CN105738798A - 用于测试磁卡电路的测试方法、设备和系统 - Google Patents

Abstract

本发明提供一种用于测试磁卡电路的测试方法、设备和系统，解决磁卡模块电路的测试效率不高的问题。本发明涉及硬件测试，特别是磁卡模块电路的测试。用于测试磁卡电路测试系统包括用于测试磁卡电路的测试设备、包含磁卡电路的被测设备；所述用于测试磁卡电路的测试设备包括恒定电压产生模块、结果判断模块；恒定电压产生模块用于产生恒定电压值；所述结果判断模块用于判断接收到的数值信号与恒定电压值是否相等，若相等则被测设备的磁卡电路正常，否则被测设备的磁卡电路异常；所述包含磁卡电路的被测设备包括磁卡电路、AD转换模块、MCU；所述磁卡电路用于接收电压模拟信号，并将电压模拟信号放大；所述AD转换模块将放大后的模拟信号转换为数字信号；所述MCU将数字信号发送到测试设备的结果判断模块。

Description

用于测试磁卡电路的测试方法、设备和系统

技术领域

本发明涉及硬件测试，特别是磁卡模块电路的测试。

背景技术

现有技术中主板上的磁卡模块电路的测试方法：测试设备产生类似于磁卡信号的小信号并送入被测设备的磁卡电路，由其放大后输送到MCU，MCU读取并解析该信号，来并将解析结果返回给测试设备，测试设备将原定义的信息与收到的解析信息进行对比，从而判断被测的磁卡模块电路是否正常，此测试方案如图1a所示。

此方案对产生磁卡信号的测试设备要求比较高，如果输出信号的占空比变化较大，即偏离原定义信号，被测设备接收到信号，会产生误判；因为磁卡信号输入为小模拟信号，即存在容易受干扰的现象，也会使输入到MCU的信号发生变化，即造成最终的误判。即此测试方案存在对测试设备要求较高、设计难度较大、测试耗时较长、因为外界环境的干扰而导致测试通过率不高等问题。

发明内容

以下给出对一个或更多个方面的简化概述以力图提供对此类方面的基本理解。此概述不是所有构想到的方面的详尽综览，并且既非旨在指认出所有方面的关键性或决定性要素亦非试图界定任何或所有方面的范围。其唯一的目的是要以简化形式给出一个或更多个方面的一些概念以作为稍后给出的更加具体的说明之序。

本发明提供一种磁卡电路测试设备和系统解决磁卡模块电路的测试效率不高的问题。

为实现上述目的发明人提供一种用于测试磁卡电路的测试设备，包括恒定电压产生模块、结果判断模块；

恒定电压产生模块连接被测设备的磁卡电路，被测试设备的MCU连接结果判定模块；

恒定电压产生模块用于产生恒定电压的模拟信号；

结果判断模块用于判断从被测试设备的MCU获得的数值信号与恒定电压值是否相等，若相等则被测设备的磁卡电路正常，否则被测设备的磁卡电路异常。

发明人还提供一种用于测试磁卡电路测试系统，包括用于测试磁卡电路的测试设备、包含磁卡电路的被测设备；

所述用于测试磁卡电路的测试设备包括恒定电压产生模块、结果判断模块；

恒定电压产生模块用于产生恒定电压的模拟信号；

所述结果判断模块用于判断从被测试设备的MCU获得的数值信号与恒定电压值是否相等，若相等则被测设备的磁卡电路正常，否则被测设备的磁卡电路异常；

所述包含磁卡电路的被测设备包括磁卡电路、AD转换模块、MCU；

所述磁卡电路用于接收电压模拟信号，并将电压模拟信号放大；

所述AD转换模块将放大后的电压模拟信号转换为数字信号；

所述MCU将数字信号发送到测试设备的结果判断模块；

恒定电压产生模块连接磁卡电路，磁卡电路连接AD转换模块，被测试设备的AD转换模块连接结果判定模块。

进一步，所述包含磁卡电路的被测设备为POS机。

区别于现有技术，上述技术方案中通过被测设备采集电压模拟信号并进行解析，整个测试过程耗时更少，从而加快测试速度。另一方面，现有技术中测试设备需要产生磁卡信号，磁卡信号是小模拟信号，容易受环境的干扰而影响测试结果，解析磁卡信号速度慢；而本发明中测试设备通过相关电路产生电压，和产生磁卡信号的电路相比，电路结构简单，输出的电压模拟信号不容易受到干扰而影响测试结果，测试效率较高。为能达成前述及相关目的，这一个或更多个方面包括在下文中充分描述并在所附权利要求中特别指出的特征。以下描述和附图详细阐述了这一个或更多个方面的某些说明性特征。但是，这些特征仅仅是指示了可采用各种方面的原理的各种方式中的若干种，并且本描述旨在涵盖所有此类方面及其等效方面。

