CN105946370B - 一种激光打标设备的校正方法及激光打标设备 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种激光打标设备的校正方法及激光打标设备，校正方法包括：接收输入的待打标图案；根据打标点的坐标，控制激光打标头打标出实际打标图案；通过图像采集装置，采集实际打标图案；建立实际打标图案中的实际打标点与待打标图案中的待打标点之间的对应关系，并且生成实际打标图案中的实际打标点的坐标；从待打标图案中选择第一数量的待打标点，并且判断所选择的待打标点的坐标与对应的实际打标点的坐标是否相同；若不相同，将所选择的并且与对应的实际打标点的坐标不相同的待打标点作为待校正打标点；调整待校正打标点的坐标。通过上述方式，本发明能够使激光打标设备的自动校正，避免手动校正所带来的测量误差，提供测量精度。

Description

一种激光打标设备的校正方法及激光打标设备

技术领域

本发明涉及激光打标技术领域，特别是涉及一种激光打标设备的校正方法及激光打标设备。

背景技术

不同激光打标设备由于制造工艺的差异，会造成打标误差，使得打标出来的图案与原图案出现不同，因此，需要对激光打标设备进行修正。

目前，对激光打标设备的修正方法包括1：通过激光打标设备的打标镜头的厂家提供的矫正档进行矫正；2：公式法；3：比例法；4：格点法。格点法是指不使用变形公式，直接人工量测打标出来的图案的实际位置与原图案的位置之间的差异进行校正。但是，人工量测打标出来的图案的实际位置，容易带来测量误差，精度不够高，并且耗费的人力成本也比较高。

发明内容

本发明主要解决的技术问题是提供一种激光打标设备的校正方法及激光打标设备，能够实现对激光打标设备的自动校正，避免手动校正所带来的测量误差，并且能够节省人成本，提高测量精度。

为解决上述技术问题，本发明采用的一个技术方案是：提供一种激光打标设备的校正方法,包括：接收输入的待打标图案，以及所述待打标图案中的待打标点的坐标；根据所述打标点的坐标，控制激光打标头打标出实际打标图案；通过所述图像采集装置，采集所述实际打标图案；建立所述实际打标图案中的实际打标点与待打标图案中的待打标点之间的对应关系，并且生成所述实际打标图案中的实际打标点的坐标；从所述待打标图案中选择第一数量的待打标点，并且判断所述所选择的待打标点的坐标与对应的实际打标点的坐标是否相同；若所述所选择的待打标点的坐标与对应的实际打标点的坐标不相同时，则将所选择的并且与对应的所述实际打标点的坐标不相同的待打标点作为待校正打标点；调整所述待校正打标点的坐标，校正所述实际打标图案。

其中，所述根据所述待校正打标点的坐标与对应的实际打标点的坐标，调整所述待校正打标点的坐标的步骤包括：计算所述待校正打标点的横坐标与对应的实际打标点的横坐标之间的第一差值，以及，所述待校正打标点的纵坐标与对应的实际打标点的纵坐标之间的第二差值；判断所述待校正打标点的横坐标是否大于对应的实际打标点的横坐标；若所述待校正打标点的横坐标大于对应的实际打标点的横坐标，则将所述待校正打标点的横坐标与第一差值之和作为所述待校正打标点的横坐标；若所述待校正打标点的横坐标小于或等于对应的实际打标点的横坐标，将所述待校正打标点的横坐标与第一差值之差作为所述待校正打标点的横坐标；判断所述待校正打标点的纵坐标是否大于对应的实际打标点的纵坐标；若所述待校正打标点的纵坐标大于对应的实际打标点的纵坐标，则将所述待校正打标点的纵坐标与第一差值之和作为所述待校正打标点的纵坐标；若所述待校正打标点的纵坐标小于或等于对应的实际打标点的纵坐标，将所述待校正打标点的纵坐标与第一差值之差作为所述待校正打标点的纵坐标。

其中，所述实际打标图案中的打标点的坐标的步骤包括：获取所述待打标图案中位于原点坐标的待打标点；获取所述位于原点坐标的待打标点对应的实际打标；获取所述图像采集装置拍摄所述实际打标图案的图像缩放参数；将获取到的所述实际打标的坐标作为原点坐标，并且根据图像缩放参数，生成所述实际打标图案中的其它实际打标点的坐标。

