CN220855070U - 塑封半导体器件绝缘测试装置 - Google Patents
塑封半导体器件绝缘测试装置 Download PDFInfo
- Publication number
- CN220855070U CN220855070U CN202322158701.5U CN202322158701U CN220855070U CN 220855070 U CN220855070 U CN 220855070U CN 202322158701 U CN202322158701 U CN 202322158701U CN 220855070 U CN220855070 U CN 220855070U
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- semiconductor device
- fixedly connected
- insulation
- packaged semiconductor
- testing
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims abstract description 48
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims abstract description 44
- 238000009413 insulation Methods 0.000 title claims abstract description 34
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 6
- 238000004806 packaging method and process Methods 0.000 claims 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 1
- 230000015556 catabolic process Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 1
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E10/00—Energy generation through renewable energy sources
- Y02E10/50—Photovoltaic [PV] energy
Landscapes
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
Abstract
本实用新型涉及绝缘测试装置技术领域,公开了塑封半导体器件绝缘测试装置,其结构包括测试箱和安装板,测试箱上设置有透明遮挡板、控制器和支撑架,透明遮挡板固定连接在测试箱的表面,控制器固定连接在测试箱顶端的边缘出,支撑架固定连接在测试箱顶端的两侧,支撑架上设置有活动板和固定杆,活动板套在支撑架外表面的一侧,固定杆固定连接在支撑架外表面的另一侧,固定杆的另一端设置有负极接电头,活动板的底部设置有绝缘套杆。本实用新型能够根据塑封半导体器件的厚度对导电柱和接电板的间距进行调节,避免了塑封半导体器件厚度过大或过小而导致导电柱与其出现接触不良的现象,提高了塑封半导体器件测试时的稳定性。
Description
技术领域
本实用新型涉及绝缘测试装置技术领域,具体为塑封半导体器件绝缘测试装置。
背景技术
塑封半导体器件使用时一般直接安装在散热片上,对器件塑封体的基本绝缘要求是塑封体背面、安装孔对器件内部散热片的击穿电压≥DC2000V,因此塑封体绝缘测试是塑封半导体产品生产过程中的一道必备工序。
目前,现有的塑封半导体器件绝缘测试装置不能根据塑封半导体器件的厚度对导电柱和接电板的间距进行调节,塑封半导体器件厚度过大或过小而容易导致导电柱与其出现接触不良的现象,降低了塑封半导体器件测试时的稳定性,而且还不能让操作人员直观的观察出塑封半导体器件的绝缘情况,降低了操作人员在对塑封半导体器件检测时的效率。为此,需要设计新的技术方案给予解决。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供塑封半导体器件绝缘测试装置,解决了背景技术中所提出的问题。
为实现上述目的,本实用新型提供如下技术方案:塑封半导体器件绝缘测试装置,包括测试箱和安装板,所述测试箱上设置有透明遮挡板、控制器和支撑架,所述透明遮挡板固定连接在所述测试箱的表面,所述控制器固定连接在所述测试箱顶端的边缘出,所述支撑架固定连接在所述测试箱顶端的两侧,所述支撑架上设置有活动板和固定杆,所述活动板套在所述支撑架外表面的一侧,所述固定杆固定连接在所述支撑架外表面的另一侧,所述固定杆的另一端设置有负极接电头,所述活动板的底部设置有绝缘套杆,所述绝缘套杆通过复位弹簧连接有导电柱;
所述安装板上设置有接电板、插接头和衔接座,所述接电板固定连接在所述安装板上表面的一侧,所述接电头固定连接在所述安装板上表面的另一侧,所述衔接座固定连接在所述安装板的底部,所述衔接座的内部螺纹连接有检测灯泡。
作为本申请技术方案的一可选方案,所述导电柱的一端活动连接在所述绝缘套杆的内壁,所述绝缘套杆的另一端固定连接在所述活动板的底部。
