CN105807199B - 一种led分光机的点测机构及led分光机 - Google Patents

一种led分光机的点测机构及led分光机 Download PDF

Info

Publication number
CN105807199B
CN105807199B CN201610220156.XA CN201610220156A CN105807199B CN 105807199 B CN105807199 B CN 105807199B CN 201610220156 A CN201610220156 A CN 201610220156A CN 105807199 B CN105807199 B CN 105807199B
Authority
CN
China
Prior art keywords
probe
led lamp
measurement mechanism
sleeve
led
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
CN201610220156.XA
Other languages
English (en)
Other versions
CN105807199A (zh
Inventor
高春瑞
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Xiamen Dacol Photoelectronics Technology Co Ltd
Original Assignee
Xiamen Dacol Photoelectronics Technology Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Xiamen Dacol Photoelectronics Technology Co Ltd filed Critical Xiamen Dacol Photoelectronics Technology Co Ltd
Priority to CN201610220156.XA priority Critical patent/CN105807199B/zh
Publication of CN105807199A publication Critical patent/CN105807199A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN105807199B publication Critical patent/CN105807199B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/26Testing of individual semiconductor devices
    • G01R31/2607Circuits therefor
    • G01R31/2632Circuits therefor for testing diodes
    • G01R31/2635Testing light-emitting diodes, laser diodes or photodiodes
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B07SEPARATING SOLIDS FROM SOLIDS; SORTING
    • B07CPOSTAL SORTING; SORTING INDIVIDUAL ARTICLES, OR BULK MATERIAL FIT TO BE SORTED PIECE-MEAL, e.g. BY PICKING
    • B07C5/00Sorting according to a characteristic or feature of the articles or material being sorted, e.g. by control effected by devices which detect or measure such characteristic or feature; Sorting by manually actuated devices, e.g. switches
    • B07C5/34Sorting according to other particular properties
    • B07C5/342Sorting according to other particular properties according to optical properties, e.g. colour

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Measuring Leads Or Probes (AREA)
  • Spectrometry And Color Measurement (AREA)

Abstract

本发明涉及一种探针接触良好、使用寿命长,点测测试准确、不易卡机的LED分光机的点测机构及具有该点测机构的LED分光机。本发明提供的一种LED分光机的点测机构,在现有技术中对探针与安装结构进行改善,探针设有气流通道,且在探针的针头表面设置与该气流通道连通的出气孔,气流从针头表面的出气孔吹出,能将残留在测试针头的残余封装胶水清除,保持探针针头能与LED灯珠的电极管脚长时间的良好接触,增加套管,套管套在探针上并固定在通孔内,探针可相对于该套管移动,套管填充支撑板与探针之间的缝隙,防止残余封装胶水进入缝隙中,而且避免了探针横向移位导致的接触点偏差。本发明还提供一种具有如上结构的LED分光机。

