CN105719587B - 液晶面板检测系统及方法 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种液晶面板检测系统，包括时序控制芯片，所述时序控制芯片包括用于接收锁存信号的处理单元、与所述处理单元相连的侦测控制单元及与所述侦测控制单元相连的点对点传输单元，所述侦测控制单元实时侦测所述点对点传输单元的状态，并根据侦测结果发出控制信号至所述处理单元，所述处理单元根据接收到的控制信号使得所述时序控制芯片进行时序控制信号的传送，并开始传输正常显示的RGB数据，所述侦测控制单元输出的控制信号的优先级大于所述锁存信号的优先级。本发明还公开了一种液晶面板检测方法。本发明能够加快产品设计验证速度，加快产品上市时间，增加产品竞争力，提高批量生产异常分析速度，节约工时、产能，且降低成本。

Description

液晶面板检测系统及方法
技术领域
本发明涉及显示驱动技术领域，尤其是涉及一种基于点对点传输结构的液晶面板检测系统及方法。
背景技术
由于液晶面板朝着高解析度、高刷新率、高比特数发展，时序控制芯片(TimingControl,TCON IC)与驱动芯片(Driver IC)之间传输的数据大幅增长，传统的TCON IC与Driver IC之间采用mini-LVDS(mini-Low Voltage Differential Signal，微型低压差分信号)进行数据传输已经无法满足应用。
在现有技术中，往往采用更高速率的数据信号来解决传统时钟信号与数据信号分离引起的时钟相位差而导致的信号抓取错误的问题，此时，多采用内嵌时钟信号来避免相位差的问题；更高速率的数据信号多为点对点(point to point)传输，point to point信号时钟内嵌使得其需要在传递正常显示信号之前先做时钟信号的传输，以实现Driver IC接收端的内部解码数据信号的时钟信号与TCON IC发送端的内部编码时钟信号保持一致。
如图1所示，图1为现有技术中point to point信号时序图。TCON IC与Driver IC之间的point to point信号在正常显示信号之前先进行正常时钟信号的传输，当DriverIC正常锁存时钟信号后，Driver IC的Lock锁存信号为高电平，当Driver IC未能正常锁存时钟信号时，Driver IC的Lock锁存信号为低电平；若TCON IC接收到Lock锁存信号为低电平，则持续时钟训练(Clock Training)。
如图2所示，现有的液晶面板拓扑结构(panel topology)常采用一颗TCON IC搭配多颗Driver IC的架构进行连接；请同时参阅图3，TCON IC在第一阶段PhaseⅠ进行clockTraining，第二阶段PhaseⅡ进行控制信号传送，第三阶段PhaseⅢ开始传递正常显示的RGB数据；在PhaseⅠ若Driver IC接收到clock Training并能正常锁存clock时钟信号，则Driver IC的Lock pin(锁存引脚)处于高电平状态，由于上拉电阻的关系，TCON IC的Lockpin接收到高电平；若Driver IC不能接收到clock Training或即使正常接收到clockTraining但并不能正常锁存clock时钟信号，则Driver IC将Lock拉低，TCON IC Lock pin接收到低电平，则TCON IC持续进行clock Training，无法进入下一个阶段。
液晶面板在设计验证阶段或批量生产过程中，若其中一颗Driver IC接收异常或Driver IC本身不良，则由于TCON IC持续clock Training整个液晶面板显示异常；液晶面板整体显示异常则无法快速确认TCON IC异常或Driver IC异常，即使确认Driver IC异常亦无法定位具体异常的Driver IC，因此，增加了设计调试的复杂程度，并且增加了批量生产异常分析所需的时间。
发明内容
为克服现有技术的不足，提供一种能够避免面板整体显示异常、加快设计验证速度且减少批量生产分析时间的液晶面板检测系统及方法。
