CN105549241B - 显示用基板、显示面板、封框胶涂布质量检测方法及装置 - Google Patents

Abstract

本发明的实施例提供一种显示用基板、显示面板、封框胶涂布质量检测方法及装置，涉及显示技术领域，可较为准确、便捷的检测出液晶盒内封框胶的涂布质量。所述显示用基板由显示区域，以及包围所述显示区域的非显示区域组成，所述非显示区域包括环形的封装区域，所述封装区域用于设置封框胶，其中，在所述非显示区域内设置有多个检测单元，每个检测单元包括检测电极对和检测引线，所述检测电极对的两个电极相对设置在所述封装区域的两侧，每条所述检测引线的连接端与所述检测电极对中的一个电极相连，所述检测引线的检测端设置于所述封装区域外围的非显示区域。该方法可应用于显示面板的制造工艺中。

Description

显示用基板、显示面板、封框胶涂布质量检测方法及装置

技术领域

本发明涉及显示技术领域，尤其涉及一种显示用基板、显示面板、封框胶涂布质量检测方法及装置。

背景技术

LCD(Liquid Crystal Display，液晶显示器)通常包括相对设置的阵列基板和彩膜基板，并且通过在彩膜基板或阵列基板的四周涂布封框胶，使彩膜基板和阵列基板对盒后形成密封的液晶盒。

如果涂布的封框胶太细，则会影响彩膜基板和阵列基板粘接之间的粘结性，一旦封框胶老化后，就会破坏液晶盒的密封性，从而影响液晶显示器的显示质量；相应的，如果涂布的封框胶太宽，则制成的液晶显示器边框加宽，无法满足目前窄框技术的要求。

因此，在彩膜基板和阵列基板对盒后，通常使用显微镜抽检液晶盒内封框胶的涂布情况，但这种检测方法一般耗时比较长，且人工检测的准确性不高，另外，这种检测方法只能是对一部分产品进行抽查，无法有效保证液晶盒内封框胶的涂布质量。

发明内容

本发明的实施例提供一种显示用基板、显示面板、封框胶涂布质量检测方法及装置，可较为准确、便捷的检测出液晶盒内封框胶的涂布质量。

为达到上述目的，本发明的实施例采用如下技术方案：

一方面，本发明的实施例提供一种显示用基板，所述显示用基板由显示区域，以及包围所述显示区域的非显示区域组成，所述非显示区域包括环形的封装区域，所述封装区域用于设置封框胶，其中，

在所述非显示区域内设置有多个检测单元，每个检测单元包括检测电极对和检测引线，所述检测电极对的两个电极相对设置在所述封装区域的两侧，每条所述检测引线的连接端与所述检测电极对中的一个电极相连，所述检测引线的检测端设置于所述封装区域外围的非显示区域。

进一步地，所述多个检测单元中的检测电极对沿所述环形封装区域均匀设置。

进一步地，所述多个检测单元中检测引线的检测端均位于所述显示用基板的同一侧边。

另一方面，本发明的实施例提供一种显示面板，包括上述任一项所述的显示用基板。

另一方面，本发明的实施例提供一种显示面板的制造方法，包括：形成显示母板，所述显示母板包括第一基板母板和第二基板母板，其中，所述第一基板母板内包括多个上述显示用基板；对所述第二基板母板进行切割，露出所述第一基板母板内与检测单元中检测引线的检测端相连的延伸引线，以便于检测所述显示母板内各个显示面板中封框胶的涂布质量；将所述显示母板切割为多个所述显示面板。

进一步地，所述第一基板母板和所述第二基板母板之间设有母板封框胶，所述母板封框胶位于所述第一基板母板内多个显示用基板的外围；所述延伸引线延伸至所述母板封框胶的外侧。

进一步地，与所述检测单元中检测引线的检测端相连的延伸引线，均延伸至所述第一基板母板的同一侧边；其中，对所述第二基板母板进行切割，包括：沿所述延伸引线延伸至的侧边对应的所述母板封框胶，对第二基板母板进行切割，以露出所述第一基板母板的所述侧边上设置的所述延伸引线。