Description

一种LED分光机的点测机构及LED分光机
技术领域
本发明涉及一种探针接触良好、使用寿命长,点测测试准确、不易卡机的LED分光机的点测机构及具有该点测机构的LED分光机。
背景技术
LED(Light Emitting Diode),发光二极管,是一种能够将电能转化为可见光的固态的半导体器件,它可以直接把电转化为光。LED灯的出现,相对于普通灯(白炽灯等)具有节能、寿命长、适用性好、回应时间短、环保等优点。
LED进行封装成LED灯珠后,为确定光效,通常会在分光机上对其进行光效测试,并根据光效对LED灯珠进行筛分,如中国实用新型专利申请号为:201520039236揭示的一种SMD LED快速分光机。对于分光机的误差,在光效检测上的误差,可以通过对校方式对系统进行调整,而对于硬件上的不足产生的误差,则需对相应的硬件进行优化,使分光机对检测结果的影响最小化。
在现有技术中,LED分光机的点测机构的部分结构示意图如图1所示,支撑板10’上设有贯穿其上、下表面的二通孔101’,二探针30’分别电连接电源的正、负端并分别设置在该通孔101’内,探针30’的针头表面呈锯齿状(如A区域所示)并向支撑板10’的上表面设置,探针30’的针尾分别连接弹簧片40’,弹簧片40’的另一端连接在驱动装置(未示出)的驱动端上,驱动装置通过带动弹簧片40’进而带动探针30’在支撑板的上、下表面做升降运动,转盘20’可转动设置在支撑板10’上,转盘20’对应探针30’的位置设有用于容置LED灯珠50’的容置孔201’,LED灯珠50’放置在该容置孔201’内,探针30’上、下运动做点测。在现有技术中,存在如下不足之处:一、探针30’的针头设计为锯齿状,容易粘上LED灯珠50’的残余封装胶水,造成针头与LED灯珠50’的电极管脚接触不良,容易产生测试不准确、失败;二、探针30’与支撑板10’的通孔101’之间存在较大的缝隙,此设计原意是想给探针30’留出上下运动空间。但在长期使用后,LED灯珠50’的残余胶水会进入该缝隙,导致探针30’运动不灵活或者卡死,导致无法与LED灯珠50’的电极管脚理想的接触;三、探针30’的针尾分别由两个薄弹簧片40’独立带动。由于弹簧片40’为长、薄设计。在探针30’与支撑板10’存在较大摩擦力时,弹簧片40’难以带动探针30’运动。容易导致无法与LED灯珠50’的电极管脚理想的接触。上述不足之处均会导致LED灯珠50’在点测时接触不良产生不发光或发光不足,而该分光机会根据该次的检测结果将其筛选掉。
发明内容
根据现有技术中LED分光机的点测机构的不足之处,本发明在此基础上针对点测机构进行改善,提出一种探针接触良好、使用寿命长,点测测试准确、不易卡机的LED分光机的点测机构及具有该点测机构的LED分光机。
为达到上述目的,本发明提供的一种LED分光机的点测机构,包括:一支撑板、一电源、一驱动装置及二探针,所述的支撑板上设有贯穿其上、下表面的通孔,二探针分别电连接电源的正、负端并分别设置在通孔内,驱动装置分别连接探针并带动探针在支撑板的上、下表面做升降运动,还包括一充气装置,所述的探针内设有贯通的气流通道,所述的探针的针头表面设置有与所述的气流通道第一端相连通的出气孔,所述的充气装置连接所述的探针的气流通道第二端并对其进行充气,气流流经探针的气流通道并从针头表面的出气孔吹出。
本发明的一种优选方案,所述探针的针头表面为一平滑面。
本发明的另一种优选方案,还包括套管,所述的套管的外管壁与支撑板上的通孔相匹配,所述的套管与所述的通孔紧密固定,探针可活动地套设在所述的套管的内管,能相对于所述的套管上下移动。
本发明的另一种优选方案,还包括弹簧,所述的弹簧设置在的内管内,其一端被套管下端限定,另一端被套设于套管内的探针上的一限制部所限定,所述的弹簧处于压缩状态,并对探针施加向针头方向的作用力。
本发明的另一种优选方案,还包括一绝缘的弹性件,所述的弹性件同时固定连接二探针,其另一端固定连接在驱动装置上,驱动装置通过弹性件带动探针运动。
本发明的另一种优选方案,还包括一转盘,所述转盘可转动设置在支撑板上,所述转盘对应探针的位置设有用于容置LED灯珠的容置孔。
本发明的另一种优选方案,该容置孔设有一卡位结构,在探针对LED灯珠进行点测时,该卡位结构固定LED灯珠的基板的位置。
本发明还提供一种LED分光机,包括:点测机构、检测机构及筛分机构,所述点测机构为上述任一所述的LED分光机的点测机构,所述点测机构的探针与LED灯珠电连接后形成一电回路,LED灯珠发光;所述检测机构的光接收口对应LED灯珠的发光表面,检测机构对LED灯珠发出的光进行光效检测,筛分机构根据检测结果对LED灯珠进行筛分处理。
通过本发明提供的技术方案,具有如下有益效果:
1.探针内设有气流通道,探针的针头为一平滑面,其表面设置有与该气流通道相连通的出气孔,平滑的设计避免残余胶水积累,而且吹气能将残留在测试针头的残余封装胶水清除,保持探针针头能与LED灯珠的电极管脚长时间的良好接触;
2.增加套管,套管套在探针上并固定在通孔内,探针可相对于该套管移动,套管填充支撑板与探针之间的缝隙,防止残余封装胶水进入缝隙中,而且避免了探针横向移位导致的接触点偏差;
3.二探针由同一根绝缘的弹性件固定,这样避免其中一根探针卡死,造成测试失败。
附图说明
图1所示为现有技术中LED分光机的点测机构的部分结构示意图;
图2所示为本发明提供的一种LED分光机的点测机构的部分结构示意图;
图3所示为套管与探针的连接示意图。
具体实施方式
为进一步说明各实施例,本发明提供有附图。这些附图为本发明揭露内容的一部分,其主要用以说明实施例,并可配合说明书的相关描述来解释实施例的运作原理。配合参考这些内容,本领域普通技术人员应能理解其他可能的实施方式以及本发明的优点。图中的组件并未按比例绘制,而类似的组件符号通常用来表示类似的组件。
