CN105867510A - 一种减小数字时钟延时单元温漂的架构 - Google Patents
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Abstract
一种减小数字时钟延时单元温漂的架构,包括带隙基准电压源Bandgap,具有正温度系数,用于提供随温度升高而升高的基准电压VREF;线性稳压器LDO,用于抑制外部电源噪声,与带隙基准电压源Bandgap相连,接收带隙基准电压源Bandgap的基准电压VREF并输出内部电压VCCLDO;延迟链DELAY_LINE,由延时单元TAP构成,具有正温度特性,用于延迟时钟,与线性稳压器LDO相连,接收线性稳压器LDO的输出内部电压VCCLDO作为驱动电压。本发明的有益效果是,延迟链的输入电压是内部电压,其随着温度升高间接升高,从而使得延时单元延时缩短,这抵消了延时单元本身延时随着温度升高引起的延长,减小了延时单元TAP的温漂,从而提高了延迟锁相环的相移精度。
Description
技术领域
本发明属于半导体集成电路领域,具体涉及一种减小数字时钟延时单元温漂的架构,属于时钟管理技术领域。
背景技术
在延迟锁相环(DLL)中,需要使用延迟链对时钟进行去歪斜、频率合成以及相移。组成延迟链的基本单元是延时单元TAP,每个延时单元TAP的延时(T_TAP)约为几十皮秒,DLL的锁定过程即调整延时单元TAP的个数,使目标时钟相位与基准时钟相位对齐。当DLL一旦锁定就不再对时钟相位进行检测,但是当电源电压稳定不变,温度升高时,T_TAP会增大。即DLL锁定后,如果温度升高,时钟的相位关系将发生变化,然而DLL并不会重新锁定,这就影响了精度。
针对上述现有技术存在的问题,希望有一种架构设计,能够减小延时单元TAP因为温度产生的温漂,进而提高DLL的相移精度。
发明内容
本发明要解决的技术问题是:为了解决背景技术提出的问题,本发明提供一种减小数字时钟延时单元温漂的架构。
本发明解决其技术问题所采用的技术方案是:一种减小数字时钟延时单元温漂的架构,其特征在于,包括:
带隙基准电压源Bandgap,具有正温度系数,用于提供随温度升高而升高的基准电压VREF;
线性稳压器LDO,用于抑制外部电源噪声,与带隙基准电压源Bandgap相连,接收带隙基准电压源Bandgap的基准电压VREF并输出内部电压VCCLDO;
延迟链DELAY_LINE,由延时单元TAP构成,用于延迟时钟,与线性稳压器LDO相连,接收线性稳压器LDO的输出内部电压VCCLDO作为驱动电压;
线性稳压器LDO的输出内部电压VCCLDO与所述带隙基准电压源Bandgap的参考电压VREF呈线性关系;
延时单元TAP的延时T_TAP,随温度升高而增大;
延时单元TAP的延时T_TAP随输出内部电压VCCLDO的增大而减小;
延迟链DELAY_LINE包括至少一个延时单元TAP;
延时单元TAP具有差分结构。
本发明的有益效果是,延迟链的输入电压是内部电压,其随着温度升高间接升高,从而使得TAP的延时时间变短,这抵消了TAP本身延时随着温度升高引起的延长,减小了延时单元TAP的温漂,从而提高了延迟锁相环的相移精度。
附图说明
图1为本发明总体结构示意图。
图2为本发明的带隙基准电压源Bandgap结构示意图。
图3为本发明线性稳压器LDO的结构示意图。
图4为本发明延时单元TAP的结构示意图。
具体实施方式
现在结合附图对本发明作进一步详细的说明。这些附图均为简化的示意图,仅以示意方式说明本发明的基本结构,因此其仅显示与本发明有关的构成。
如图1所示,本发明设计的架构包括:带隙基准电压源Bandgap,如图2所示,用于提供基准电压VREF,Bandgap具有正温度系数,即该基准电压VREF随温度的升高而增大,且该VREF为LDO的参考电压;线性稳压器LDO采用传统结构,如图3所示,用于抑制外部电源噪声,其参考电压为VREF经过分压后的电压,该LDO的输出电压VCCLDO驱动延迟链DELAY_LINE;延迟链DELAY_LINE由至少一个延时单元TAP构成,起到延迟时钟的作用,与所述线性稳压器LDO相连,接收所述线性稳压器LDO的输出内部电压VCCLDO作为驱动电压;其中,单个延时单元TAP如图4所示,其输入时钟为差分时钟(A、AN),输出也为差分时钟(Z、ZN),EN为时钟复位端。当EN=0时,输出时钟(Z、ZN)全为1;当EN=1时,输出时钟Z、ZN分别为输入时钟A、AN延时了T_TAP后的时钟,其具有正温度特性,即延时单元TAP随着环境温度的升高,延时T_TAP也增加。
