CN105978637A - 多dut测试系统及其测试方法 - Google Patents
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Abstract
本发明提供一种多DUT测试系统,包括PC机、多台DUT以及无线测试仪,所述PC机分别与多台所述DUT通信连接并根据所述DUT内的芯片类型控制所述DUT在指定的频率、数据传输速率及信道发出射频信号,所述无线测试仪接收所述DUT发出的射频信号并发出反馈信号,所述PC机接收所述无线测试仪发出的反馈信号并根据所述反馈信号调节所述DUT的指标参数。与相关技术相比,本发明提供的多DUT测试系统不但可以兼容DUT产品内的各种芯片的测试方案,而且还可以根据不同的无线测试仪自动选调相应的测试软件,从而解决了测试软件管理混乱的问题并且显著提高了测试效率。
Description
技术领域
本发明涉及DUT测试技术领域,尤其涉及一种多DUT测试系统及其测试方法。
背景技术
光网络单元ONU(Optical Network Unit),光网络单元ONU分为有源光网络单元和无源光网络单元。一般把装有包括光接收机、上行光发出机、多个桥接放大器网络监控的设备叫做光节点。无源光纤网络PON使用单光纤连接到光线路终端OLT,然后光线路终端OLT连接到光网络单元ONU。光网络单元ONU提供数据、交互式网络电视交互式网络电视IPTV,语音使用综合接入设备IAD(IntegratedAccess Device)等业务,真正实现语音、数据、数字电视三网合一“triple-play”应用。光网络单元ONU的核心器件为光收发模块接口组件BOSA(Bi-Directional Optical Sub-Assembly),用于接收和发送数字光信号的模拟器件,为进一步降低生产成本,使用BOB(BOSA OnBOSA直接封装到设备上Board)技术。
随着社会以及技术的发展,光网络单元ONU作为一种上网介质,也成为了人们日常生活当中常见的物品。旺盛的市场需求,需要相对应的生产力来满足要求。但是,光网络单元ONU需要进行校准和测试,相关技术中,需要测试人员手动逐一连接待测的DUT,并进行相应的手动配置等操作,测试时间较长,测试效率较差,浪费产线作业人员很多的时间和精力。另外,对DUT进行测试的测试仪器,当采用不用厂商生产的测试仪器时,就需要用到不同的测试软件,这样容易造成软件的管理混乱。
因此,实有必要提供一种新的多DUT测试系统解决上述问题。
发明内容
本发明需解决的技术问题是提供一种多DUT测试系统,其不但可以兼容DUT产品内的各种芯片的测试方案,而且还可以根据不同的无线测试仪自动选调相应的测试软件,从而解决了测试软件管理混乱的问题,并且显著提高了测试效率。
为了解决上述技术问题,本发明提供了一种多DUT测试系统,包括PC机、多台DUT以及无线测试仪,所述PC机分别与多台所述DUT通信连接并根据所述DUT内的芯片类型控制所述DUT在指定的频率、数据传输速率及信道发出射频信号,所述无线测试仪接收所述DUT发出的射频信号并发出反馈信号,所述PC机接收所述无线测试仪发出的所述反馈信号并根据所述反馈信号调节所述DUT的指标参数。
优选的,所述PC机通过网线分别与所述DUT和所述无线测试仪通信连接。
优选的,所述PC机采用TCP/IP协议与所述无线测试仪连接。
优选的,所述指标参数包括所述DUT的发出功率和频偏。
优选的,所述PC机还根据所述DUT内的芯片类型控制所述DUT按指定的调制方式发出所述射频信号。
本发明还提供了一种多DUT测试系统的测试方法,包括如下步骤:
确认芯片类型,所述PC机确认所述DUT内的芯片类型;
发送指令,所述PC机根据所述芯片类型给所述DUT发送相应的指令;