其中，所述从所述待打标图案中选择第一数量的待打标点的步骤包括：提取所述待打标图案的轮廓；从所述轮廓提取第一数量的待打标点，其中，所述第一数量的待打标点均匀地分布于所述轮廓。

其中，所述方法还包括：获取与对应的实际打标点的坐标不相同的待打标点的数量；判断所述与对应的实际打标点的坐标不相同的待打标点的数量是否大于预定阈值；若大于预定阈值，则发出告警。

为解决上述技术问题，本发明采用的另一个技术方案是：提供一种激光打标设备，包括：处理器、图像采集装置、激光打标头和控制装置；

所述控制装置和激光打标设备连接，所述控制装置用于控制所述激光打标头打标，所述处理器分别与图像采集装置、激光打标头和控制装置连接；所述处理器，用于接收输入的待打标图案，以及所述待打标图案中的待打标点的坐标；根据所述打标点的坐标，控制激光打标头打标出实际打标图案；通过所述图像采集装置，采集所述实际打标图案；建立所述实际打标图案中的实际打标点与待打标图案中的待打标点之间的对应关系，并且生成所述实际打标图案中的实际打标点的坐标；从所述待打标图案中选择第一数量的待打标点，并且判断所述所选择的待打标点的坐标与对应的实际打标点的坐标是否相同；若所述所选择的待打标点的坐标与对应的实际打标点的坐标不相同时，则将所选择的并且与对应的所述实际打标点的坐标不相同的待打标点作为待校正打标点；调整所述待校正打标点的坐标，校正所述实际打标图案。

其中，所述处理器根据所述待校正打标点的坐标与对应的实际打标点的坐标，调整所述待校正打标点的坐标的步骤包括：计算所述待校正打标点的横坐标与对应的实际打标点的横坐标之间的第一差值，以及，所述待校正打标点的纵坐标与对应的实际打标点的纵坐标之间的第二差值；判断所述待校正打标点的横坐标是否大于对应的实际打标点的横坐标；若所述待校正打标点的横坐标大于对应的实际打标点的横坐标，则将所述待校正打标点的横坐标与第一差值之和作为所述待校正打标点的横坐标；若所述待校正打标点的横坐标小于或等于对应的实际打标点的横坐标，将所述待校正打标点的横坐标与第一差值之差作为所述待校正打标点的横坐标；判断所述待校正打标点的纵坐标是否大于对应的实际打标点的纵坐标；若所述待校正打标点的纵坐标大于对应的实际打标点的纵坐标，则将所述待校正打标点的纵坐标与第一差值之和作为所述待校正打标点的纵坐标；若所述待校正打标点的纵坐标小于或等于对应的实际打标点的纵坐标，将所述待校正打标点的纵坐标与第一差值之差作为所述待校正打标点的纵坐标。

其中，所述处理器根据预设坐标系构建模型，计算所述实际打标图案中的打标点的坐标的步骤包括：获取所述待打标图案中位于原点坐标的待打标点；获取所述位于原点坐标的待打标点对应的实际打标；获取所述图像采集装置拍摄所述实际打标图案的图像缩放参数；将获取到的所述实际打标的坐标作为原点坐标，并且根据图像缩放参数，生成所述实际打标图案中的其它实际打标点的坐标。

其中，所述处理器从所述待打标图案中选择第一数量的待打标点的步骤包括：提取所述待打标图案的轮廓；从所述轮廓提取第一数量的待打标点，其中，所述第一数量的待打标点均匀地分布于所述轮廓。

其中，所述处理器还用于：获取与对应的实际打标点的坐标不相同的待打标点的数量；判断所述与对应的实际打标点的坐标不相同的待打标点的数量是否大于预定阈值；若大于预定阈值，则发出告警。

本发明的有益效果是：区别于现有技术的情况，本发明在根据待打标图案打出实际打标图案时，通过图像采集装置，采集实际打标图案，从待打标图案中选择第一数量的待打标点，并且在判断到所选择的待打标点的坐标与对应的实际打标点的坐标不相同时，对将所选择的并且与对应的实际打标点的坐标不相同的待打标点进行修正，校正实际打标图案，实现对激光打标设备的自动校正，避免手动校正所带来的测量误差，并且能够节省人成本，提高测量精度。