另一方面，本发明的实施例提供一种封框胶涂布质量检测方法，应用于上述任一项所述的显示用基板，在所述显示用基板完成对盒后，所述方法包括：获取所述显示用基板内第一检测单元中检测电极对之间的电容值，所述第一检测单元为所述显示用基板内的封装区域的两侧设置的多个检测单元中的任一个；判断所述电容值是否属于预先设置的电容范围，以得到判断结果，所述预先设置的电容范围与标准宽度的封框胶对应，所述标准宽度为所述封装区域的宽度，其中，所述判断结果为所述电容值属于所述预先设置的电容范围时，表明所述第一检测单元对应的封框胶正常；否则，表明所述第一检测单元对应的封框胶异常。

进一步地，在获取所述显示用基板内第一检测单元中检测电极对之间的电容值之前，还包括：检测测试用封框胶两侧的电容值，得到基准电容值，所述测试用封框胶的宽度为所述标准宽度；根据所述基准电容值以及预设的误差范围确定所述预先设置的电容范围。

另一方面，本发明的实施例提供一种封框胶涂布质量检测装置，应用于上述任一项所述的显示用基板，所述装置包括：获取单元，用于获取所述显示用基板内第一检测单元中检测电极对之间的电容值，所述第一检测单元为所述显示用基板内的封装区域的两侧设置的多个检测单元中的任一个；判断单元，用于判断所述电容值是否属于预先设置的电容范围，以得到判断结果，所述预先设置的电容范围与标准宽度的封框胶对应，所述标准宽度为所述封装区域的宽度，其中，所述判断结果为所述电容值属于所述预先设置的电容范围时，表明所述第一检测单元对应的封框胶正常；否则，表明所述第一检测单元对应的封框胶异常。

进一步地，所述获取单元，还用于检测测试用封框胶两侧的电容值，得到基准电容值，所述测试用封框胶的宽度为所述标准宽度；所述确定单元，还用于根据所述基准电容值以及预设的误差范围确定所述预先设置的电容范围。

进一步地，所述获取单元包括多对引线接口，每一对引线接口与所述显示用基板上的一个所述检测单元对应。

至此，本发明的实施例提供一种显示用基板、显示面板、封框胶涂布质量检测方法及装置，该显示用基板由显示区域，以及包围显示区域的非显示区域组成，该非显示区域包括环形封装区域，该封装区域用于设置封框胶，其中，在非显示区域内设置有多个检测单元，每个检测单元包括检测电极对和检测引线，检测电极对的两个电极相对设置在封装区域的两侧，每条检测引线的连接端与检测电极对中的一个电极相连，检测引线的检测端设置于封装区域外围的非显示区域。这样一来，封框胶涂布质量检测装置可以通过检测引线，检测出检测单元内的检测电极对之间的电容值，由于检测电极对之间涂布有封框胶，当封框胶的宽度发生变化时，与其对应的检测电极对的电容值也会随之变化，因此，可以根据检测单元内的检测电极对之间的电容值，确定该检测单元内对应的封框胶的宽度，进而确定该检测单元对应的封框胶是否正常，从而较为准确、便捷的检测出液晶盒内封框胶的涂布质量。

附图说明

图1为本发明实施例提供的封框胶与电容之间的位置关系示意图；

图2为本发明实施例提供的一种彩膜基板的结构示意图；

图3为本发明实施例提供的一种显示面板的制作方法流程示意图；

图4为本发明实施例提供的一种显示母板的结构示意图一；

图5为本发明实施例提供的一种显示母板的结构示意图二；

图6为本发明实施例提供的一种封框胶涂布质量检测方法的流程示意图；

图7本发明实施例提供的一种封框胶涂布质量检测装置的结构示意图一；

图8本发明实施例提供的一种封框胶涂布质量检测装置的结构示意图二；

图9为本发明实施例提供的一种计算机设备的结构示意图。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。

另外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本发明的描述中，除非另有说明，“多个”的含义是两个或两个以上。

