CN209486659U - 一种多合一调试电路及装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型提供一种多合一调试电路及装置，其中，多合一调试电路，包括USB集线模块；USB集线模块扩展出若干USB端口；数控电源、电子负载、USB转串口模块、USB转CAN模块、USB转SPI/I2C模块和CMSIS‑DAP模块分别与USB集线模块扩展出的USB端口连接；通过USB转串口模块扩展出RS485端口和RS232端口；通过USB转CAN模块扩展出CAN端口；通过USB转SPI/I2C模块扩展出SPI端口和I2C端口;通过CMSIS‑DAP模块扩展出JTAG端口或SWD端口。本实用新型提供的多合一调试电路，将电子开发工程师常用的测试工具集合在一起，避免出现因线路连接错误而导致产品无法工作的问题，提高了使用的便利性；同时，也减少了对空间的占用。
Description
技术领域
本实用新型涉及电子领域，特别涉及一种多合一调试电路及装置。
背景技术
对于电子产品开发人员来说RS485、RS232、SPI、CAN接口及可调的数控电源和电子负载都是非常常用的工具。在原有的开发中这些单独的工具都以独立的设备存在，当需要使用上述多个工具时，线路连接会变得复杂凌乱，且容易发生因线路连接错误而导致产品无法工作的问题。市场上急需一种能够集合多个工具，使用便利的接口测试装置。
实用新型内容
为解决上述背景技术中提到的问题，本实用新型提供一种多合一调试电路及装置，其中，多合一调试电路，包括USB集线模块；其中：
所述USB集线模块扩展出若干USB端口；数控电源、电子负载、USB转串口模块、USB转CAN模块、USB转SPI/I2C模块和CMSIS-DAP模块分别与所述USB集线模块扩展出的USB端口连接；通过所述USB转串口模块扩展出RS485端口和RS232端口；通过所述USB转CAN模块扩展出CAN端口；通过USB转SPI/I2C模块扩展出SPI端口和I2C端口;通过CMSIS-DAP模块扩展出JTAG端口或SWD端口。
进一步地，所述USB集线模块扩展出的若干USB端口预留一个用于充电。
进一步地，所述USB集线模块采用FE2.1型号的芯片。
进一步地，所述扩展出的若干USB端口、CAN端口、RS485端口和/或RS232端口、SPI端口和/或I2C端口、JTAG端口和/或SWD端口均设有工作指示灯。
进一步地，所述USB转串口模块包括USB转4串口芯片、RS485芯片、RS232芯片；所述USB集线模块扩展出的USB端口通过4串口芯片分别与RS485芯片和RS232芯片连接；通过所述RS485芯片扩展出RS485端口；通过所述RS232芯片扩展出RS232端口。
进一步地，所述CMSIS-DAP模块包括第一ARM处理器和JTAG模块；所述扩展出的USB端口通过ARM处理器与JTAG模块或SWD模块连接，扩展出JTAG端口或SWD端口。
进一步地，所述USB转SPI/I2C模块采用CH341A型号芯片。
进一步地，所述USB转CAN模块包括第二ARM处理器和CAN接口模块；所述扩展出的USB端口通过第二ARM处理器与CAN接口模块连接，扩展出CAN端口。
本实用新型提供的多合一调试电路，将电子开发工程师常用的数控电源、电子负载以及RS485端口、RS232端口、CAN端口、SPI端口、I2C端口、JTAG端口或SWD端口等测试工具集合在一起，避免出现因线路连接错误而导致产品无法工作的问题；使用时，只需连接一根USB电缆和电源即可使用所有功能， 方便了开发过程中的调试，大大提高了使用的便利性；同时，通过多将常用的工具集成在一块电路中，方便了开发环境的连接；避免出现线路杂乱无章占用空间的问题。
本实用新型还提供一种多合一调试装置，采用如上任意所述的多合一调试电路。
本实用新型提供的多合一调试装置，集成了电子开发工程师常用的测试工具，使用简单、方便；减少了测试端口的连线程序，提高了测试效率，也减少了对空间的占用。
附图说明
为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作一简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本实用新型提供的多合一调试电路原理模块图；
图2为USB一转七HUB的电路图；
图3为USB转串口模块电路图；
图4为CMSIS-DAP模块电路图；
图5为USB转SPI/I2C模块电路图；
图6为USB转CAN模块电路图。
具体实施方式