附图说明

以下将结合附图来描述所公开的方面，提供附图是为了说明而非限定所公开的方面，附图中相似的标号标示相似要素，并且在其中：

图1a为背景技术所述现有技术实施方式示意图；

图1b为图1中11所标识部分的放大示意图；

图1c为图1中12所标识部分的放大示意图；图1d为图1中13所标识部分的放大示意图；

图2a为本发明具体实施方式示意图(测试恒定电压)；

图2b为本发明具体实施方式示意图(测试正弦波)；

图3为本发明具体实施方式模块示意图。

附图标记说明：

10、测试设备；

11、部位标识；

12、部位标识；

13、部位标识；

110、结果判断模块；

120、恒定电压产生模块；

20、被测设备；

210、磁卡电路；

220、AD转换模块；

230、MCU。

具体实施方式

为详细说明技术方案的技术内容、构造特征、所实现目的及效果，以下结合具体实施例并配合附图详予说明。在以下描述中，出于解释目的阐述了众多的具体细节以提供对一个或更多个方面的透彻理解。但是显而易见的是，没有这些具体细节也可实践此类方面。

首字母缩写列表:

MCU:微控制单元(MicrocontrollerUnit；MCU)，又称单片微型计算机(SingleChipMicrocomputer)或者单片机；

AD:模数转换,将模拟信号变成数字信。

为了描述方便将用于测试磁卡电路的测试设备简称为测试设备，将包含磁卡电路的被测设备简称为被测设备。可以理解的是本文中，术语“模块”，也可称为模块电路或电路，其是由相应的硬件结构实现的，例如恒定电压产生模块可以是稳压源，结果判定模块是有相应的包含寄存器的逻辑电路实现等。

如图3所示，发明人提供一种测试设备10，包括恒定电压产生模块、结果判断模块；恒定电压产生模块连接被测设备的磁卡电路，被测试设备的MCU连接结果判定模块；

恒定电压产生模块用于产生恒定电压的模拟信号；结果判断模块用于判断从被测试设备的MCU获得的数值信号与恒定电压值是否相等，若相等则被测设备的磁卡电路正常，否则被测设备的磁卡电路异常。

测试设备用于测试包含磁卡电路的被测设备；被测设备的主板上包括磁卡电路和MCU，MCU具有AD转换模块，AD转换模块将电压的模拟信号转换为数字信号。上述方案中由测试设备产生一个恒定的电压，该恒定电压输送到被测设备的磁卡电路，该恒定电压经磁卡电路放大后，送入测试设备的MCU的AD转换模块，AD转换模块将电压的模拟信号转换为数字信号，获得该恒定电压的电压值，被测设备的MCU获得该电压值后，将该电压值返回测试设备，测试设备将接收到的电压值与测试设备产生的恒定电压的电压值做比较，若相等，则被测设备的磁卡电路正常，若不相等，则被测设备的磁卡电路异常。

小模拟信号也被称为模拟小信号或小信号。

在一些实施例中，被测设备在接收到测试设备的测试开始指令后，进入磁卡电路测试状态，在该状态时，测试设备和被测设备通过上述步骤执行测试。

通过被测设备采集电压模拟信号并进行解析，整个测试过程耗时更少，从而加快测试速度。另一方面，现有技术中测试设备需要产生磁卡信号，磁卡信号是小模拟信号，容易受环境的干扰而影响测试结果，而本发明中测试设备通过相关电路产生电压，和产生磁卡信号的电路相比，电路结构简单，输出的电压信号不容易受到干扰而影响测试结果，测试效率较高。