通常情况下,该Bandgap供电的电源VCCAUX为2.5V,输出电压VREF常温下为1.5V,LDO的参考电压通常为1.1V,由VREF分压后得到。由于延时单元TAP具有正温度特性,所以当温度升高时,延时单元的延时T_TAP会增大;另一方面,Bandgap为正温度系数,当温度升高时,VREF会随温度增大而增大,且VCCLDO与VREF两者呈线性关系,故VCCLDO也会随VREF的增大而增大,但VCCLDO增大会使时钟翻转速度变快,进而使得延时单元的延时T_TAP减小,所以,根据延时单元TAP的温度特性设置Bandgap合适的温度系数,进而使得因VCCLDO增大而减小的延时单元TAP延时在最大程度上抵消掉其因温度升高而增大的延时,从而减小了TAP的温漂,基本上实现零温漂。
在实施例中,当电源电压为1.1V(典型工艺角)时TAP的温度特性为+75fs/℃,即电压一定时温度每增加1℃,TAP延时增大75飞秒;当常温25℃(典型工艺角)时TAP的电压特性为-0.119fs/uV,即温度一定时电压每增大1uV,TAP延时减小0.119飞秒,在上述前提下,如果忽略温度对电压特性的影响,即假设任意温度下TAP的电压特性均为-0.119fs/uV,则我们可以设计一个正温度系数的Bandgap,使其温度系数为+630uV/℃,需要考虑的是,由于实际中TAP的电压特性也会随温度的变化而变化,所以不可能实现完全的零温漂,故考虑TAP电压特性的影响后,TAP的最终温漂为+12fs/℃,相比不采用该发明温漂+75fs/℃,温漂减小了84%,这样TAP就实现温漂最小化。在具体实施时,减少温漂的程度与不同延时单元TAP的温度特性、Bandgap的正温度系数等均有关,并不拘泥于上述实施例中的参数设置,技术人员可以根据实际情况具体设定。
以上述依据本发明的理想实施例为启示,通过上述的说明内容,相关工作人员完全可以在不偏离本项发明技术思想的范围内,进行多样的变更以及修改。本项发明的技术性范围并不局限于说明书上的内容,必须要根据权利要求范围来确定其技术性范围。
Claims (6)
1.一种减小数字时钟延时单元温漂的架构,其特征在于,包括:
带隙基准电压源Bandgap,具有正温度系数,用于提供随温度升高而升高的基准电压VREF;
线性稳压器LDO,用于抑制外部电源噪声,与所述带隙基准电压源Bandgap相连,接收所述带隙基准电压源Bandgap的基准电压VREF并输出内部电压VCCLDO;
延迟链DELAY_LINE,由延时单元TAP构成,用于延迟时钟,与所述线性稳压器LDO相连,接收所述线性稳压器LDO的输出内部电压VCCLDO作为驱动电压。
2.根据权利要求1所述的一种减小数字时钟延时单元温漂的架构,其特征在于,所述线性稳压器LDO的输出内部电压VCCLDO与所述带隙基准电压源Bandgap的参考电压VREF呈线性关系。
3.根据权利要求1所述的一种减小数字时钟单元温漂的架构,其特征在于,所述延时单元TAP的延时T_TAP,随温度升高而增大。
4.根据权利要求1所述的一种减小数字时钟单元温漂的架构,其特征在于,所述延时单元TAP的延时T_TAP随所述输出内部电压VCCLDO的增大而减小。
5.根据权利要求1~3任一所述的一种减小数字时钟单元温漂的架构,其特征在于,所述延迟链DELAY_LINE包括至少一个延时单元TAP。
6.根据权利要求4所述的一种减小数字时钟单元温漂的架构,其特征在于,所述延时单元TAP具有差分结构。
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