现结合附图和具体实施方式对本发明进一步说明。
参照图2、图3所示,本发明提供的一种LED分光机的点测机构,包括:一支撑板10、一转盘20、一电源(未示出)、一驱动装置(未示出)、一绝缘的弹性件40、一充气装置(未示出)、一导气管60、二探针30、及二套管50,支撑板10上设有贯穿其上、下表面的二通孔101,套管50为金属套管,套管50的外表面与通孔101相匹配,套管50内设有一弹簧501,套管50的外管壁与支撑板10上的通孔101相匹配,套管50与通孔101紧密固定,探针30可活动地套设在套管50的内管,套管50的上端部分与探针30配合后呈密封状态,探针30需克服与套管50的上端部分的摩擦力实现相对于套管50上下移动,套管的下端孔径小于弹簧501的直径,弹簧501上端限制在探针30上的限制部302上(如图3所示),其下端限制在套管50的下端,弹簧501处于压缩状态,并对探针30施加向针头方向的作用力。二探针30分别电连接电源的正、负端,探针30为中空结构,该中空腔体在针尾处设有开口,探针30的针头表面为平滑面(如图2中B区域所示),表面设有四个连通该中空腔体的出气孔301,探针30的针尾连接一导气管60,导气管60连接充气装置,充气装置通过导气管60向探针30内充气,气流从针尾进入探针30的中空腔体内,该中空腔体形成一气流通道,气流再从针头的出气孔301吹出。弹性件40同时固定连接二探针30,弹性件40的另一端固定连接在驱动装置上,驱动装置通过弹性件40带动探针30在支撑板10的上、下表面做升降运动,转盘20可转动设置在支撑板10上,转盘20对应探针30的位置设有用于容置LED灯珠的容置孔201,该容置孔201呈上窄下宽的卡位结构。
点测作业时,转盘20带动LED灯珠70至点测位置,驱动装置通过弹性件40带动探针30向上移动,LED灯珠70被容置孔201的卡位结构固定住,二探针30的针头顶触在LED灯珠70的电极脚上并形成电连接,LED灯珠70通电后发光。点测完成后,驱动装置带动探针30向下移动,探针30与LED灯珠70断开,转盘20在支撑板10上转动并带动下一个LED灯珠进行测试。在测试间隙或一定时间后,充气装置对探针30进行充气,气流从探针30针头的出气孔301吹出,将附在针头表面的封装胶水吹除,保持探针30针头能与LED灯珠70的电极管脚长时间的良好接触。
本实施例中,探针30的针头表面设为一平滑面,平滑的设计避免残余胶水积累。
本实施例中,套管50的外管壁与支撑板10上的通孔101相匹配,套管50与通孔101紧密固定,探针30可活动地套设在套管50的内管,套管50的上端部分与探针30配合后呈密封状态,套管50填充支撑板10与探针30之间的缝隙,防止残余封装胶水进入缝隙中,并且避免了探针30横向移位导致的接触点偏差。套管50为金属套管,金属套管不易变形,且与探针50之间摩擦力较小,为进一步的减小摩擦力,可在金属套管与探针50之间添加润滑油。在其他实施例中,套管50也可以是塑胶套管或金属与塑胶组装形成的,只要达到本发明中能填充支撑板10与探针30之间的缝隙的效果即可。
本实施例中,在套管50内设置一弹簧501,并对探针30施加向针头方向的作用力。避免探针30因驱动装置带动不到位等异常导致探针30无法接触到LED灯珠70的电极管脚,弹簧501可进一步的带动探针30运动,确保探针30无与LED灯珠70的电极管脚保持接触。图3所示的套管与探针的连接示意图为图2中探针30上升即将与LED灯珠70的电极管脚接触的状态图,探针30的限制部302在套管50的内管内移动,不会影响探针30的运动。
本实施例中,二探针30共用一绝缘弹性件40连接,这样避免其中一根探针30卡死,造成测试失败。
本实施例中,转盘20的容置孔201呈上窄下宽的卡位结构。该卡位结构卡住LED灯珠70,使探针30可顶触在LED灯珠70的电极脚上并形成电连接。在其他实施例中,该卡位结构并不局限于本实施例中提供的结构,只要可卡住LED灯珠70的位置,以达到探针30与LED灯珠70的电极脚接触的目的均可。
本实施例中,支撑板10上设有两个通孔101,二探针30分别设置在两个通孔101内,在其它实施例中,可以直接设置成一个较大的通孔,套管设有两个套孔并分别套住探针30,然后固定在通孔内。该结构同样可实现本发明的技术效果。
本发明还提供一种LED分光机,包括:点测机构、检测机构及筛分机构,点测机构为上述所述的LED分光机的点测机构,点测机构的探针30电连接LED灯珠70,LED灯珠70通电发光;检测机构的光接收口对应LED灯珠的发光表面,检测机构对LED灯珠70发出的光进行光效检测,筛分机构根据检测结果对LED灯珠70进行筛分处理。
本发明提供的技术方案,探针30内设有气流通道,探针30的针头为一平滑面,其表面设置有与该气流通道相连通的出气孔301,平滑的设计避免残余胶水积累,而且吹气能将残留在测试针头的残余封装胶水清除,保持探针30的针头能与LED灯珠70的电极管脚长时间的良好接触;增加套管50,套管50套在探针30上并固定在通孔101内,探针30可相对于该套管50移动,套管50填充支撑板10与探针30之间的缝隙,防止残余封装胶水进入缝隙中,而且避免了探针30横向移位导致的接触点偏差;二探针30由同一根绝缘的弹性件40固定,这样避免其中一根探针30卡死,造成测试失败。
尽管结合优选实施方案具体展示和介绍了本发明,但所属领域的技术人员应该明白,在不脱离所附权利要求书所限定的本发明的精神和范围内,在形式上和细节上可以对本发明做出各种变化,均为本发明的保护范围。

