CN105424714A - 基于多管脚的缺陷检测装置及其检测方法 - Google Patents

基于多管脚的缺陷检测装置及其检测方法 Download PDF

Info

Publication number
CN105424714A
CN105424714A CN201510967320.9A CN201510967320A CN105424714A CN 105424714 A CN105424714 A CN 105424714A CN 201510967320 A CN201510967320 A CN 201510967320A CN 105424714 A CN105424714 A CN 105424714A
Authority
CN
China
Prior art keywords
pin
sample
image
detecting device
detection method
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CN201510967320.9A
Other languages
English (en)
Other versions
CN105424714B (zh
Inventor
陆起涌
陈卫
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nanjing Hetun Automation Technology Co Ltd
Original Assignee
Nanjing Hetun Automation Technology Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nanjing Hetun Automation Technology Co Ltd filed Critical Nanjing Hetun Automation Technology Co Ltd
Priority to CN201510967320.9A priority Critical patent/CN105424714B/zh
Publication of CN105424714A publication Critical patent/CN105424714A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN105424714B publication Critical patent/CN105424714B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/8851Scan or image signal processing specially adapted therefor, e.g. for scan signal adjustment, for detecting different kinds of defects, for compensating for structures, markings, edges
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/8851Scan or image signal processing specially adapted therefor, e.g. for scan signal adjustment, for detecting different kinds of defects, for compensating for structures, markings, edges
    • G01N2021/8854Grading and classifying of flaws
    • G01N2021/8861Determining coordinates of flaws
    • G01N2021/8864Mapping zones of defects
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/8851Scan or image signal processing specially adapted therefor, e.g. for scan signal adjustment, for detecting different kinds of defects, for compensating for structures, markings, edges
    • G01N2021/8887Scan or image signal processing specially adapted therefor, e.g. for scan signal adjustment, for detecting different kinds of defects, for compensating for structures, markings, edges based on image processing techniques

Abstract

本发明公开了一种基于多管脚的缺陷检测装置及其检测方法,包括用于采集样品图像的摄像机,所述摄像机的下方对称布置两个采用高角度照明方式的LED光源,所述LED光源下方设有用于放置与输送样品的传送平台,该传送平台的侧边设有用于剔除不合格样品的剔除机构;所述该摄像机与用于接收并处理采集到的样品图像的工控机相连接,该工控机上还连接有用于显示工控机做出的图像处理结果的显示器。本发明实现了多管脚缺陷的自动在线检测,降低生产成本、提高了检测效率,以及极大的提高离开检测的精准度,很好的克服了传统人工检测中的检漏现象与检错现象。

