CN102866341A - 一种半导体分立器件测试系统 - Google Patents
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Abstract
本发明主要公开了一种半导体分立器件测试系统,包括主控平台系统、总线通讯系统、各个测试功能卡、显示系统。各测试功能模块独立挂置在总线通讯系统上,总线通讯系统连接到主控平台系统中,主控平台系统连接显示系统,将测试结果数据加以显示。本发明是一种自由组合形式提供测试服务的测试平台,可根据用户的测试组态方案类选择各色各样测试功能的板卡,使用灵活方便。
Description
技术领域
本发明涉及电子设备测试仪技术领域,特别与一种半导体分立器件测试系统有关。
背景技术
台湾冠魁公司的TVR6000是目前业界产业化程度最高、应用最广泛、性能最优秀的二极管多功能分类专业测试设备,在国际同类产品处理国际领先水平。
TVR6000测试机是以单机形式提供测试服务的一体机,机内虽然是多板卡结构,但各板卡功能固定,位置固定,不能提供技术的横向升级和纵向升级,为解决横向升级的问题,必须要重新设计机器,并命名为6000系列,各机之间设计思路不同,还造成很多内部相同板卡重置的现象,造成资源浪费和干扰问题的出现,并争夺机内的系统总线,工作电源等。
为了解决上述问题,本发明人设计出一种半导体分立器件测试系统,本案由此产生。
发明内容
本发明的目的是提供一种半导体分立器件测试系统,是以自由组合形式提供测试服务的测试平台,可根据用户的测试组态方案类选择各色各样测试功能的板卡,使用灵活方便。
为了达到上述目的,本发明通过以下技术方案来实现:
一种半导体分立器件测试系统,包括主控平台系统、总线通讯系统、各个测试功能卡、显示系统;各测试功能模块独立挂置在总线通讯系统上,总线通讯系统连接到主控平台系统中,主控平台系统连接显示系统,将测试结果数据加以显示。
所述的各个测试功能卡通过数据线并列连接两个测试工位。
所述的主控平台系统连接有为主控平台系统供电的电源系统、将数据输入的键盘输入系统、以及用于反馈信号状态的状态指示系统。
所述的测试功能卡包括VF测试卡、VR测试卡、IR测试卡。
采用上述方案后,本发明具有诸多有益效果:
本发明中采用总线的方式,将各个独立测试卡直接挂接上总线通讯系统上形成数据交换传递,这样只需要根据用户的测试组态方案,选择相适应的板卡,主控平台系统能自动识别和控制新的板卡,达到既插既用的目的,同时也解决横向升级的问题。
本发明中具有两个测试工位,可同时测试,测试效率提高一倍,更经济更实惠。
本发明中的主控平台程序按功能要求分别加载给不同测试卡上,由测试卡独立完成,简化了主控平台的工作程序,同时,可再在相同的时间段内,两个工作流程并列运行,所用的时间较短,可以解决系统资源的重置等问题。
附图说明
图1为本发明较佳实施例的功能模块连接示意图。
具体实施方式
结合附图,对本发明较佳实施例做进一步详细说明。
一种半导体分立器件测试系统,主要涉及到的部件包括主控平台系统1、总线通讯系统2、各个测试功能卡、LED显示系统3、电源系统4、键盘输入系统5、状态指示系统6、第一测试工位81、第二测试工位82。其中本实施例中测试功能卡包括VF测试卡71、VR测试卡72、IR测试卡73。
主控平台系统1(MCU)是本发明的核心控制平台,通过总线通讯系统2与各个测试功能卡进行数据交换,对应的程序下载到各个测试功能卡中,并将各个测试功能卡上的测试所得的数据通过总线通讯系统2进行反馈,并反馈显示在LED显示系统3中。
主控平台系统1上连接有电源系统4为其供电。本实施例中采用50Hz的AC220V的电源通过开关电源供电,对于电容来说开关电源是准直流,充电迅速,测试速率明显提高,可以应对高速的测试应用,使得整机重量减清,体积变小,电源的效率大幅升高。
键盘输入系统5是采用键盘形式与主控平台系统1进行连接,通过键盘操作将信息输入至主控平台系统1中。
状态指示系统6是采用各种发光二极管构成,连接在主控平台系统1上,用于反馈内部信号状态。
实施例中总线通讯系统2采用CAN总线形式,各个测试功能卡包括VF测试卡71、VR测试卡72、IR测试卡73都各自独立挂置连接在CAN总线上。VF测试卡71、VR测试卡72、IR测试卡73可以采用原有TVR6000测试机的测试卡模块,VF测试卡完成VF的测试,VR测试卡完成VR的测试,IR测试卡完成IR的测试,其内部结构和原理与原有结构相同,因此不做赘述。本发明中可以在CAN总线上横向拓展多个测试卡,一般8个为宜。
同时本实施例中,每个VF测试卡71、VR测试卡72、IR测试卡73并联接连在两个测试工位上,第一测试工位81、第二测试工位82,这样方便同时进行两个独立测试,提高测试效率。
上述实施例仅用于解释说明本发明的发明构思,而非对本发明权利保护的限定,凡利用此构思对本发明进行非实质性的改动,均应落入本发明的保护范围。
Claims (4)
1.一种半导体分立器件测试系统,其特征在于:包括主控平台系统、总线通讯系统、各个测试功能卡、显示系统;各测试功能模块独立挂置在总线通讯系统上,总线通讯系统连接到主控平台系统中,主控平台系统连接显示系统,将测试结果数据加以显示。
2.如权利要求1所述的一种半导体分立器件测试系统,其特征在于:所述的各个测试功能卡通过数据线并列连接两个测试工位。
3.如权利要求1所述的一种半导体分立器件测试系统,其特征在于:所述的主控平台系统连接有为主控平台系统供电的电源系统、将数据输入的键盘输入系统、以及用于反馈信号状态的状态指示系统。
4.如权利要求1所述的一种半导体分立器件测试系统,其特征在于:所述的测试功能卡包括VF测试卡、VR测试卡、IR测试卡。
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