CN106094192B - 用于图像的反射校正的方法和在这方面的装置 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及一种用于校正数字显微镜图像的反射校正方法。在这里,所述反射校正方法包括:对物体进行照明(10),所述物体的所述照明(10)具有至少两个照明模式(11,12)。为每个照明模式(11,12)创建(20)所述物体的照明模式图像(21,22)。在每种情况下通过相应两个照明模式图像(21,22)的组合计算(60)至少一个局部反射图像(61)。通过至少一个照明模式图像(21,22)和至少一个局部反射图像(61)的适当组合计算(90)所述物体的反射校正的图像(99)。以及,在该情况下,每个照明模式(11,12)具有至少一个开启照明源(111),且每个照明模式(11,12)不同于所有其他的照明模式。此外,本发明涉及一种相关联的反射校正装置(100)。
Description
技术领域
本发明是涉及一种用于对物体的图像,优选为数字显微镜图像进行反射校正的方法并涉及在这方面的装置。
背景技术
当利用具有照明的光学系统记录图像时,可能会发生不希望的反射,该反射是由在照明物体和系统之间的交互而导致的且其损害了图像记录或图像印象(imageimpression)。作为这种反射的结果是,图像中重要的细节可能会丢失。这此反射可能有两个不同的原因:首先,图像反射是发生在光学系统内的多次反射(系统反射)的结果;其次,图像反射是要进行检查的物体在特定方向上,特别是在反射光照明的情况下的高反射性的结果。
当前,系统反射通常是由在系统内的关键光学表面上的特殊防反射涂层得以校正的。此外,安装有具有增加的复杂性的特殊光学设计以减少系统反射。此外,还可能对所有与成像无关的部件进行消光(涂黑)。而且,还可使用偏振光学防反射设备。然而,所有这些措施均需要在生产期间增加费用且因此是成本密集型的。
对所发生的反射进行数字性校正的尝试,经常是通过图像后处理,例如通过对成像物体的图像部分中的所增加的亮度差补偿,或通过借助数学模型对物体的反射性质建模并尝试通过计算来去除图像中获得的反射而进行的。这些后处理方法的缺点是其仅在特殊情况下很大程度地,才能移除发生在图像中的反射。在这里,进一步的缺点是成像的物体会在该处理中被篡改。而且,回溯性图像处理方法是费时且计算密集型的。
发明内容
因此,将需要提供一种选项,允许按快速且更可靠的方式从显微镜记录移除发生在光学仪器,例如在数字显微镜中作为对物体进行照明的结果的反射的选项。
本发明的目的是提出避免一种选择,其避免或至少减少了现有技术中已知缺点中的至少一些。
根据本发明,该目的是通过根据主权利要求的一种方法和根据协同权利要求的装置而实现的。
在这里,主权利要求的主题涉及用于校正图像,优选为显微镜图像的反射校正方法。
显微镜图像可通过各种已知的显微镜方法获得。由于各种图像处理技术和算法在这里被用于任何情况下,因此根据本发明的方法在数字显微镜术中可按特别有利的方式进行应用。
在这里,反射校正方法包括:
-以至少两个不同的照明模式对物体进行照明,每个照明模式具有至少一个开启照明源;
-为每个照明模式创建物体的照明模式图像;
-通过组合两个照明模式图像计算至少一个局部反射图像;
-通过适当组合所有照明模式图像中的至少一些以及所有局部反射图像中的至少一些来计算物体的反射校正的图像。
该方法的步骤可按自动化的方式进行。有利地,该方法的步骤按显微镜的“实时(live)”模式完成地如此快,从而用户可实际上观测到实时图像而无需等待进行校正步骤。因此,用于形成反射校正图像的记录照明模式图像以及在显微镜的硬件(光学引擎)中的处理按大大高于“实时”图像的再现速率而发生。
在这里,在本发明的意义内的照明模式可以是用于照明物体的一个或多个照明源的定向致动,从而创建物体的相应照明模式图像。举例来说,照明模式可以是通过第一照明源对物体进行的照明,而第二照明模式则通过一个或多个其他照明源对物体进行照明。在使用LED环形灯的情况下,如通常用于显微镜术中以进行暗场反射光照明的情况,可通过对各个LED或环形灯的多个LED进行定向致动而很容易地生成这种照明模式。因此,照明模式被理解为不同照明源的限定布置或切换。例如,照明模式本身可通过照明源矩阵而形成,矩阵中不同照明源可为每个照明模式而进行开启。在这里,根据矩阵的设计以及所允许的同时开启的照明源的数量,可生成要通过组合学(combinatorics)生成的许多不同的照明模式。
