CN105884174B - 用于调节玻璃基板形状的控制方法及装置 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种用于调节玻璃基板形状的控制方法及装置，所述控制方法包括：检测玻璃基板在生产中辐射出的红外线信号；将检测到的红外线信号转化为电信号；根据转化后的电信号判断所述玻璃基板形状是否需要调节；以及，在判断所述玻璃基板形状需要调节的情况下，通过控制所述玻璃基板正反面压差来调节所述玻璃基板形状。这样，本发明可以通过对生产中的玻璃基板形状进行检测，根据检测结果判断是否需要调节，并能够在其需要调节时，控制玻璃基板的形状调节，能够改善为玻璃形状变化导致的玻璃内部应力较高且不均匀的问题，提高玻璃基板的良品率。

Description

用于调节玻璃基板形状的控制方法及装置

技术领域

本发明涉及液晶玻璃基板生产领域，具体地，涉及一种用于调节玻璃基板形状的控制方法及装置。

背景技术

液晶玻璃基板是液晶显示器中的重要组成部分，液晶平板显示技术对其使用的玻璃基板的应力大小有严格的要求，玻璃基板的应力不满足要求，则液晶平板在下游段制造过程中容易出现炸裂、变形等问题。目前，液晶玻璃基板用的玻璃基板主要是使用溢流下拉法生产，该方法使用广泛，技术相对成熟，但是该方法对生产过程及生产环境的控制要求很高，生产过程中，会因为玻璃形状变化导致的玻璃内部应力较高且不均匀的问题，造成玻璃基板的良品率较低。

发明内容

本发明提供一种用于调节玻璃基板形状的控制方法及装置，用以改善因为玻璃形状变化导致的玻璃内部应力较高且不均匀的问题。

为了实现上述目的，根据本发明的第一方面，提供一种用于调节玻璃基板形状的控制方法，所述控制方法包括：检测玻璃基板辐射出的红外线信号，并将检测到的红外线信号转化为电信号；根据转化后的电信号判断所述玻璃基板形状是否需要调节；以及，在判断所述玻璃基板形状需要调节的情况下，通过控制所述玻璃基板的正反面压差来调节所述玻璃基板形状。

可选地，所述玻璃基板为溢流下拉成型阶段的玻璃基板。

可选地，所述检测玻璃基板辐射出的红外线信号，并将检测到的红外线信号转化为电信号的步骤包括：检测所述玻璃基板的多个目标位置的红外线信号，并将检测到的每个所述目标位置的红外线信号转化成电信号。

可选地，所述根据转化后的电信号判断所述玻璃基板形状是否需要调节的步骤包括：将检测到的每个所述目标位置的红外线信号转化成的电信号与该目标位置对应的电信号阈值进行比较；在检测到的任一目标位置的红外线信号转化成的电信号超出所述电信号阈值时，则判断所述玻璃基板形状需要调节。

可选地，所述在检测到的任一目标位置的红外线信号转化成的电信号超出所述电信号阈值时，则判断所述玻璃基板形状需要调节包括：在检测到所述玻璃基板的第一目标位置的红外线信号转化成的电信号的值大于预设的上限值时，则判断需要对所述第一目标位置进行第一调节，所述第一目标位置为所述玻璃基板的多个目标位置中的任一位置；以及，在检测到所述第一目标位置的红外线信号转化成的电信号的值小于预设的下限值时，则判断需要对所述第一目标位置进行第二调节。

可选地，所述通过控制所述玻璃基板正反面压差来调节所述玻璃基板形状包括：在所述第一目标位置需要进行所述第一调节时，生成第一控制信号，所述第一控制信号用于增大所述第一目标位置的正反面压差；以及，在所述第一目标位置需要进行所述第二调节时，生成第二控制信号，所述第二控制信号用于减小所述第一目标位置的正反面压差。