通过采用上述技术方案,方便让导电柱在绝缘套杆的内部进行伸缩。
作为本申请技术方案的一可选方案,所述复位弹簧的一端抵置在所述绝缘套杆的内壁,所述复位弹簧的另一端抵置在所述导电柱的一端。
通过采用上述技术方案,方便让复位弹簧对导电柱产生反弹力,以至于让导电柱抵置在接电板上。
作为本申请技术方案的一可选方案,所述负极接电头的一端固定连接在所述固定杆的另一端,所述负极接电头的另一端插接在所述插接头的内部。
通过采用上述技术方案,方便让负极接电头插入到插接头的内部,以至于进行通电。
作为本申请技术方案的一可选方案,所述导电柱和负极接电头均通过导线与所述控制器电性连接。
通过采用上述技术方案,方便让控制器控制导电柱和负极接电头进行通电。
作为本申请技术方案的一可选方案,所述接电板、衔接座均通过导线与所述衔接座电性连接。
通过采用上述技术方案,方便让接电板和衔接座与衔接座进行通电。
与现有技术相比,本申请技术方案的有益效果如下:
本实用新型通过透明遮挡板、控制器、活动板、固定杆、负极接电头、绝缘套杆、复位弹簧、导电柱、安装板、接电板、插接头、衔接座和检测灯泡的结合,能够根据塑封半导体器件的厚度对导电柱和接电板的间距进行调节,避免了塑封半导体器件厚度过大或过小而导致导电柱与其出现接触不良的现象,提高了塑封半导体器件测试时的稳定性;
本方案中还能让操作人员直观的观察出塑封半导体器件的绝缘情况,以至于提升了操作人员在对塑封半导体器件检测时的效率。
附图说明
通过阅读参照以下附图对非限制性实施例所作的详细描述,本实用新型的其它特征、目的和优点将会变得更明显:
图1为本实用新型塑封半导体器件绝缘测试装置的结构示意图;
图2为本实用新型塑封半导体器件绝缘测试装置的剖视图;
图3为本实用新型塑封半导体器件绝缘测试装置的绝缘套杆剖视图。
图中:1、测试箱;11、透明遮挡板;12、控制器;13、支撑架;14、活动板;15、固定杆;16、负极接电头;17、绝缘套杆;18、复位弹簧;19、导电柱;2、安装板;21、接电板;22、插接头;23、衔接座;24、检测灯泡。
具体实施方式
请参阅图1-图3,本实用新型提供一种技术方案:塑封半导体器件绝缘测试装置,包括测试箱1和安装板2,所述测试箱1上设置有透明遮挡板11、控制器12和支撑架13,所述透明遮挡板11固定连接在所述测试箱1的表面,所述控制器12固定连接在所述测试箱1顶端的边缘出,所述支撑架13固定连接在所述测试箱1顶端的两侧,所述支撑架13上设置有活动板14和固定杆15,所述活动板14套在所述支撑架13外表面的一侧,所述固定杆15固定连接在所述支撑架13外表面的另一侧,所述固定杆15的另一端设置有负极接电头16,所述活动板14的底部设置有绝缘套杆17,所述绝缘套杆17通过复位弹簧18连接有导电柱19;
在这种技术方案中,方便让活动板14在支撑架13上移动,以至于达到调节导电柱19的位置,让复位弹簧18对导电柱19产生反弹力,以至于让导电柱19抵置在塑封半导体器件的表面。
在有的技术方案中,所述安装板2上设置有接电板21、插接头22和衔接座23,所述接电板21固定连接在所述安装板2上表面的一侧,所述接电头固定连接在所述安装板2上表面的另一侧,所述衔接座23固定连接在所述安装板2的底部,所述衔接座23的内部螺纹连接有检测灯泡24。
在这种技术方案中,方便让操作人员观察检测灯泡24的是否能照明而判断塑封半导体器件的绝缘性。
工作原理:当塑封半导体器件进行测试的时候,首先将塑封半导体器件放置在接电板21上,再让活动板14在支撑架13上移动,从而让导电柱19移动到塑封半导体器件的位置,再将导电柱19松开,这时复位弹簧18会对其产生反弹力,以至于让塑封半导体器件与导电柱19接触,再由控制器12控制接电板21和负极接电头16通电,当塑封半导体器件出现漏电时,衔接座23上的检测灯泡24会进行发光,当塑封半导体器件不漏电的时候检测灯泡24不会发光。
需说明的是,本实用新型塑封半导体器件绝缘测试装置部件均为通用标准件或本领域技术人员知晓的部件,其结构和原理都为本技术人员均可通过技术手册得知或通过常规实验方法获知,在本装置空闲处,将上述中所有电器件,其指代动力元件、电器件以及适配的监控电脑和电源通过导线进行连接,具体连接手段,应参考下述工作原理中,各电器件之间先后工作顺序完成电性连接,其详细连接手段,为本领域公知技术,下述主要介绍工作原理以及过程,不再对电气控制做说明。
Claims (6)
1.塑封半导体器件绝缘测试装置,包括测试箱(1)和安装板(2),其特征在于:所述测试箱(1)上设置有透明遮挡板(11)、控制器(12)和支撑架(13),所述透明遮挡板(11)固定连接在所述测试箱(1)的表面,所述控制器(12)固定连接在所述测试箱(1)顶端的边缘处,所述支撑架(13)固定连接在所述测试箱(1)顶端的两侧,所述支撑架(13)上设置有活动板(14)和固定杆(15),所述活动板(14)套在所述支撑架(13)外表面的一侧,所述固定杆(15)固定连接在所述支撑架(13)外表面的另一侧,所述固定杆(15)的另一端设置有负极接电头(16),所述活动板(14)的底部设置有绝缘套杆(17),所述绝缘套杆(17)通过复位弹簧(18)连接有导电柱(19);
