CN105334399B - 一种压控衰减器的检测系统及检测方法 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及一种压控衰减器的检测系统及检测方法,它是由FPGA、ARM单片机、AD芯片、DA芯片、放大器、衰减器滤波器组成,可以发出两路相同的检测信号,一路通过压控衰减器,一路未通过压控衰减器,经过最终两路信号的比较分析,得出压控衰减器质量的检测结果并传给PC,有益效果是,结构简单,操作容易,降低了检测成本及检测难度,在来料检验环节控制压控衰减器的质量,从而及时退换货不会影响后期的生产及研发。
Description
技术领域
本发明涉及一种压控衰减器,特别涉及一种压控衰减器的检测系统及检测方法。
背景技术
压控衰减器使用频繁,价格昂贵,现在一般是通过焊接PCB后,用网络分析仪及专用控制电路来查看器件的质量,当压控衰减器质量存在问题的时候,就会给研发及生产工作带来进度和成本上的巨大的损失。
发明内容
为了解决压控衰减器的质量问题给研发及生产工作带来的损失,本发明提供一种压控衰减器的检测系统及检测方法可以在来料检验环节控制压控衰减器的质量,具体技术方案是,一种压控衰减器的检测系统,包括控制模块、信号发射模块、器件检测模块、信号接收模块、PC显示,其特征在于:信号发射模块包括DA芯片、第一放大器、衰减器、第二放大器、功分器,连接为DA芯片、第一放大器、衰减器、第二放大器、功分器依次单向连接,双路输出,控制模块单向连接DA芯片;器件检测模块包括信号匹配电路、压控衰减器、DA芯片1,连接为控制模块单向连接DA芯片1,DA芯片1单向连接压控衰减器,信号发射模块的双路输出分别连接信号匹配电路、压控衰减器;信号接收模块包括两路相同由滤波器、变压器、AD芯片串接组成的接收转换电路,器件检测模块的信号匹配电路、压控衰减器输出分别连接信号接收模块的两路接收转换电路,两路接收转换电路输出连接控制模块中的FPGA;控制模块中FPGA、PC显示与连接单片机。
检测方法包括以下步骤,
1)、在PC显示和控制模块中的单片机通过串口和PC通信得到检测命令后,单片机和FPGA通信后,FPGA通过和发射模块中的DA芯片通信,发出模拟信号;
2)、模拟信号经过放大器和由控制模块中的FPGA控制的衰减器后得到想要的信号功率,该信号经过功分器,变成了完全相同的两路模拟信号,这两路模拟信号由发射模块发出;
3)、相同的两路模拟信号进入器件检测模块,其中的一路模拟信号经过由控制模块控制的被检测器件后输出,另一路模拟信号不经过被检测器件直接输出,器件检测模块输出的模拟信号进入接收模块,形成两路不同的模拟信号经过滤波器、变压器、AD芯片后变为数字信号发送给控制模块中的FPGA,FPGA进行简单数据处理后发送给单片机;
4)、单片机进行数据分析后将检测结果发送给PC,完成检测。
本发明的有益效果是,结构简单,操作容易,降低了检测成本及检测难度,在来料检验环节控制压控衰减器的质量,从而及时退换货不会影响后期的生产及研发。
附图说明
图1是本发明的系统组成图。
图2是信号发射模块原理示意图。
图3是器件检测模块原理示意图。
图4是信号接收模块原理示意图。
图5是显示和控制模块原理示意图。
具体实施方式
下面结合附图和实例对本发明进一步说明,
如图1至图5所示,一种压控衰减器的检测系统,包括控制模块、信号发射模块、器件检测模块、信号接收模块、PC显示,其特征在于:信号发射模块包括DA芯片、第一放大器、衰减器、第二放大器、功分器,连接为DA芯片、第一放大器、衰减器、第二放大器、功分器依次单向连接,双路输出,控制模块单向连接DA芯片;器件检测模块包括信号匹配电路、压控衰减器、DA芯片1,连接为控制模块单向连接DA芯片1,DA芯片1单向连接压控衰减器,信号发射模块的双路输出分别连接信号匹配电路、压控衰减器;信号接收模块包括两路相同由滤波器、变压器、AD芯片串接组成的接收转换电路,器件检测模块的信号匹配电路、压控衰减器输出分别连接信号接收模块的两路接收转换电路,两路接收转换电路输出连接控制模块中的FPGA;控制模块中FPGA、PC显示与连接单片机。
检测方法包括以下步骤,
1)、在PC显示和控制模块中的单片机通过串口和PC通信得到检测命令后,单片机和FPGA通信后,FPGA通过和发射模块中的DA芯片通信,发出模拟信号;