在这里,在本发明意义内的照明模式图像是物体(图像)的光学数字记录,其中物体是通过照明模式进行照明的。
在这里,在本发明意义内的局部反射图像是依靠彼此相组合的两个合适的照明模式图像而创建的图像。通常,合适的照明模式为几何上“相邻”的那些。根据该相邻的定义做出选择。照明模式图像是按这样一种方式进行组合,从而使得存在于两个照明模式图像中的反射得以保留,并使那些不具有反射的图像部分互相抵消。为此,形成了各个图像差分的绝对值。反射将由于表面特性而发生迁移,而实际物体则保持不变。
在这里,在本发明意义内的反射校正图像是指记录照明模式图像时发生反射而被校正的图像。
在这里,在本发明意义内的通过组合至少一个照明模式图像和至少一个局部反射图像来计算物体的反射校正图像可以是一种过程,其依靠将相应的局部反射图像与相应的照明模式图像进行合适的组合而校正作为相应的照明模式的照明的结果的在相关照明模式图像中所创建的反射。在这里,所计算的局部反射需要通过计算被正确地导入反射校正图像全图像中-即,计算公式取决于对局部反射图像的计算。举例来说,这可依靠被加在一起的相应的照明模式图像以及从中减去的所加入的相应的局部反射图像而执行。在根据本发明的拓展方法中,也可仅加入某些部分或插入额外的图像处理步骤,如果需要且必要的。
在这里,在本发明意义内的开启照明源可以是被开启以用于对物体进行照明的光源,例如,个别的LED或在LED环形灯中的一组LED。
因此,可通过在物体周围布置多个这种照明源以及对其进行定向致动而实现对物体的角度选择性的照明。
根据本发明的教导而获得的优点是可对该物体生成良好照明的图像记录,其中可最大可能地消除或完全消除由于照明而发生的反射。
这可按具有成本效益的方式而实现,其中可按尽可能非篡改的方式或以完全非篡改的方式显示物体。
作为其结果,尽最大可能地生成无反射的良好照明的物体图像,特别是在如显微镜术中创建的放大的记录的情况下。
协同权利要求的主题涉及一种用于反射校正物体成像的反射校正装置,优选为用于反射校正显微镜术,特别优选为用于反射校正光学显微镜术。
在这里,反射校正装置包括:图像记录装置和反射校正装置。在这里,图像记录装置被配置为获得物体图像并将后者转移至反射校正装置。在这里,反射校正装置被配置成进行根据本发明的反射校正方法,优选为使用源于硬件或软件图像处理的工具。
在这里,在本发明意义内的图像记录装置可以是适于扫描物体并光学绘制出后者的装置。特别地,图像记录装置可以是显微镜,特别优选为具有数字图像获取的光学显微镜。此外,图像记录装置可具有多个用于要进行记录的物体的角度选择性照明的照明源。
在这里,在本发明意义内的反射校正装置可具有被配置成在图像记录期间校正由物体的照明所创建的反射的装置。为此,反射校正装置可具有CPU和相关联的架构。特别地,反射校正装置可以是进行相应配置的计算机或数字显微镜的图像处理单元。
根据本发明的教导所获得的一个优点是其可按具有成本效益的方式提供一种装置,该装置使其能够以角度选择性的方式对物体进行照明、在过程中记录后者并最大可能地消除或完全消除由照明所创建的令人困扰的反射。
进一步的协同权利要求的主题涉及一种用于根据本发明的反射校正装置的计算机程序产品,其可根据本发明所述的反射校正方法进行操作。根据本发明的教导所获得的一个优点是反射校正方法可按自动化的方式进行操作,且可按简单且具有成本效益的方式将后者提供给根据本发明的相应不同装置。
在这里,进一步的协同权利要求的主题涉及一种数据介质,其包括根据本发明的计算机程序产品。
根据本发明的教导所获得的一个优点是反射校正方法可按自动化的方式进行操作,可按简单且具有成本效益的方式将后者提供给根据本发明的相应不同装置,且可很容易地传送后者以在该装置的地方,直接将该方法转接至根据本发明的相应装置。
在下面更详细地描述本发明的实施例前,应最初注意的是本发明并不限于所述的组件或所述的方法步骤。此外,所采用的术语并不构成限制且仅具有示例性的特性。对于本说明书和权利要求使用单数的范围,这在每种情况下还在上下文未明确排除这种情况的范围中包括了复数。在上下文未明确排除这种情况的范围中,可按自动化方式进行可能的方法步骤。
下面解释了根据本发明的方法的进一步的示例性实施例。
根据第一个示例性实施例,反射校正方法还包括所有照明模式的开启照明源,其形成围绕物体的几何基本结构。且照明模式具有一种模式,所述模式可选自模式组。
在这里,模式组包括:
-单个开启照明源;
-采用几何基本结构的八分之一的形式的多个开启照明源;
-采用几何基本结构的四分之一的形式的多个开启照明源;
-采用几何基本结构的二分之一的形式的多个开启照明源;
以及,作为开启照明源的几何基本结构的各隔开一个的照明源。
在这里,在本发明意义内的几何基本结构可以是用于实现要记录的物体的相应良好照明的照明源的布置。优选地,几何基本结构可以是圆形结构或圆状结构;然而,其也可以是四边形或多边形。在这里,也可使用不同的环形照明。
该实施例的一个优点是可选择能实现对物体的理想照明的照明模式,且在这种情况下,可尽可能容易地校正所创建的反射。
根据进一步的示例性实施例,反射校正方法还包括下列步骤:
-形成合适的第一照明组和合适的进一步的照明组,
-将每个照明模式图像分配至第一照明组或至进一步的照明组。
在这里,用于确定相应的局部反射图像的各自两个照明模式图像属于不同的照明组。
在这里,在本发明意义内的照明组可以是可接收照明模式中的一些的组。因此,照明模式可被分成各组从而能够创建相应的局部反射图像。
该实施例的一个优点是可按一种有效的方式创建局部反射图像,从而可突出显示由角度选择性照明所创建的反射。
根据进一步的示例性实施例,反射校正方法还包括使局部反射图像的数量对应于第一照明组的照明模式的数量和/或进一步的照明组的照明模式的数量。
该实施例的一个优点是其仅需要生成突出显示作为角度选择性照明的结果或任何照明模式的结果而发生的反射所必要的如此多的局部反射图像,以便之后将这些反射从物体图像或多个物体图像滤除。
根据进一步的示例性实施例,反射校正方法还包括与相应两个照明模式图像的差分图像相应的每个局部反射图像。
在这里,在本发明意义内的差分图像可以是当两个图像相减时所创建的图像,例如以逐个像素的方式相减。这样做,可消除相同的像素。以这种方式,在静态物体的情况下,仅那些由照明的角度选择性所创建的图像部分被保留下来,即用于相应的照明模式或两个相互类似的照明模式的反射被保留下来。
该实施例的一个优点是可按简单的方式最大可能地生成仅含有反射的图像,从而可在之后从相应的物体图像过滤该反射。
根据进一步的示例性实施例,反射校正方法还包括具有绝对值差分图像,优选为加权的绝对值差分图像的差分图像。
在这里,在本发明意义内的绝对值差分图像可以是使将两个图像中的一个对像素的差分图像不起作用的图像从另一个图像中减去时的图像,由于在相减期间形成绝对值,因此各自的结果总具有正值。
在这里,在本发明意义内的加权的绝对值差分图像可以是进行归一,例如至某个亮度的绝对值图像。
该实施例的一个优点是该方法可以是灵活的,这是因为在生成局部反射图像期间,无需预先选择两个相应图像模式图像中的哪一个需要从另一个进行相减。
根据进一步的示例性实施例,反射校正方法还包括确定照明模式图像关于彼此的合适相邻关系。在这里,第一照明组和进一步的照明组是由相邻关系而形成的。基于相邻关系,各个照明模式图像被分配至第一照明组或进一步的照明组。
在这里,在本发明意义内的照明模式图像相关于彼此的相邻关系可具有作为基础的由两个相应的照明模式进行照明的类似的角度选择性。在这里,由于参考轴线,相邻可以是接近。在每种情况下,相邻可由用于照明模式中的不同模式中的两个照明源的紧邻而给出。该实施例的一个优点是可使用照明模式图像以形成局部反射图像,在照明模式图像中,反射具有作为照明模式图像的相邻的结果的类似的角度选择性且因此在相关联的照明模式图像中生成极为相似的反射。
根据进一步的示例性实施例,反射校正方法还包括按取决于所选模式的方式进行确定的相邻关系。
该实施例的一个优点是可使用照明模式图像以形成局部反射图像,在照明模式图像中,反射具有作为照明模式的相邻的结果的类似的角度选择性且因此在相关联的照明模式图像中生成极为相似的反射。
根据进一步的示例性实施例,反射校正方法还包括根据局部反射图像中的至少一些建立全反射图像。
优选地,这可通过所有局部反射图像而发生。
在这里,在本发明意义内的全反射图像可以是其中所有相应的局部反射图像被组合起来以形成全图像的图像。因此,由角度选择性记录所创建的所有反射均在图像中进行组合,且因此创建其中仅含有物体的实际上的所有反射的图像。
该实施例的一个优点是可按简单且有效的方式从物体过滤反射。
根据进一步的示例性实施例,反射校正方法还包括通过将相应的局部反射图像在彼此上方进行叠加而建立全反射图像。特别优选地,合适的叠加是通过对相应的局部反射图像求和而进行的。