为清楚阐述本发明的实施例提供的显示用基板、显示面板、封框胶涂布质量检测方法及装置，首先解释封框胶与电容之间的变化关系。

如图1所示，具有电势差的导电片之间可以设置封框胶02，从而构成电容01，当封框胶02在电容01内的宽度K发生变化时，电容01的取值也会随之变化，基于上述变化关系，在本发明实施例中，可以首先检测出当封框胶02宽度为标准宽度(即显示用基板内封装区域的宽度)时，电容01的电容值，该电容值即为后续检测的基准电容值，例如，电容01内封框胶02的宽度为K＝1毫米，此时，电容01的取值为1.2法拉，那么，当检测单到显示面板中某一位置的封框胶所对应的电容01值远大于，或远小于1.2法拉时，则可以确定该处的封框胶涂布异常。

基于上述封框胶与电容之间的变化关系，本发明的实施例提供一种显示用基板100，如图2所示，显示用基板100由显示区域11，以及包围显示区域11的非显示区域12组成，该非显示区域12包括环形的封装区域13，所述封装区域13用于设置封框胶。

其中，在非显示区域12内设置有多个检测单元21，每个检测单元21包括检测电极对31和检测引线32，检测电极对31的两个电极相对设置在封装区域13的两侧，每条检测引线32的连接端与检测电极对中的一个电极相连，检测引线32的检测端设置于封装区域13外围的非显示区域12。

这样一来，封框胶涂布质量检测装置可以通过检测引线32，检测出检测单元21内的检测电极对31的电容值，由于检测电极对31内涂布有封框胶，当封框胶的宽度发生变化时，与其对应的检测电极对31的电容值也会随之变化，因此，可以根据检测单元21内的检测电极对31的电容值，确定该检测单元21内对应的封框胶的宽度，进而确定该检测单元21对应的封框胶是否正常，从而较为准确、便捷的检测出液晶盒内封框胶的涂布质量。

需要说明的是，显示用基板100可以是构成显示面板的基板，通常，显示面板包括相对设置的两个基板，例如彩膜基板和阵列基板，这两个基板都可以称为显示用基板100。

进一步地，由于彩膜基板中间设置的是彩色滤光片，而彩色滤光片以外都是空白区域，因此，可选的，可以将彩膜基板作为上述显示用基板100，本发明实施例对此不作任何限制。

进一步地，由于封装区域13的两侧设置有多个检测单元21，为了方便测量这多个检测单元21内检测电极对31的电容值，如图2所示，可以将所有检测单元21中的检测引线32的检测端均设置于显示用基板100的同一侧边300，便于一次性测量这多个检测单元21内检测电极对31之间的电容值。

另外，在实际的制作工艺中，多个液晶盒可以同时设置在一整张玻璃板内，最终通过切割工艺将这一整张玻璃板切割为多个独立的液晶盒，此时，可以设置所有检测单元21中的检测引线32的另一端均从这一整张玻璃板的同一侧边引出，这样，在切割为多个独立的液晶盒之前，可以一次性测量这一整张玻璃板内所有液晶盒中封框胶的涂布质量。

通过上述封框胶与电容之间的变化关系可以看出，检测封框胶的涂布质量，与封装区域13的两侧设置的检测单元21的密度和均匀度有关，因此，当检测单元21的个数一定时，可以沿环形封装区域13均匀设置上述检测单元21，以提高检测封框胶涂布质量的准确性。

需要说明的是，上述显示用基板100的制作方法与现有技术类似，例如，可以先在衬底基板上制作TFT(Thin Film Transistor，薄膜晶体管)单元和电极单元等；进而，通过构图工艺或者溅射工艺在非显示区域12内制作上述检测电极对31和检测引线32，最终得到显示用基板100。

以显示用基板100为彩膜基板为例，首先，与现有技术类似的，可以在衬底基板上分别制作黑矩阵、彩色滤片和隔垫物等；进而，通过构图工艺或者溅射工艺在封装区域13的两侧制作上述检测电极对31，以及与检测电极对31相连的检测引线32，检测引线32的检测端设置于封装区域13外围的非显示区域12。

其中，需要说明的是，在制作上述检测电极对31和检测引线32的过程中，涂覆的光刻胶的厚度可以大于上述隔垫物的高度，这样一来，可以避免在后续刻蚀、显影或曝光等工艺中损害已经制作完成的隔垫物。

