CN105651698A - 用于光谱分析的点阵式定位检测平台 - Google Patents

用于光谱分析的点阵式定位检测平台 Download PDF

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CN105651698A
CN105651698A CN201511027833.8A CN201511027833A CN105651698A CN 105651698 A CN105651698 A CN 105651698A CN 201511027833 A CN201511027833 A CN 201511027833A CN 105651698 A CN105651698 A CN 105651698A
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马增
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Tianjin Sulun Technology Co ltd
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Tianjin Sulun Technology Co ltd
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    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/01—Arrangements or apparatus for facilitating the optical investigation

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Abstract

本发明公开了一种用于光谱分析的点阵式定位检测平台，包括第一平台、第二平台、第三平台，所述第一平台的底面通过第一滑轨和第一丝杠副与第二平台的上面相连接；所述第二平台的底面通过第二滑轨和第二丝杠副与第三平台的上面相连接；且第一滑轨和第二滑轨相互垂直设置；第一平台上设置有多个用于装卡光谱分析样品的样品放置夹具，所述样品放置夹具成点阵等间距的分布在第一平台上；所述样品放置夹具由上套筒、下套筒、弹簧和顶紧平台组成，其中上套筒的筒顶面设置有一圈凸台，上套筒和下套筒通过螺纹同轴连接，所述弹簧的一端固定在下套筒的底面上，弹簧的另一端与顶紧平台固定。

Description

用于光谱分析的点阵式定位检测平台
技术领域
本发明属于光谱分析装置技术领域，具体涉及一种用于光谱分析的点阵式定位检测平台。
背景技术
在光谱分析时，通常都是在光谱分析仪采光位置固定不变的情况下进行的，因此为了保证光谱分析的可靠性和精度，需要保证光谱分析仪的采光高度与样品表面位置的一致性(即保证光谱分析仪采光位置和待测样品表面之间的距离一致)，但是由于样品的大小形状不可能完全相同，所以很难保证每次光谱分析时光谱分析仪的采光高度与样品表面位置相一致。
此外，光谱分析仪采光位置固定不变，且样品通常放置于密闭环境中，一次放置一块样品进行分析，无法对多种小样品进行采集和分析，分析速度慢，分析效率低。
发明内容
本发明的目的在于克服现有技术的不足，提供一种用于光谱分析的点阵式定位检测平台。
本发明是通过以下技术方案实现的：
一种用于光谱分析的点阵式定位检测平台，包括第一平台、第二平台、第三平台，
所述第一平台的底面通过第一滑轨和第一丝杠副与第二平台的上面相连接；
所述第二平台的底面通过第二滑轨和第二丝杠副与第三平台的上面相连接；且第一滑轨和第二滑轨相互垂直设置；
第一平台上设置有多个用于装卡光谱分析样品的样品放置夹具，所述样品放置夹具成点阵等间距的分布在第一平台上；所述样品放置夹具由上套筒、下套筒、弹簧和顶紧平台组成，其中上套筒的筒顶面设置有一圈凸台，上套筒和下套筒通过螺纹同轴连接，所述弹簧的一端固定在下套筒的底面上，弹簧的另一端与顶紧平台固定。
在上述技术方案中，第一丝杠副包括通过轴承座固定在第二平台上的第一丝杠，以及与第一平台底面连接的第一丝杠螺母，第一丝杠与第一步进电机连接。
在上述技术方案中，第二丝杠副包括通过轴承座固定在第三平台上的第二丝杠，以及与第二平台底面连接的第二丝杠螺母，第二丝杠与第二步进电机连接。
在上述技术方案中，所述下套筒的底面固定在第一平台上。
在上述技术方案中，所述样品放置夹具的上套筒的内壁设置有内螺纹，下套筒的外壁设置有与上套筒相配合的外螺纹。
本发明的优点和有益效果为：
本发明设置有可沿X、Y方向移动的平台结构，并在该平台上设置有多个成点阵等间距分布的用于装卡光谱分析样品的样品放置夹具，样品放置夹具可分别装卡相同或者不同的待测样品，通过控制平台在X、Y方向上平移可以方便地切换待测样品，从而实现一次性对多种或者多个同种样品的快速高效光谱分析。同时，通过样品放置夹具保证了光谱分析样品上表面的高度是固定的，从而保证了光谱分析仪的采光高度与样品表面位置的一致性。
附图说明
图1是本发明的结构示意图。
图2是本发明中的样品放置夹具的结构示意图。
其中：1为第一平台，2为第二平台，2-1为第一滑轨，2-2为第一丝杠副，3为第三平台，3-1为第二滑轨，3-2为第二丝杠副，4为样品放置夹具，4-1为上套筒，4-2为下套筒，4-3为弹簧，4-4为顶紧平台，4-5为凸台。
具体实施方式
下面结合具体实施例进一步说明本发明的技术方案。
本发明所涉及的一种用于光谱分析的点阵式定位检测平台，包括第一平台1、第二平台2、第三平台3，
所述第一平台1的底面通过第一滑轨2-1和第一丝杠副2-2与第二平台2的上面相连接，第一丝杠副2-2包括通过轴承座固定在第二平台上的第一丝杠，以及与第一平台1底面连接的第一丝杠螺母，第一丝杠与第一步进电机连接，第一步进电机通过驱动第一丝杠副可以带动第一平台1在第二平台的滑轨上平移；
所述第二平台2的底面通过第二滑轨3-1和第二丝杠副3-2与第三平台3的上面相连接，第二丝杠副3-2包括通过轴承座固定在第三平台上的第二丝杠，以及与第二平台底面连接的第二丝杠螺母，第二丝杠与第二步进电机连接，第二步进电机通过驱动第二丝杠副可以带动第二平台2在第三平台的滑轨上平移；所述第一滑轨2-1和第二滑轨3-1相互垂直设置，以使第一平台可以沿X轴和Y轴移动。
第一平台1上设置有多个用于装卡光谱分析样品的样品放置夹具4，所述样品放置夹具4成点阵等间距的分布在第一平台1上；如图2所示，所述样品放置夹具4由上套筒4-1、下套筒4-2、弹簧4-3和顶紧平台4-4组成，其中上套筒4-1的筒顶面设置有一圈凸台4-5，上套筒4-1和下套筒4-2通过螺纹同轴连接(即上套筒4-1的内壁设置有内螺纹，下套筒4-2的外壁设置有与上套筒4-1相配合的外螺纹)，下套筒4-2设置有底面，所述弹簧4-3的一端固定在下套筒4-2的底面上，弹簧4-3的另一端与顶紧平台4-4固定；下套筒4-2的底面固定在第一平台1上。当对光谱分析样品进行装卡时，首先旋出上套筒4-1，然后将光谱分析样品(光谱分析样品预先加工成小于套筒筒径但大于凸台内径的圆柱形或圆形薄片)装入下套筒4-2中，然后将上套筒4-1旋入下套筒4-2，由于下套筒4-2的底面设置有弹簧，所以光谱分析样品会在弹簧的作用下被顶紧平台4-4和套筒4-1的凸台上下夹紧固定；由于上套筒4-1和下套筒4-2通过螺纹同轴连接后的总高度是固定的，所以保证了光谱分析样品上表面的高度是固定的，从而保证了光谱分析仪的采光高度与样品表面位置的一致性。
以上对本发明做了示例性的描述，应该说明的是，在不脱离本发明的核心的情况下，任何简单的变形、修改或者其他本领域技术人员能够不花费创造性劳动的等同替换均落入本发明的保护范围。

