CN105710051A - 逻辑电路测试平台的芯片分选装置 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种逻辑电路测试平台的芯片分选装置，包括：控制板、驱动芯片和LED显示模块；其中，控制板分别与所述驱动芯片、LED显示模块连接，且控制板设置有上位机接口；驱动芯片与LED显示模块连接；控制板用于根据上位机接口接收的串口指令，向驱动芯片发送驱动信号；驱动芯片用于根据驱动信号，驱动LED显示模块显示相应的图形数字。采用本发明实施例，能避免因人为因素造成的混料现象，提高生产管理效率。

Description

逻辑电路测试平台的芯片分选装置

技术领域

本发明涉及电子电路技术领域，尤其涉及一种逻辑电路测试平台的芯片分选装置。

背景技术

封装测试是芯片在生产中最后一道功能性检测，在此环节将合格品与次品出现混料、各等级芯片之间出现混料，就会导致混料后的产品直接流向客户，影响企业的发展。在现在的封装测试厂中，一个操作人员需要操作多台设备，同时在开启一批次的生产任务可能会跨越多个班次，会出现因忘记或者交接班时漏掉测试产品的相关信息，导致生产过程中出现混料的情况。而且芯片采用贴标签或者悬挂标示牌的方式进行指引，可移动的悬挂标示牌有可能在操作人员生产或收料过程中碰落到地上，或因其他人为因素将悬挂标示牌移位，从而造成混料现象。因此，在更换产品批次或交接班时，相关人员必须将上一个班次设定的芯片等级参数、贴标签的位置、标示牌悬挂的位置，进行一次确认并完成交接。这样不仅不利于企业管理生产，而且增加了生产人员的工作，降低生产的效率。

发明内容

本发明实施例提出一种逻辑电路测试平台的芯片分选装置，能避免因人为因素造成的混料现象，提高生产管理效率。

本发明实施例提供一种逻辑电路测试平台的芯片分选装置，包括：控制板、驱动芯片和LED显示模块；

其中，所述控制板分别与所述驱动芯片、LED显示模块连接，且所述控制板设置有上位机接口；

所述驱动芯片与所述LED显示模块连接；

所述控制板用于根据所述上位机接口接收的串口指令，向所述驱动芯片发送驱动信号；

所述驱动芯片用于根据所述驱动信号，驱动所述LED显示模块显示相应的图形数字。

进一步的，所述控制板是型号为ArduinoMega2560的核心电路板。

进一步的，所述ArduinoMega2560核心电路板包括：PWM输出接口、模拟输入接口、处理器、晶体振荡器、USB接口和电源插座。

进一步的，所述处理器是型号为ATmega2560的处理器。

进一步的，所述控制板与所述LED显示模块连接，具体为：

所述控制板通过两线串行接口与所述LED显示模块连接。

进一步的，所述LED显示模块为由点阵式双色LED灯组成的LED显示屏。

实施本发明实施例，具有如下有益效果：

本发明实施例提供的逻辑电路测试平台的芯片分选装置，包括控制板、驱动芯片和LED显示模块。控制板根据上位机传递的串口指令，向驱动芯片发送驱动信号，使得驱动芯片驱动LED显示模块显示相应的图形数字。由于上位机与逻辑电路测试平台直接连接，能确定已测试芯片的等级，并通过运送轨道将芯片自动放入对应的tray盘中，这时控制板控制LED显示模块显示相应的图形数字，如合格的一级芯片显示绿色数字1，操作人员可直观的了解tray盘中放入的芯片等级，避免因人为因素造成的混料现象，提高生产管理效率。

附图说明

图1是本发明提供的逻辑电路测试平台的芯片分选装置的一种实施例的结构示意图；

图2是本发明提供的逻辑电路测试平台的芯片分选装置的一种实施例的工作流程图；

图3是本发明提供的逻辑电路测试平台的芯片分选装置的一种实施例的模组结构图；

图4是本发明提供的逻辑电路测试平台的芯片分选装置的另一种实施例的模组结构图；

图5是本发明提供的逻辑电路测试平台的芯片分选装置的又一种实施例的模组结构图；

图6是本发明提供的逻辑电路测试平台的芯片分选装置的另一种实施例的工作流程示意图；

图7是本发明提供的逻辑电路测试平台的芯片分选装置的一种实施例的软件设置示意图；

图8是本发明提供的逻辑电路测试平台的芯片分选装置的另一种实施例的软件设置示意图。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