进一步地，本发明实施例还提供了一种显示面板，该显示面板包括上述的显示用基板100。其中，该显示面板可以为：液晶面板、电子纸、OLED面板、手机、平板电脑、电视机、显示器、笔记本电脑、数码相框、导航仪等任何具有显示功能的产品或部件。

进一步地，本发明实施例还提供了一种显示面板的制造方法，如图3所示，包括：

101、形成显示母板，该显示母板包括第一基板母板和第二基板母板，其中，第一基板母板内包括多个上述显示用基板。

具体的，第一基板母板和第二基板母板经过对盒后形成显示母板，一张显示母板可切割为多个显示面板，相应的，第一基板母板内包括多个上述显示用基板100。

其中，如图4和图5所示，图4为显示母板的俯视图，图5为显示母板的剖视图；第一基板母板302和第二基板母板303之间设有母板封框胶301，母板封框胶301位于第一基板母板内多个显示用基板100的外围。

102、对第二基板母板进行切割，露出第一基板母板内与检测单元中检测引线的检测端相连的延伸引线，以便于检测显示母板内各个显示面板中封框胶的涂布质量。

其中，如图5所示，与检测单元21中检测引线32的检测端相连的延伸引线33，均延伸至所述第一基板母板302的同一侧边；且延伸引线33设置于母板封框胶301的外侧。

此时，可沿延伸引线33延伸至的侧边对应的母板封框胶301，对第二基板母板303进行切割，以露出第一基板母板的上述侧边上设置的延伸引线33，进而，可通过露出的延伸引线33，一次性测量整个显示母板上所有显示面板内所有检测单元21内封框胶的涂布质量。

103、将显示母板切割为多个显示面板。

与现有技术类似的，可以将显示母板内的每一个显示面板四周多与的区域切掉，最终得到多个显示面板。

至此，本发明的实施例提供一种显示用基板、显示面板及显示面板的制作方法，该显示用基板由显示区域，以及包围显示区域的非显示区域组成，该非显示区域包括环形的封装区域，该封装区域用于设置封框胶，其中，在非显示区域内设置有多个检测单元，每个检测单元包括检测电极对和检测引线，检测电极对的两个电极相对设置在封装区域的两侧，每条检测引线的连接端与检测电极对中的一个电极相连，检测引线的检测端设置于封装区域外围的非显示区域。这样一来，封框胶涂布质量检测装置可以通过检测引线，检测出检测单元内的检测电极对之间的电容值，由于检测电极对之间涂布有封框胶，当封框胶的宽度发生变化时，与其对应的检测电极对的电容值也会随之变化，因此，可以根据检测单元内的检测电极对之间的电容值，确定该检测单元内对应的封框胶的宽度，进而确定该检测单元对应的封框胶是否正常，从而较为准确、便捷的检测出液晶盒内封框胶的涂布质量。

进一步地，本发明实施例还提供了一种封框胶涂布质量检测方法，可应用于上述任一种显示用基板100，如图6所示，该方法包括：

201、检测测试用封框胶两侧的电容值，得到基准电容值，该测试用封框胶的宽度为封装区域的宽度。

具体的，显示用基板100上封装区域的宽度为标准宽度，即封框胶涂覆质量最佳时的宽度，例如，1毫米宽。

此时，可以使用检测电极对检测测试用封框胶两侧的电容值，由于该测试用封框胶的宽度为封装区域的宽度，因此，可得到基准电容值，例如，此时的电容值为1.2法拉，即基准电容值为1.2法拉。

202、根据该基准电容值以及预设的误差范围预先设置电容范围。

由于测量时会有误差，因此，为了准确的确定后续检测封框胶质量时使用的电容范围，可以根据该基准电容值以及预设的误差范围预先设置电容范围，例如，基准电容值为1.2法拉，误差范围为0.2法拉，那么，此时的电容范围为1.0法拉-1.4法拉，也就是说，当测量显示面板内检测电极对31的电容值在1.0法拉-1.4法拉的范围内时，可以确定此时检测电极对31内的封框胶的宽度在1毫米左右，即此处的封框胶正常。

