CN106024067A - Eeprom的测试方法 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种EEPROM的测试方法，包括以下步骤：S1、对0地址写入0xAA，读取0地址的数据，判断0地址读出的数据是否为0xAA，若否则测试不合格；S2、对0地址写入0x55，读取0地址的数据，判断0地址读出的数据是否为0x55，若否则测试不合格；S3、依次读取从0地址至N地址的数据，其中N为期望的EEPROM的字节容量；S4、判断N地址读出的数据是否为0x55，若否则测试不合格；S5、对0地址写入0xFF，读取0地址的数据，判断0地址读出的数据是否为0xFF，若否则测试不合格，若是测试合格。本发明能在批量测试同容量EEPROM时及时发现混入的其他容量的EEPROM。

Description

EEPROM的测试方法
技术领域
本发明属于集成电路测试领域，特别涉及一种EEPROM(电可擦可编程只读存储器)的测试方法。
背景技术
当前常用的EEPROM测试方法参考一般集成电路的测试方法，该方法存在两个问题，对于两种EEPROM特有的异常情况无法测试排除。
第一种为在批量测试EEPROM过程中，为了节约EEPROM的测试时间，通常仅对首地址进行读写操作，对全片进行读操作测试，并不会特意进行芯片存储容量的查询与判断，因为那样会消耗较多的测试时间。在测试一批同样容量的EEPROM时，如果掺杂有其他容量的EEPROM，在进行全片0xFF读取测试时，对于实际存储容量同当前测试期望的存储容量不同的其他的EEPROM不能及时发现，对于存储容量大于当前测试容量的EEPROM会存在漏测一部分存储空间的问题。
第二种情况为EEPROM芯片测试过程中，有时会存在由于外界信号干扰或者电压不稳定等其它原因造成的I2C(Inter－Integrated Circuit)测试总线上的误操作，进而造成EEPROM误写为全0xFF，但是当前的测试方法又是仅进行全片0xFF读取测试，所以会将有问题的芯片误判为正常芯片，即当前的测试方法无法排除这种异常误操作的情况。
发明内容
本发明要解决的技术问题是为了克服现有技术中批量测试同容量EEPROM时对于混入的其他容量的EEPROM无法及时发现的缺陷，提供一种不需要增加硬件且测试耗时较少的EEPROM的测试方法。
本发明是通过下述技术方案来解决上述技术问题：
一种EEPROM的测试方法，其特点在于，包括以下步骤：S1、对0地址写入0xAA，读取0地址的数据，判断0地址读出的数据是否为0xAA，若否则测试不合格，若是则执行步骤S2；S2、对0地址写入0x55，读取0地址的数据，判断0地址读出的数据是否为0x55，若否则测试不合格，若是则执行步骤S3；S3、依次读取从0地址至N地址的数据，其中N为期望的EEPROM的字节容量；S4、判断N地址读出的数据是否为0x55，若否则测试不合格，若是则执行步骤S5；S5、对0地址写入0xFF，读取0地址的数据，判断0地址读出的数据是否为0xFF，若否则测试不合格，若是测试合格。
本方案中，对于期望的EEPROM的字节容量为N字节的EEPROM而言，其有效地址为0至N-1字节，当对N字节地址或者2N字节地址访问时实际上均访问的是0地址对应的EEPROM的物理存储空间，本方案就是利用了EEPROM电路的这种循环地址机制。本方案中当N地址读出的数据为0x55时，根据EEPROM电路的循环地址机制能够获知，N地址实际上读取的是0地址存储的0x55，相反，如果N地址读出的还是0xFF，那很可能当前测试中的EEPROM的存储容量是大于期望的EEPROM的存储容量的。由此可知，本方案在不需要增加额外硬件开销也不需要额外花费较多测试时间的基础上，在EEPROM批量测试时能够有效识别出混入的同期望的容量不同的EEPROM芯片。
较佳地，所述步骤S3中，若待测试EEPROM的容量同所述期望的EEPROM的字节容量相同，则0地址和N地址对应EEPROM的同一个物理存储空间。
较佳地，所述步骤S4之前还包括判断步骤S3中从1地址至N-1地址依次读出的数据是否全为0xFF的步骤，若否则测试不合格，若是则执行步骤S4。
本方案中，对于待测试EEPROM的容量同所述期望的EEPROM的字节容量相同时，读出的0地址和N地址应该对应EEPROM的同一个物理存储空间，所以读出的都应该是0x55才正确，而地址1至N-1，均应该是默认值0xFF才正确，其它情况均表示EEPROM测试不合格。
较佳地，所述步骤S4中，若N地址读出的数据是0x55，则测试的EEPROM的容量同所述期望的EEPROM的字节容量相同，继续执行步骤S5；若N地址读出的数据为0xFF，则测试的EEPROM的容量大于所述期望的EEPROM的字节容量，测试不合格。
本方案中，在判断出N地址读出的数据为0xFF时，排除其它异常原因，能够判断当前测试的EEPROM的容量大于期望的EEPROM的容量，随后可以针对该EEPROM的实际容量重新进行测试，此处的测试不合格并不能说明当前测试的EEPROM就是存在问题的芯片，只表示容量不匹配。
较佳地，若N/2地址读出的数据是0x55，则测试的EEPROM的容量小于所述期望的EEPROM的字节容量，测试不合格。
本方案中，对于期望测试的容量为4K字节的EEPROM而言，如果当前测试的EEPROM容量为2K字节，那么此时N为4K，N/2为2K，对于当前测得的2K字节容量的EEPROM芯片，在读0地址，2K地址和4K地址时读出的都是0地址对应的物理存储空间的数据，也就是都是0x55，也就是说依次连续从地址0读到地址N，共读出3次0x55，如果其余地址均为0xFF，那么可以初步判断当前测试的EEPROM的容量是小于期望的EEPROM的容量，实际上是仅有期望的EEPROM的容量的一半。
较佳地，所述步骤S1之前还包括擦除EEPROM的步骤。
本方案中，对于在测试前已经被编程过的EEPROM，其内部存储的数据已经不是出厂时默认的0xFF，所以有必要在测试之前对整个芯片进行擦除操作，使其恢复为全0xFF，而对于出厂后未编程过的EEPROM则不需要这一擦除步骤。
本发明的积极进步效果在于：本发明提供的EEPROM的测试方法，针对期望的字节容量为N字节的EEPROM芯片，利用EEPROM电路的地址循环机制，调整写入和读出的数据，同时增加一次N地址的数据读操作，有效且不增加成本的解决了能够及时发现批量测试同容量EEPROM时对于混入的其他容量的EEPROM的问题。另外本发明对于EEPROM全芯片的读操作测试采用0x55数据同默认的0xFF相结合的方式，而不是全0xFF数据读出验证的方式，有效的解决了由于外界信号干扰或者电压不稳定等其它原因造成的I2C测试总线上的误操作造成的EEPROM被误写为全0xFF而无法发现的问题。本发明提供的EEPROM的测试方法不需要增加额外的硬件且测试耗时较少，即保证测试效率的同时也没有增加测试成本。
附图说明
图1为本发明一较佳实施例的EEPROM的测试方法的流程图。
具体实施方式
下面通过实施例的方式进一步说明本发明，但并不因此将本发明限制在所述的实施例范围之中。
如图1所示，一种EEPROM的测试方法，包括以下步骤：
步骤101、对0地址写入0xAA；
步骤102、读取0地址的数据，判断0地址读出的数据是否为0xAA，若否则测试不合格，若是则执行步骤103；
步骤103、对0地址写入0x55；
步骤104、读取0地址的数据，判断0地址读出的数据是否为0x55，若否则测试不合格，若是则执行步骤105；
步骤105、依次读取从1地址至N-1地址的数据，其中N为期望的EEPROM的字节容量，N为整数，判断读出的数据是否为0xFF，若否则测试不合格，若是则执行步骤106；
步骤106、读出N地址的数据并判断读出的数据是否为0x55，若否则执行步骤1061，若是则执行步骤107；
步骤1061、判断N地址的数据是否为0xFF，若是则可以初步判断待测EEPROM容量大于期望的EEPROM的容量，测试不合格；若是则直接测试不合格；
步骤107、对0地址写入0xFF；
步骤108、读取0地址的数据，判断0地址读出的数据是否为0xFF，若否则测试不合格，若是测试合格。
本实施例中，若待测试EEPROM的容量同期望的EEPROM的容量相同，则0地址和N地址对应EEPROM的同一个物理存储空间。
本实施例中还可以进一步的判断，在步骤105中，若N/2地址读出的数据是0x55，在排除其它异常的情况下，则可以初步判断当前测试的EEPROM的容量小于期望的EEPROM的容量，该EEPROM芯片也是混入的非期望容量的EEPROM，故测试不合格。
本实施例中，如果待测的EEPROM已经被编程过，则在步骤101之前还需要做擦除EEPROM的操作，使其存储的数据全部恢复为0xFF。
虽然以上描述了本发明的具体实施方式，但是本领域的技术人员应当理解，这仅是举例说明，本发明的保护范围是由所附权利要求书限定的。本领域的技术人员在不背离本发明的原理和实质的前提下，可以对这些实施方式做出多种变更或修改，但这些变更和修改均落入本发明的保护范围。