附图说明

图1是本发明激光打标设备的校正方法实施方式的流程图；

图2是本发明激光打标设备的校正方法实施方式中生成实际打标图案中的实际打标点的坐标的流程图；

图3是本发明激光打标设备的校正方法实施方式中中调整待校正打标点的坐标的流程图；

图4本发明激光打标设备实施方式的示意图。

具体实施方式

下面结合附图和实施方式对本发明进行说明。

请参阅图1，激光打标设备的校正方法包括：

步骤S201：接收输入的待打标图案，以及待打标图案中的待打标点的坐标；

待打标点的坐标是指平面二维坐标，其包括纵坐标和横坐标。待打标点的坐标所构成的待打标图案是实际大小的待打标图案。

步骤S202：根据打标点的坐标，控制激光打标头打标出实际打标图案；

激光打标头在根据打标点的坐标进行打标时，可能激光打标头的镜头出现误差，或者，其它机械结构出现偏差，很有可能造成实际打标图案与待打标图案出现误差的情况。

步骤S203：通过图像采集装置，采集实际打标图案；

图像采集装置可以设置于激光打标头，或者，通过独立的第三方固定支架进行固定，但是图像采集装置的取景镜头对应被打标物，以使图像采集装置能够采集到实际打标图案。

值得说明的是：图像采集装置在采集实际打标图案也有可能存在同时拍摄到其它背景的情况，则需要根据预设识别算法，从图像采集装置中识别出实际打标图案。

步骤S204：建立实际打标图案中的实际打标点与待打标图案中的待打标点之间的对应关系，并且根据预设坐标系构建模型，生成实际打标图案中的实际打标点的坐标；

实际打标点和待打标点之间一一对应的，实际打标图案中的每一实际打标点均可映射到待打标图案中的一个待打标点。

在根据预设坐标系构建模型，生成实际打标图案中的实际打标点的坐标时，还需要结合图像采集装置在采集实际打标图案时，图像采集装置的缩放倍数进行的，保证实际打标点的坐标的准确性。另外，实际打标图案中原点坐标的实际打标点和待打标图案中原点坐标的待打标点必须是相对应，保证实际打标图案中的实际打标点的坐标系与待打标图案中的待打标点的坐标系是一致，则请参阅图2，步骤S204又包括：

步骤S2041：获取待打标图案中位于原点坐标的待打标点；

步骤S2042：获取位于原点坐标的待打标点对应的实际打标；

原点坐标是指零点坐标，实际打标点和待打标点的原点坐标均是相同的。

步骤S2043：获取图像采集装置拍摄实际打标图案的图像缩放参数；

图像缩放参数是指实际图标图案的实物与实际图标图案的图片大小的比例。

步骤S2044：将获取到的实际打标的坐标作为原点坐标，并且根据图像缩放参数，生成实际打标图案中的其它实际打标点的坐标；

通过图像缩放参数和实际图标图案在原始比例的尺寸，并结合原点坐标，即可构建实际打标点的坐标。

步骤S205：从待打标图案中选择第一数量的待打标点，并且判断所选择的待打标点的坐标与对应的实际打标点的坐标是否相同，若所选择的待打标点的坐标与对应的实际打标点的坐标不相同，则进入步骤S206,否则不处理；

第一数量的具体数量不作限定，可以根据实际情况设定，例如：4点、25点、60点等等。当然，第一数量也可以设置成可调的。

为了提供所选择的打标点更好地代表待打标图案，可以从待打标图案中的轮廓中选择，则步骤S205中从待打标图案中选择第一数量的待打标点的步骤又可具体为：提取待打标图案的轮廓；从轮廓提取第一数量的待打标点，其中，第一数量的待打标点均匀地分布于轮廓。

步骤S206：将所选择的并且与对应的实际打标点的坐标不相同的待打标点作为待校正打标点；

步骤S207：调整待校正打标点的坐标，校正实际打标图案；

通过调整待校正打标点的坐标，使得对实际打标图案进行修正，使得实际打标图案与待打标图案更接近。而第一数量的量越大，对实际打标图案修正就越好，在本实施方式中，第一数量优选为待打标图案的所有待打标点的数量。

