CN202770958U - 一种半导体分立器件测试系统 - Google Patents
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Abstract
本实用新型主要公开了一种半导体分立器件测试系统，包括主控平台系统、总线通讯系统、各个测试功能卡、显示系统。各测试功能模块独立挂置在总线通讯系统上，总线通讯系统连接到主控平台系统中，主控平台系统连接显示系统，将测试结果数据加以显示。本实用新型是一种自由组合形式提供测试服务的测试平台，可根据用户的测试组态方案类选择各色各样测试功能的板卡，使用灵活方便。
Description
技术领域
本实用新型涉及电子设备测试仪技术领域，特别与一种半导体分立器件测试系统有关。
背景技术
台湾冠魁公司的TVR6000是目前业界产业化程度最高、应用最广泛、性能最优秀的二极管多功能分类专业测试设备，在国际同类产品处理国际领先水平。
TVR6000测试机是以单机形式提供测试服务的一体机，机内虽然是多板卡结构，但各板卡功能固定，位置固定，不能提供技术的横向升级和纵向升级，为解决横向升级的问题，必须要重新设计机器，并命名为6000系列，各机之间设计思路不同，还造成很多内部相同板卡重置的现象，造成资源浪费和干扰问题的出现，并争夺机内的系统总线，工作电源等。
为了解决上述问题，本发明人设计出一种半导体分立器件测试系统，本案由此产生。
实用新型内容
本实用新型的目的是提供一种半导体分立器件测试系统，是以自由组合形式提供测试服务的测试平台，可根据用户的测试组态方案类选择各色各样测试功能的板卡，使用灵活方便。
为了达到上述目的，本实用新型通过以下技术方案来实现：
一种半导体分立器件测试系统，包括主控平台系统、总线通讯系统、各个测试功能卡、显示系统；各测试功能模块独立挂置在总线通讯系统上，总线通讯系统连接到主控平台系统中，主控平台系统连接显示系统，将测试结果数据加以显示。
所述的各个测试功能卡通过数据线并列连接两个测试工位。
所述的主控平台系统连接有为主控平台系统供电的电源系统、将数据输入的键盘输入系统、以及用于反馈信号状态的状态指示系统。
所述的测试功能卡包括VF测试卡、VR测试卡、IR测试卡。
采用上述方案后，本实用新型具有诸多有益效果：
本实用新型中采用总线的方式，将各个独立测试卡直接挂接上总线通讯系统上形成数据交换传递，这样只需要根据用户的测试组态方案，选择相适应的板卡，主控平台系统能自动识别和控制新的板卡，达到既插既用的目的，同时也解决横向升级的问题。
本实用新型中具有两个测试工位，可同时测试，测试效率提高一倍，更经济更实惠。
本实用新型中的主控平台程序按功能要求分别加载给不同测试卡上，由测试卡独立完成，简化了主控平台的工作程序，同时，可再在相同的时间段内，两个工作流程并列运行，所用的时间较短，可以解决系统资源的重置等问题。
附图说明
图1为本实用新型较佳实施例的功能模块连接示意图。
具体实施方式
结合附图，对本实用新型较佳实施例做进一步详细说明。
一种半导体分立器件测试系统，主要涉及到的部件包括主控平台系统1、总线通讯系统2、各个测试功能卡、LED显示系统3、电源系统4、键盘输入系统5、状态指示系统6、第一测试工位81、第二测试工位82。其中本实施例中测试功能卡包括VF测试卡71、VR测试卡72、IR测试卡73。
主控平台系统1（MCU）是本实用新型的核心控制平台，通过总线通讯系统2与各个测试功能卡进行数据交换，对应的程序下载到各个测试功能卡中，并将各个测试功能卡上的测试所得的数据通过总线通讯系统2进行反馈，并反馈显示在LED显示系统3中。
主控平台系统1上连接有电源系统4为其供电。本实施例中采用50Hz的AC220V的电源通过开关电源供电，对于电容来说开关电源是准直流，充电迅速，测试速率明显提高，可以应对高速的测试应用，使得整机重量减清，体积变小，电源的效率大幅升高。
键盘输入系统5是采用键盘形式与主控平台系统1进行连接，通过键盘操作将信息输入至主控平台系统1中。
状态指示系统6是采用各种发光二极管构成，连接在主控平台系统1上，用于反馈内部信号状态。
实施例中总线通讯系统2采用CAN总线形式，各个测试功能卡包括VF测试卡71、VR测试卡72、IR测试卡73都各自独立挂置连接在CAN总线上。VF测试卡71、VR测试卡72、IR测试卡73可以采用原有TVR6000测试机的测试卡模块，VF测试卡完成VF的测试，VR测试卡完成VR的测试，IR测试卡完成IR的测试，其内部结构和原理与原有结构相同，因此不做赘述。本实用新型中可以在CAN总线上横向拓展多个测试卡，一般8个为宜。
同时本实施例中，每个VF测试卡71、VR测试卡72、IR测试卡73并联接连在两个测试工位上，第一测试工位81、第二测试工位82，这样方便同时进行两个独立测试，提高测试效率。
上述实施例仅用于解释说明本实用新型的发明构思，而非对本实用新型权利保护的限定，凡利用此构思对本实用新型进行非实质性的改动，均应落入本实用新型的保护范围。
Claims (4)
1.一种半导体分立器件测试系统，其特征在于：包括主控平台系统、总线通讯系统、各个测试功能卡、显示系统；各测试功能模块独立挂置在总线通讯系统上，总线通讯系统连接到主控平台系统中，主控平台系统连接显示系统，将测试结果数据加以显示。
2.如权利要求1所述的一种半导体分立器件测试系统，其特征在于：所述的各个测试功能卡通过数据线并列连接两个测试工位。
3.如权利要求1所述的一种半导体分立器件测试系统，其特征在于：所述的主控平台系统连接有为主控平台系统供电的电源系统、将数据输入的键盘输入系统、以及用于反馈信号状态的状态指示系统。
4.如权利要求1所述的一种半导体分立器件测试系统，其特征在于：所述的测试功能卡包括VF测试卡、VR测试卡、IR测试卡。
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Cited By (2)
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| CN102866341A (zh) * | 2012-09-04 | 2013-01-09 | 绍兴文理学院 | 一种半导体分立器件测试系统 |
| CN110133473A (zh) * | 2018-02-09 | 2019-08-16 | 矽利康实验室公司 | 具有灵活且稳健的形状因子的半导体测试系统 |
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2012
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| CN110133473A (zh) * | 2018-02-09 | 2019-08-16 | 矽利康实验室公司 | 具有灵活且稳健的形状因子的半导体测试系统 |
| CN110133473B (zh) * | 2018-02-09 | 2021-06-29 | 矽利康实验室公司 | 具有灵活且稳健的形状因子的半导体测试系统 |
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