发出射频信号,所述DUT根据接收到的所述指令调节其处于指定的调制方式、频率、数据传输速率以及信道,并发出射频信号;
接收射频信号,所述无线测试仪接收所述DUT发出的所述射频信号;
频偏计算,所述无线测试仪计算出接收到的所述射频信号的频偏,并输出反馈信号;
参数调节,所述PC机接收所述反馈信号,并根据所述反馈信号调节所述DUT的指标参数。
优选的,在接收射频信号步骤之前,还包括步骤:加载测试软件,所述PC机从预设的编译库中选调匹配所述无线测试仪的测试软件。
优选的,在加载测试软件步骤之前,还包括步骤:无线测试仪设置,将所述无线测试仪设置为与所述DUT相同的调制方式、频率、数据传输速率及信道。
优选的,在频偏计算步骤之前,还包括步骤:频偏判断,所述无线测试仪根据读取的所述射频信号的功率、误差矢量幅度以及预设的频谱模板来判断所述射频信号的频偏是否在标准范围内。
优选的,所述指标参数包括所述DUT发出的射频信号的功率和频偏。
与相关技术相比,本发明提供的多DUT测试系统及其测试方法可兼容DUT内使用的当前主流的芯片的测试方案,可以根据不同的无线测试仪自动从预设的编译库内选调相应的测试软件,不但提高了测试效率,而且解决了针对不同无线测试仪需要采用不同的测试软件而造成的管理混乱的问题,同时,还实现了采用一台无线测试仪就能对多台DUT的进行测试,因此,简化了测试步骤,降低了设备的购置成本,提高了测试效率。
附图说明
图1为本发明多DUT测试系统的结构示意图;
图2为本发明多DUT测试系统的测试方法的流程图。
具体实施方式
下面结合附图和实施方式对本发明作进一步说明。
请参阅图1,为本发明多DUT测试系统的结构示意图。所述多DUT测试系统包括PC机10、多台DUT11以及无线测试仪12。在本发明优选的实施方式中,所述PC机10和所述无线测试仪12都为一台。所述PC机10通过网线分别与所述DUT11和所述无线测试仪12通信连接,具体的,所述PC机10采用TCP/IP协议与所述无线测试仪12连接。所述DUT11与所述无线测试仪12之间通过射频信号实现无线连接。
所述PC机10根据所述DUT11内的芯片类型控制所述DUT11在指定的频率、数据传输速率及信道发出射频信号,在本发明优选的实施方式中,所述PC机10还根据所述DUT11内的芯片类型控制所述DUT11按指定的调制方式发出射频信号。
所述DUT11数量为多台,其通过射频信号与所述无线测试仪12连接。
所述无线测试仪12接收所述DUT11发出的射频信号并发出反馈信号,所述PC机10接收所述无线测试仪12发出的反馈信号并根据所述反馈信号调节所述DUT11的指标参数,所述指标参数具体包括DUT11发出的射频信号的功率和频偏。
请参阅图1和图2所示,图2为本发明多DUT的测试系统的测试方法的流程图。本发明还提供一种所述多DUT测试系统的测试方法,包括如下步骤:
S1、确认芯片类型,所述PC机10确认所述DUT11内的芯片类型;
S2、发送指令,所述PC机10根据所述芯片类型给所述DUT11发送相应的指令;
S3、发出射频信号,所述DUT11根据接收到的所述指令调节其处于指定的调制方式、频率、数据传输速率以及信道,并发出射频信号;
S4、无线测试仪设置,将所述无线测试仪12设置为与所述DUT11相同的调制方式、频率、数据传输速率及信道;
S5、加载测试软件,所述PC机10从预设的编译库中选调匹配所述无线测试仪11的测试软件;
S6、接收射频信号,所述无线测试仪12接收所述DUT11发出的所述射频信号;
S7、频偏判断,所述无线测试仪12根据读取的所述射频信号的功率、误差矢量幅度以及预设的频谱模板来判断所述射频信号的频偏是否在标准范围内;
S8、频偏计算,所述无线测试仪12计算出接收到的所述射频信号的频偏,并输出反馈信号;