如图3所示，包含磁卡电路的被测设备20包括磁卡电路210、AD转换模块220、MCU230；

所述磁卡电路210用于接收电压模拟信号，并将电压模拟信号放大；

所述AD转换模块220将放大后的电压模拟信号转换为数字信号；

所述MCU230将数字信号发送到测试设备。

包含磁卡电路的被测设备可以为POS机。

如图3所示，用于测试磁卡电路的测试系统包括用于测试磁卡电路的测试设备、包含磁卡电路的被测设备；

所述测试设备包括恒定电压产生模块、结果判断模块；

恒定电压产生模块用于产生恒定电压的模拟信号；

所述结果判断模块用于判断MCU获得的数值信号与恒定电压值是否相等，若相等则被测设备的磁卡电路正常，否则被测设备的磁卡电路异常；

所述被测设备20包括磁卡电路、AD转换模块、MCU；

所述磁卡电路用于接收电压模拟信号，并将电压模拟信号放大；

所述AD转换模块将放大后的电压模拟信号转换为数字信号；

所述MCU将数字信号发送到测试设备的结果判断模块。

恒定电压产生模块连接磁卡电路，磁卡电路连接AD转换模块，MCU包括AD转换模块，MCU连接结果判定模块。

该系统通过被测设备采集电压模拟信号并进行解析，整个测试过程耗时更少，从而加快测试速度。另一方面，现有技术中测试设备需要产生磁卡信号，磁卡信号是小模拟信号，容易受环境的干扰而影响测试结果，而本发明中测试设备通过相关电路产生电压，和产生磁卡信号的电路相比，电路结构简单，输出的电压信号不容易受到干扰而影响测试结果，测试效率较高。

请参阅图2a，发明人使用上述设备或系统的磁卡电路测试，包括步骤：

由测试设备产生一个恒定电压的模拟信号；

将该恒定电压的模拟信号发送到被测设备的磁卡电路；

被测设备的磁卡电路将所述模拟信号放大；

通过AD将放大后的模拟信号转换为数字信号，

被测设备将所述数字信号发送给测试设备，

测试设备判断接收到的数字信号和恒定电压值是否相等，若相等则被测设备的磁卡电路正常，否则被测设备的磁卡电路异常。

请参阅图2b，发明人使用上述设备或系统的磁卡电路测试，包括步骤：

由测试设备产生特定频率的正弦波，；

将该正弦波信号发送到被测设备的磁卡电路；

被测设备的磁卡电路将所述正弦波信号放大，

通过AD将放大后的正弦波信号转换为数字信号，解析获得正弦波的频率和幅值；

被测设备将所述频率和幅值发送到测试设备；

测试设备判断接收到的频率和幅值与产生的正弦波的频率和幅值是否相等，若相等则被测设备的的磁卡电路正常，否则被测设备的磁卡电路异常。

需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者终端设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者终端设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括……”或“包含……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者终端设备中还存在另外的要素。此外，在本文中，“大于”、“小于”、“超过”等理解为不包括本数；“以上”、“以下”、“以内”等理解为包括本数。

尽管已经对上述各实施例进行了描述，但本领域内的技术人员一旦得知了基本创造性概念，则可对这些实施例做出另外的变更和修改，所以以上所述仅为本发明的实施例，并非因此限制本发明的专利保护范围，凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本发明的专利保护范围之内。

Claims (5)

1.用于测试磁卡电路的测试设备，其特征在于，包括恒定电压产生模块、结果判断模块；

恒定电压产生模块连接被测设备的磁卡电路，被测试设备的MCU连接结果判定模块；

恒定电压产生模块用于产生恒定电压的模拟信号；

结果判断模块用于判断从被测试设备的MCU获得的数值信号与恒定电压值是否相等，若相等则被测设备的磁卡电路正常，否则被测设备的磁卡电路异常。

2.用于测试磁卡电路测试系统，其特征在于，包括用于测试磁卡电路的测试设备、包含磁卡电路的被测设备；

所述用于测试磁卡电路的测试设备包括恒定电压产生模块、结果判断模块；

恒定电压产生模块用于产生恒定电压的模拟信号；

所述结果判断模块用于判断从被测试设备的MCU获得的数值信号与恒定电压值是否相等，若相等则被测设备的磁卡电路正常，否则被测设备的磁卡电路异常；

所述包含磁卡电路的被测设备包括磁卡电路、AD转换模块、MCU；

所述磁卡电路用于接收电压模拟信号，并将电压模拟信号放大；

所述AD转换模块将放大后的电压模拟信号转换为数字信号；

所述MCU将数字信号发送到测试设备的结果判断模块；

恒定电压产生模块连接磁卡电路，磁卡电路连接AD转换模块，MCU包括AD转换模块，MCU连接结果判定模块。

3.根据权利要求2所述的测试系统，其特征在于，所述包含磁卡电路的被测设备为POS机。

4.磁卡测试方法，其特征在于，包括步骤：

由测试设备产生一个恒定电压的模拟信号；

将该恒定电压的模拟信号发送到被测设备的磁卡电路；

被测设备的磁卡电路将所述模拟信号放大；

通过AD将放大后的模拟信号转换为数字信号，

被测设备将所述数字信号发送给测试设备，

测试设备判断接收到的数字信号和恒定电压值是否相等，若相等则被测设备的磁卡电路正常，否则被测设备的磁卡电路异常。

5.根据权利要求4所述的磁卡测试方法，其特征在于，所述包含磁卡电路的被测设备为POS机。