为使本实用新型实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
在本实用新型的描述中，需要说明的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。此外，术语“第一”、“第二”以及类似的词语并不表示任何顺序、数量或者重要性，而只是用了区分不同的组成部分。“连接”或者“相连”等类似词语并非限定与物理或者机械的连接，而是可以包括电性的连接、光连接等，不管是直接的还是间接的。
本实用新型实施例提供一种多合一调试电路及装置，其中，多合一调试电路，包括USB集线模块；其中：
所述USB集线模块扩展出若干USB端口；数控电源、电子负载、USB转串口模块、USB转CAN模块、USB转SPI/I2C模块和CMSIS-DAP模块分别与所述USB集线模块扩展出的USB端口连接；通过所述USB转串口模块扩展出RS485端口和RS232端口；通过所述USB转CAN模块扩展出CAN端口；通过USB转SPI/I2C模块扩展出SPI端口和I2C端口;通过CMSIS-DAP模块扩展出JTAG端口或SWD端口。
具体实施时，如图1所示，多合一调试电路，包括USB集线模块；其中：
USB集线模块将一个USB端口扩展出七个USB端口；可调控的数控电源、电子负载、USB转串口模块、USB转CAN模块、USB转SPI/I2C模块和CMSIS-DAP模块分别与USB集线模块扩展出的USB端口连接；通过USB转串口模块扩展出RS485端口和RS232端口；通过USB转CAN模块扩展出CAN端口；通过USB转SPI/I2C模块扩展出SPI端口和I2C端口;通过CMSIS-DAP模块扩展出JTAG端口或SWD端口；剩余一个扩展出的USB端口用于与电源连接。数控电源以及电子负载均采用市面上常用的数控电源和电阻负载，在此不再赘述。
本实用新型提供的多合一调试电路，将电子开发工程师常用的数控电源、电子负载以及RS485端口、RS232端口、CAN端口、SPI端口、I2C端口、JTAG端口或SWD端口等测试工具集合在一起，避免出现因线路连接错误而导致产品无法工作的问题；使用时，只需连接一根USB电缆和电源即可使用所有功能， 方便了开发过程中的调试，大大提高了使用的便利性；同时，通过多将常用的工具集成在一块电路中，方便了开发环境的连接；避免出现线路杂乱无章占用空间的问题。
优选地，所述USB集线模块采用FE2.1型号的芯片。
具体实施时，如图2所示，USB集线模块包括集线芯片U1，集线芯片U1的型号为USB-HUB芯片FE2.1；USB1接口的第1引脚分别通过电容C7、电容C6和电容C5接地；USB1接口的第1引脚连接USB-VDD电源；USB1接口的第2引脚与集线芯片U1的第29引脚连接；USB1接口的第3引脚与集线芯片U1的第30引脚连接；集线芯片U1的第27引脚通过电阻R8接地；集线芯片U1的第22和第23引脚分别通过电容C1和电容C2接地；集线芯片U1的第22和第23引脚之间和连接有晶振X1；集线芯片U1的第40引脚与电阻R9一端和电容C3一端连接；电阻R9另一端与集线芯片U1的USV-VD33端连接；电容C3另一端接地；集线芯片U1的第41引脚与电阻R10一端和电阻R11一端连接；电阻R10另一端与电容C4一端和集线芯片U1的USV-VDD5端连接；电C4另一端和电阻R11另一端均接地；集线芯片U1的第3、第4、第5、第7、第48、第47和第46引脚依次连接有工作指示灯LED1、LED2、LED3、LED4、LED5、LED6、LED7；通过集线芯片U1将主机的USB1转出7路USB信号USBDP1-USBDP7和USBDM1-USBDM7。
优选地，所述扩展出的若干USB端口、CAN端口、RS485端口和/或RS232端口、SPI端口和/或I2C端口、JTAG端口和/或SWD端口均设有工作指示灯。
优选地，所述USB转串口模块包括USB转4串口芯片、RS485芯片、RS232芯片；所述USB集线模块扩展出的USB端口通过4串口芯片分别与RS485芯片和RS232芯片连接；通过所述RS485芯片扩展出RS485端口；通过所述RS232芯片扩展出RS232端口。
具体实施时，如图3所示，USB转串口模块包括USB转4串口芯片U2、RS485芯片U4、RS485芯片5、RS232芯片U6；USB转4串口芯片U2的型号为XR21V1414；RS485芯片U4和RS485芯片5的型号均为MAX13487；RS232芯片U6的型号为MAX232ESE；USB转4串口芯片U2的第42和第43引脚分别与集线芯片U1的USB-DM5端和USB-DP5端连接；USB转4串口芯片U2将USB信号转出4路UART信号；USB转4串口芯片U2的第30引脚通过RS485芯片U4转出1路RS485信号；USB转4串口芯片U2的第22和第38引脚通过RS232芯片U6转出另2路RS232信号。
