CN103389455A

CN103389455A - 驱动芯片的检测系统及检测方法

Info

Publication number: CN103389455A
Application number: CN2013103463975A
Authority: CN
Inventors: 蒋晔菁
Original assignee: AU Optronics Suzhou Corp Ltd; AU Optronics Corp
Current assignee: AU Optronics Suzhou Corp Ltd; AU Optronics Corp
Priority date: 2013-08-09
Filing date: 2013-08-09
Publication date: 2013-11-13
Anticipated expiration: 2033-08-09
Also published as: CN103389455B; TWI527004B; TW201506870A

Abstract

一种驱动芯片的检测系统及检测方法，应用于显示器。显示器包含多个驱动芯片。检测系统包含多个开关元件、多个侦测单元及处理单元，且驱动芯片用以透过开关元件接收控制信号。每一侦测单元用以接收驱动芯片根据控制信号产生的反馈信号，并根据反馈信号产生侦测信号。处理单元用以自侦测单元接收侦测信号，并根据侦测信号判断驱动芯片是否正常动作。

Description

驱动芯片的检测系统及检测方法

技术领域

本发明是关于一种检测系统及检测方法，且特别是关于一种应用于驱动芯片的检测系统及检测方法。

背景技术

近年来，显示器已成为现今消费电子产品不可或缺的元件之一。显示器除了显示面板之外，通常还包含了多数个驱动芯片以驱动显示面板。一般而言，这些驱动芯片彼此是以串联方式连接，当第一颗驱动芯片接收信号后，会将信号传输至下一颗驱动芯片，以此类推，借此使上述驱动芯片依序操作，以驱动显示面板，使显示器产生影像。

但，当某一颗驱动芯片发生问题时，往往会造成其相邻的驱动芯片无法正常的进行信号传输，因此显示面板会出现部分性或全面性的影像输出不良。然而，在检测这些驱动芯片时，并无法对单一驱动芯片或某些特定驱动芯片进行检测，故在显示面板出现部分性或整面性影像输出不适当的时候，是很难判断出有问题的驱动芯片。因此，在检测驱动芯片时，不仅耗费时间，也容易产生误修、浪费材料及人力成本等问题。

发明内容

有鉴于此，本发明的目的是在于提供一种驱动芯片的检测系统及检测方法，其可选择性地针对单一驱动芯片或特定多数个驱动芯片进行检测，判断出无法正常动作的驱动芯片，以减少误修所造成的材料及人力成本的耗费。

为达到上述目的，本发明提供一种驱动芯片的检测系统，应用于一显示器，该显示器包含多个驱动芯片，且电性连接至该显示器。该检测系统包含多个开关元件、多个侦测单元及一处理单元。所述多个开关元件分别电性连接至所述驱动芯片，且所述驱动芯片透过所述开关元件接收一控制信号。所述多个侦测单元分别电性连接至所述驱动芯片，每一侦测单元用以接收所述驱动芯片根据该控制信号产生的一反馈信号（feedback signal），并根据该反馈信号产生一侦测信号。该处理单元电性连接至所述侦测单元，自所述侦测单元接收所述侦测信号，并根据所述侦测信号判断所述驱动芯片是否正常动作。

为达上述目的，本发明另提供一种驱动芯片的检测方法，应用于一显示器，该显示器包含多个驱动芯片。该检测方法包含下列步骤：提供一控制信号给所述驱动芯片使每一驱动芯片根据该控制信号产生一反馈信号；根据该反馈信号，产生多个侦测信号；以及，根据所述侦测信号判断所述驱动芯片是否正常动作。

为让本发明的上述目的、技术特征和优点能更明显易懂，下文是以较佳实施例配合所附附图进行详细说明。

附图说明

图1A为第一实施例的驱动芯片的检测系统的示意图；

图1B为第一实施例的驱动芯片的检测系统的示意图；

图2为第二实施例的驱动芯片的检测系统的示意图；

图3A为第三实施例的驱动芯片的检测系统的示意图；

图3B为第三实施例的驱动芯片的检测系统的示意图；以及

图4为第四实施例的驱动芯片的检测方法的流程图。

具体实施方式

本发明的内容可透过以下实施例来解释，但本发明的实施例并非用以限制本发明必须在如以下实施例中所述的任何特定的环境、应用或方式方能实施。因此，以下实施例的说明仅在于阐释本发明，而非用以限制本发明。在以下实施例及附图中，与本发明非直接相关的元件已省略而未绘示，且绘示于附图中的各元件之间的尺寸比例仅为便于理解，而非用以限制为本发明实际的实施比例。

关于本文中所使用的“第一”、“第二”、…等，并非特别指称次序或顺位的意思，亦非用以限定本发明，其仅为了区别以相同技术用语描述的元件或操作。

关于本文中所使用的“电性连接”或“耦接”，可指二或多个元件相互直接作实体或电性接触，或是相互间接作实体或电性接触，而“电性连接”还可指二或多个元件相互操作或动作。

