CN105954906A - 一种阵列基板及液晶显示面板 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种阵列基板及其液晶显示面板，该阵列基板分为显示区及外围布线区，显示区内设置有多条数据线且多条数据线中的至少部分相邻数据线在显示过程中施加极性相反的数据驱动信号，外围布线区设置有多个测试输入端以及测试分配电路，测试分配电路用于将每一测试输入端对应连接到至少两条以上数据线，进而使得在测试过程中每一测试输入端能够向对应的至少两条以上数据线施加测试信号，测试分配电路设置成使得每一测试输入端所连接的数据线在显示过程中施加数据驱动信号的极性相同。通过上述方式，解决了现有技术在极性反转模式下，相邻两条数据线之间正负极性经控制开关传递至同一阵列测试点，造成相互短路的问题。

Description

一种阵列基板及液晶显示面板
技术领域
本发明涉及面板显示技术领域，特别是涉及一种阵列基板及液晶显示面板。
背景技术
传统的小尺寸面板设计时，为了提升阵列(Array)阶段的制程良率，都会在面板的末端设计有阵列测试点(Array Test Pad)作为良率控制的最后屏障，当切割完成后，阵列测试及相关走线会留在面板上。为了避免其对面板正常显示时造成影响，通常设计有一个控制开关来实现关闭状态。但是，由于控制开关自身的特性，会存在一定漏电流。因此，在极性反转模式下，很容易引起相邻两条数据线之间正负极性经控制开关传递至同一阵列测试点，造成相互短路，从而影响面板的正常显示，出现泛黑的现象。这种情况在采用低温多晶硅(LTPS)技术的面板中尤为严重。
发明内容
本发明提供一种阵列基板及液晶显示面板，解决了现有技术在极性反转模式下，相邻两条数据线之间正负极性经控制开关传递至同一阵列测试点，造成相互短路的问题。
本发明采用的一个技术方案是：提供一种阵列基板：所述阵列基板分为显示区及外围布线区，所述显示区内设置有多条数据线且所述多条数据线中的至少部分相邻数据线在显示过程中施加极性相反的数据驱动信号，所述外围布线区设置有多个测试输入端以及测试分配电路，所述测试分配电路用于将每一所述测试输入端对应连接到至少两条以上所述数据线，进而使得在测试过程中每一所述测试输入端能够向对应的至少两条以上数据线施加测试信号，所述测试分配电路设置成使得每一所述测试输入端所连接的所述数据线在显示过程中施加所述数据驱动信号的极性相同。
其中，所述测试分配电路通过交叉走线方式使得每一所述测试输入端所连接的所述数据线在显示过程中施加所述数据驱动信号的极性相同。
其中，所述测试分配电路包括第一级测试分配电路和第二级测试分配电路，所述第一级测试分配电路包括多组第一级测试分配开关，每组所述第一级测试分配开关的第一连接端连接同一所述测试输入端，所述第二级测试分配电路包括多组第二级测试分配开关，每组所述第二级测试分配开关的第一连接端连接同一所述第一级测试分配开关的第二连接端，每组所述第二级测试分配开关的第二连接端连接对应的所述数据线，其中不同组的部分所述第二级测试分配开关与对应的所述数据线之间的连线采用交叉走线方式，以使得同一组的所述第二级测试分配开关所连接的所述数据线在显示过程中施加所述数据驱动信号的极性相同。
其中，不同组的部分所述第一级测试分配开关的第二连接端与对应组的第二级测试分配开关之间的连线采用交叉走线方式，以使得同一组的所述第一级测试分配开关所连接的所述数据线在显示过程中施加所述数据驱动信号的极性相同。
其中，所述第一级测试分配电路进一步包括多条第一级测试分配控制线，所述第一级测试分配控制线的数量与各组所述第一级测试分配开关的数量对应，各组所述第一级测试分配开关的控制端分别连接对应的所述第一级测试分配控制线，所述第二级测试分配电路进一步包括多条第二级测试分配控制线，所述第二级测试分配控制线的数量与各组所述第二级测试分配开关的数量对应，各组所述第二级测试分配开关的控制端分别连接对应的所述第二级测试分配控制线。
其中，所述测试分配电路进一步包括多个控制开关和开关控制线，其中所述控制开关的第一连接端和第二连接端分别连接对应的所述第二级测试分配开关的第二连接端与对应的数据线，所述控制开关的控制端连接所述开关控制线，进而使得在显示过程中所述控制开关的第一连接端和第二连接端能够在所述开关控制线上施加的控制信号的作用下断开。