该实施例的一个优点是可按简单且有效的方式描绘物体的所有反射。
根据进一步的示例性实施例,用于反射校正方法的物体的反射校正图像的构造包括:
-对所有照明模式图像中的至少一些求和,优选为所有照明模式图像进行求和以形成全照明模式图像,
-从全照明模式图像减去全反射图像以形成全图像,以及
-对全图像进行合适的归一。
在这里,对全图像进行归一的结果对应于物体的反射校正图像。
在这里,在本发明意义内的全照明模式图像可以是其中所有相应的照明模式图像被组合起来以形成全图像的图像。因此,在一个图像中描绘出源于所有照明方向的关于该物体的信息。因此,所有信息,包括由角度选择性记录创建的所有反射均可包含在该图像中。
该实施例的一个优点是创建了图像,且因此以简单且有效的方式从该图像滤除由角度选择性照明所创建的所有反射。
根据进一步的示例性实施例,用于反射校正方法的物体包括漫反射物体。
该实施例的一个优点是该方法适用于不具有用于反射的任何明确的优先方向的物体。
因此,本发明使其可提供一种方法和相关联的装置,其结果是其可能提供对物体的理想照明以最大可能地光学获取该物体且在过程中光学描绘该物体而不产生由照明所创建的反射。
现在,则按如下方式计算反射校正图像:
其中N(i)为直接与i相邻的照明方向组,且m表示所有相邻的照明方向N(i)的数量。
在一些照明设置中,需要考虑单个照明的多个可能的相邻的照明方向。在照明网格的情况下,像素连接性的概念可能给出适当的相邻定义。但是,更加普通的相邻也是可能的。因此,我们用N(i)表示照明方向i上的相邻。
通过#N(i),表示出了方向i上的邻居的数量。更一般地,#为后续所述的离散集合的元素计数。对i的E.G.求和:#(N(i)=j)为j为其邻居的方向数量。
在该符号后,我们可对公式进行概括以实现至下列的反射校正。
必须注意的是,没有照明方向可以是其自身的邻居且必须有至少一个照明方向具有明确定义的相邻照明方向。
替代地,依靠进行的图像平均可顺便减少(不消除)反射:
此外,相邻不一定是直接相邻或其不必是完全用于所有各个方向,且通常,其也不必是对称的。然而,用于每个i的数量m则需要进行适应化调整。
附图说明
下面将基于附图更深度地解释本发明。其中:
图1示出根据本发明的一个示例性实施例提出的方法的示意图;
图2示出用于根据本发明的进一步的示例性实施例提出的方法的圆形几何基本结构的一些示例性照明模式的示意图;
图3示出根据本发明的进一步的示例性实施例提出的方法的示意图;
图4示出根据本发明的进一步的示例性实施例提出的方法的示意图;以及
图5示出根据本发明的进一步的示例性实施例提出的装置的示意图。
具体实施方式
图1示出根据本发明的一个示例性实施例提出的方法的示意图。
在这里,图1示出用于校正图像,优选为显微镜图像的反射校正方法的示意图。在这里,反射校正方法包括:对物体进行照明10,其中物体的照明10具有至少两个照明模式11,12。为每个照明模式11,12创建20物体的照明模式图像21,22。在每种情况下,通过将相应两个照明模式图像21,22进行适当的组合来确定60多个局部反射图像61。通过将所有照明模式图像21,22中的至少一些以及所有局部反射图像61中的至少一些进行适当的组合来构造90物体的反射校正的图像99。以及,在该过程中,每个照明模式11,12具有至少一个开启照明源111且各个照明模式11,12不同于所有其他的照明模式。
图2示出用于根据本发明的进一步的示例性实施例提出的方法的圆形几何基本结构的一些示例性照明模式的示意图。在这里,图2示出四排不同的照明模式。在这里,所有照明模式11,12的开启照明源111在每一排中形成了围绕物体的几何基本结构112。照明模式11,12具有可选自模式组中的模式,其中该模式组包括单个开启照明源111,如在第一排中以示例方式示出的。多个开启照明源111采用占几何基本结构112中八分之一的形式。由于在图2的实例中的几何图形具有八个照明源111,第一排就对应于该模式。多个开启照明源111采用占几何基本结构112的四分之一的形式,如在第二排中以示例方式示出的。多个开启照明源111采用占几何基本结构112的二分之一的形式,如在第三排中以示例方式示出的。且几何基本结构112中各隔开一个的照明源111,如在第四排中以示例方式示出的。
图3示出根据本发明的进一步的示例性实施例提出的方法的示意图。
在这里,图3示出已关于图1的方法进行扩展的方法的示意图。上面相关于图1所述的内容也相应地适用于图3。