需要说明的是，步骤201-202为可选步骤，作为另一种可能的实现方式，操作人员可以手动的向封框胶涂布质量检测装置中预先设置电容范围，本发明实施例对此不做限定。

203、获取显示用基板内第一检测单元中检测电极对的电容值，该第一检测单元为显示用基板内封装区域的两侧设置有多个检测单元中的任一个。

在步骤203中，由于检测单元21内检测电极对31相对设置在封装区域13的两侧，检测引线32的一端与检测电极对31相连，检测引线32的另一端沿封装区域13的两侧从显示用基板100的侧边引出，因此，对于任意一个检测单元21，例如，第一检测单元，封框胶涂布质量检测装置可以获取显示用基板100内第一检测单元中检测电极对31的电容值。

具体的，封框胶涂布质量检测装置内设置有多对引线接口，每一对引线接口与显示用基板上的一个检测单元对应，那么，可以将一对引线接口向第一检测单元中的检测引线32连接至一对引线接口，向第一检测单元中的检测电极对31供电，使第一检测单元内检测电极对31、检测引线32、和电源形成闭合的回路，以便于检测所述第一检测单元中检测电极对31的电容值。

204、判断该电容值是否属于预先设置的电容范围，得到判断结果，该预先设置的电容范围与标准宽度的封框胶对应，该标准宽度为所述封装区域的宽度。

205、若该电容值属于预先设置的电容范围，则确定第一检测单元对应的封框胶正常。

具体的，若步骤203中测得的电容值属于步骤202中预先设置的电容范围，则封框胶涂布质量检测装置可确定第一检测单元内对应的封框胶正常。

另外，由于封框胶涂布质量检测装置内设置有多对引线接口，每一对引线接口与显示用基板上的一个检测单元对应，因此，可以按照上述方法同时检测出多个检测单元内对应的封框胶是否正常，从而提高封框胶质量检测的效率。

进一步地，图7为本发明实施例提供的一种封框胶涂布质量检测装置的结构示意图，本发明实施例提供的监控节点可以用于实施上述图1-图4所示的本发明各实施例实现的方法，为了便于说明，仅示出了与本发明实施例相关的部分，具体技术细节未揭示的，请参照图1-图4所示的本发明各实施例。

具体的，如图7所示，该封框胶涂布质量检测装置包括获取单元41和判断单元42。

其中，获取单元41，用于获取所述显示用基板内第一检测单元中检测电极对之间的电容值，所述第一检测单元为所述显示用基板内的封装区域的两侧设置的多个检测单元中的任一个；

判断单元42，用于判断所述电容值是否属于预先设置的电容范围，以得到判断结果，所述预先设置的电容范围与标准宽度的封框胶对应，所述标准宽度为所述封装区域的宽度，

其中，所述判断结果为所述电容值属于所述预先设置的电容范围时，表明所述第一检测单元对应的封框胶正常；否则，表明所述第一检测单元对应的封框胶异常。

进一步地，如图8所示，该封框胶涂布质量检测装置还包括确定单元43，其中，

所述获取单元41，还用于检测测试用封框胶两侧的电容值，得到基准电容值，所述测试用封框胶的宽度为所述标准宽度；

所述确定单元43，用于根据所述基准电容值以及预设的误差范围确定所述预先设置的电容范围。

进一步地，所述获取单元41包括多对引线接口，每一对引线接口与所述显示用基板上的一个所述检测单元对应。

另外，如图9所示，图7或图8中的封框胶涂布质量检测装置可以以图9中的计算机设备(或系统)的方式来实现。

图9所示为本发明实施例提供的计算机设备示意图。计算机设备包括至少一个处理器51，通信总线52，存储器53以及至少一个通信接口54。

上述获取单元41、判断单元42、以及确定单元43均可以通过图8所示的处理器51调用存储器53中的指令实现。

处理器51可以是一个通用中央处理器(CPU)，微处理器，特定应用集成电路(application-specific integrated circuit，ASIC)，或一个或多个用于控制本发明方案程序执行的集成电路。