根据本发明的第二方面，还提供一种用于调节玻璃基板形状的控制装置，所述控制装置包括：基座，红外检测器，信号指示器以及压差调节器，所述基座上设置有红外传感器，所述红外传感器与所述红外检测器电连接；所述红外传感器用于检测玻璃基板辐射出的红外线信号，并将检测到的红外线信号发送至所述红外检测器；所述红外检测器用于接收所述红外传感器发送的红外线信号，并将接收到的红外线信号转化为电信号，并将所述电信号发送至所述信号指示器；所述信号指示器用于接收所述电信号，并根据转化后的电信号判断所述玻璃基板形状是否需要调节，并在判断所述玻璃基板形状需要调节的情况下向所述压差调节器发送反馈信号；所述压差调节器用于接收所述反馈信号，并响应于所述反馈信号，通过控制所述玻璃基板的正反面压差来调节所述玻璃基板形状。

可选地，所述玻璃基板为溢流下拉成型阶段的玻璃基板。

可选地，所述基座上分布设置有以矩阵形式排列的多个红外传感器，所述多个红外传感器分别用于检测所述玻璃基板的多个目标位置的红外线信号；所述红外检测器用于接收每个所述红外传感器发送的该红外传感器对应的目标位置的红外线信号，并将每个所述目标位置的红外线信号转化成电信号。

可选地，所述信号指示器用于：将检测到的每个所述目标位置的红外线信号转化成的电信号与该目标位置对应的电信号阈值进行比较；在检测到的任一目标位置的红外线信号转化成的电信号超出所述电信号阈值时，则判断所述玻璃基板形状需要调节。

可选地，所述信号指示器还用于：在检测到所述玻璃基板的第一目标位置的红外线信号转化成的电信号的值大于预设的上限值时，则判断需要对所述第一目标位置进行第一调节，所述第一目标位置为所述玻璃基板的多个目标位置中的任一位置；以及，在检测到所述第一目标位置的红外线信号转化成的电信号的值小于预设的下限值时，则判断需要对所述第一目标位置进行第二调节。

可选地，在所述基座上位于每个红外传感器所在的位置上设置有气孔，所述信号指示器还用于：在所述第一目标位置需要进行所述第一调节时，生成第一控制信号，所述第一控制信号用于通过与所述第一目标位置对应设置的气孔增大所述第一目标位置的正反面压差；以及，在所述第一目标位置需要进行所述第二调节时，生成第二控制信号，所述第二控制信号用于通过与所述第一目标位置对应设置的气孔减小所述第一目标位置的正反面压差。

通过上述技术方案，本发明可以检测溢流下拉成型阶段玻璃基板辐射的红外线信号，并将检测到的红外线信号转化为电信号，根据对该电信号的判断确定玻璃基板形状是否需要调节，并能够在其需要调节时，控制玻璃基板的正反面压差，从而实现对玻璃基板形状的调节，以降低玻璃基板的内部应力，从而能够改善为玻璃形状变化导致的玻璃内部应力较高且不均匀的问题，提高玻璃基板的良品率。

本发明的其他特征和优点将在随后的具体实施方式部分予以详细说明。

附图说明

附图是用来提供对本发明的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与下面的具体实施方式一起用于解释本发明，但并不构成对本发明的限制。在附图中：