本发明的第一实施例为一种驱动芯片的检测系统1，其示意图是描绘于图1A中。检测系统1是应用于一显示器（未标示）。显示器包含显示面板11以及多个驱动芯片13-1～13-N（N为大于1的整数）。进一步而言，驱动芯片13-1～13-N是用以驱动显示面板11，并使显示面板11产生影像。

于本实施例中，检测系统1包含多个第一开关元件S1-1～S1-N、多个侦测单元15-1～15-N及一处理单元17。第一开关元件S1-1～S1-N分别电性连接至驱动芯片13-1～13-N，驱动芯片13-1～13-N用以透过第一开关元件S1-1～S1-N接收一控制信号102，控制信号102可为任何用以控制驱动芯片13-1～13-N的信号。

如图1A所示，侦测单元15-1～15-N分别电性连接至驱动芯片13-1～13-N，当驱动芯片13-1～13-N分别透过第一开关S1-1～S1-N接收控制信号102时，会产生一反馈信号104。接着，侦测单元15-1～15-N会分别接收驱动芯片13-1～13-N根据控制信号102所产生的反馈信号104，并根据反馈信号104分别产生一侦测信号106。举例而言，当第一开关元件S1-1被导通时，驱动芯片13-1会接收控制信号102，并产生反馈信号104。之后，侦测单元15-1会因应所接收到的反馈信号104，进而产生侦测信号106。

在本实施例中，处理单元17电性连接至侦测单元15-1～15-N，用以自侦测单元15-1～15-N接收侦测信号106，并根据侦测信号106判断判驱动芯片13-1～13-N是否正常动作。需说明者，处理单元17可为本发明所属技领域中具有通常知识者所熟知的各种处理器，例如：中央处理器（CPU）、微处理器或其它计算装置其中的任一种。

为方便说明起见，下述实施例是以N为4的情形来举例说明，但不以其为限。当欲检测驱动芯片13-1及13-3时，可选择性地将第一开关元件S1-1及S1-3导通，其他第一开关元件S1-2、S1-4为断开状态，使待测的驱动芯片13-1及13-3透过第一开关元件S1-1及S1-3接收控制信号102，并分别产生反馈信号104。于此情况下，侦测单元15-1及15-3会接收驱动芯片13-1及13-3所产生的反馈信号104，并根据反馈信号104产生侦测信号106。接着，处理单元17会接收自侦测单元15-1及15-3所产生的侦测信号106，并据以判断出驱动芯片13-1及13-3是否正常工作。

另一方面，若欲检测全部的驱动芯片13-1～13-4是否正常工作时，则将第一开关元件S1-1～S1-4全部导通，驱动芯片13-1～13-4透过相对应的第一开关元件S1-1～S1-4接收控制信号102，当驱动芯片13-1～13-4皆为正常动作时，驱动芯片13-1～13-4皆会产生反馈信号104，而其相对应的侦测单元15-1～15-4则根据各个反馈信号104产生相对应的侦测信号106。处理单元17会根据所接收到的侦测信号106判断出驱动芯片13-1～13-4皆为正常。需说明者，上述仅用以说明本发明的一种实施方式，本发明并未限制第一开关元件及侦测单元的配置数目。

在另一实施例中，如图1B所示，检测系统1还包含一第一控制单元111，第一控制单元111可有线或/及无线连接至第一开关元件S1-1～S1-N，用以控制第一开关元件S1-1～S1-N，选择性地使驱动芯片13-1～13-N接收控制信号102。需说明者，第一开关元件S1-1～S1-N亦可通过手动控制而被开启或关闭，亦或者可通过使用跳线（jumper）的方式使第一开关元件S1-1～S1-N被导通或断开。换言之，任何可控制第一开关元件S1-1～S1-N被开启及关闭的方式皆属于本发明所欲保护的范围。

本发明的第二实施例为一种驱动芯片的检测系统2，其示意图是描绘于图2中。相较于第一实施例，于本实施例中，检测系统2的侦测单元15-1～15-N还分别包含一电阻，而这些电阻是以R1～RN标示。

具体而言，侦测单元15-1～15-N分别包含电阻R1～RN，电阻R1～RN的第一端用以接收一电压源VDD，而电阻R1～RN的第二端分别电性连接至驱动芯片中对应的驱动芯片13-1～13-N。之后，处理单元17会将每一电阻R1～RN两端的跨压与一参考电压值（图未绘示）比较以判断驱动芯片13-1～13-N是否工常工作。