通信总线52可包括一通路，在上述组件之间传送信息。所述通信接口54，使用任何收发器一类的装置，用于与其他设备或通信网络通信，如以太网，无线接入网(RAN)，无线局域网(Wireless Local Area Networks，WLAN)等。

存储器53可以是只读存储器(read-only memory，ROM)或可存储静态信息和指令的其他类型的静态存储设备，随机存取存储器(random access memory，RAM)或者可存储信息和指令的其他类型的动态存储设备，也可以是电可擦可编程只读存储器(ElectricallyErasable Programmable Read-Only Memory，EEPROM)、只读光盘(Compact Disc Read-Only Memory，CD-ROM)或其他光盘存储、光碟存储(包括压缩光碟、激光碟、光碟、数字通用光碟、蓝光光碟等)、磁盘存储介质或者其他磁存储设备、或者能够用于携带或存储具有指令或数据结构形式的期望的程序代码并能够由计算机存取的任何其他介质，但不限于此。存储器53可以是独立存在，通过总线与处理器相连接。存储器53也可以和处理器集成在一起。

其中，所述存储器53用于存储执行本发明方案的应用程序代码，并由处理器51来控制执行。所述处理器51用于执行所述存储器53中存储的应用程序代码。

在具体实现中，作为一种实施例，处理器51可以包括一个或多个CPU，例如图9中的CPU0和CPU1。

在具体实现中，作为一种实施例，计算机设备可以包括多个处理器，例如图9中的处理器51和处理器58。这些处理器中的每一个可以是一个单核(single-CPU)处理器，也可以是一个多核(multi-CPU)处理器。这里的处理器可以指一个或多个设备、电路、和/或用于处理数据(例如计算机程序指令)的处理核。

在具体实现中，作为一种实施例，计算机设备还可以包括输出设备55和输入设备56。输出设备55和处理器51通信，可以以多种方式来显示信息。例如，输出设备55可以是液晶显示器(liquid crystal display，LCD),发光二级管(light emitting diode，LED)显示设备，阴极射线管(cathode ray tube，CRT)显示设备，或投影仪(projector)等。输入设备56和处理器51通信，可以以多种方式接受用户的输入。例如，输入设备56可以是鼠标、键盘、触摸屏设备或传感设备等。

上述的计算机设备可以是一个通用计算机设备或者是一个专用计算机设备。在具体实现中，计算机设备可以是台式机、便携式电脑、网络服务器、掌上电脑(PersonalDigital Assistant，PDA)、移动手机、平板电脑、无线终端设备、通信设备、嵌入式设备或有图9中类似结构的设备。本发明实施例不限定计算机设备的类型。

至此，本发明的实施例提供一种封框胶涂布质量检测方法及装置，其中，显示用基板由显示区域以及包围显示区域的非显示区域组成，该非显示区域包括环形封装区域，该封装区域用于设置封框胶，其中，在非显示区域内设置有多个检测单元，每个检测单元包括检测电极对和检测引线，检测电极对的两个电极相对设置在封装区域的两侧，每条检测引线的连接端与检测电极对中的一个电极相连，检测引线的检测端设置于封装区域外围的非显示区域。这样一来，封框胶涂布质量检测装置可以通过检测引线，检测出检测单元内的检测电极对之间的电容值，由于检测电极对之间涂布有封框胶，当封框胶的宽度发生变化时，与其对应的检测电极对的电容值也会随之变化，因此，可以根据检测单元内的检测电极对之间的电容值，确定该检测单元内对应的封框胶的宽度，进而确定该检测单元对应的封框胶是否正常，从而较为准确、便捷的检测出液晶盒内封框胶的涂布质量。

在本说明书的描述中，具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。

以上所述，仅为本发明的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此，本发明的保护范围应以权利要求的保护范围为准。

Claims (12)

1.一种显示用基板，其特征在于，所述显示用基板由显示区域，以及包围所述显示区域的非显示区域组成，所述非显示区域包括环形的封装区域，所述封装区域用于设置封框胶，其中，