而在调整待校正打标点的坐标时，主要是对待校正打标点的纵标点和横坐标点进行修正，请参阅图3，步骤S207又包括：

步骤S2071：计算待校正打标点的横坐标与对应的实际打标点的横坐标之间的第一差值，以及，待校正打标点的纵坐标与对应的实际打标点的纵坐标之间的第二差值；

步骤S2072：判断待校正打标点的横坐标是否大于对应的实际打标点的横坐标，若待校正打标点的横坐标大于对应的实际打标点的横坐标，则进入步骤S2073，否则进入步骤S2074；

步骤S2073：将待校正打标点的横坐标与第一差值之和作为待校正打标点的横坐标；

步骤S2074：将待校正打标点的横坐标与第一差值之差作为待校正打标点的横坐标；

步骤S2075：判断待校正打标点的纵坐标是否大于对应的实际打标点的纵坐标，若待校正打标点的纵坐标大于对应的实际打标点的纵坐标，则进入步骤S2076，否则进入步骤S2077；

步骤S2076：将待校正打标点的纵坐标与第一差值之和作为待校正打标点的纵坐标；

步骤S2077：将待校正打标点的纵坐标与第一差值之差作为待校正打标点的纵坐标；

对待校正打标点的纵标点和横坐标点进行修正的修改原则是：当对应的实际打标点的纵坐标偏大时，将待校正打标点的纵坐标缩小处理，当对应的实际打标点的纵坐标偏小时，将待校正打标点的纵坐标放大处理，当对应的实际打标点的横坐标偏大时，将待校正打标点的横坐标缩小处理，当对应的实际打标点的横坐标偏小时，将待校正打标点的横坐标放大处理。

进一步的，方法还包括：

步骤S208：获取与对应的实际打标点的坐标不相同的待打标点的数量；

步骤S209：判断与对应的实际打标点的坐标不相同的待打标点的数量是否大于预定阈值，若大于预定阈值，则进入步骤S210，否则不处理；

步骤S210：发出告警。

当与对应的实际打标点的坐标不相同的待打标点的数量大于预定阈值时，说明实际打标图案与待打标图案出较大误差，通过告警，提醒工作人员注意查找原因。

在本发明实施方式中，在根据待打标图案打出实际打标图案时，通过图像采集装置，采集实际打标图案，从待打标图案中选择第一数量的待打标点，并且在判断到所选择的待打标点的坐标与对应的实际打标点的坐标不相同时，对将所选择的并且与对应的实际打标点的坐标不相同的待打标点进行修正，校正实际打标图案，实现对激光打标设备的自动校正，避免手动校正所带来的测量误差，并且能够节省人工成本，提供测量精度。

本发明又提供激光打标设备实施方式。请参阅图4，激光打标设备30包括处理器41、图像采集装置42、激光打标头43和控制装置44。控制装置和激光打标设备连接，控制装置用于控制激光打标头打标，处理器分别与图像采集装置、激光打标头和控制装置连接。

处理器用于接收输入的待打标图案，以及待打标图案中的待打标点的坐标；根据打标点的坐标，控制激光打标头打标出实际打标图案；通过图像采集装置，采集实际打标图案；建立实际打标图案中的实际打标点与待打标图案中的待打标点之间的对应关系，并且生成实际打标图案中的实际打标点的坐标；从待打标图案中选择第一数量的待打标点，并且判断所选择的待打标点的坐标与对应的实际打标点的坐标是否相同；若所选择的待打标点的坐标与对应的实际打标点的坐标不相同时，则将所选择的并且与对应的实际打标点的坐标不相同的待打标点作为待校正打标点；调整待校正打标点的坐标，校正实际打标图案。

具体的，处理器根据待校正打标点的坐标与对应的实际打标点的坐标，调整待校正打标点的坐标的步骤包括：计算待校正打标点的横坐标与对应的实际打标点的横坐标之间的第一差值，以及，待校正打标点的纵坐标与对应的实际打标点的纵坐标之间的第二差值；判断待校正打标点的横坐标是否大于对应的实际打标点的横坐标；若待校正打标点的横坐标大于对应的实际打标点的横坐标，则将待校正打标点的横坐标与第一差值之和作为待校正打标点的横坐标；若待校正打标点的横坐标小于或等于对应的实际打标点的横坐标，将待校正打标点的横坐标与第一差值之差作为待校正打标点的横坐标；判断待校正打标点的纵坐标是否大于对应的实际打标点的纵坐标；若待校正打标点的纵坐标大于对应的实际打标点的纵坐标，则将待校正打标点的纵坐标与第一差值之和作为待校正打标点的纵坐标；若待校正打标点的纵坐标小于或等于对应的实际打标点的纵坐标，将待校正打标点的纵坐标与第一差值之差作为待校正打标点的纵坐标。