举例而言，当处理单元17将电阻R1～RN两端的跨压与参考电压值做比较后，R1两端的阻值与参考电压值产生较大的差异，而剩下的电阻R2～RN两端的跨压与参考电压值比较后仍属于合理的范围，则处理单元17会判断驱动芯片13-1未正常运作。然而，于其他实施例中，处理单元17亦可通过将流入侦测单元15-1～15-N的电流值与一参考电流值（图未绘示）做比较，据以判断驱动芯片13-1～13-N是否正常工作。亦或者，利用热感应的原理对驱动芯片13-1～13-N进行侦测，再据以判断驱动芯片13-1～13-N是否正常运作。需说明者，上述的判断方式仅用以举例说明本发明，并非用以限制本发明。

本发明的第三实施例为一种驱动芯片的检测系统3，其示意图是描绘于图3A中。检测系统3相较于检测系统1还包含多个第二开关元件S2-1～S2-(N-1)（即，数目N减1），分别设置于驱动芯片13-1～13-N之间，且这些驱动芯片13-1～13-N是透过第二开关元件S2-1～S2-(N-1)产生电性连接。由于第三实施例的检测系统3与第一实施例的检测系统1近似，以下将仅描述第三实施例与第一实施例的差异。

举例而言，若N的数目为4，即显示面板11包含驱动芯片13-1～13-4以及检测系统3包含第一开关元件S1-1～S1-4、第二开关元件S2-1～S2-3、侦测单元15-1～15-4及处理单元17。若欲对驱动芯片13-1～13-4进行检测，除了可选择性地将第一开关元件S1-1～S1-4导通之外，亦可选择性地将第二开关元件S1-1～S1-3导通。如此一来，当第二开关元件S1-1～S1-3皆被导通时，驱动芯片13-1～13-4之间会产生电性连接。在仅有第一开关元件S1-1被导通的情况下，当驱动芯片13-1在接收控制信号102后，产生一数据信号108，驱动芯片13-2～13-4会透过第二开关元件S2-1～S2-3接收数据信号108。类似地，当仅有第一开关元件S1-4被导通时，驱动芯片13-4会接收控制信号102，并产生数据信号108，且透过第二开关元件S2-3～S2-1将数据信号108传送至驱动芯片13-3～13-1。

于本实施例中，当第一开关元件S1-1及第二开关元件S2-1同时被导通时，驱动芯片13-1会接收控制信号102，并传送数据信号108至驱动芯片13-2，侦测单元15-1会根据自驱动芯片13-1接收到的反馈信号104，产生侦测信号106。接着，处理单元17会根据侦测单元15-1所产生的侦测信号106判断出驱动芯片13-1及13-2是否正常工作。换句话说，处理单元17无需透过接收侦测单元15-2所产生的侦测信号106来判断驱动芯片13-2是否正常工作。换言之，透过选择性地将第一开关元件S1-1～S1-4及/或第二开关元件S2-1～S2-3导通或断开，可以同时对驱动芯片13-1～13-4进行检测，因信号是透过第二开关元件S2-1～S2-3来传递，所以透过第二开关元件S2-1～S2-3导通或断开也可以控制信号在各芯片13-1～13-4之间的传递，因此能够更方便的对芯片进行测试。需说明者，上述仅为说明本发明的一种实施方式，本发明并未限制第一开关元件、第二开开元件及侦测单元的配置数目。

在另一实施例中，如图3B所示，检测系统3还包含一第二控制单元113，第二控制单元113可有线或/及无线连接至第二开关元件S2-1～S2-N，用以控制第二开关元件S2-1～S2-N，选择性地使驱动芯片13-1～13-N彼此之间产生电性连接，使驱动芯片13-1～13-N可透过第二开关元件S2-1～S2-N彼此传送数据信号108。需说明者，第二开关元件S2-1～S2-N亦可通过手动控制将其开启或关闭，亦或者通过使用跳线（jumper）的方式使第二开关元件S2-1～S2-N被导通或断开。换言之，任何可控制第二开关元件S2-1～S2-N被开启或关闭的方式皆属于本发明所欲保护的范围。

本发明的第四实施例为一种驱动芯片的检测方法4，其流程图是描绘于图4中。本发明的检测方法4可应用于一显示器，此显示器包含多个驱动芯片。

此外，应了解到，在本实施方式中所提及的检测方法的步骤，除特别叙明其顺序者外，均可依实际需要调整其前后顺序，甚至可同时或部分同时执行。且此实施方式可以透过上述的各驱动芯片的检测系统实施例来实现。

首先，于步骤S410中，提供一控制信号给多个驱动芯片使每一驱动芯片根据控制信号产生一反馈信号。于另一实施例中，步骤S410还包含下列步骤，在多个不同的时段，依序提供控制信号给多个驱动芯片中的单一驱动芯片或多个驱动芯片。另外，于上述步骤中还包含下列步骤，在多个不同的时段断开多个驱动芯片中不接收控制信号的驱动芯片的控制信号的传输路径。此外，于另一实施例中，还包含下列步骤，选择性地使多个驱动芯片之间的传输路径导通或断开。接着，于步骤S420中，根据反馈信号，产生多个侦测信号。最后，于步骤S430中，根据多个侦测信号判断多个驱动芯片是否正常动作。