Description

基于多管脚的缺陷检测装置及其检测方法
技术领域
本发明涉及产品质量检测领域,尤其涉及一种基于多管脚的缺陷检测装置及其检测方法。
背景技术
在制造业中,引线末端的一段,通过软钎焊使这一段与印制板上的焊盘共同形成焊点。管脚,又叫引脚,英文叫Pin。就是从集成电路(芯片)内部电路引出与外围电路的接线,所有的管脚就构成了这块芯片的接口。管脚的质量好坏直接影响芯片的使用性能,关乎芯片质量。
目前,管脚产品完成制作工序后,主要依靠人工目视检测方法检测芯片的管脚数量,以及用卡尺测量芯片的管脚间距。这种传统目视检测方法耗费的人力资源巨大,给相关企业带来了巨大的经济损失;其次,检测结果与检测质量受主观因素影响极大;另外,检测效率低,不能满足现代工业的自动化生产需求。
因此,亟待解决上述问题。
发明内容
发明目的:为了克服现有多管脚缺陷检测方法所存在的检测效率低、自动化程度低,本发明的第一目的是提供一种高效率、高准确率的基于多管脚的缺陷检测装置
本发明的第二目的是提供一种应用基于多管脚的缺陷检测装置的检测方法。
技术方案:本近年来,机器视觉作为自动化行业的前沿技术,凭借着视觉系统非接触、速度快、精度高、现场抗干扰能力强等突出的优点,在制造业中得到了广泛的应用,取得了巨大的经济效益。在大批量生产中,机器视觉系统能够快速、准确、高效地检测产品的质量,与采用人眼检测相比,生产效率得到了较大的提高。
本发明公开了一种基于多管脚的缺陷检测装置,包括用于采集样品图像的摄像机,所述摄像机的下方对称布置两个采用高角度照明方式的LED光源,所述LED光源下方设有用于放置与输送样品的传送平台,该传送平台的侧边设有用于剔除不合格样品的剔除机构;所述该摄像机与用于接收并处理采集到的样品图像的工控机相连接,该工控机上还连接有用于显示工控机做出的图像处理结果的显示器。
优选的,所述传送平台为带式传送平台。
其中,所述剔除机构包括吹风装置。
本发明应用基于多管脚的缺陷检测装置的检测方法,所述摄像机采集到样品图像,并将图像传输至工控机中进行处理;具体检测方法包括如下步骤:
步骤1、将采集的RGB图像转换为HSV分量图像,并选取H分量图像;
步骤2、图像目标区域确定,利用阈值分割技术提取多管脚样品的目标区域;
步骤3、根据最大目标区域长度方向的平行性,分析出多管脚样品的方向与偏角;
步骤4、根据所得的方向与偏角,旋转步骤1中的RGB图像,使得样品的管脚呈水平方向排列;
步骤5、在管脚区域内计算管脚所在位置,根据管脚位置间的间隙,计算是否存在误差。
步骤6、当管脚存在缺陷时,工控机发送指令启动剔除装置,将样品剔除出传送平台;当管脚无缺陷时,传送平台将样品传送至下一工序。
进一步,所述步骤5中,根据管脚位置间的间隙,计算是否存在误差,具体步骤为:
1)在管脚区域内,计算目标区域的水平灰度直方图;
2)根据水平灰度直方图,得到n个波峰,即为n个管脚;
3)计算每两个管脚之间的像素差,分别为P1、P2……Pn-1
4)计算管脚目标区域内两管脚像素差的平均值为P;
5)当每两个两个管脚之间的像素差P1、P2……Pn-1与平均值P的差值的绝对值小于判定值T,则表示管脚无缺陷;相反,当大于判定值T时,则表示管脚存在缺陷。
优选的,所述判定值T为6像素。
有益效果:与现有技术相比,本发明的显著优点是:首先,本发明基于视觉检测技术实现了自动化检测,提高了检测效率,降低了生产成本;其次,本发明利用灰度值检测管脚缺陷,可快速并精准的确定样品管脚数量,以及管脚间距;再者,本发明的检测方法无需耗费大量的人力资源,可给相关企业带来了巨大的经济效益;最后,本发明的检测结果与检测质量不受主观因素影响,能很好的满足现代工业的自动化生产需求。
附图说明
图1为本发明基于多管脚的缺陷检测装置的结构示意图;
图2为本发明应用基于多管脚的缺陷检测装置的检测方法的流程图
图3为本发明应用基于多管脚的缺陷检测装置的检测方法中多管脚样品的RGB图;
图4为本发明应用基于多管脚的缺陷检测装置的检测方法中多管脚样品的H分量图;
图5为本发明应用基于多管脚的缺陷检测装置的检测方法中多管脚样品的阈值分割图;
图6为本发明应用基于多管脚的缺陷检测装置的检测方法中多管脚样品的最大区域图;
图7为本发明应用基于多管脚的缺陷检测装置的检测方法中多管脚样品旋转后的RGB图;
图8为本发明应用基于多管脚的缺陷检测装置的检测方法中多管脚样品的管脚位置间隙图;
图9为本发明应用基于多管脚的缺陷检测装置的检测方法中多管脚样品的管脚位置目标区域图;
图10为本发明应用基于多管脚的缺陷检测装置的检测方法中多管脚样品的管脚位置目标区域图的水平灰度直方图。
具体实施方式
下面结合附图对本发明的技术方案作进一步说明。
如图1、图2所示,本发明公开了一种基于多管脚的缺陷检测装置,包括用于采集样品图像的摄像机1,所述摄像机1的下方对称布置两个采用高角度照明方式的LED光源2,所述LED光源2下方设有用于放置与输送样品的传送平台3,该传送平台3的侧边设有用于剔除不合格样品的剔除机构4;所述该摄像机1与用于接收并处理采集到的样品图像的工控机5相连接,该工控机5上还连接有用于显示工控机5做出的图像处理结果的显示器6。
所述传送平台3为带式传送平台。
所述剔除机构4包括吹风装置。
如图3-图10所示,本发明应用基于多管脚的缺陷检测装置的检测方法,在进行实际检测时,当样品处于摄像机1正下方时,摄像机1进行图像采集,然后将图像传送至工控机5,选取样品RGB图像,进行检测;具体检测方法包括如下步骤:
步骤1、将采集的RGB图像转换为HSV分量图像,并选取H分量图像;
步骤2、图像目标区域确定,利用阈值分割技术提取多管脚样品的目标区域;
步骤3、根据最大目标区域长度方向的平行性,分析出多管脚样品的方向与偏角;
步骤4、根据所得的方向与偏角,旋转步骤1中的RGB图像,使得样品的管脚呈水平方向排列;
步骤5、在管脚区域内计算管脚所在位置,根据管脚位置间的间隙,计算是否存在误差。
步骤6、当管脚存在缺陷时,工控机5发送指令启动剔除装置4,将样品剔除出传送平台3;当管脚无缺陷时,传送平台3将样品传送至下一工序。
其中,所述步骤5中,根据管脚位置间的间隙,计算是否存在误差,具体步骤为:
1)在管脚区域内,计算目标区域的水平灰度直方图;
2)根据水平灰度直方图,得到n个波峰,即为n个管脚;
3)计算每两个管脚之间的像素差,分别为P1、P2……Pn-1
4)计算管脚目标区域内两管脚像素差的平均值为P;
5)当每两个两个管脚之间的像素差P1、P2……Pn-1与平均值P的差值的绝对值小于判定值T,则表示管脚无缺陷;相反,当大于判定值T时,则表示管脚存在缺陷。
本发明中判定值T为6像素。