在所述非显示区域内设置有多个检测单元，每个检测单元包括检测电极对和检测引线，所述检测电极对的两个电极相对设置在所述封装区域的两侧，每条所述检测引线的连接端与所述检测电极对中的一个电极相连，所述检测引线的检测端设置于所述封装区域外围的非显示区域。

2.根据权利要求1所述的显示用基板，其特征在于，所述多个检测单元中的检测电极对沿所述环形的封装区域均匀设置。

3.根据权利要求1或2所述的显示用基板，其特征在于，所述多个检测单元中检测引线的检测端均位于所述显示用基板的同一侧边。

4.一种显示面板，其特征在于，包括如权利要求1-3中任一项所述的显示用基板。

5.一种显示面板的制造方法，其特征在于，包括：

形成显示母板，所述显示母板包括对盒的第一基板母板和第二基板母板，其中，所述第一基板母板内包括多个如权利要求1-3中任一项所述的显示用基板；

对所述第二基板母板进行切割，露出所述第一基板母板内与检测单元中检测引线的检测端相连的延伸引线，以便于检测所述显示母板内各个显示面板中封框胶的涂布质量；

将所述显示母板切割为多个所述显示面板。

6.根据权利要求5所述的制造方法，其特征在于，所述第一基板母板和所述第二基板母板之间设有母板封框胶，所述母板封框胶位于所述第一基板母板内多个显示用基板的外围；所述延伸引线延伸至所述母板封框胶的外侧。

7.根据权利要求6所述的制造方法，其特征在于，与所述检测单元中检测引线的检测端相连的延伸引线，均延伸至所述第一基板母板的同一侧边；

其中，对所述第二基板母板进行切割，包括：

沿所述延伸引线延伸至的侧边对应的所述母板封框胶，对第二基板母板进行切割，以露出所述第一基板母板的所述侧边上设置的所述延伸引线。

8.一种封框胶涂布质量检测方法，其特征在于，应用于如权利要求1-3中任一项所述的显示用基板，在所述显示用基板完成对盒后，所述方法包括：

获取所述显示用基板内第一检测单元中检测电极对之间的电容值，所述第一检测单元为所述显示用基板内的封装区域的两侧设置的多个检测单元中的任一个；

判断所述电容值是否属于预先设置的电容范围，以得到判断结果，所述预先设置的电容范围与标准宽度的封框胶对应，所述标准宽度为所述封装区域的宽度，

其中，所述判断结果为所述电容值属于所述预先设置的电容范围时，表明所述第一检测单元对应的封框胶正常；否则，表明所述第一检测单元对应的封框胶异常。

9.根据权利要求8所述的方法，其特征在于，在获取所述显示用基板内第一检测单元中检测电极对之间的电容值之前，还包括：

检测测试用封框胶两侧的电容值，得到基准电容值，所述测试用封框胶的宽度为所述标准宽度；

根据所述基准电容值以及预设的误差范围确定所述预先设置的电容范围。

10.一种封框胶涂布质量检测装置，其特征在于，应用于如权利要求1-3中任一项所述的显示用基板，所述装置包括：

获取单元，用于获取所述显示用基板内第一检测单元中检测电极对之间的电容值，所述第一检测单元为所述显示用基板内的封装区域的两侧设置的多个检测单元中的任一个；

判断单元，用于判断所述电容值是否属于预先设置的电容范围，以得到判断结果，所述预先设置的电容范围与标准宽度的封框胶对应，所述标准宽度为所述封装区域的宽度，

其中，所述判断结果为所述电容值属于所述预先设置的电容范围时，表明所述第一检测单元对应的封框胶正常；否则，表明所述第一检测单元对应的封框胶异常。

11.根据权利要求10所述的检测装置，其特征在于，所述检测装置还包括确定单元，

所述获取单元，还用于检测测试用封框胶两侧的电容值，得到基准电容值，所述测试用封框胶的宽度为所述标准宽度；

所述确定单元，用于根据所述基准电容值以及预设的误差范围确定所述预先设置的电容范围。

12.根据权利要求10或11所述的检测装置，其特征在于，所述获取单元包括多对引线接口，每一对引线接口与所述显示用基板上的一个所述检测单元对应。