Claims (5)

1.一种用于光谱分析的点阵式定位检测平台，其特征在于：包括第一平台、第二平台、第三平台和样品放置夹具，
所述第一平台的底面通过第一滑轨和第一丝杠副与第二平台的上面相连接；
所述第二平台的底面通过第二滑轨和第二丝杠副与第三平台的上面相连接；且第一滑轨和第二滑轨相互垂直设置；
第一平台上设置有多个用于装卡光谱分析样品的样品放置夹具，所述样品放置夹具成点阵等间距的分布在第一平台上；所述样品放置夹具由上套筒、下套筒、弹簧和顶紧平台组成，其中上套筒的筒顶面设置有一圈凸台，上套筒和下套筒通过螺纹同轴连接，所述弹簧的一端固定在下套筒的底面上，弹簧的另一端与顶紧平台固定。
2.根据权利要求1所述的用于光谱分析的点阵式定位检测平台，其特征在于：第一丝杠副包括通过轴承座固定在第二平台上的第一丝杠，以及与第一平台底面连接的第一丝杠螺母，第一丝杠与第一步进电机连接。
3.根据权利要求1所述的用于光谱分析的点阵式定位检测平台，其特征在于：第二丝杠副包括通过轴承座固定在第三平台上的第二丝杠，以及与第二平台底面连接的第二丝杠螺母，第二丝杠与第二步进电机连接。
4.根据权利要求1所述的用于光谱分析的点阵式定位检测平台，其特征在于：所述下套筒的底面固定在第一平台上。
5.根据权利要求1所述的用于光谱分析的点阵式定位检测平台，其特征在于：所述样品放置夹具的上套筒的内壁设置有内螺纹，下套筒的外壁设置有与上套筒相配合的外螺纹。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN106053248A (zh) * 2016-08-24 2016-10-26 中钢集团洛阳耐火材料研究院有限公司 一种多试样高温弹性模量测试仪
CN114047128A (zh) * 2021-11-15 2022-02-15 深圳市一博珠宝仪器有限公司 一种测定和展示钻石光学特性的方法及仪器

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