优选地，所述CMSIS-DAP模块包括第一ARM处理器和JTAG模块；所述扩展出的USB端口通过ARM处理器与JTAG模块或SWD模块连接，扩展出JTAG端口或SWD端口。
具体实施时，如图4所示，CMSIS-DAP模块包括两个第一ARM处理器U7.1和U7.2以及JTAG接口芯片U6；两个第一ARM处理器U7.1和U7.2的型号均为STM32F103C8T6；JTAG接口芯片U6可采用市场上常用的型号；第一ARM处理器U7.1的第33、第32和第29引脚依次分别与电阻R14一端、电阻R15一端和电阻R16一端连接；电阻R16另一端和电阻R14另一端的连接节点与集线芯片U1的USB-DP4端连接；电阻R15另一端与集线芯片U1的USB-DM4端连接; 第一ARM处理器U7.1的第5、第6引脚之间连接有晶振X2；第一ARM处理器U7.1的第4引脚通过电阻R12接地；第一ARM处理器U7.1的第7引脚与电容R13一端和电容C24一端连接；电容C24另一端接地；电阻R13另一端和第一ARM处理器U7.2均连接3V电源；第一ARM处理器U7.1的第25和第26引脚上分别连接有工作指示灯LED6和LED9；第一ARM处理器U7.1的第46引脚与JTAG接口芯片U6连接；通过两个第一ARM处理器U7.1和U7.2将将USB转换成JTAG或SWD信号。
优选地，所述USB转SPI/I2C模块采用CH341A型号芯片。
具体实施时，如图5所示，USB转SPI/I2C模块采用USB转SPI/I2C芯片U3, USB转SPI/I2C芯片U3的型号CH341A；USB转SPI/I2C芯片U3的第10引脚通过电阻R23与集线芯片U1的USB-DP3端连接；USB转SPI/I2C芯片U3的第11引脚通过电阻R22与集线芯片U1的USB-DM3端连接；USB转SPI/I2C芯片U3的第1引脚上连接有工作指示灯LED10；USB转SPI/I2C芯片U3的第13和第14引脚之间连接有晶振X3；通过USB转SPI/I2C芯片U3将USB信号转出1组SPI信号和1组I2C信号。LED10是其工作指示灯。
优选地，所述USB转CAN模块包括第二ARM处理器和CAN接口模块；所述扩展出的USB端口通过第二ARM处理器与CAN接口模块连接，扩展出CAN端口。
具体实施时，如图6所示，USB转CAN模块包括两个第二ARM处理器U8.1和9.2以及CAN接口芯片U10；两个第二ARM处理器U8.1和9.2的型号均为STM32F103C8T6；CAN接口芯片U10的型号为SN65HVD255；
第二ARM处理器U8.1的第33、第32、第29引脚分别依次与电阻R28一端、电阻R29一端和电阻R30一端连接；电阻R28另一端以及电阻R30另一端均与集线芯片U1的USB-DP2端连接；电阻R29另一端与集线芯片U1的USB-DM2端连接；第二ARM处理器U8.1的44引脚通过电阻R26接地；第二ARM处理器U8.1的7引脚与电阻R27一端和电容C34一端连接；电容C34另一端接地；电阻R27另一端以及第二ARM处理器9.2均与3V电源连接；第二ARM处理器U8.1的独43、第45和第46引脚与CAN接口芯片U10连接；第二ARM处理器U8.1 的第25和第26引脚分别依次与工作指示灯LED11和LED12连接；通过个第二ARM处理器U8.1和9.2和CAN接口芯片U10将USB转换成CAN信号；LED11和LED12是其工作指示灯。
本实用新型还提供一种多合一调试装置，采用如上任意所述的多合一调试电路。
本实用新型提供的多合一调试装置，集成了电子开发工程师常用的测试工具，使用简单、方便；减少了测试端口的连线程序，提高了测试效率，也减少了对空间的占用。
尽管本文中较多的使用了诸如USB集线模块、USB转串口模块、CMSIS-DAP模块、USB转SPI/I2C模块、USB转CAN模块等术语，但并不排除使用其它术语的可能性。使用这些术语仅仅是为了更方便地描述和解释本实用新型的本质；把它们解释成任何一种附加的限制都是与本实用新型精神相违背的。
最后应说明的是：以上各实施例仅用以说明本实用新型的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述各实施例对本实用新型进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分或者全部技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本实用新型各实施例技术方案的范围。
