CN106771752B - 一种适用于高回损阴阳式光固定衰减器的自动测试系统 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种适用于高回损阴阳式光固定衰减器的自动测试系统，涉及信号传输技术领域。该适用于高回损阴阳式光固定衰减器的自动测试系统，包括外壳，所述外壳的内腔通过螺栓固定连接有电路板，所述电路板上分别固定连接有处理器、内存条、第一信号强度检测装置、第二信号强度检测装置、放大器和信号比较器。该适用于高回损阴阳式光固定衰减器的自动测试系统，通过处理器、内存条、第一信号强度检测装置、第二信号强度检测装置、放大器、信号比较器、信号发送端、信号接收端、显示屏和控制面板的配合使用，缩短了信号传输线路的长度，避免了由于信号传输线路过长而导致的误差过大。
Description
技术领域
本发明涉及信号传输技术领域，具体为一种适用于高回损阴阳式光固定衰减器的自动测试系统。
背景技术
衰减器是一种提供衰减的电子元器件，广泛地应用于电子设备中，它的主要用途是:调整电路中信号的大小；在比较法测量电路中，可用来直读被测网络的衰减值；改善阻抗匹配，若某些电路要求有一个比较稳定的负载阻抗时，则可在此电路与实际负载阻抗之间插入一个衰减器，能够缓冲阻抗的变化。
传统的测试系统，在使用过程中，容易出现由于信号传输线路过长而导致的误差过大，难以很好的对衰减器的性能进行评估，降低了测试系统的精准度，给使用者的使用带来不便。
发明内容
(一)解决的技术问题
针对现有技术的不足，本发明提供了一种适用于高回损阴阳式光固定衰减器的自动测试系统，解决了容易出现由于信号传输线路过长而导致误差过大的问题。
(二)技术方案
为实现以上目的，本发明通过以下技术方案予以实现：一种适用于高回损阴阳式光固定衰减器的自动测试系统，包括外壳，所述外壳的内腔通过螺栓固定连接有电路板，所述电路板上分别固定连接有处理器、内存条、第一信号强度检测装置、第二信号强度检测装置、放大器和信号比较器，所述外壳的顶部从左往右依次贯穿设置有信号发送端和信号接收端，所述外壳的右侧从上往下依次固定连接有显示屏和控制面板，所述外壳的底部贯穿设置有电源接口，所述外壳正表面的左侧通过转轴活动连接有装置盖，所述装置盖的正表面固定安装有装置锁，所述外壳内腔的右侧固定连接有与装置锁配合设置的卡块。
所述处理器的输入端分别与电源接口和控制面板的输出端电性连接，所述电源接口的输入端与电源的输出端电性连接，所述处理器的输出端与显示屏的输入端电性连接，所述处理器分别与信号比较器和内存条双向连接，所述信号比较器的输出端与第一信号强度检测装置的输入端电性连接，所述第一信号强度检测装置的输出端依次通过信号发送端、衰减器和信号接收端的输入端电性连接，所述信号接收端的输出端通过放大器与第二信号强度检测装置的输入端电性连接，所述第二信号强度检测装置的输出端与信号比较器的输入端电性连接。
优选的，所述电路板的正表面且位于第一信号强度检测装置和第二信号强度检测装置之间开设有散热孔。
优选的，所述装置盖的正表面固定连接有与外壳配合设置的缓冲胶皮。
优选的，所述处理器的主频率至少为2.2GHz。
优选的，所述内存条的存储容量至少为512M。
(三)有益效果
本发明提供了一种适用于高回损阴阳式光固定衰减器的自动测试系统。具备以下有益效果：该适用于高回损阴阳式光固定衰减器的自动测试系统，通过处理器、内存条、第一信号强度检测装置、第二信号强度检测装置、放大器、信号比较器、信号发送端、信号接收端、显示屏和控制面板的配合使用，缩短了信号传输线路的长度，避免了由于信号传输线路过长而导致的误差过大，使得测试系统可以很好的对衰减器的性能进行评估，提高了测试系统的精准度，方便了使用者的使用。
附图说明
图1为本发明结构示意图；
图2为本发明结构原理框图。
图中：1外壳、2电路板、3处理器、4内存条、5第一信号强度检测装置、6第二信号强度检测装置、7放大器、8信号比较器、9散热孔、10信号发送端、11信号接收端、12显示屏、13电源接口、14装置盖、15装置锁、16卡块、17缓冲胶皮、18控制面板、19电源、20衰减器。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
请参阅图1-2，本发明提供一种技术方案：一种适用于高回损阴阳式光固定衰减器的自动测试系统，包括外壳1，外壳1的内腔通过螺栓固定连接有电路板2，电路板2的正表面且位于第一信号强度检测装置5和第二信号强度检测装置6之间开设有散热孔9，电路板2上分别固定连接有处理器3、内存条4、第一信号强度检测装置5、第二信号强度检测装置6、放大器7和信号比较器8，处理器3的主频率至少为2.2GHz，内存条4的存储容量至少为512M，外壳1的顶部从左往右依次贯穿设置有信号发送端10和信号接收端11，外壳1的右侧从上往下依次固定连接有显示屏12和控制面板18，外壳1的底部贯穿设置有电源接口13，外壳1正表面的左侧通过转轴活动连接有装置盖14，装置盖14的正表面固定连接有与外壳1配合设置的缓冲胶皮17，装置盖14的正表面固定安装有装置锁15，外壳1内腔的右侧固定连接有与装置锁15配合设置的卡块16。