处理器根据预设坐标系构建模型，计算实际打标图案中的打标点的坐标的步骤包括：获取待打标图案中位于原点坐标的待打标点；获取位于原点坐标的待打标点对应的实际打标；获取图像采集装置拍摄实际打标图案的图像缩放参数；将获取到的实际打标的坐标作为原点坐标，并且根据图像缩放参数，生成实际打标图案中的其它实际打标点的坐标。

处理器从待打标图案中选择第一数量的待打标点的步骤包括：提取待打标图案的轮廓；从轮廓提取第一数量的待打标点，其中，第一数量的待打标点均匀地分布于轮廓。

进一步，处理器还用于：获取与对应的实际打标点的坐标不相同的待打标点的数量；判断与对应的实际打标点的坐标不相同的待打标点的数量是否大于预定阈值；若大于预定阈值，则发出告警。

在本发明实施方式中，在根据待打标图案打出实际打标图案时，通过图像采集装置，采集实际打标图案，从待打标图案中选择第一数量的待打标点，并且在判断到所选择的待打标点的坐标与对应的实际打标点的坐标不相同时，对将所选择的并且与对应的实际打标点的坐标不相同的待打标点进行修正，校正实际打标图案，实现对激光打标设备的自动校正，避免手动校正所带来的测量误差，并且能够节省人工成本。

以上所述仅为本发明的实施方式，并非因此限制本发明的专利范围，凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本发明的专利保护范围内。

Claims (10)