本发明的目的是通过以下技术方案来实现的：一种液晶面板检测系统，包括时序控制芯片，所述时序控制芯片包括用于接收锁存信号的处理单元、与所述处理单元相连的侦测控制单元及与所述侦测控制单元相连的点对点传输单元，所述侦测控制单元实时侦测所述点对点传输单元的状态，并根据侦测结果发出控制信号至所述处理单元，所述处理单元根据接收到的控制信号使得所述时序控制芯片进行时序控制信号的传送，并开始传输正常显示的RGB数据，所述侦测控制单元输出的控制信号的优先级大于所述锁存信号的优先级。
所述侦测控制单元为计时器，当所述时序控制芯片进行时钟训练时，所述计时器开始计时。
当所述计时器判断时钟训练的时间大于预先设定的时间时，发出超出设定时间的控制信号至所述处理单元，当所述处理单元接收到所述计时器发出的超时信号时，强制使得所述时序控制芯片进行时序控制信号的传送，并开始传输正常显示的RGB数据。
所述侦测控制单元为计数器，当所述时序控制芯片进行时钟训练时，所述计数器开始计数。
当所述计数器判断时钟训练的时间大于预先设定的周期时，发出超出设定周期的控制信号至所述处理单元，当所述处理单元接收到所述计数器发出的控制信号时，强制使得所述时序控制芯片进行时序控制信号的传送，并开始传输正常显示的RGB数据。
一种液晶面板检测方法，包括以下步骤：
时序控制芯片进行时钟训练；
判断是否所有的驱动芯片均能正常锁存时钟信号，如果是，则锁存信号处于高电平，进入下一步；
所述时序控制芯片进行时序控制信号的传送；
所述时序控制芯片开始传输正常显示的RGB数据。
如果判断不是所有的驱动芯片均能正常锁存时钟信号，则继续进行时钟训练，直至时钟训练的时间超过预先设定的时间或时钟训练的周期大于预先设定的周期时，所述时序控制芯片不再处理锁存信号，所述时序控制芯片进行时序控制信号的传送，并开始传输正常显示的RGB数据。
本发明的有益效果是：加快产品设计验证速度，加快产品上市时间，增加产品竞争力，提高批量生产异常分析速度，节约工时、产能，且降低成本。
附图说明
图1为现有技术中point to point信号时序图；
图2为现有技术中的的面板拓扑结构；
图3为现有技术中液晶面板点对点传输结构的传输流程图；
图4为本发明液晶面板检测系统的系统结构图；
图5为本发明液晶面板检测系统一种实施方式的系统结构图；
图6为本发明液晶面板检测系统另一实施方式的系统结构图；
图7为本发明液晶面板检测方法的流程图。
具体实施方式
下面，将结合附图对本发明各实施例作详细介绍。
请参阅图4，图4为本发明液晶面板检测系统的系统结构图。本发明液晶面板检测系统包括时序控制芯片，时序控制芯片包括用于接收锁存信号的处理单元、与处理单元相连的侦测控制单元及与侦测控制单元相连的点对点传输单元。
侦测控制单元实时侦测点对点传输单元的状态，并根据侦测结果发出控制信号至处理单元，处理单元根据接收到的控制信号使得时序控制芯片进行时序控制信号的传送，并开始传输正常显示的RGB数据。其中，侦测控制单元输出的控制信号的优先级大于锁存信号的优先级。
请参阅图5，图5为本发明液晶面板检测系统一种实施方式的系统结构图。其中，侦测控制单元可为计时器，持续侦测点对点传输单元的状态，当时序控制芯片进入第一阶段PhaseⅠ进行时钟训练时，计时器开始计时，当计时器判断时钟训练的时间大于预先设定的时间T时，计时器发出超出设定时间的控制信号至处理单元，当处理单元接收到计时器发出的超时信号时，强制使得时序控制芯片进入第二阶段PhaseⅡ与第三阶段PhaseⅢ，即进行时序控制信号的传送，并开始传输正常显示的RGB数据；此时，能够正常锁存时钟信号的驱动芯片，可以正常接收时序控制芯片发出的数据信号，除了不能正常锁存时钟信号的驱动芯片对应区域外的液晶面板显示正常。
请参阅图6，图6为本发明液晶面板检测系统另一种实施方式的系统结构图。其中，侦测控制单元可为计数器，持续侦测点对点传输单元的状态，当时序控制芯片进入第一阶段PhaseⅠ进行时钟训练时，计数器开始计数，当计数器判断时钟训练的时间大于预先设定的周期N时，计数器发出超出设定周期的控制信号至处理单元，当处理单元接收到计数器发出的控制信号时，强制使得时序控制芯片进入第二阶段PhaseⅡ与第三阶段PhaseⅢ，即进行时序控制信号的传送，并开始传输正常显示的RGB数据；此时，能够正常锁存时钟信号的驱动芯片，可以正常接收时序控制芯片发出的数据信号，除了不能正常锁存时钟信号的驱动芯片对应区域外的液晶面板显示正常。
请参阅图7，图7为本发明液晶面板检测方法的流程图。本发明液晶面板检测方法包括以下步骤：