参见图1，是本发明提供的逻辑电路测试平台的芯片分选装置的一种实施例的结构示意图，该芯片分选装置包括：控制板101、驱动芯片102和LED显示模块103。其中，控制板101分别与驱动芯片102、LED显示模块103连接。控制板101设置有上位机接口，用于与上位机进行连接。

驱动芯片102与LED显示模块103连接。

控制板101用于根据上位机接口接收的串口指令，向驱动芯片102发送驱动信号。驱动芯片102用于根据驱动信号，驱动LED显示模块显示相应的图形数字。

在本实施例中，控制板101是型号为ArduinoMega2560的核心电路板。Arduino是一款稳定性高，便捷灵活、方便上手的开源电子原型平台，不仅仅是全球最流行的开源硬件，也是一个实用性很强的硬件开发平台，更是硬件开发的趋势。相比传统的单片机，Arduino简单的开发方式使得开发者更关注新颖的创意与功能的实现，更快的完成自己的项目开发，大大节约了项目开发的成本，缩短了开发的周期。另外，ArduinoMega2560核心电路板包括：PWM输出接口、模拟输入接口、处理器、晶体振荡器、USB接口和电源插座。该处理器是型号为ATmega2560的处理器。控制板101可扩展性很强，对后期维护升级和添加新功能都十分方便。

在本实施例中，控制板101与LED显示模块103连接，具体为：控制板101通过两线串行接口与LED显示模块103连接。

在本实施例中，LED显示模块103为由点阵式双色LED灯组成的LED显示屏。作为本实施例的一种举例，显示模块103由6个8×8的点阵式双色LED灯组成，通过字形编码和颜色控制，显示出红绿不同颜色的数字，接线简单，显示稳定且能够支持八级辉度调节。因为针对不同机型的功能需求，可选择3个LED模块或者6个LED模块进行匹配使用。

作为本实施例的一种举例，参见图2，图2是本发明提供的逻辑电路测试平台的芯片分选装置的一种实施例的工作流程图。如图2所示，根据硬件配置好的LED显示模块103，来确定打开LED的数量，再通过上位机对应设定的合格品盘和对应tray盘中放入的其它等级数产品进行编码，通过打开绑定的串口将编好的数据发送到控制板101，控制板101通过对数据解码后，将数据分别发送到相应的LED显示模组中，最终将测试完成的芯片，按分选等级准确直观的显示出来。

为了更好的说明本发明的工作原理和结构，参见图3，图3是本发明提供的逻辑电路测试平台的芯片分选装置的一种实施例的模组结构图。如图3在Sort1、Sort2、Sort3三组满料盘自动收集模组的后端，均已放置了一个准备用来收集完成测试分选产品的tray盘——Sort1放料盘位411、Sort2放料盘位412、Sort3放料盘位413,当某一个tray盘内已盛放满测试完成的芯片后，平皮带输送装置413将此tray盘传送到相应的Sort料盘堆积位，直到Sort料盘堆积到位感应器感应到堆积上来的料盘，设备软件会提醒操作人员将满料堆积位的tray盘取走。图3正面Sort1、Sort2、Sort3LED显示屏，按照设备软件设定的芯片等级参数准确直观的显示出相对应的数字。

在本实施例了中，本发明的控制板101还可以设置有位感应器接口，用于连接位感应器。

参见图4和图5，图4是本发明提供的逻辑电路测试平台的芯片分选装置的另一种实施例的模组结构图。图5是本发明提供的逻辑电路测试平台的芯片分选装置的又一种所述的模组结构图。图4是在Sort1，2，3自动盘收集模组的后侧，设备上布置了Man1料盘位501、Man2料盘位502、Man3料盘位503共三组次品手动盘，并在对应的位置安装了Man1LED显示屏504、Man2LED显示屏505、Man2LED显示屏505三组对应的智能显示屏，按照设备软件设定的芯片等级参数准确直观的显示出对应的数字。Man1，2，3手动盘内的产品一般是收集等级较低的芯片，在一批次测试芯片中其数量很少，三个次品手动tray盘通常不会放满芯片。在本实施例中，图3和图4结合后获得图5，图5是自动盘、手动盘及LED显示屏安装图。