其中，所述第一级测试分配开关、所述第二级测试分配开关以及所述控制开关分别为低温多晶硅薄膜晶体管。
其中，所述外围布线区进一步设置有多个数据输入端以及数据分配电路，其中所述数据分配电路用于将每一所述数据输入端对应连接到至少两条以上所述数据线，进而使得在显示过程中每一所述测试输入端能够向对应的至少两条以上数据线施加数据驱动信号。
其中，所述数据分配电路包括多个数据输入端、多组数据分配开关和多条数据分配控制线，所述多个数据输入端用于接收不同极性的数据驱动信号，所述数据分配控制线的数量与各组所述数据分配开关的数量对应，每组所述数据分配开关的第一连接端连接同一所述数据输入端，每组所述数据分配开关的第二连接端连接对应的所述数据线，每组所述数据分配开关的控制端分别连接对应的所述数据分配控制线，其中不同组的部分所述数据分配开关与对应的数据线之间的连线采用交叉走线方式，以使得所述多条数据线中的至少部分相邻数据线在显示过程中施加极性相反的数据驱动信号。
为解决上述技术问题，本发明采用的另一个技术方案是：提供一种液晶显示面板，包括上述任意一项所述的阵列基板、与所述阵列基板相对设置的公共基板以及夹持于所述阵列基板与所述公共基板之间的液晶层。
本发明的有益效果是：提供一种阵列基板及液晶显示面板，解决了现有技术在极性反转模式下，相邻两条数据线之间正负极性经控制开关传递至同一阵列测试点，造成相互短路的问题，改善了面板的显示效果。
附图说明
图1是本发明阵列基板一实施方式的结构示意图；
图2是本发明阵列基板另一实施方式的结构示意图；
图3是本发明具有阵列基板的液晶显示面板一实施方式的结构示意图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅是本发明的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
请参阅图1，图1是本发明提供的一种阵列基板的结构示意图。
如图1所示，该阵列基板100包括显示区110及外围布线区120。
其中，显示区110内设置有多条数据线111且多条数据线111中的至少部分相邻数据线111在显示过程中施加极性相反的数据驱动信号。
其中，外围布线区120设置有多个测试输入端Pad1、Pad2以及多个测试分配电路(图中未标出)。测试分配电路用于将测试输入端Pad1、Pad2中的每一个对应连接到至少两条以上数据线111，进而使得在测试过程中测试输入端Pad1、Pad2中的每一个能够向对应至少两条以上数据线111施加测试信号。在本实施例中，测试分配电路设置成使得测试输入端Pad1、Pad2中的每一个所连接的数据线111在显示过程中施加数据驱动信号的极性相同。
在具体实施例中，测试分配电路通过交叉走线方式使得每一测试输入端Pad1、Pad2所连接的数据线111在显示过程中施加数据驱动信号的极性相同。
具体来说，测试分配电路包括第一级测试分配电路121和第二级测试分配电路122。
其中，第一级测试分配电路121还包括多组第一级测试分配开关1211，每组第一级测试分配开关1211的第一连接端连接同一测试输入端Pad1、Pad2，第二级测试分配电路122包括多组第二级测试分配开关1221，每组第二级测试分配开关1221的第一连接端连接同一第一级测试分配开关1211的第二连接端，每组第二级测试分配开关1221的第二连接端连接对应的数据线111，其中不同组的部分第二级测试分配开关1221与对应的数据线111之间的连线采用交叉走线方式，以使得同一组的第二级测试分配开关1221所连接的数据线111在显示过程中施加数据驱动信号的极性相同。
进一步，不同组的部分第一级测试分配开关1211的第二连接端与对应组的第二级测试分配开关1221之间的连线采用交叉走线方式，以使得同一组的第一级测试分配开关1211所连接的数据线111在显示过程中施加数据驱动信号的极性相同。
在上述实施例中，交叉走线可以是实际用于实现电连接的连接线进行交叉，也可以是对应连接点之间的虚拟连线交叉。
进一步，第一级测试分配电路121进一步包括多条第一级测试分配控制线1212，第一级测试分配控制线1212的数量与各组第一级测试分配开关1211的数量对应，各组第一级测试分配开关1211的控制端分别连接对应的第一级测试分配控制线1212，第二级测试分配电路122进一步包括多条第二级测试分配控制线1222，第二级测试分配控制线1222的数量与各组第二级测试分配开关1221的数量对应，各组第二级测试分配开关1221的控制端分别连接对应的第二级测试分配控制线1222。