Claims (6)

1.一种EEPROM的测试方法，其特征在于，包括以下步骤：
S1、对0地址写入0xAA，读取0地址的数据，判断0地址读出的数据是否为0xAA，若否则测试不合格，若是则执行步骤S2；
S2、对0地址写入0x55，读取0地址的数据，判断0地址读出的数据是否为0x55，若否则测试不合格，若是则执行步骤S3；
S3、依次读取从0地址至N地址的数据，其中N为期望的EEPROM的字节容量；
S4、判断N地址读出的数据是否为0x55，若否则测试不合格，若是则执行步骤S5；
S5、对0地址写入0xFF，读取0地址的数据，判断0地址读出的数据是否为0xFF，若否则测试不合格，若是测试合格。
2.如权利要求1所述的EEPROM的测试方法，其特征在于，所述步骤S3中，若待测试EEPROM的容量同所述期望的EEPROM的字节容量相同，则0地址和N地址对应EEPROM的同一个物理存储空间。
3.如权利要求1所述的EEPROM的测试方法，其特征在于，所述步骤S4之前还包括判断步骤S3中从1地址至N-1地址依次读出的数据是否全为0xFF的步骤，若否则测试不合格，若是则执行步骤S4。
4.如权利要求3所述的EEPROM的测试方法，其特征在于，所述步骤S4中，若N地址读出的数据是0x55，则测试的EEPROM的容量同所述期望的EEPROM的字节容量相同，继续执行步骤S5；若N地址读出的数据为0xFF，则测试的EEPROM的容量大于所述期望的EEPROM的字节容量，测试不合格。
5.如权利要求3所述的EEPROM的测试方法，其特征在于，若N/2地址读出的数据是0x55，则测试的EEPROM的容量小于所述期望的EEPROM的字节容量，测试不合格。
6.如权利要求1至5中任一项所述的EEPROM的测试方法，其特征在于，所述步骤S1之前还包括擦除EEPROM的步骤。
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