2)、模拟信号经过放大器和由控制模块中的FPGA控制的衰减器后得到想要的信号功率,该信号经过功分器,变成了完全相同的两路模拟信号,这两路模拟信号由发射模块发出;
3)、相同的两路模拟信号进入器件检测模块,其中的一路模拟信号经过由控制模块控制的被检测器件后输出,另一路模拟信号不经过被检测器件直接输出,器件检测模块输出的模拟信号进入接收模块,形成两路不同的模拟信号经过滤波器、变压器、AD芯片后变为数字信号发送给控制模块中的FPGA,FPGA进行简单数据处理后发送给单片机;
4)、单片机进行数据分析后将检测结果发送给PC,完成检测。
Claims (2)
1.一种压控衰减器的检测系统,包括控制模块、信号发射模块、器件检测模块、信号接收模块、PC显示,其特征在于:信号发射模块包括DA芯片、第一放大器、衰减器、第二放大器、功分器,连接为DA芯片、第一放大器、衰减器、第二放大器、功分器依次单向连接,双路输出,控制模块单向连接DA芯片;器件检测模块包括信号匹配电路、压控衰减器、DA芯片1,连接为控制模块单向连接DA芯片1,DA芯片1单向连接压控衰减器,信号发射模块的双路输出分别连接信号匹配电路、压控衰减器;信号接收模块包括两路相同由滤波器、变压器、AD芯片串接组成的接收转换电路,器件检测模块的信号匹配电路、压控衰减器输出分别连接信号接收模块的两路接收转换电路,两路接收转换电路输出连接控制模块中的FPGA;控制模块中FPGA、PC显示与连接单片机。
2.一种压控衰减器的检测方法,其特征在于:检测方法包括以下步骤:
1)、在PC显示和控制模块中的单片机通过串口和PC通信得到检测命令后,单片机和FPGA通信后,FPGA通过和发射模块中的DA芯片通信,发出模拟信号;
2)、模拟信号经过放大器和由控制模块中的FPGA控制的衰减器后得到想要的信号功率,该信号经过功分器,变成了完全相同的两路模拟信号,这两路模拟信号由发射模块发出;
3)、相同的两路模拟信号进入器件检测模块,其中的一路模拟信号经过由控制模块控制的被检测器件后输出,另一路模拟信号不经过被检测器件直接输出,器件检测模块输出的模拟信号进入接收模块,形成两路不同的模拟信号经过滤波器、变压器、AD芯片后变为数字信号发送给控制模块中的FPGA,FPGA进行简单数据处理后发送给单片机;
4)、单片机进行数据分析后将检测结果发送给主机PC显示,完成检测。
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Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN101183138A (zh) * | 2007-11-29 | 2008-05-21 | 中兴通讯股份有限公司 | 一种功率放大器的批量检测方法和装置 |
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---|---|---|---|---|
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CN103105576A (zh) * | 2011-11-11 | 2013-05-15 | 中国科学院微电子研究所 | 一种测试射频放大器增益的装置及方法 |
CN104730310A (zh) * | 2013-12-24 | 2015-06-24 | 苏州普源精电科技有限公司 | 一种具有可变衰减单元的测量装置 |
CN205246762U (zh) * | 2015-12-14 | 2016-05-18 | 天津光电通信技术有限公司 | 一种压控衰减器的检测系统 |
Non-Patent Citations (2)
Title |
---|
常用微波衰减器脉冲功率容量测试;方进勇 等;《强激光与粒子束》;20101130;第22卷(第11期);2663-2668 * |
行波管支撵杆型衰减器匹配性能的微波检测方法;张秀芬;《电子学通讯》;19810131;第3卷(第一期);29-34 * |
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