S9、参数调节,所述PC机10接收所述反馈信号,并根据所述反馈信号调节所述DUT11的指标参数。所述指标参数包括所述DUT11的发出功率和频偏。
所述无线测试仪12在指定的调制方式、频率、数据传输速率以及信道上进行持续的数据包发送,所述PC机10控制所述DUT11处于与所述无线测试仪12在相同的调制方式、频率、数据传输速率以及信道上进行持续的接收所述数据包。
所述DUT11内一般设有频偏寄存器(未标记),所述PC机10控制所述频偏寄存器来调节所述DUT11的频偏。
与相关技术相比,本发明提供的多DUT测试系统及其测试方法可兼容DUT内使用的当前主流的芯片的测试方案,可以根据不同的无线测试仪自动从预设的编译库内选调相应的测试软件,不但提高了测试效率,而且解决了针对不同无线测试仪需要采用不同的测试软件而造成的管理混乱的问题,同时,还实现了采用一台无线测试仪就能对多台DUT的进行测试,因此,简化了测试步骤,降低了设备的购置成本,提高了测试效率。
以上所述的仅是本发明的实施方式,在此应当指出,对于本领域的普通技术人员来说,在不脱离本发明创造构思的前提下,还可以做出改进,但这些均属于本发明的保护范围。
Claims (10)
1.一种多DUT测试系统,其特征在于,包括PC机、多台DUT以及无线测试仪,所述PC机分别与多台所述DUT通信连接并根据所述DUT内的芯片类型控制所述DUT在指定的频率、数据传输速率及信道发出射频信号,所述无线测试仪接收所述DUT发出的所述射频信号并发出反馈信号,所述PC机接收所述无线测试仪发出的所述反馈信号并根据所述反馈信号调节所述DUT的指标参数。
2.根据权利要求1所述的多DUT测试系统,其特征在于,所述PC机通过网线分别与所述DUT和所述无线测试仪通信连接。
3.根据权利要求1或2所述的多DUT测试系统,其特征在于,所述PC机采用TCP/IP协议与所述无线测试仪连接。
4.根据权利要求1所述的多DUT测试系统,其特征在于,所述指标参数包括所述DUT的发出功率和频偏。
5.根据权利要求1所述的多DUT测试系统,其特征在于,所述PC机还根据所述DUT内的芯片类型控制所述DUT按指定的调制方式发出所述射频信号。
6.一种根据权利要求1所述的多DUT测试系统的测试方法,其特征在于,包括如下步骤:
确认芯片类型,所述PC机确认所述DUT内的芯片类型;
发送指令,所述PC机根据所述芯片类型给所述DUT发送相应的指令;
发出射频信号,所述DUT根据接收到的所述指令调节其处于指定的调制方式、频率、数据传输速率以及信道,并发出射频信号;
接收射频信号,所述无线测试仪接收所述DUT发出的所述射频信号;
频偏计算,所述无线测试仪计算出接收到的所述射频信号的频偏,并输出反馈信号;
参数调节,所述PC机接收所述反馈信号,并根据所述反馈信号调节所述DUT的指标参数。
7.根据权利要求6所述的多DUT测试系统的测试方法,其特征在于,在接收射频信号步骤之前,还包括步骤:加载测试软件,所述PC机从预设的编译库中选调匹配所述无线测试仪的测试软件。
8.根据权利要求7所述的多DUT测试系统的测试方法,其特征在于,在加载测试软件步骤之前,还包括步骤:无线测试仪设置,将所述无线测试仪设置为与所述DUT相同的调制方式、频率、数据传输速率及信道。
9.根据权利要求6所述的多DUT测试系统的测试方法,其特征在于,在频偏计算步骤之前,还包括步骤:频偏判断,所述无线测试仪根据读取的所述射频信号的功率、误差矢量幅度以及预设的频谱模板来判断所述射频信号的频偏是否在标准范围内。
10.根据权利要求6所述的多DUT测试系统的测试方法,其特征在于,所述指标参数包括所述DUT发出的射频信号的功率和频偏。
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