图1是根据本发明的一种实施方式提供的用于调节玻璃基板形状的控制方法的流程图。

图2是根据本发明的另一种实施方式提供的用于调节玻璃基板形状的控制方法的流程图。

图3是根据本发明的另一种实施方式提供的用于调节玻璃基板形状的控制方法的流程图。

图4是根据本发明的另一种实施方式提供的用于调节玻璃基板形状的控制方法的流程图。

图5是根据本发明的一种实施方式提供的用于调节玻璃基板形状的控制装置的结构框图。

图6是根据本发明的另一种实施方式提供的用于调节玻璃基板形状的控制装置的结构框图。

图7是根据本发明的一种实施方式提供的用于调节玻璃基板形状的控制装置的侧视图。

图8是根据本发明的另一种实施方式提供的用于调节玻璃基板形状的控制装置的结构框图。

附图标记说明

10 基座 101 红外传感器

102 气孔 20 红外检测器

30 信号指示器 40 压差调节器

01 下拉成型段的玻璃基板

具体实施方式

以下结合附图对本发明的具体实施方式进行详细说明。应当理解的是，此处所描述的具体实施方式仅用于说明和解释本发明，并不用于限制本发明。

根据本发明的第一方面，提供一种用于调节玻璃基板形状的控制方法。

图1是根据本发明的一种实施方式提供的用于调节玻璃基板形状的控制方法的流程图。如图1所示，该方法可以包括：

在步骤S110中，检测玻璃基板辐射出的红外线信号，并将检测到的红外线信号转化成电信号；

在步骤S120中，根据转化后的电信号判断所述玻璃基板形状是否需要调节；以及，

在步骤S130中，在判断所述玻璃基板形状需要调节的情况下，通过控制玻璃基板的正反面压差来调节该玻璃基板形状。

其中，玻璃基板是使用溢流下拉法生产过程中下拉成型段的玻璃基板，温度在绝对零度(–273℃)以上的物体，都会由于其自身的分子运动而辐射出红外线，物体内部分子运动的剧烈程度不同，它所辐射出的红外线信号强度也不同，本发明所述的在溢流下拉法生产过程中下拉成型段的玻璃基板，它的温度集中在27℃至300℃之间，且理论上玻璃基板横向温度是保持一致的，因此本发明中的玻璃基板可以辐射出红外线信号，并且处在同一水平高度的玻璃基板辐射出的红外线信号，其强度应该保持一致。检测红外线信号可以通过非接触式的方法，但是在其传播过程中，传播介质会对信号强度有影响，相同环境下，检测到的红外线信号的强度与其传播的距离成反比。由此，通过步骤S110中检测所述下拉成型段的玻璃基板辐射出的红外线信号，并将其转化成电信号，以及在步骤S120中对转化后的电信号的分析，可以判断本发明中的玻璃基板形状是否需要调节。

当步骤S120中的判断结果为该玻璃基板形状需要调节时，在步骤S130中控制该玻璃基板的正反面压差，在不同的压差作用下，以达到调节玻璃基板形状的目的。

图2是根据本发明的另一种实施方式提供的用于调节玻璃基板形状的控制方法的流程图。如图2所示，可选地，检测玻璃基板辐射出的红外线信号，并将检测到的红外线信号转化为电信号的步骤S110可以包括：检测该玻璃基板的多个目标位置的红外线信号，并将检测到的每个目标位置的红外线信号转化成电信号。

玻璃基板的多个目标位置可以以该玻璃基板的宽度为界限等距设置，根据不同的调节精度设置目标位置的间距，要求的调节精度越高则目标位置的间距越小。在一种实施方式中，下拉成型段中生产的玻璃基板的规格可以例如是长1850mm×宽1500mm×厚度0.5mm，满足一定的调节精度的要求，可以在同一水平高度上设置5个目标位置，则目标位置的间距可以是250mm。本发明能够同时检测玻璃基板上多个位置的红外线信号，并将该红外线信号转化为电信号，供后续判断玻璃基板形状是否需要调节使用。

本发明中对执行步骤S120的具体实施方式并不做特殊的要求，作为一种可选的实施方式，如图2所示，步骤S120可以包括：

将检测到的每个目标位置的红外线信号转化成的电信号与该目标位置对应的电信号阈值进行比较；

在检测到的任一目标位置的红外线信号转化成的电信号超出其对应的电信号阈值时，则判断该玻璃基板形状需要调节。

在这种实施方式中，需要预先测量每一个目标位置处在其形状不需要调节时，即调节精度允许的范围内时，玻璃基板辐射出的红外线信号转化成的电信号的阈值。

图3是根据本发明的另一种实施方式提供的用于调节玻璃基板形状的控制方法的流程图。如图3所示，在一种实施方式中，步骤130可以包括：

在检测到玻璃基板的第一目标位置的红外线信号转化成的电信号的值大于预设的上限值时，则判断需要对第一目标位置进行第一调节，该第一目标位置为玻璃基板的多个目标位置中的任一位置；以及，

在检测到第一目标位置的红外线信号转化成的电信号的值小于预设的下限值时，则判断需要对第一目标位置进行第二调节。

判断玻璃基板形状是否需要调节，需要判断玻璃基板的每一个目标位置是否需要调节，使同一水平高度上每一目标位置的电信号值都在允许的范围内，才能够保证同一水平高度上，玻璃基板的形状是符合精度要求的。