处理器3的输入端分别与电源接口13和控制面板18的输出端电性连接，电源接口13的输入端与电源19的输出端电性连接，处理器3的输出端与显示屏12的输入端电性连接，处理器3分别与信号比较器8和内存条4双向连接，信号比较器8的输出端与第一信号强度检测装置5的输入端电性连接，第一信号强度检测装置5的输出端依次通过信号发送端10、衰减器20和信号接收端11的输入端电性连接，信号接收端11的输出端通过放大器7与第二信号强度检测装置6的输入端电性连接，第二信号强度检测装置6的输出端与信号比较器8的输入端电性连接。
工作时，将电源19与电源接口13连接，将待测衰减器20的输入端与信号发送端10连接，将待测衰减器20的输出端与信号接收端11连接，通过控制面板18控制处理器3向信号比较器8发送信号，信号比较器8将信号发送给第一信号强度检测装置5，信号被第一信号强度检测装置5记录后，第一信号强度检测装置5将第一次记录和信号依次通过信号发送端10、衰减器20和信号接收端11发送给放大器7，放大器7将信号放大后将信号和第一次记录发送给第二信号强度检测装置6，第二信号强度检测装置6将信号记录，并将信号、第一次记录和第二次记录发送给信号比较器8，信号比较器8比较收到的信号和发送的信号并将比较结果、第一次记录和第二次记录发送给处理器3，处理器3处理收到的数据得出衰减器20的性能并将数据存储于内存条4中，处理器3将衰减器20的性能通过显示屏12显示，当需要调出记录时，通过控制面板18控制处理器3调用内存条4内的记录，并通过显示屏12显示。
综上所述，该适用于高回损阴阳式光固定衰减器的自动测试系统，通过处理器3、内存条4、第一信号强度检测装置5、第二信号强度检测装置6、放大器7、信号比较器8、信号发送端10、信号接收端11、显示屏12和控制面板18的配合使用，缩短了信号传输线路的长度，避免了由于信号传输线路过长而导致的误差过大，使得测试系统可以很好的对衰减器的性能进行评估，提高了测试系统的精准度，方便了使用者的使用。
需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下。由语句“包括一个......限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素”。
尽管已经示出和描述了本发明的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本发明的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本发明的范围由所附权利要求及其等同物限定。
Claims (1)
1.一种适用于高回损阴阳式光固定衰减器的自动测试系统，包括外壳(1)，其特征在于：所述外壳(1)的内腔通过螺栓固定连接有电路板(2)，所述电路板(2)上分别固定连接有处理器(3)、内存条(4)、第一信号强度检测装置(5)、第二信号强度检测装置(6)、放大器(7)和信号比较器(8)，所述外壳(1)的顶部从左往右依次贯穿设置有信号发送端(10)和信号接收端(11)，所述外壳(1)的右侧从上往下依次固定连接有显示屏(12)和控制面板(18)，所述外壳(1)的底部贯穿设置有电源接口(13)，所述外壳(1)正表面的左侧通过转轴活动连接有装置盖(14)，所述装置盖(14)的正表面固定安装有装置锁(15)，所述外壳(1)内腔的右侧固定连接有与装置锁(15)配合设置的卡块(16)；
所述处理器(3)的输入端分别与电源接口(13)和控制面板(18)的输出端电性连接，所述电源接口(13)的输入端与电源(19)的输出端电性连接，所述处理器(3)的输出端与显示屏(12)的输入端电性连接，所述处理器(3)分别与信号比较器(8)和内存条(4)双向连接，所述信号比较器(8)的输出端与第一信号强度检测装置(5)的输入端电性连接，所述第一信号强度检测装置(5)的输出端依次通过信号发送端(10)、衰减器(20)和信号接收端(11)的输入端电性连接，所述信号接收端(11)的输出端通过放大器(7)与第二信号强度检测装置(6)的输入端电性连接，所述第二信号强度检测装置(6)的输出端与信号比较器(8)的输入端电性连接；电路板(2)的正表面且位于第一信号强度检测装置(5)和第二信号强度检测装置(6)之间开设有散热孔(9)；
所述装置盖(14)的正表面固定连接有与外壳(1)配合设置的缓冲胶皮(17)；处理器(3)的主频率至少为2.2GHz；所述内存条(4)的存储容量至少为512M。
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