Claims (9)
1.一种多合一调试电路，其特征在于，包括USB集线模块；其中：
所述USB集线模块扩展出若干USB端口；数控电源、电子负载、USB转串口模块、USB转CAN模块、USB转SPI/I2C模块和CMSIS-DAP模块分别与所述USB集线模块扩展出的USB端口连接；通过所述USB转串口模块扩展出RS485端口和RS232端口；通过所述USB转CAN模块扩展出CAN端口；通过USB转SPI/I2C模块扩展出SPI端口和I2C端口;通过CMSIS-DAP模块扩展出JTAG端口或SWD端口。
2.根据权利要求1所述的多合一调试电路，其特征在于：所述USB集线模块扩展出的若干USB端口预留一个用于充电。
3.根据权利要求1所述的多合一调试电路，其特征在于：所述USB集线模块采用FE2.1型号的芯片。
4.根据权利要求1所述的多合一调试电路，其特征在于：所述扩展出的若干USB端口、CAN端口、RS485端口和/或RS232端口、SPI端口和/或I2C端口、JTAG端口和/或SWD端口均设有工作指示灯。
5.根据权利要求1所述的多合一调试电路，其特征在于：所述USB转串口模块包括USB转4串口芯片、RS485芯片、RS232芯片；所述USB集线模块扩展出的USB端口通过4串口芯片分别与RS485芯片和RS232芯片连接；通过所述RS485芯片扩展出RS485端口；通过所述RS232芯片扩展出RS232端口。
6.根据权利要求1所述的多合一调试电路，其特征在于：所述CMSIS-DAP模块包括第一ARM处理器和JTAG模块；所述扩展出的USB端口通过ARM处理器与JTAG模块或SWD模块连接，扩展出JTAG端口或SWD端口。
7.根据权利要求1所述的多合一调试电路，其特征在于：所述USB转SPI/I2C模块采用CH341A型号芯片。
8.根据权利要求1所述的多合一调试电路，其特征在于：所述USB转CAN模块包括第二ARM处理器和CAN接口模块；所述扩展出的USB端口通过第二ARM处理器与CAN接口模块连接，扩展出CAN端口。
9.一种多合一调试装置，其特征在于：采用如权利要求1-8任一项所述的多合一调试电路。
Priority Applications (1)
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|---|---|---|---|
| CN201920439325.8U CN209486659U (zh) | 2019-04-02 | 2019-04-02 | 一种多合一调试电路及装置 |
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| CN201920439325.8U CN209486659U (zh) | 2019-04-02 | 2019-04-02 | 一种多合一调试电路及装置 |
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| CN (1) | CN209486659U (zh) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN111444049A (zh) * | 2020-03-05 | 2020-07-24 | 福州瑞芯微电子股份有限公司 | 一种usb线缆、多功能usb调试方法、调试器和调试装置 |
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2019
- 2019-04-02 CN CN201920439325.8U patent/CN209486659U/zh active Active
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| CN111444049A (zh) * | 2020-03-05 | 2020-07-24 | 福州瑞芯微电子股份有限公司 | 一种usb线缆、多功能usb调试方法、调试器和调试装置 |
| CN111444049B (zh) * | 2020-03-05 | 2022-05-13 | 瑞芯微电子股份有限公司 | 一种usb线缆、多功能usb调试方法、调试器和调试装置 |
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