如能从图3看出的,反射校正方法还包括:形成30合适的第一照明组31和合适的进一步的照明组32。将每个照明模式图像21,22分配40至第一照明组31或至进一步的照明组32。这样做,用于确定60相应的局部反射图像61的各自两个照明模式图像21,22属于不同的照明组31,32。
图4示出根据本发明的进一步的示例性实施例提出的方法的示意图。
在这里,图4示出已关于图1和图3的方法进行扩展的方法的示意图。上面相关于图1和图3所述的内容也相应地适用于图4。
如能从图4看出的,反射校正方法还包括确定50照明模式图像21,22关于彼此的合适相邻关系。在这里,第一照明组31和进一步的照明组32是由相邻关系而形成30。基于相邻关系,各个照明模式图像21,22被分配至第一照明组31或进一步的照明组32。此外,相邻关系是以依赖于所选模式的方式进行确定50。
而且,反射校正方法还包括根据局部反射图像61中的至少一些建立80全反射图像81。
在这里,全反射图像81是通过将相应的局部反射图像61一个叠加在另一个上,特别优选地为对相应的局部反射图像61求和而建立80的。
此外,用于反射校正方法的构造90物体的反射校正图像包括:对所有照明模式图像21,22中的至少一些,优选为所有照明模式图像21,22进行求和91以形成全照明模式图像23。从全照明模式图像23减去92全反射图像81以形成全图像97。并对全图像97进行合适的归一93。在这里,对全图像97进行归一93的结果对应于物体的反射校正图像99。
图5示出根据本发明的进一步的示例性实施例提出的装置的示意图。
在这里,图5示出用于反射校正物体成像,优选为用于反射校正显微镜术,特别优选为用于反射校正光学显微镜术的反射校正装置100的示意图。反射校正装置100包括:图像记录装置110和反射校正装置120。在这里,图像记录装置110被配置为获得物体并将结果(图像)转移至反射校正装置120。且反射校正装置100还被配置成进行根据本发明的反射校正方法。
本发明的概念可被概括为如下所述。本发明提供了一种方法和相应的装置,其结果是可光学地获取物体,且在该过程中,校正在记录物体时由照明所创建的反射。基本原则是相邻的照明方向的图像全显示物体的类似图像,反射则通常强烈地依赖于照明方向。其结果是,当形成记录图像的差异时反射仍存在。接下来,通过形成绝对值、和以及归一的方式对反射进行归一以使其能从各个图像的和直接进行相减。随后,所产生的图像则最大可能地不再含有直接反射。
由于该方法是非参数的,因此也未创建不自然的伪影,如可能在当前的实际实施例中发生的一样。此外,独立于其可能具有的强度,移除依赖于照明方向的反射。
附图标记列表
10 对物体进行照明
11,12 照明模式
20 创建照明模式图像
21,22 照明模式图像
23 全照明模式图像
30 形成第一和第二照明组
31 第一照明组
32 第二照明组
40 将每个照明模式图像分配至照明组
50 确定照明模式图像关于彼此的相邻关系
60 计算至少一个局部反射图像
61 局部反射图像
80 建立全反射图像
81 全反射图像
90 计算反射校正图像
91 对所有照明模式图像中的至少一些求和以形成全照明模式图像
92 从全照明模式图像减去全反射图像以形成全图像
93 对全图像进行归一
97 全图像
99 反射校正图像
100 反射校正装置
110 图像记录装置
111 照明源
112 几何基本结构
120 反射校正装置
Claims (12)
1.用于校正数字显微镜图像的反射校正方法,其包括下列步骤:
-以至少两个不同的照明模式(11,12)对物体进行照明(10),每个照明模式(11,12)具有至少一个开启照明源(111),
-为每个照明模式(11,12)创建(20)所述物体的照明模式图像(21,22),
-通过组合两个照明模式图像(21,22)计算至少一个局部反射图像(61),
-通过组合至少一个所述照明模式图像(21,22)和至少一个局部反射图像(61)来计算(90)所述物体的反射校正图像(99),
其中每个局部反射图像(61)对应于相应两个相邻的所述照明模式图像(21,22)的绝对值差分图像,
-由所述局部反射图像(61)中的至少一些建立(80)全反射图像(81),所述全反射图像(81)是通过将相应的局部反射图像(61)一个叠加在另一个上,对所述相应的局部反射图像(61)求和而建立(80),
其中计算(90)所述物体的所述反射校正图像(99)包括:
-对所有照明模式图像(21,22)中的至少一些求和以形成全照明模式图像,
-从所述全照明模式图像(23)减去(92)所述全反射图像(81)以形成全图像(97),以及
-对所述全图像(97)进行归一(93),所述全图像(97)的所述归一(93)的结果对应于所述物体的所述反射校正图像(99)。
3.根据权利要求1所述的反射校正方法,其中所有照明模式(11,12)的所述开启照明源(111)形成围绕所述物体的几何基本结构(112)且所述照明模式(11,12)具有可选自下列模式组中的一个的模式:
-单个开启照明源(111),
-采用所述几何基本结构(112)的八分之一的形式的多个开启照明源(111),
-采用所述几何基本结构(112)的四分之一的形式的多个开启照明源(111),
-采用所述几何基本结构(112)的二分之一的形式的多个开启照明源(111),
-所述几何基本结构(112)中每隔开一个照明源(111)作为开启照明源(111)。
4.根据权利要求1、2或3所述的反射校正方法,其还包括下列步骤:
-形成(30)第一照明组(31)和进一步的照明组(32),
-将每个照明模式图像(21,22)分配至所述第一照明组(31)或至所述进一步 的照明组(32),
其中用于确定(60)相应的局部反射图像(61)的各自两个照明模式图像(21,22)属于不同的照明组(31,32)。
5.根据权利要求4所述的反射校正方法,其中局部反射图像(61)的数量对应于所述第一照明组(31)的照明模式(11,12)的数量和/或所述进一步的照明组(32)的照明模式(11,12)的数量。
6.根据权利要求1所述的反射校正方法,其中所述差分图像为加权的绝对值差分图像。
7.根据权利要求4所述的反射校正方法,还包括:
-确定(50)所述照明模式图像(21,22)关于彼此的相邻关系,
其中,所述第一照明组(31)和所述进一步的照明组(32)是通过所述相邻关系而形成(30)的,且各个照明模式图像(21,22)基于所述相邻关系被分配至所述第一照明组(31)或至所述进一步的照明组(32)。
8.根据权利要求7所述的反射校正方法,其中所述相邻关系是以依赖于所选模式的方式进行确定(50)的。
9.根据权利要求1所述的反射校正方法,其中对所有照明模式图像(21,22)进行求和(91)以形成全照明模式图像(23)。
10.根据权利要求1、2或3所述的反射校正方法,其中所述物体是漫反射物体。
11.用于反射校正的物体成像的装置(100),其包括:
-图像记录装置(110),以及
-反射校正装置(120),
其中所述图像记录装置(110)被配置成获得物体图像并将所述物体图像转移至所述反射校正装置(120),且其中所述反射校正装置(120)被配置成执行根据前述权利要求中任一项所述的反射校正方法。
12.数据介质,包括使根据权利要求11所述的用于反射校正的物体成像的装置(100)按照根据权利要求1至10中任一项所述的反射校正方法进行操作的计算机程序。
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---|---|---|---|---|
DE102016107041A1 (de) * | 2016-04-15 | 2017-10-19 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Mikroskop sowie Mikroskopieverfahren |
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WO2018230575A1 (ja) * | 2017-06-15 | 2018-12-20 | オリンパス株式会社 | 顕微鏡システム |
DE102017125799A1 (de) | 2017-11-06 | 2019-05-09 | Carl Zeiss Industrielle Messtechnik Gmbh | Reduktion von Bildstörungen in Bildern |
DE102018127754A1 (de) | 2018-11-07 | 2020-05-07 | Carl Zeiss Industrielle Messtechnik Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zum Inspizieren einer Objektoberfläche, insbesondere zum Inspizieren der Oberfläche eines Pulverbettes mit einer Vielzahl von Pulverpartikeln |