Claims (6)

1.一种基于多管脚的缺陷检测装置,其特征在于:包括用于采集样品图像的摄像机(1),所述摄像机(1)的下方对称布置两个采用高角度照明方式的LED光源(2),所述LED光源(2)下方设有用于放置与输送样品的传送平台(3),该传送平台(3)的侧边设有用于剔除不合格样品的剔除机构(4);所述该摄像机(1)与用于接收并处理采集到的样品图像的工控机(5)相连接,该工控机(5)上还连接有用于显示工控机(5)做出的图像处理结果的显示器(6)。
2.根据权利要求1所述的基于多管脚的缺陷检测装置,其特征在于:所述传送平台(3)为带式传送平台。
3.根据权利要求1所述的基于多管脚的缺陷检测装置,其特征在于:所述剔除机构(4)包括吹风装置。
4.根据权利要求1所述的应用基于多管脚的缺陷检测装置的检测方法,其特征在于:所述摄像机(1)采集到样品图像,并将图像传输至工控机(5)中进行处理;具体检测方法包括如下步骤:
步骤1、将采集的RGB图像转换为HSV分量图像,并选取H分量图像;
步骤2、图像目标区域确定,利用阈值分割技术提取多管脚样品的目标区域;
步骤3、根据最大目标区域长度方向的平行性,分析出多管脚样品的方向与偏角;
步骤4、根据所得的方向与偏角,旋转步骤1中的RGB图像,使得样品的管脚呈水平方向排列;
步骤5、在管脚区域内计算管脚所在位置,根据管脚位置间的间隙,计算是否存在误差。
步骤6、当管脚存在缺陷时,工控机(5)发送指令启动剔除装置(4),将样品剔除出传送平台(3);当管脚无缺陷时,传送平台(3)将样品传送至下一工序。
5.根据权利要求4所述的应用基于多管脚的缺陷检测装置的检测方法,其特征在于,所述步骤5中,根据管脚位置间的间隙,计算是否存在误差,具体步骤为:
1)在管脚区域内,计算目标区域的水平灰度直方图;
2)根据水平灰度直方图,得到n个波峰,其中n代表存在n个管脚;
3)计算每两个管脚之间的像素差,分别为P1、P2……Pn-1
4)计算管脚目标区域内两管脚像素差的平均值为P;
5)当每两个管脚之间的像素差P1、P2……Pn-1与平均值P的差值的绝对值小于判定值T,则表示管脚无缺陷;相反,当大于判定值T时,则表示管脚存在缺陷。
6.根据权利要求4所述的应用基于多管脚的缺陷检测装置的检测方法,其特征在于,所述判定值T为6像素。
CN201510967320.9A 2015-12-21 2015-12-21 基于多管脚的缺陷检测装置及其检测方法 Active CN105424714B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201510967320.9A CN105424714B (zh) 2015-12-21 2015-12-21 基于多管脚的缺陷检测装置及其检测方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201510967320.9A CN105424714B (zh) 2015-12-21 2015-12-21 基于多管脚的缺陷检测装置及其检测方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN105424714A true CN105424714A (zh) 2016-03-23
CN105424714B CN105424714B (zh) 2018-04-27