其中，测试分配电路进一步包括多个控制开关1223和开关控制线1224，其中控制开关1223的第一连接端和第二连接端分别连接对应的第二级测试分配开关1221的第二连接端与对应的数据线111，控制开关1223的控制端连接开关控制线1224，进而使得在显示过程中控制开关2223的第一连接端和第二连接端能够在开关控制线1224上施加的控制信号的作用下断开。
其中，第一级测试分配开关1211、第二级测试分配开关1221以及控制开关1223分别为低温多晶硅薄膜晶体管。
其中，外围布线区120进一步设置有多个数据输入端Fanout1-6以及数据分配电路123，其中数据分配电路123用于将数据输入端Fanout1-6中的每一个对应连接到至少两条以上数据线111，进而使得在显示过程中数据输入端Fanout1-6中的每一个能够向对应的至少两条以上数据线111施加数据驱动信号。
其中，数据分配电路123包括多组数据分配开关1232和多条数据分配控制线1231。其中，数据输入端Fanout1-6用于接收不同极性的数据驱动信号，数据分配控制线1231的数量与各组数据分配开关1232的数量对应，每组数据分配开关1232的第一连接端连接同一数据输入端Fanout1-6，每组数据分配开关1232的第二连接端连接对应的数据线111，每组数据分配开关1232的控制端分别连接对应的数据分配控制线1232，其中不同组的部分数据分配开关1232与对应的数据线111之间的连线采用交叉走线方式，以使得多条数据线111中的至少部分相邻数据线111在显示过程中施加极性相反的数据驱动信号。
参阅图1，在具体实施例中，由数据输入端Fanout1-6接收不同极性的数据驱动信号。其中，Fanout1-6各自连接4个数据分配开关1231，其中相邻组的数据分配开关的第2和第3个数据分配开关的第二连接端与对应组的数据线111之间的连线采用交叉走线方式，使得面板显示区110中的数据线111实现以八个数据线为周期的极性反转模式，即实现一个周期中第1、第4、第6以及第7根数据线111的极性为第一极性，第2、第3、第5以及第8根数据线111的极性为与第一极性相反的第二极性，具体如图1中显示的“+--+-++-”。
进一步参阅图1，测试输入端Pad1、Pad2中的每一个分别对应连接第一级测试分配电路121和第二级测试分配电路122。其中，每一组第一级测试分配电路121包含3个第一级测试分配开关1211和3条第一级测试分配控制线1212。其中，每个第一级测试开关1211分别连接一组第二级测试分配开关1221，每组第二级测试分配电路122包含4个第二级测试分配开关1221。
进一步参阅图1，第一级测试分配电路121中的第一组第一级测试分配开关1211中的第2个第一级测试分配开关1211的第二连接端与第二级测试分配电路121的第五组第二级测试分配开关1221的第一连接端连接，而第一级测试分配电路121中的第二组第一级测试分配开关1211中的第2个第一级测试分配开关1211的第二连接端与第二级测试分配电路121的第二组第二级测试分配开关1221的第一连接端连接，进而在第一级测试分配开关1211与第二级测试分配开关1221之间实现交叉走线。
进一步，相邻两组第二级测试分配开关1221中第一组第二级测试分配开关1221中的第二和第三个的第二级测试分配开关1221的第二连接端与同一数据线周期中的第六和第七根数据线连接，第二组第二级测试分配开关1221中的第二和第三个的第二级测试分配开关1221的第二连接端与同一数据线周期中的第2和第3根数据线连接，进而在第二级测试分配开关1221与数据线之间实现交叉走线。
在进行阵列测试时，通过开关控制线1224给控制开关1223高电平使其开启，进而进行通过在测试输入端Pad1、Pad2施加相应的测试信号进行测试工作。当面板正常显示时，通过开关控制线1224给控制开关1223低电平，使其关闭。此时，由于数据线111处于极性反转模式，至少部分相邻数据线111的极性相反。但由于采用上述交叉走线方式，测试输入端Pad1、Pad2所连接的数据线111上的电压极性同为正极性或同为负极性，相邻两极性相反的数据线111也不会发生正负极性中和的现象，改善了面板的显示效果。
