CN108031658A - 一种三极管测试编带后印记不良检测方法 - Google Patents

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    • B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B07—SEPARATING SOLIDS FROM SOLIDS; SORTING
    • B07C—POSTAL SORTING; SORTING INDIVIDUAL ARTICLES, OR BULK MATERIAL FIT TO BE SORTED PIECE-MEAL, e.g. BY PICKING
    • B07C5/00—Sorting according to a characteristic or feature of the articles or material being sorted, e.g. by control effected by devices which detect or measure such characteristic or feature; Sorting by manually actuated devices, e.g. switches
    • B07C5/34—Sorting according to other particular properties
    • B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
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    • B07C5/00—Sorting according to a characteristic or feature of the articles or material being sorted, e.g. by control effected by devices which detect or measure such characteristic or feature; Sorting by manually actuated devices, e.g. switches
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Abstract

本发明公开了一种三极管测试编带后印记不良检测方法，所述检测方法由程序控制器件来实现，所述程序控制器件包括：接收元件、分析元件、反馈元件、显示元件；检测步骤为：1)操作设置菜单，启动接收元件；2)通过分析元件分析所接收到的信息；3)把分析出的印记不良信息通过反馈元件反馈到显示元件；4)把显示元件显示出的三极管筛选出来，送进废料处理系统；5)废料处理系统中的三极管可通过人工选择回收利用或报废；步骤4)所述筛选主要是通过在系统上设置标准值，把显示元件显示出的图像和标准值进行对比，从而把偏离标准值的图像剔除出来。本发明一种三极管测试编带后印记不良检测方法，其检测步骤简单，检测效果好。

Description

一种三极管测试编带后印记不良检测方法
技术领域
本发明属于三极管领域，尤其涉及一种三极管测试编带后印记不良检测方法。
背景技术
三极管测试编带后印记不良检测，需要把测试封装过程中应为机器或人为原因造成的印记不良、表面划伤等质量问题检测并反馈出，通过编带封装后增加的一台高清相机检测出印记不良反馈给主控程序做出相应的处理,测试时只要时打开检测程序就可正常检测，目前市场上没有理想的相关检测设备。
发明内容
本发明的目的在于克服上述不足，提供一种三极管测试编带后印记不良检测方法，其检测步骤简单，检测效果好。
一种三极管测试编带后印记不良检测方法，所述检测方法由程序控制器件来实现，所述程序控制器件包括：接收元件、分析元件、反馈元件、显示元件；检测步骤为：
1)操作设置菜单，启动接收元件；
2)通过分析元件分析所接收到的信息；
3)把分析出的印记不良信息通过反馈元件反馈到显示元件；
4)把显示元件显示出的三极管筛选出来，送进废料处理系统；
5)废料处理系统中的三极管可通过人工选择回收利用或报废；
步骤4)所述筛选主要是通过在系统上设置标准值，把显示元件显示出的图像和标准值进行对比，从而把偏离标准值的图像剔除出来。
所述接收元件为设置在三极管上端的照相机，所述照相机能够拍到三极管的全部影像。
所述分析元件为设置好程序的精密分析系统，所述精密分析系统能够自动分析识别印记不良的三极管，并通过反馈元件把它反馈到显示元件。
所述反馈元件为无线/有线发射装置。
所述显示元件为电脑显示屏。
本发明一种三极管测试编带后印记不良检测方法，其检测步骤简单，检测效果好。
附图说明
图1是本发明检测方法的示意图。
具体实施方式
以下结合说明书附图和具体优选的实施例对本发明作进一步描述，但并不因此而限制本发明的保护范围。
本发明一种三极管测试编带后印记不良检测方法，所述检测方法由程序控制器件来实现，所述程序控制器件包括：接收元件、分析元件、反馈元件、显示元件；检测步骤为：
1)操作设置菜单，启动设置在三极管上端的照相机，所述照相机能够拍到三极管的全部影像；
2)通过分析元件分析所接收到的信息；所述分析元件为设置好程序的精密分析系统，所述精密分析系统能够自动分析识别印记不良的三极管；
3)把分析出的印记不良信息通过反馈元件反馈到显示元件；所述反馈元件为无线/有线发射装置；
4)把显示元件显示出的三极管筛选出来；所述显示元件为电脑显示屏。
5)废料处理系统中的三极管可通过人工选择回收利用或报废；
步骤4)所述筛选主要是通过在系统上设置标准值，把显示元件显示出的图像和标准值进行对比，从而把偏离标准值的图像剔除出来。
本发明一种三极管测试编带后印记不良检测方法，其检测步骤简单，检测效果好。
以上所述仅是本发明的优选实施方式，本发明的保护范围并不仅局限于上述实施例。凡属于本发明思路下的技术方案均属于本发明的保护范围。应该指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明原理的前提下的改进和润饰，这些改进和润饰也应视为本发明的保护范围。

Claims (5)

1.一种三极管测试编带后印记不良检测方法，所述检测方法由程序控制器件来实现，所述程序控制器件包括：接收元件、分析元件、反馈元件、显示元件；检测步骤为：
1)操作设置菜单，启动接收元件；
2)通过分析元件分析所接收到的信息；
3)把分析出的印记不良信息通过反馈元件反馈到显示元件；
4)把显示元件显示出的三极管筛选出来，送进废料处理系统；
5)废料处理系统中的三极管可通过人工选择回收利用或报废；
步骤4)所述筛选主要是通过在系统上设置标准值，把显示元件显示出的图像和标准值进行对比，从而把偏离标准值的图像剔除出来。
2.如权利要求1所述一种三极管测试编带后印记不良检测方法，其特征在于，所述接收元件为设置在三极管上端的照相机，所述照相机能够拍到三极管的全部影像。
3.如权利要求1所述一种三极管测试编带后印记不良检测方法，其特征在于，所述分析元件为设置好程序的精密分析系统，所述精密分析系统能够自动分析识别印记不良的三极管，并通过反馈元件把它反馈到显示元件。
4.如权利要求1所述一种三极管测试编带后印记不良检测方法，其特征在于，所述反馈元件为无线/有线发射装置。
5.如权利要求1所述一种三极管测试编带后印记不良检测方法，其特征在于，所述显示元件为电脑显示屏。
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