Family

ID=55503063

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201510967320.9A Active CN105424714B (zh) 2015-12-21 2015-12-21 基于多管脚的缺陷检测装置及其检测方法

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN105424714B (zh)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105806846A (zh) * 2016-04-06 2016-07-27 江苏万乐复合材料有限公司 一种用于纸塑复合袋一体机的智能视觉缺陷检测系统
CN106053479A (zh) * 2016-07-21 2016-10-26 湘潭大学 一种基于图像处理的工件外观缺陷的视觉检测系统
CN108031658A (zh) * 2017-12-01 2018-05-15 泰州海天电子科技股份有限公司 一种三极管测试编带后印记不良检测方法
CN108072662A (zh) * 2017-11-10 2018-05-25 长春理工大学 基于机器视觉的排针缺损检测方法及装置

Citations (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0339641A (ja) * 1989-07-06 1991-02-20 Ibiden Co Ltd ピン付きパッケージ検査装置
EP0493105A2 (en) * 1990-12-27 1992-07-01 International Business Machines Corporation Data processing method and apparatus
JPH08145643A (ja) * 1994-11-25 1996-06-07 Takaoka Electric Mfg Co Ltd 検査方法および装置
CN101587084A (zh) * 2008-05-23 2009-11-25 东京毅力科创株式会社 针迹检查装置、探测装置、和针迹检查方法
CN201434842Y (zh) * 2009-05-27 2010-03-31 华南理工大学 芯片外观缺陷自动检测装置
CN202290600U (zh) * 2011-10-21 2012-07-04 中国科学院广州电子技术研究所 一种贯流风扇叶轮缺陷检测系统
CN202485627U (zh) * 2011-12-14 2012-10-10 华中科技大学 集成电路管脚三维检测装置
CN103175847A (zh) * 2013-03-19 2013-06-26 哈尔滨理工大学 光栅表面缺陷检测装置
CN104197850A (zh) * 2014-08-11 2014-12-10 东莞市乐琪光电科技有限公司 一种基于机器视觉的元件管脚检测方法及其装置
CN204064254U (zh) * 2014-08-11 2014-12-31 东莞市乐琪光电科技有限公司 一种基于机器视觉的元件管脚检测装置
CN104730074A (zh) * 2015-03-05 2015-06-24 广州视源电子科技股份有限公司 一种金针类元件的引脚检测方法及装置
CN204439571U (zh) * 2015-03-13 2015-07-01 邯郸市富亚电子技术有限公司 一种用于液晶显示屏生产中的自动分引脚机
CN104990926A (zh) * 2015-06-25 2015-10-21 哈尔滨工业大学 一种基于视觉的tr元件定位和缺陷检测方法
CN105044114A (zh) * 2015-04-27 2015-11-11 中国人民解放军理工大学 一种电解电容外观包装缺陷图像检测系统与方法
CN204855395U (zh) * 2015-06-29 2015-12-09 南通蒂龙针织制衣有限公司 一种电解电容器引脚缺陷检测装置
CN205620320U (zh) * 2015-12-21 2016-10-05 南京河豚自动化科技有限公司 基于多管脚的缺陷检测装置

Patent Citations (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0339641A (ja) * 1989-07-06 1991-02-20 Ibiden Co Ltd ピン付きパッケージ検査装置
EP0493105A2 (en) * 1990-12-27 1992-07-01 International Business Machines Corporation Data processing method and apparatus
JPH08145643A (ja) * 1994-11-25 1996-06-07 Takaoka Electric Mfg Co Ltd 検査方法および装置
CN101587084A (zh) * 2008-05-23 2009-11-25 东京毅力科创株式会社 针迹检查装置、探测装置、和针迹检查方法
CN201434842Y (zh) * 2009-05-27 2010-03-31 华南理工大学 芯片外观缺陷自动检测装置
CN202290600U (zh) * 2011-10-21 2012-07-04 中国科学院广州电子技术研究所 一种贯流风扇叶轮缺陷检测系统
CN202485627U (zh) * 2011-12-14 2012-10-10 华中科技大学 集成电路管脚三维检测装置
CN103175847A (zh) * 2013-03-19 2013-06-26 哈尔滨理工大学 光栅表面缺陷检测装置
CN104197850A (zh) * 2014-08-11 2014-12-10 东莞市乐琪光电科技有限公司 一种基于机器视觉的元件管脚检测方法及其装置
CN204064254U (zh) * 2014-08-11 2014-12-31 东莞市乐琪光电科技有限公司 一种基于机器视觉的元件管脚检测装置
CN104730074A (zh) * 2015-03-05 2015-06-24 广州视源电子科技股份有限公司 一种金针类元件的引脚检测方法及装置
CN204439571U (zh) * 2015-03-13 2015-07-01 邯郸市富亚电子技术有限公司 一种用于液晶显示屏生产中的自动分引脚机
CN105044114A (zh) * 2015-04-27 2015-11-11 中国人民解放军理工大学 一种电解电容外观包装缺陷图像检测系统与方法
CN104990926A (zh) * 2015-06-25 2015-10-21 哈尔滨工业大学 一种基于视觉的tr元件定位和缺陷检测方法
CN204855395U (zh) * 2015-06-29 2015-12-09 南通蒂龙针织制衣有限公司 一种电解电容器引脚缺陷检测装置
CN205620320U (zh) * 2015-12-21 2016-10-05 南京河豚自动化科技有限公司 基于多管脚的缺陷检测装置

