽(73)内，第二夹持板(72)的一端成型有移动块(721)，所述移动块插接在导轨槽(73)内并可沿导轨槽(73)移动。
5.根据权利要求1或4所述的运算放大器集成电路的检测机构，其特征在于：所述第一夹持板(71)和第二夹持板(72)均位于检测探针(40)的探头(41)和敲击杆(62)的下方。
6.根据权利要求1所述的运算放大器集成电路的检测机构，其特征在于：所述敲击杆(62)的上下端均穿过横轴(61)的中部，敲击杆(62)的下端成型有球形敲打部(621)。
7.根据权利要求1所述的运算放大器集成电路的检测机构，其特征在于：所述触发器底座(50)的上端面中部成型有导向块(51)，所述导向块插接在所述导向槽(132)中并可在导向槽(132)内移动。
8.根据权利要求1所述的运算放大器集成电路的检测机构，其特征在于：所述检测座(10)的上端面上成型有凹台(12)，所述电压表(20)固定在所述凹台(12)内。
9.根据权利要求1所述的运算放大器集成电路的检测机构，其特征在于：所述检测座(10)的底面上固定连接有磁力吸盘(11)。
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Effective date of registration: 20181212 Address after: Room No. 488 Yuehebei Road, Kunshan Development Zone, Suzhou City, Jiangsu Province Applicant after: Kunshan New Asia New Electronic Technology Co., Ltd. Address before: 523000 A1112, Huai Kai square, Yuan Mei Road, Nancheng District, Dongguan, Guangdong Applicant before: Wang Wenqing |
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| GR01 | Patent grant | ||
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