图4是根据本发明的另一种实施方式提供的用于调节玻璃基板形状的控制方法的流程图。如图4所示，在一种实施方式中，步骤S130还可以包括：

在第一目标位置需要进行第一调节时，生成第一控制信号，第一控制信号用于增大第一目标位置的正反面压差；

以及，在第一目标位置需要进行第二调节时，生成第二控制信号，第二控制信号用于减小第一目标位置的正反面压差。

当判断目标位置需要第一调节时，即是该目标位置的电信号超出了该位置电信号的上限阈值，意味着此处检测到的红外线信号强度较大，红外线传播的距离相对较小，玻璃基板的这一位置此时可能是凸起的，可以增大这一位置的正反面压差，以使玻璃基板的形状得到调节。同样地，目标位置需要第二调节，说明此处检测到的红外线信号强度较小，红外线传播的距离相对较大，玻璃基板的这一位置此时可能是凹陷的，可以减小这一位置的正反面压差，使得玻璃基板此处的形状得到调节。容易理解的是，第一目标位置只用作示例性的说明，这种实施方式适用于所有目标位置，并不限制于第一目标位置。

综上所述，本发明可以检测溢流下拉成型阶段玻璃基板辐射的红外线信号，并将检测到的红外线信号转化为电信号，根据对该电信号的判断确定玻璃基板形状是否需要调节，并能够在其需要调节时，控制玻璃基板的正反面压差，从而实现对玻璃基板形状的调节，以降低玻璃基板的内部应力，从而能够改善为玻璃形状变化导致的玻璃内部应力较高且不均匀的问题，提高玻璃基板的良品率，从而还能够提高基板玻璃研磨的质量和效率，降低成本。

根据本发明的第二方面，还提供一种用于调节玻璃基板形状的控制装置，上述用于调节玻璃基板形状的控制方法适用于本装置，因此相同内容将不再赘述。

图5是根据本发明的一种实施方式提供的用于调节玻璃基板形状的控制装置的结构框图，该用于调节玻璃基板形状的控制装置可以用于执行图1至图4任一所述的方法。如图5所示，该控制装置可以包括：基座10，红外检测器20，信号指示器30以及压差调节器40，基座10上设置有红外传感器101，红外传感器101与红外检测器20电连接；红外传感器101用于检测玻璃基板辐射出的红外线信号，并将检测到的红外线信号发送至红外检测器20；红外检测器20用于接收红外传感器101发送的红外线信号，并将接收到的红外线信号转化为电信号，并将电信号发送至信号指示器30；信号指示器30用于接收电信号，并根据转化后的电信号判断玻璃基板形状是否需要调节，并在判断所述玻璃基板形状需要调节的情况下向压差调节器40发送反馈信号；压差调节器40用于接收反馈信号，并响应于反馈信号，通过控制玻璃基板的正反面压差来调节玻璃基板形状。

其中，玻璃基板为溢流下拉成型阶段的玻璃基板，溢流下拉法中下拉成型段玻璃基板的温度集中在27℃至327℃，在这一温度区间内，玻璃基板辐射出的红外线信号属于远红外信号，其波长大多数在8μm至14μm之间，且该区间内的红外线信号的辐射对比度也较大，利于检测。示例地，红外传感器101被设置成能够工作在波长8μm至14μm之间的红外传感器。

图6是根据本发明的另一种实施方式提供的用于调节玻璃基板形状的控制装置的结构框图。如图6所示，可选地，基座10上分布设置有以矩阵形式排列的多个红外传感器101，多个红外传感器101分别用于检测玻璃基板的多个目标位置的红外线信号；红外检测器20用于接收每个红外传感器101发送的该红外传感器101对应的目标位置的红外线信号，并将每个目标位置的红外线信号转化成电信号。

在一种实施方式中，基座10可以与玻璃基板的宽度一致，例如是长450mm×宽1500mm，红外传感器101可以在基座上设置成3×5的矩阵，即设置在基座10上水平方向间距为125mm的三条等高线与垂直间距为250mm的五条等宽线的交点处。这种实施方式可以均匀地检测玻璃基板同一水平高度上的红外线信号，并且能够同时检测多个位置的红外线信号，有利于加快检测速度，提升工作效率。

另外，图7是根据本发明的另一种实施方式提供的用于调节玻璃基板形状的控制装置的侧视图。如图7所示，基座10可以与下拉成型段的玻璃基板01平行布置，以方便基座10上的红外传感器101接收玻璃基板01辐射出的红外线信号。