DE102019009301B4 (de) | 2019-12-18 | 2023-10-26 | Carl Zeiss Industrielle Messtechnik Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zur additiven Herstellung eines Werkstücks |
DE102019134987B4 (de) | 2019-12-18 | 2022-05-25 | Carl Zeiss Industrielle Messtechnik Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zur additiven Herstellung eines Werkstücks |
Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2004144770A (ja) * | 2002-08-28 | 2004-05-20 | Olympus Corp | 光源調整装置 |
CN1517780A (zh) * | 2003-01-21 | 2004-08-04 | 惠普开发有限公司 | 基于反射图像的投影图像的校正 |
CN1928889A (zh) * | 2005-09-07 | 2007-03-14 | 株式会社东芝 | 图像处理装置和方法 |
CN102096529A (zh) * | 2011-01-27 | 2011-06-15 | 北京威亚视讯科技有限公司 | 多点触控交互系统 |
CN102589428A (zh) * | 2012-01-17 | 2012-07-18 | 浙江大学 | 基于非对称入射的样品轴向位置跟踪校正的方法和装置 |
CN103688530A (zh) * | 2011-05-17 | 2014-03-26 | 沃思测量技术股份有限公司 | 用于生成和评估图像的方法 |
CN104349055A (zh) * | 2013-08-03 | 2015-02-11 | 卡尔蔡司显微镜有限公司 | 校准数字光学成像系统的方法、校正数字光学成像系统中像差的方法及数字光学成像系统 |
EP3026889A1 (en) * | 2013-07-25 | 2016-06-01 | Olympus Corporation | Image processing device, image processing method, microscope system, and image processing program |
Family Cites Families (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6088612A (en) * | 1997-04-04 | 2000-07-11 | Medtech Research Corporation | Method and apparatus for reflective glare removal in digital photography useful in cervical cancer detection |
US7075714B2 (en) * | 2002-02-26 | 2006-07-11 | Olympus Corporation | Anti-reflection film and microscope having optical element with the same anti-reflection film applied thereto |
DE20304412U1 (de) * | 2003-03-19 | 2003-06-12 | Schott Glas, 55122 Mainz | Steuereinheit für Mischlichtbeleuchtungen |