上述实施方式能够解决现有技术在极性反转模式下，相邻两条数据线之间正负极性经控制开关传递至同一阵列测试点，造成相互短路的问题，改善了面板的显示效果。
请参阅图2，图2是本发明提供的一种阵列基板的另一结构示意图。
如图2所示，该阵列基板200包括显示区210及外围布线区220。
其中，显示区210内设置有多条数据线211且多条数据线211中的至少部分相邻数据线211在显示过程中施加极性相反的数据驱动信号。
其中，外围布线区220设置有多个测试输入端Pad1、Pad2以及多个测试分配电路(图中未标出)。测试分配电路用于将测试输入端Pad1、Pad2中的每一个对应连接到至少两条以上数据线211，进而使得在测试过程中测试输入端Pad1、Pad2中的每一个能够向对应至少两条以上数据线211施加测试信号。在本实施例中，测试分配电路设置成使得测试输入端Pad1、Pad2中的每一个所连接的数据线211在显示过程中施加数据驱动信号的极性相同。
在具体实施例中，测试分配电路通过交叉走线方式使得每一测试输入端Pad1、Pad2所连接的数据线211在显示过程中施加数据驱动信号的极性相同。
具体来说，测试分配电路包括第一级测试分配电路221和第二级测试分配电路222。其中，第一级测试分配电路221还包括多组第一级测试分配开关2211，每组第一级测试分配开关2211的第一连接端连接同一测试输入端Pad1、Pad2，第二级测试分配电路222包括多组第二级测试分配开关2221，每组第二级测试分配开关2221的第一连接端连接同一第一级测试分配开关2211的第二连接端，每组第二级测试分配开关2221的第二连接端连接对应的数据线211，其中不同组的部分第二级测试分配开关2221与对应的数据线211之间的连线采用交叉走线方式，以使得同一组的第二级测试分配开关2221所连接的数据线211在显示过程中施加数据驱动信号的极性相同。
进一步，不同组的部分第一级测试分配开关2211的第二连接端与对应组的第二级测试分配开关2221之间的连线采用交叉走线方式，以使得同一组的第一级测试分配开关2211所连接的数据线211在显示过程中施加数据驱动信号的极性相同。
在上述实施例中，交叉走线可以是实际用于实现电连接的连接线进行交叉，也可以是对应连接点之间的虚拟连线交叉。
进一步，第一级测试分配电路221进一步包括多条第一级测试分配控制线2212，第一级测试分配控制线2212的数量与各组第一级测试分配开关2211的数量对应，各组第一级测试分配开关2211的控制端分别连接对应的第一级测试分配控制线2212，第二级测试分配电路222进一步包括多条第二级测试分配控制线2222，第二级测试分配控制线2222的数量与各组第二级测试分配开关2221的数量对应，各组第二级测试分配开关2221的控制端分别连接对应的第二级测试分配控制线2222。
其中，测试分配电路进一步包括多个控制开关2223和开关控制线2224，其中控制开关2223的第一连接端和第二连接端分别连接对应的第二级测试分配开关2221的第二连接端与对应的数据线211，控制开关2223的控制端连接开关控制线2224，进而使得在显示过程中控制开关2223的第一连接端和第二连接端能够在开关控制线2224上施加的控制信号的作用下断开。
其中，第一级测试分配开关2211、第二级测试分配开关2221以及控制开关2223具体分别为低温多晶硅薄膜晶体管。
其中，外围布线区220进一步设置有多个数据输入端Fanout1-6以及数据分配电路223，其中数据分配电路223用于将数据输入端Fanout1-6中的每一个对应连接到至少两条以上数据线211，进而使得在显示过程中数据输入端Fanout1-6中的每一个能够向对应的至少两条以上数据线211施加数据驱动信号。
其中，数据分配电路223包括多组数据分配开关2232和多条数据分配控制线2231。其中，数据输入端Fanout1-6用于接收不同极性的数据驱动信号，数据分配控制线2231的数量与各组数据分配开关2232的数量对应，每组数据分配开关2232的第一连接端连接同一数据输入端Fanout1-6，每组数据分配开关2232的第二连接端连接对应的数据线211，每组数据分配开关2232的控制端分别连接对应的数据分配控制线2232，其中不同组的部分数据分配开关2232与对应组的数据线211之间的连线采用交叉走线方式，以使得多条数据线211中的至少部分相邻数据线211在显示过程中施加极性相反的数据驱动信号。