1.一种激光打标设备的校正方法，包括：

接收输入的待打标图案，以及所述待打标图案中的待打标点的坐标；

根据所述待打标点的坐标，控制激光打标头打标出实际打标图案；

通过图像采集装置，采集所述实际打标图案；

其特征在于，所述方法还包括：

建立所述实际打标图案中的实际打标点与待打标图案中的待打标点之间的对应关系，并且生成所述实际打标图案中的实际打标点的坐标；

从所述待打标图案中选择第一数量的待打标点，并且判断所选择的待打标点的坐标与对应的实际打标点的坐标是否相同；

若所述所选择的待打标点的坐标与对应的实际打标点的坐标不相同，则将所选择的并且与对应的所述实际打标点的坐标不相同的待打标点作为待校正打标点；

调整所述待校正打标点的坐标，校正所述实际打标图案。

2.根据权利要求1所述的校正方法，其特征在于，所述根据所述待校正打标点的坐标与对应的实际打标点的坐标，调整所述待校正打标点的坐标的步骤包括：

计算所述待校正打标点的横坐标与对应的实际打标点的横坐标之间的第一差值，以及，所述待校正打标点的纵坐标与对应的实际打标点的纵坐标之间的第二差值；

判断所述待校正打标点的横坐标是否大于对应的实际打标点的横坐标；

若所述待校正打标点的横坐标大于对应的实际打标点的横坐标，则将所述待校正打标点的横坐标与第一差值之和作为所述待校正打标点的横坐标；

若所述待校正打标点的横坐标小于或等于对应的实际打标点的横坐标，将所述待校正打标点的横坐标与第一差值之差作为所述待校正打标点的横坐标；

判断所述待校正打标点的纵坐标是否大于对应的实际打标点的纵坐标；

若所述待校正打标点的纵坐标大于对应的实际打标点的纵坐标，则将所述待校正打标点的纵坐标与第一差值之和作为所述待校正打标点的纵坐标；

若所述待校正打标点的纵坐标小于或等于对应的实际打标点的纵坐标，将所述待校正打标点的纵坐标与第一差值之差作为所述待校正打标点的纵坐标。

3.根据权利要求1所述的校正方法，其特征在于，

生成所述实际打标图案中的实际打标点的坐标的步骤包括：

获取所述待打标图案中位于原点坐标的待打标点；

获取所述位于原点坐标的待打标点对应的实际打标；

获取所述图像采集装置拍摄所述实际打标图案的图像缩放参数；

将获取到的所述实际打标的坐标作为原点坐标，并且根据图像缩放参数，生成所述实际打标图案中的其它实际打标点的坐标。

4.根据权利要求1所述的校正方法，其特征在于，所述从所述待打标图案中选择第一数量的待打标点的步骤包括：

提取所述待打标图案的轮廓；

从所述轮廓提取第一数量的待打标点，其中，所述第一数量的待打标点均匀地分布于所述轮廓。

5.根据权利要求1所述的校正方法，其特征在于，所述方法还包括：

获取与对应的实际打标点的坐标不相同的待打标点的数量；

判断所述与对应的实际打标点的坐标不相同的待打标点的数量是否大于预定阈值；

若大于预定阈值，则发出告警。

6.一种激光打标设备，包括：处理器、图像采集装置、激光打标头和控制装置；

所述控制装置和激光打标设备连接，所述控制装置用于控制所述激光打标头打标，所述处理器分别与图像采集装置、激光打标头和控制装置连接；

所述处理器，用于接收输入的待打标图案，以及所述待打标图案中的待打标点的坐标；根据所述待打标点的坐标，控制激光打标头打标出实际打标图案；通过所述图像采集装置，采集所述实际打标图案；

其特征在于，所述处理器还用于建立所述实际打标图案中的实际打标点与待打标图案中的待打标点之间的对应关系，并且生成所述实际打标图案中的实际打标点的坐标；从所述待打标图案中选择第一数量的待打标点，并且判断所选择的待打标点的坐标与对应的实际打标点的坐标是否相同；若所述所选择的待打标点的坐标与对应的实际打标点的坐标不相同时，则将所选择的并且与对应的所述实际打标点的坐标不相同的待打标点作为待校正打标点；调整所述待校正打标点的坐标，校正所述实际打标图案。

7.根据权利要求6所述的激光打标设备，其特征在于，所述处理器根据所述待校正打标点的坐标与对应的实际打标点的坐标，调整所述待校正打标点的坐标的步骤包括：

计算所述待校正打标点的横坐标与对应的实际打标点的横坐标之间的第一差值，以及，所述待校正打标点的纵坐标与对应的实际打标点的纵坐标之间的第二差值；

判断所述待校正打标点的横坐标是否大于对应的实际打标点的横坐标；

若所述待校正打标点的横坐标大于对应的实际打标点的横坐标，则将所述待校正打标点的横坐标与第一差值之和作为所述待校正打标点的横坐标；

若所述待校正打标点的横坐标小于或等于对应的实际打标点的横坐标，将所述待校正打标点的横坐标与第一差值之差作为所述待校正打标点的横坐标；

判断所述待校正打标点的纵坐标是否大于对应的实际打标点的纵坐标；

若所述待校正打标点的纵坐标大于对应的实际打标点的纵坐标，则将所述待校正打标点的纵坐标与第一差值之和作为所述待校正打标点的纵坐标；

若所述待校正打标点的纵坐标小于或等于对应的实际打标点的纵坐标，将所述待校正打标点的纵坐标与第一差值之差作为所述待校正打标点的纵坐标。

8.根据权利要求6所述的激光打标设备，其特征在于，

所述处理器根据预设坐标系构建模型，计算所述实际打标图案中的打标点的坐标的步骤包括：

获取所述待打标图案中位于原点坐标的待打标点；

获取所述位于原点坐标的待打标点对应的实际打标；

获取所述图像采集装置拍摄所述实际打标图案的图像缩放参数；

将获取到的所述实际打标的坐标作为原点坐标，并且根据图像缩放参数，生成所述实际打标图案中的其它实际打标点的坐标。

9.根据权利要求6所述的激光打标设备，其特征在于，

所述处理器从所述待打标图案中选择第一数量的待打标点的步骤包括：

提取所述待打标图案的轮廓；

从所述轮廓提取第一数量的待打标点，其中，所述第一数量的待打标点均匀地分布于所述轮廓。

10.根据权利要求6所述的激光打标设备，其特征在于，所述处理器还用于：

获取与对应的实际打标点的坐标不相同的待打标点的数量；

判断所述与对应的实际打标点的坐标不相同的待打标点的数量是否大于预定阈值；

若大于预定阈值，则发出告警。