US7738725B2 (en) * | 2003-03-19 | 2010-06-15 | Mitsubishi Electric Research Laboratories, Inc. | Stylized rendering using a multi-flash camera |
DE102004053730B4 (de) * | 2004-11-06 | 2014-04-03 | Carl Zeiss Jena Gmbh | Verfahren und Anordnung zur Unterdrückung von Falschlicht |
DE102006031177A1 (de) * | 2006-07-06 | 2008-01-10 | Carl Zeiss Microimaging Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zur Erzeugung eines Bildes einer dünnen Schicht eines Objekts |
US7646422B2 (en) * | 2006-10-04 | 2010-01-12 | Branislav Kisacanin | Illumination and imaging system with glare reduction and method therefor |
DE102007018048A1 (de) * | 2007-04-13 | 2008-10-16 | Michael Schwertner | Verfahren und Anordnung zur optischen Abbildung mit Tiefendiskriminierung |
JP2013222720A (ja) * | 2012-04-12 | 2013-10-28 | Elpida Memory Inc | 半導体装置の製造方法 |
JP6305012B2 (ja) * | 2013-10-25 | 2018-04-04 | 株式会社キーエンス | 顕微鏡撮像装置、顕微鏡撮像方法および顕微鏡撮像プログラム |
-
2015
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-
2016
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Patent Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2004144770A (ja) * | 2002-08-28 | 2004-05-20 | Olympus Corp | 光源調整装置 |
CN1517780A (zh) * | 2003-01-21 | 2004-08-04 | 惠普开发有限公司 | 基于反射图像的投影图像的校正 |
CN1928889A (zh) * | 2005-09-07 | 2007-03-14 | 株式会社东芝 | 图像处理装置和方法 |
CN102096529A (zh) * | 2011-01-27 | 2011-06-15 | 北京威亚视讯科技有限公司 | 多点触控交互系统 |
CN103688530A (zh) * | 2011-05-17 | 2014-03-26 | 沃思测量技术股份有限公司 | 用于生成和评估图像的方法 |
CN102589428A (zh) * | 2012-01-17 | 2012-07-18 | 浙江大学 | 基于非对称入射的样品轴向位置跟踪校正的方法和装置 |
EP3026889A1 (en) * | 2013-07-25 | 2016-06-01 | Olympus Corporation | Image processing device, image processing method, microscope system, and image processing program |
CN104349055A (zh) * | 2013-08-03 | 2015-02-11 | 卡尔蔡司显微镜有限公司 | 校准数字光学成像系统的方法、校正数字光学成像系统中像差的方法及数字光学成像系统 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
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