Claims (6)

1.一种LED分光机的点测机构,包括:一支撑板、一电源、一驱动装置及二探针,所述的支撑板上设有贯穿其上、下表面的通孔,二探针分别电连接电源的正、负端并分别设置在通孔内,驱动装置分别连接探针并带动探针在支撑板的上、下表面做升降运动,其特征在于:还包括一充气装置,所述的探针内设有贯通的气流通道,所述的探针的针头表面设置有与所述的气流通道第一端相连通的出气孔,所述的充气装置连接所述的探针的气流通道第二端并对其进行充气,气流流经探针的气流通道并从针头表面的出气孔吹出;
还包括一绝缘的弹性件,所述的弹性件同时固定连接二探针,其另一端固定连接在驱动装置上,驱动装置通过弹性件带动探针运动;
所述的探针的针头表面为一平滑面。
2.根据权利要求1所述的LED分光机的点测机构,其特征在于:还包括套管,所述的套管的外管壁与支撑板上的通孔相匹配,所述的套管与所述的通孔紧密固定,探针可活动地套设在所述的套管的内管,能相对于所述的套管上下移动。
3.根据权利要求2所述的LED分光机的点测机构,其特征在于:还包括弹簧,所述的弹簧设置在内管内,其一端被套管下端限定,另一端被套设于套管内的探针上的一限制部所限定,所述的弹簧处于压缩状态,并对探针施加向针头方向的作用力。
4.根据权利要求1所述的LED分光机的点测机构,其特征在于:还包括一转盘,所述的转盘可转动设置在支撑板上,所述的转盘对应探针的位置设有用于容置LED灯珠的容置孔。
5.根据权利要求4所述的LED分光机的点测机构,其特征在于:所述的容置孔设有一卡位结构,在探针对LED灯珠进行点测时,所述的卡位结构固定LED灯珠的基板的位置。
6.一种LED分光机,包括:点测机构、检测机构及筛分机构,其特征在于:所述的点测机构为上述权利要求1-5任一所述的LED分光机的点测机构,所述的点测机构的探针电连接LED灯珠,LED灯珠通电发光;所述的检测机构的光接收口对应LED灯珠的发光表面,检测机构对LED灯珠发出的光进行光效检测,筛分机构根据检测结果对LED灯珠进行筛分处理。
CN201610220156.XA 2016-04-11 2016-04-11 一种led分光机的点测机构及led分光机 Active CN105807199B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201610220156.XA CN105807199B (zh) 2016-04-11 2016-04-11 一种led分光机的点测机构及led分光机