参阅图2，在具体实施例中，由数据输入端Fanout1-6接收不同极性的数据驱动信号。其中，数据输入端Fanout1-6各自连接4个数据分配开关2231，其中相邻组的数据分配开关的第2和第4个数据分配开关的第二连接端与对应的数据线211之间的连线采用交叉走线方式，使得面板显示区210中的数据线211实现八个数据线为周期的极性反转模式，即实现一个周期中第1、第3、第5以及第7根数据线211的极性为第一极性，第2、第4、第6以及第8根数据线211的极性为与第一极性相反的第二极性，具体如图2中显示的“+-+-+-+-”。
进一步参阅图2，测试输入端Pad1、Pad2中的每一个分别对应连接第一级测试分配电路221和第二级测试分配电路222。其中，每一组第一级测试分配电路221包含n个第一级测试分配开关2211和n条第一级测试分配控制线2212。本实施例中，n具体为奇数3。在其它实施例中，第一级测试分配电路包含的第一级测试分配开关2211也可以为偶数个，本发明不作具体限定。其中，每个第一级测试开关2211分别连接一组第二级测试分配开关2221，每组第二级测试分配电路122包含m个第二级测试分配开关1221。本实施例中，m具体为4。其中，m和n满足m*n＝3N，N为正整数。
进一步参阅图2，第一级测试分配电路221中的第一组第一级测试分配开关2211中的第2个第一级测试分配开关2211的第二连接端与第二级测试分配电路221的第五组第二级测试分配开关2221的第一连接端连接，而第一级测试分配电路221中的第二组第一级测试分配开关2211中的第2个第一级测试分配开关2211的第二连接端与第二级测试分配电路221的第二组第二级测试分配开关2221的第一连接端连接，进而在第一级测试分配开关2211与第二级测试分配开关2221之间实现交叉走线。
进一步，相邻两组第二级测试分配开关2221中第一组第二级测试分配开关2221中的第二和第四个的第二级测试分配开关2221的第二连接端与同一数据线周期中的第五和第七根数据线连接，第二组第二级测试分配开关2221中的第二和第三个的第二级测试分配开关2221的第二连接端与同一数据线周期中的第二和第四根数据线连接，进而在第二级测试分配开关2221与数据线211之间实现交叉走线。
在进行阵列测试时，通过开关控制线2224给控制开关2223高电平使其开启，进而进行通过在测试输入端Pad1、Pad2施加相应的测试信号进行测试工作。当面板正常显示时，通过开关控制线2224给控制开关2223低电平，使其关闭。此时，由于数据线211处于极性反转模式，至少部分相邻数据线211的极性相反。但由于采用上述交叉走线方式，测试输入端Pad1、Pad2所连接的数据线211上的电压极性同为正极性或同为负极性，相邻两极性相反的数据线211也不会发生正负极性中和的现象，改善了面板的显示效果。
上述实施方式能够解决现有技术中面板在极性反转模式下，相邻两条数据线之间正负极性相互短路的问题。
需要注意的是，上述两个实施例中的交叉走线方式仅是示意性描述，以方便对其具体实现方式进行理解，而并不局限于上述两种交叉走线方式。本领域技术人员完全可以根据所采取的极性反转方法和实际设计需求对具体交叉走线方式进行设计。例如，可以仅在第二级测试分配开关与数据线之间进行多重交叉走线也能实现本发明的目的。
请参阅图3，图3是本发明提供的一种具有该阵列基板的液晶显示面板的结构示意图。
如图3所示，本发明提供的一种具有该阵列基板的液晶显示面板，该液晶显示面板300包括上述的阵列基板100或200、与阵列基板相对设置的公共基板310以及夹持于阵列基板与公共基板之间的液晶层320。
其中第一基板100或200的结构参见上文所述，此处不再重复赘述。
综上所述，本领域技术人员容易理解，本发明提供一种阵列基板及液晶显示面板，解决了现有技术在极性反转模式下，相邻两条数据线之间正负极性经控制开关传递至同一阵列测试点，造成相互短路的问题，改善了面板的显示效果。