所述安装板(2)上设置有接电板(21)、插接头(22)和衔接座(23),所述接电板(21)固定连接在所述安装板(2)上表面的一侧,所述接电头固定连接在所述安装板(2)上表面的另一侧,所述衔接座(23)固定连接在所述安装板(2)的底部,所述衔接座(23)的内部螺纹连接有检测灯泡(24)。
2.根据权利要求1所述的塑封半导体器件绝缘测试装置,其特征在于:所述导电柱(19)的一端活动连接在所述绝缘套杆(17)的内壁,所述绝缘套杆(17)的另一端固定连接在所述活动板(14)的底部。
3.根据权利要求1所述的塑封半导体器件绝缘测试装置,其特征在于:所述复位弹簧(18)的一端抵置在所述绝缘套杆(17)的内壁,所述复位弹簧(18)的另一端抵置在所述导电柱(19)的一端。
4.根据权利要求1所述的塑封半导体器件绝缘测试装置,其特征在于:所述负极接电头(16)的一端固定连接在所述固定杆(15)的另一端,所述负极接电头(16)的另一端插接在所述插接头(22)的内部。
5.根据权利要求1所述的塑封半导体器件绝缘测试装置,其特征在于:所述导电柱(19)和负极接电头(16)均通过导线与所述控制器(12)电性连接。
6.根据权利要求1所述的塑封半导体器件绝缘测试装置,其特征在于:所述接电板(21)、衔接座(23)均通过导线与所述衔接座(23)电性连接。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202322158701.5U CN220855070U (zh) | 2023-08-11 | 2023-08-11 | 塑封半导体器件绝缘测试装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202322158701.5U CN220855070U (zh) | 2023-08-11 | 2023-08-11 | 塑封半导体器件绝缘测试装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN220855070U true CN220855070U (zh) | 2024-04-26 |
Family
ID=90747529
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN202322158701.5U Active CN220855070U (zh) | 2023-08-11 | 2023-08-11 | 塑封半导体器件绝缘测试装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN220855070U (zh) |
-
2023
- 2023-08-11 CN CN202322158701.5U patent/CN220855070U/zh active Active
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN205374666U (zh) | 一种带左右切换功能的高效耐压测试设备 | |
CN104316878B (zh) | 塑壳电池极柱与盖板间绝缘检测装置及其检测工装 | |
CN220855070U (zh) | 塑封半导体器件绝缘测试装置 | |
CN206557360U (zh) | 一种检测灯具老化的装置 | |
CN209689857U (zh) | 一种耦合器分线盒气密性测试工装治具 | |
CN113176481A (zh) | 一种绝缘件试验装置和采用其对绝缘件进行检测的方法 | |
CN212568846U (zh) | 一种pcb智能测试设备 | |
CN209570685U (zh) | 一种灯泡质检装置 | |
CN103163461A (zh) | 电池短路试验装置 | |
CN107478873A (zh) | 一种使用探针保护系统的连接器电测设备 | |
CN208316683U (zh) | 一种光伏组件监测装置 | |
CN203287172U (zh) | 一种用于检验长弧灯管漏气的检测装置 | |
CN105807199B (zh) | 一种led分光机的点测机构及led分光机 | |
CN104360108A (zh) | 一种用于led灯板检测的测试台 | |
CN112881898A (zh) | 一种集成电路高温老化测试装置 | |
CN208953622U (zh) | 一种蓄电池充电器检测装置 | |
CN203758722U (zh) | 一种用于半导体激光器测试的夹具 | |
CN204214895U (zh) | 一种用于led灯板检测的测试台 | |
CN210401602U (zh) | 电池电芯测试机 | |
CN203705601U (zh) | 一种遥控器电路板检测器 | |
CN203551733U (zh) | 发光二极管检测装置 | |
CN220829564U (zh) | 贴片电阻绝缘耐压量测实验装置 | |
CN102013197A (zh) | 一种检测物体导电能力的测试仪 | |
CN220490953U (zh) | 一种新型导通仪 | |
CN205303914U (zh) | 一种电连接器焊台 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
GR01 | Patent grant | ||
GR01 | Patent grant |