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105806846A (zh) * 2016-04-06 2016-07-27 江苏万乐复合材料有限公司 一种用于纸塑复合袋一体机的智能视觉缺陷检测系统
CN106053479A (zh) * 2016-07-21 2016-10-26 湘潭大学 一种基于图像处理的工件外观缺陷的视觉检测系统
CN106053479B (zh) * 2016-07-21 2018-09-11 湘潭大学 一种基于图像处理的工件外观缺陷的视觉检测系统
CN108072662A (zh) * 2017-11-10 2018-05-25 长春理工大学 基于机器视觉的排针缺损检测方法及装置
CN108031658A (zh) * 2017-12-01 2018-05-15 泰州海天电子科技股份有限公司 一种三极管测试编带后印记不良检测方法

Also Published As

Publication number Publication date
CN105424714B (zh) 2018-04-27

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN101526484B (zh) 基于嵌入式机器视觉的轴承缺陷检测方法
CN108627457B (zh) 自动光学检测系统及其操作方法
TWI557650B (zh) 用於識別材料中之缺陷之系統及方法
JP5947169B2 (ja) 外観検査装置、外観検査法およびプログラム
CN105424714A (zh) 基于多管脚的缺陷检测装置及其检测方法
CN106501272B (zh) 机器视觉焊锡定位检测系统
CN110659660A (zh) 利用深度学习系统的自动光学检测分类设备及其训练设备
KR100759950B1 (ko) 외관 검사 방법 및 그 장치
CN112730460A (zh) 一种通信ic芯片焊接缺陷与密集型虚焊检测技术
CN103646893A (zh) 晶圆缺陷检测方法
CN104020222B (zh) 全自动超声波铝丝压焊机焊接质量检测系统
WO2017071406A1 (zh) 金针类元件的引脚检测方法和系统
CN110517233A (zh) 一种基于人工智能的缺陷分类学习系统及其分类方法
CN205620320U (zh) 基于多管脚的缺陷检测装置
CN104021565A (zh) 一种基于直线检测的pcb层数及导线厚度测量方法
CN106706644A (zh) 一种镜片疵病的检测方法
CN105023018A (zh) 一种喷码检测方法及系统
CN115866502A (zh) 一种麦克风零件表面缺陷在线检测流程
CN106370673A (zh) 一种镜片疵病自动检测方法
TWI548871B (zh) Plate glass inspection apparatus, plate glass inspection method, plate glass manufacturing apparatus, and plate glass manufacturing method
CN105424708B (zh) 玻璃保险丝管可熔体质量缺陷检测方法
JP2002243655A (ja) 電子部品の外観検査方法および外観検査装置
CN105445286A (zh) 玻璃保险丝管产品上标志质量缺陷检测方法及装置
CN115060742A (zh) 一种基于视觉边缘计算的印刷电路板缺陷检测系统及方法
CN114037682A (zh) 一种光学元件表面疵病二维自动检测方法

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant
CP03 Change of name, title or address

Address after: No. 18 Qixia Xianlin Avenue horses Street District of Nanjing City, Jiangsu province 210000

Patentee after: Nanjing puffer Intelligent Technology Co., Ltd

Address before: 210000, room 17, new model street, Gulou District, Jiangsu, Nanjing 203, China

Patentee before: NANJING HETUN AUTOMATION TECHNOLOGY Co.,Ltd.

CP03 Change of name, title or address