可选地，信号指示器30可以用于：

将检测到的每个目标位置的红外线信号转化成的电信号与该目标位置对应的电信号阈值进行比较；

在检测到的任一目标位置的红外线信号转化成的电信号超出该电信号阈值时，则判断玻璃基板形状需要调节。

可选地，信号指示器30还可以用于：

在检测到玻璃基板的第一目标位置的红外线信号转化成的电信号的值大于预设的上限值时，则判断需要对第一目标位置进行第一调节，该第一目标位置为玻璃基板的多个目标位置中的任一位置；以及，

在检测到第一目标位置的红外线信号转化成的电信号的值小于预设的下限值时，则判断需要对第一目标位置进行第二调节。

图8是根据本发明的另一种实施方式提供的用于调节玻璃基板形状的控制装置的结构框图。如图7所示，可选地，在基座10上位于每个红外传感器101所在的位置上设置有气孔102，每个气孔102与其所在位置上的红外传感器101构成一个检测用于玻璃形状的控制单元，信号指示器30还可以用于：

在第一目标位置需要进行第一调节时，生成第一控制信号，第一控制信号用于通过与第一目标位置对应设置的气孔102增大第一目标位置的正反面压差；以及，

在第一目标位置需要进行第二调节时，生成第二控制信号，第二控制信号用于通过与第一目标位置对应设置的气孔102减小第一目标位置的正反面压差。

压差控制器40用于根据控制信号调节气孔中气体的压力，同时，为了避免气孔中用于调节玻璃基板正反面压差的气体与生产中温度较高的玻璃基板发生化学反应，示例地，气孔中的气体可以是不易发生反应的惰性气体，并且为了减小温度对玻璃基板形状的影响，该惰性气体可以预热到200℃至500℃之间以供使用。

通过上述技术方案，本发明可以检测溢流下拉成型阶段玻璃基板辐射的红外线信号，并将检测到的红外线信号转化为电信号，根据对该电信号的判断确定玻璃基板形状是否需要调节，并能够在其需要调节时，控制玻璃基板的正反面压差，从而实现对玻璃基板形状的调节，以降低玻璃基板的内部应力，从而能够改善为玻璃形状变化导致的玻璃内部应力较高且不均匀的问题，提高玻璃基板的良品率，从而还能够提高基板玻璃研磨的质量和效率，降低成本。

以上结合附图详细描述了本发明的优选实施方式，但是，本发明并不限于上述实施方式中的具体细节，在本发明的技术构思范围内，可以对本发明的技术方案进行多种简单变型，这些简单变型均属于本发明的保护范围。

另外需要说明的是，在上述具体实施方式中所描述的各个具体技术特征，在不矛盾的情况下，可以通过任何合适的方式进行组合。为了避免不必要的重复，本发明对各种可能的组合方式不再另行说明。

此外，本发明的各种不同的实施方式之间也可以进行任意组合，只要其不违背本发明的思想，其同样应当视为本发明所公开的内容。

Claims (11)

1.一种用于调节玻璃基板形状的控制方法，其特征在于，所述控制方法包括：

检测玻璃基板辐射出的红外线信号，并将检测到的红外线信号转化为电信号；

根据转化后的电信号判断所述玻璃基板形状是否需要调节；以及，

在判断所述玻璃基板形状需要调节的情况下，通过控制所述玻璃基板的正反面压差来调节所述玻璃基板形状；

所述检测玻璃基板辐射出的红外线信号，并将检测到的红外线信号转化为电信号的步骤包括：

检测所述玻璃基板的多个目标位置的红外线信号，并将检测到的每个所述目标位置的红外线信号转化成电信号，所述玻璃基板的多个目标位置以所述玻璃基板的宽度为界限等间距设置，所述间距为根据调节精度确定的。

2.根据权利要求1所述的用于调节玻璃基板形状的控制方法，其特征在于，所述玻璃基板为溢流下拉成型阶段的玻璃基板。

3.根据权利要求1所述的用于调节玻璃基板形状的控制方法，其特征在于，所述根据转化后的电信号判断所述玻璃基板形状是否需要调节的步骤包括：

将检测到的每个所述目标位置的红外线信号转化成的电信号与该目标位置对应的电信号阈值进行比较；

在检测到的任一目标位置的红外线信号转化成的电信号超出所述电信号阈值时，则判断所述玻璃基板形状需要调节。

4.根据权利要求3所述的用于调节玻璃基板形状的控制方法，其特征在于，所述在检测到的任一目标位置的红外线信号转化成的电信号超出所述电信号阈值时，则判断所述玻璃基板形状需要调节包括：