步骤一，时序控制芯片进入第一阶段PhaseⅠ进行时钟训练。
步骤二，判断是否所有的驱动芯片均能正常锁存时钟信号，如果是，则锁存信号处于高电平，进入下一步；如果否，则转入步骤一，继续进行时钟训练，直至时钟训练的时间超过预先设定的时间T或时钟训练的周期大于预先设定的周期N时，时序控制芯片不再处理锁存信号，直接进入下一步。
步骤三，时序控制芯片进入第二阶段PhaseⅡ，进行时序控制信号的传送。
步骤四，时序控制芯片进入第三阶段PhaseⅢ，开始传输正常显示的RGB数据。
本发明液晶面板检测系统及方法通过改变点对点传输结构的流程，避免了液晶面板整体显示异常的情况，加快了设计验证的速度且减少了批量生产分析时间，节约了工时和产能，降低了成本，增加了产品竞争力。

Claims (10)

1.一种液晶面板检测系统，其特征在于，所述液晶面板检测系统包括时序控制芯片，所述时序控制芯片包括用于接收锁存信号的处理单元、与所述处理单元相连的侦测控制单元及与所述侦测控制单元相连的点对点传输单元，所述侦测控制单元实时侦测所述点对点传输单元的状态，并根据判断是否所有的驱动芯片均能正常锁存时钟信号及所述时序控制芯片进行时钟训练的时间与预先设定值进行比较后的侦测结果发出控制信号至所述处理单元，所述处理单元根据接收到的控制信号使得所述时序控制芯片进行时序控制信号的传送，并开始传输正常显示的RGB数据至液晶面板显示单元，所述侦测控制单元输出的控制信号的优先级大于所述锁存信号的优先级；其中，在时钟训练的时间超过预先设定值之后，所述时序控制芯片对时钟信号不再进行锁存，且所述时序控制芯片被强制进行时序控制信号的传送，并开始传输正常显示的RGB数据。
2.根据权利要求1所述的液晶面板检测系统，其特征在于，所述侦测控制单元为计时器，当所述时序控制芯片进行时钟训练时，所述计时器开始计时。
3.根据权利要求2所述的液晶面板检测系统，其特征在于，当所述计时器判断时钟训练的时间大于预先设定的时间时，发出超出设定时间的控制信号至所述处理单元，当所述处理单元接收到所述计时器发出的超时信号时，强制使得所述时序控制芯片进行时序控制信号的传送，并开始传输正常显示的RGB数据。
4.根据权利要求1所述的液晶面板检测系统，其特征在于，所述侦测控制单元为计数器，当所述时序控制芯片进行时钟训练时，所述计数器开始计数。
5.根据权利要求4所述的液晶面板检测系统，其特征在于，当所述计数器判断时钟训练的时间大于预先设定的周期时，发出超出设定周期的控制信号至所述处理单元，当所述处理单元接收到所述计数器发出的控制信号时，强制使得所述时序控制芯片进行时序控制信号的传送，并开始传输正常显示的RGB数据。
6.一种液晶面板检测方法，包括以下步骤：
时序控制芯片进行时钟训练；
时序控制芯片的侦测控制单元判断是否所有的驱动芯片均能正常锁存时钟信号，并根据所述时序控制芯片进行时钟训练的时间与预先设定值进行比较后的侦测结果发出控制信号至处理单元，；
所述时序控制芯片进行时序控制信号的传送；
所述时序控制芯片开始传输正常显示的RGB数据；
其中，在时钟训练的时间超过预先设定值之后，所述时序控制芯片对时钟信号不再进行锁存，且所述时序控制芯片被强制进行时序控制信号的传送，并开始传输正常显示的RGB数据。
7.根据权利要求6所述的液晶面板检测方法，其特征在于，所述侦测控制单元为计时器，当所述时序控制芯片进行时钟训练时，所述计时器开始计时。
8.根据权利要求7所述的液晶面板检测方法，其特征在于，当所述计时器判断时钟训练的时间大于预先设定的时间时，发出超出设定时间的控制信号至所述处理单元，当所述处理单元接收到所述计时器发出的超时信号时，强制使得所述时序控制芯片进行时序控制信号的传送，并开始传输正常显示的RGB数据。
9.根据权利要求6所述的液晶面板检测方法，其特征在于，所述侦测控制单元为计数器，当所述时序控制芯片进行时钟训练时，所述计数器开始计数。
10.根据权利要求9所述的液晶面板检测方法，其特征在于，当所述计数器判断时钟训练的时间大于预先设定的周期时，发出超出设定周期的控制信号至所述处理单元，当所述处理单元接收到所述计数器发出的控制信号时，强制使得所述时序控制芯片进行时序控制信号的传送，并开始传输正常显示的RGB数据。
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