在另一实施例中，于步骤S410中，还可包含下列步骤，提供控制信号给多个驱动芯片，使每一驱动芯片根据控制信号而运作，且反馈信号为多个驱动芯片运作时，耦接于多个驱动芯片与一电压源之间的一电阻的跨压。接着，执行步骤S420，根据反馈信号，产生多个侦测信号。最后，执行步骤S430，根据多个侦测信号判断多个驱动芯片是否正常动作。

除此之外，第四实施例的检测方法4亦能执行第一实施例至第三实施例所描述的所有操作及功能，所属技术领域具有通常知识者可直接了解第四实施例如何基于第一实施例至第三实施例以执行所述操作及功能，故在此不再赘述。

由上述各实施例的说明可知，本发明是利用侦测单元，透过多个开关元件对单一驱动芯片或多个驱动芯片进行侦测，并将其侦测结果传送至处理单元。接着，处理单元再根据接收到的侦测信号判断驱动芯片是否正常运作。如此一来，可判断出无法正常动作的驱动芯片，更可以减少误修所造成的材料及人力成本的耗费。

虽然本发明已以实施例揭露如上，然其并非用以限定本发明，任何熟悉此技艺者，在不脱离本发明的精神和范围内，当可作各种的更动与润饰，因此本发明的保护范围当视所附的权利要求书所界定的范围为准。

Claims

1.一种驱动芯片的检测系统，其特征在于，应用于一显示器，该显示器包含多个驱动芯片，该检测系统包含：

多个第一开关元件，分别电性连接至所述驱动芯片，且所述驱动芯片用以透过所述第一开关元件接收一控制信号；

多个侦测单元，分别电性连接至所述驱动芯片，每一侦测单元用以接收所述驱动芯片根据该控制信号产生的一反馈信号，并根据该反馈信号产生一侦测信号；以及

一处理单元，电性连接至所述侦测单元，用以自所述侦测单元接收所述侦测信号，并根据所述侦测信号判断所述驱动芯片是否正常动作。

2.根据权利要求1所述的驱动芯片的检测系统，其特征在于，还包含一第一控制单元，用以控制各所述第一开关元件，选择性地使所述驱动芯片接收该控制信号。

3.根据权利要求1或2所述的驱动芯片的检测系统，其特征在于，还包含多个第二开关元件，分别设置于所述多个驱动芯片之间，且所述多个驱动芯片透过所述第二开关元件电性连接。

4.根据权利要求2所述的驱动芯片的检测系统，其特征在于，还包含一第二控制单元，用以控制所述第二开关元件，选择性地使所述驱动芯片产生电性连接。

5.根据权利要求1或2所述的驱动芯片的检测系统，其特征在于，每一侦测单元包含一电阻，每一电阻的第一端用以接收一电压源，每一电阻的第二端电性连接至所述驱动芯片中对应的驱动芯片，该处理单元将每一电阻两端的跨压与一参考电压值比较以判断所述驱动芯片是否正常工作。

6.一种驱动芯片的检测方法，其特征在于，应用于一显示器，该显示器包含多个驱动芯片，包含下列步骤：

提供一控制信号给所述驱动芯片使每一驱动芯片根据该控制信号产生一反馈信号；

根据该反馈信号，产生多个侦测信号；以及

根据所述侦测信号判断所述驱动芯片是否正常动作。

7.根据权利要求6所述的驱动芯片的检测方法，其特征在于，提供该控制信号给所述驱动芯片使每一驱动芯片根据该控制信号产生该反馈信号包含：

在多个不同的时段，依序提供该控制信号给所述多个驱动芯片中的单一驱动芯片或多个驱动芯片。

8.根据权利要求7所述的驱动芯片的检测方法，其特征在于，在多个不同的时段，依序提供该控制信号给所述多个驱动芯片中的单一驱动芯片或多个驱动芯片包含：

在所述不同的时段断开所述多个驱动芯片中不接收该控制信号的驱动芯片的该控制信号的传输路径。

9.根据权利要求6至8任一项权利要求所述的驱动芯片的检测方法，其特征在于，还包含下列步骤：

选择性地使所述驱动芯片之间的传输路径导通或断开。

10.根据权利要求6至8任一项权利要求所述的驱动芯片的检测方法，其特征在于，提供该控制信号给所述驱动芯片使每一驱动芯片根据该控制信号产生该反馈信号包含：

提供该控制信号给所述驱动芯片，使每一驱动芯片根据该控制信号而运作，且该反馈信号为所述驱动芯片运作时，耦接于所述驱动芯片与一电压源之间的一电阻的跨压。