在检测到所述玻璃基板的第一目标位置的红外线信号转化成的电信号的值大于预设的上限值时，则判断需要对所述第一目标位置进行第一调节，所述第一目标位置为所述玻璃基板的多个目标位置中的任一位置；以及，

在检测到所述第一目标位置的红外线信号转化成的电信号的值小于预设的下限值时，则判断需要对所述第一目标位置进行第二调节。

5.根据权利要求4所述的用于调节玻璃基板形状的控制方法，其特征在于，所述通过控制所述玻璃基板正反面压差来调节所述玻璃基板形状包括：

在所述第一目标位置需要进行所述第一调节时，生成第一控制信号，所述第一控制信号用于增大所述第一目标位置的正反面压差；以及，

在所述第一目标位置需要进行所述第二调节时，生成第二控制信号，所述第二控制信号用于减小所述第一目标位置的正反面压差。

6.一种用于调节玻璃基板形状的控制装置，其特征在于，所述控制装置包括：基座，红外检测器，信号指示器以及压差调节器，所述基座上设置有红外传感器，所述红外传感器与所述红外检测器电连接；

所述红外传感器用于检测玻璃基板辐射出的红外线信号，并将检测到的红外线信号发送至所述红外检测器；

所述红外检测器用于接收所述红外传感器发送的红外线信号，并将接收到的红外线信号转化为电信号，并将所述电信号发送至所述信号指示器；

所述信号指示器用于接收所述电信号，并根据转化后的电信号判断所述玻璃基板形状是否需要调节，并在判断所述玻璃基板形状需要调节的情况下向所述压差调节器发送反馈信号；

所述压差调节器用于接收所述反馈信号，并响应于所述反馈信号，通过控制所述玻璃基板的正反面压差来调节所述玻璃基板形状。

7.根据权利要求6所述的用于调节玻璃基板形状的控制装置，其特征在于，所述玻璃基板为溢流下拉成型阶段的玻璃基板。

8.根据权利要求6所述的用于调节玻璃基板形状的控制装置，其特征在于，所述基座上分布设置有以矩阵形式排列的多个红外传感器，所述多个红外传感器分别用于检测所述玻璃基板的多个目标位置的红外线信号；

所述红外检测器用于接收每个所述红外传感器发送的该红外传感器对应的目标位置的红外线信号，并将每个所述目标位置的红外线信号转化成电信号。

9.根据权利要求8所述的用于调节玻璃基板形状的控制装置，其特征在于，所述信号指示器用于：

将检测到的每个所述目标位置的红外线信号转化成的电信号与该目标位置对应的电信号阈值进行比较；

在检测到的任一目标位置的红外线信号转化成的电信号超出所述电信号阈值时，则判断所述玻璃基板形状需要调节。

10.根据权利要求9所述的用于调节玻璃基板形状的控制装置，其特征在于，所述信号指示器还用于：

在检测到所述玻璃基板的第一目标位置的红外线信号转化成的电信号的值大于预设的上限值时，则判断需要对所述第一目标位置进行第一调节，所述第一目标位置为所述玻璃基板的多个目标位置中的任一位置；以及，

在检测到所述第一目标位置的红外线信号转化成的电信号的值小于预设的下限值时，则判断需要对所述第一目标位置进行第二调节。

11.根据权利要求10所述的用于调节玻璃基板形状的控制装置，其特征在于，在所述基座上位于每个红外传感器所在的位置上设置有气孔，所述信号指示器还用于：

在所述第一目标位置需要进行所述第一调节时，生成第一控制信号，所述第一控制信号用于通过与所述第一目标位置对应设置的气孔增大所述第一目标位置的正反面压差；以及，

在所述第一目标位置需要进行所述第二调节时，生成第二控制信号，所述第二控制信号用于通过与所述第一目标位置对应设置的气孔减小所述第一目标位置的正反面压差。