在本实施例中，开始测试一批次料时，上位机软件开批时会按照生产安排，设置好对应的等级放入相关的tray盘中，同时会下发数据到控制台101上，控制台101接收到数据后，会将数据处理完成并发送到对应的LED模块，合格品显示为绿色数字，次品显示为红色数字。在一个tray盘中如有多个等级放入的，LED灯以时间间隔为一秒的速度跳动显示出相应的等级数字。在没有设置等级tray盘位置显示红色的“X”，tray盘内的产品全部为次品。在结束一批次料的测试后，上位机关批时相应的也会通知控制台101，将所有LED模块显示为红色的“X”，详细流程图如图6所示。

如图7所示，设备上开启tray盘的位置是三个，在Sort1盘中放的是Bin1，Sort2盘中放的是Bin2、Bin3、Bin8，在Sort3盘中放入的是Bin4、Bin5。设置Sort1盘是合格品，其他的盘都是次品，开批后，Sort1位置的LED屏显示的是绿色的“1”；Auto2位置的LED屏显示的是红色的“2”或“3”或“8”；Auto3位置的LED屏显示的是红色的数字“4”或“5”，以时间间隔为一秒的速度交替跳动显示。可根据生产实际的需要，可将Sort2盘、Sort3盘、Man1盘、Man2盘、Man3盘设置为次品盘，并将Bin0、合理的分配到以上5个次品盘中。

如图8所示，图8是本设备将Sort1盘设置为合格品盘，其余盘均为次品盘。开批生产后，Sort1位置的LED屏始终显示为绿色的“1”。可根据生产实际的需要，合格品盘也可将Sort1盘、Sort2盘同时设置为合格品盘。其设置定义的参数是灵活可变的。

综上可见，本发明实施例提供的逻辑电路测试平台的芯片分选装置，包括控制板、驱动芯片和LED显示模块。控制板根据上位机传递的串口指令，向驱动芯片发送驱动信号，使得驱动芯片驱动LED显示模块显示相应的图形数字。由于上位机与逻辑电路测试平台直接连接，能确定已测试芯片的等级，并通过运送轨道将芯片自动放入对应的tray盘中，这时控制板控制LED显示模块显示相应的图形数字，如合格的一级芯片显示绿色数字1，操作人员可直观的了解tray盘中放入的芯片等级，避免因人为因素造成的混料现象，提高生产管理效率。

本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程，是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，所述的程序可存储于一计算机可读取存储介质中，该程序在执行时，可包括如上述各方法的实施例的流程。其中，所述的存储介质可为磁碟、光盘、只读存储记忆体(Read-OnlyMemory，ROM)或随机存储记忆体(RandomAccessMemory，RAM)等。

以上所述是本发明的优选实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明原理的前提下，还可以做出若干改进和润饰，这些改进和润饰也视为本发明的保护范围。

Claims (6)

1.一种逻辑电路测试平台的芯片分选装置，其特征在于，包括：控制板、驱动芯片和LED显示模块；

其中，所述控制板分别与所述驱动芯片、LED显示模块连接，且所述控制板设置有上位机接口；

所述驱动芯片与所述LED显示模块连接；

所述控制板用于根据所述上位机接口接收的串口指令，向所述驱动芯片发送驱动信号；

所述驱动芯片用于根据所述驱动信号，驱动所述LED显示模块显示相应的图形数字。

2.根据权利要求1所述的逻辑电路测试平台的芯片分选装置，其特征在于，所述控制板是型号为ArduinoMega2560的核心电路板。

3.根据权利要求2所述的逻辑电路测试平台的芯片分选装置，其特征在于，所述ArduinoMega2560核心电路板包括：PWM输出接口、模拟输入接口、处理器、晶体振荡器、USB接口和电源插座。

4.根据权利要求3所述的逻辑电路测试平台的芯片分选装置，其特征在于，所述处理器是型号为ATmega2560的处理器。

5.根据权利要求1所述的逻辑电路测试平台的芯片分选装置，其特征在于，所述控制板与所述LED显示模块连接，具体为：

所述控制板通过两线串行接口与所述LED显示模块连接。

6.根据权利要求5所述的逻辑电路测试平台的芯片分选装置，其特征在于，所述LED显示模块为由点阵式双色LED灯组成的LED显示屏。