以上所述仅为本发明的实施方式，并非因此限制本发明的专利范围，凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本发明的专利保护范围内。

Claims (10)

1.一种阵列基板，其特征在于，所述阵列基板划分为显示区及外围布线区，所述显示区内设置有多条数据线且所述多条数据线中的至少部分相邻数据线在显示过程中施加极性相反的数据驱动信号，所述外围布线区设置有多个测试输入端以及测试分配电路，所述测试分配电路用于将每一所述测试输入端对应连接到至少两条以上所述数据线，进而使得在测试过程中每一所述测试输入端能够向对应的至少两条以上数据线施加测试信号，所述测试分配电路设置成使得每一所述测试输入端所连接的所述数据线在显示过程中施加所述数据驱动信号的极性相同。
2.根据权利要求1所述的阵列基板，其特征在于，所述测试分配电路通过交叉走线方式使得每一所述测试输入端所连接的所述数据线在显示过程中施加所述数据驱动信号的极性相同。
3.根据权利要求2所述的阵列基板，其特征在于，所述测试分配电路包括第一级测试分配电路和第二级测试分配电路，所述第一级测试分配电路包括多组第一级测试分配开关，每组所述第一级测试分配开关的第一连接端连接同一所述测试输入端，所述第二级测试分配电路包括多组第二级测试分配开关，每组所述第二级测试分配开关的第一连接端连接同一所述第一级测试分配开关的第二连接端，每组所述第二级测试分配开关的第二连接端连接对应的所述数据线，其中不同组的部分所述第二级测试分配开关与对应的所述数据线之间的连线采用交叉走线方式，以使得同一组的所述第二级测试分配开关所连接的所述数据线在显示过程中施加所述数据驱动信号的极性相同。
4.根据权利要求3所述的阵列基板，其特征在于，不同组的部分所述第一级测试分配开关的第二连接端与对应组的第二级测试分配开关之间的连线采用交叉走线方式，以使得同一组的所述第一级测试分配开关所连接的所述数据线在显示过程中施加所述数据驱动信号的极性相同。
5.根据权利要求4所述的阵列基板，其特征在于，所述第一级测试分配电路进一步包括多条第一级测试分配控制线，所述第一级测试分配控制线的数量与各组所述第一级测试分配开关的数量对应，各组所述第一级测试分配开关的控制端分别连接对应的所述第一级测试分配控制线，所述第二级测试分配电路进一步包括多条第二级测试分配控制线，所述第二级测试分配控制线的数量与各组所述第二级测试分配开关的数量对应，各组所述第二级测试分配开关的控制端分别连接对应的所述第二级测试分配控制线。
6.根据权利要求4所述的阵列基板，其特征在于，所述测试分配电路进一步包括多个控制开关和开关控制线，其中所述控制开关的第一连接端和第二连接端分别连接对应的所述第二级测试分配开关的第二连接端与对应的数据线，所述控制开关的控制端连接所述开关控制线，进而使得在显示过程中所述控制开关的第一连接端和第二连接端能够在所述开关控制线上施加的控制信号的作用下断开。
7.根据权利要求1所述的阵列基板，其特征在于，所述第一级测试分配开关、所述第二级测试分配开关以及所述控制开关分别为低温多晶硅薄膜晶体管。
8.根据权利要求1所述的阵列基板，其特征在于，所述外围布线区进一步设置有多个数据输入端以及数据分配电路，其中所述数据分配电路用于将每一所述数据输入端对应连接到至少两条以上所述数据线，进而使得在显示过程中每一所述测试输入端能够向对应的至少两条以上数据线施加数据驱动信号。
9.根据权利要求8所述的阵列基板，其特征在于，所述数据分配电路包括多组数据分配开关和多条数据分配控制线，所述多个数据输入端用于接收不同极性的数据驱动信号，所述数据分配控制线的数量与各组所述数据分配开关的数量对应，每组所述数据分配开关的第一连接端连接同一所述数据输入端，每组所述数据分配开关的第二连接端连接对应的所述数据线，每组所述数据分配开关的控制端分别连接对应的所述数据分配控制线，其中不同组的部分所述数据分配开关与对应的数据线之间的连线采用交叉走线方式，以使得所述多条数据线中的至少部分相邻数据线在显示过程中施加极性相反的数据驱动信号。
10.一种液晶显示面板，其特征在于，包括如权利要求1-9任意一项所述的阵列基板、与所述阵列基板相对设置的公共基板以及夹持于所述阵列基板与所述公共基板之间的液晶层。
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