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201610220156.XA CN105807199B (zh) 2016-04-11 2016-04-11 一种led分光机的点测机构及led分光机

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN105807199A CN105807199A (zh) 2016-07-27
CN105807199B true CN105807199B (zh) 2020-02-21

Family

ID=56459890

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201610220156.XA Active CN105807199B (zh) 2016-04-11 2016-04-11 一种led分光机的点测机构及led分光机

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN105807199B (zh)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN113917316A (zh) * 2021-10-14 2022-01-11 池州华宇电子科技股份有限公司 一种高精度芯片测试治具
CN116727290B (zh) * 2023-04-14 2024-02-09 射阳拉曼半导体科技有限公司 一种led分光机的点测机构

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN201725009U (zh) * 2010-04-16 2011-01-26 致茂电子(苏州)有限公司 发光二极管晶粒点测装置
CN102360062A (zh) * 2011-08-23 2012-02-22 广东志成华科光电设备有限公司 一种smd led贴片分光机用芯片探测装置
CN102773219A (zh) * 2011-05-10 2012-11-14 久元电子股份有限公司 发光元件检测与分类装置
CN205643616U (zh) * 2016-04-11 2016-10-12 厦门多彩光电子科技有限公司 一种led分光机的点测机构及led分光机

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7007408B2 (en) * 2004-04-28 2006-03-07 Solid State Measurements, Inc. Method and apparatus for removing and/or preventing surface contamination of a probe
CN204514967U (zh) * 2015-04-07 2015-07-29 梅县梅雁旋窑水泥有限公司 一种pcb测试连接器

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN201725009U (zh) * 2010-04-16 2011-01-26 致茂电子(苏州)有限公司 发光二极管晶粒点测装置
CN102773219A (zh) * 2011-05-10 2012-11-14 久元电子股份有限公司 发光元件检测与分类装置
CN102360062A (zh) * 2011-08-23 2012-02-22 广东志成华科光电设备有限公司 一种smd led贴片分光机用芯片探测装置
CN205643616U (zh) * 2016-04-11 2016-10-12 厦门多彩光电子科技有限公司 一种led分光机的点测机构及led分光机

Also Published As

Publication number Publication date
CN105807199A (zh) 2016-07-27

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR101183978B1 (ko) Led 칩 검사용 지그 유닛
CN105807199B (zh) 一种led分光机的点测机构及led分光机
JP2007019237A (ja) 両面発光素子用プロービング装置
CN203054014U (zh) 一种发光二极管的固定装置
TWI638176B (zh) 電測裝置
CN102435419A (zh) 上压式发光二极管测试方案
CN201765257U (zh) 二极管裸芯片电磁铁弹性探针
CN205643616U (zh) 一种led分光机的点测机构及led分光机
CN214278329U (zh) 一种平脚贴片二极管的测试治具
CN216848103U (zh) 一种验电笔自动循检设备
CN104360108A (zh) 一种用于led灯板检测的测试台
CN211527312U (zh) 一种功能测试治具顶针的检测装置
KR20120108852A (ko) Led 칩 검사용 지그 유닛
CN204612757U (zh) 多功能自动测试机
TWI638178B (zh) 電測裝置、電測方法及針座電路結構
CN206596346U (zh) 一种用于led贴片送料装置的检测机构及其led贴片设备
CN203551733U (zh) 发光二极管检测装置
KR200171758Y1 (ko) 에어실린더
CN220855070U (zh) 塑封半导体器件绝缘测试装置
CN114137466B (zh) 一种验电笔自动循检设备
TWI585412B (zh) 探測單元和具有該探測單元的led晶片測試設備
CN219349053U (zh) 微型发光二极管电性测试装置及微型发光二极管检测治具
CN210952869U (zh) 一种铅笔笔芯断裂测试装置
CN218158065U (zh) 一种带吸附功能的找点笔及其形成的焊盘检修装置
CN116359717B (zh) 一种oled面板驱动ic的连续测试装置

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant